JPS60170096A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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JPS60170096A
JPS60170096A JP59024719A JP2471984A JPS60170096A JP S60170096 A JPS60170096 A JP S60170096A JP 59024719 A JP59024719 A JP 59024719A JP 2471984 A JP2471984 A JP 2471984A JP S60170096 A JPS60170096 A JP S60170096A
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JP
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memory cell
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JP59024719A
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JPH0335752B2 (ja
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Masaharu Takazawa
高沢 正治
Tadashi Fukushima
忠 福島
Yoshiki Kobayashi
芳樹 小林
Tadaaki Bando
忠秋 坂東
Ranya Takatsuki
高槻 蘭也
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Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は半導体メモリ装置に係ル、特にエアドレス書き
込み2アドレス読み出しに好適な半導体メモリ装置に関
する。
〔発明の背景〕
従来のこの種の半導体メモリ装置は、lアドレスで情報
を書き込み、その書き込んだ情報を同一のアドレスで読
み出しを行う構成となっている。
このため、この種の半導体メモリ装置によれば、書き込
んだアドレス以外では書き込んだ情報を読み出せないと
いう欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、書き込みアドレスとは異なったアドレ
スでもv)き込んだ11丁報音読み出すことの可能な半
導体メモリ装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、上記目的を達成するため、半導体メモリ装置
に書き込まれている情報を読み出す際に、書き込みアド
レスとそれ以外の特定のアドレスでも読み出し可能とし
ている。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明の基礎となったCMOSスタティック
型ランダムアクセスメモリセルを示す回路図である。
第1図において、1はランダムアクセスメモリであムこ
のランダムアクセスメモリ1は、トランジスタ2及び3
と、CMOSインバーダ4及び5とを備えており、イン
バータ(の入出力端子をインバーダ5の出入力端子にそ
れぞれ接続し、これら接続点をトランジスタ2及び3を
介してデータ線12及び13にそれぞれ接続し、かつト
ランジスタ2及び3のゲートをアドレス線11に接続し
て構成されている。尚、記憶素子としては、インバータ
4,5が相当し、スイッチング索子としては、トランジ
スタ2,3.7が相当する。
このように構成されたランダムアクセスメモリの動作を
以下に説明する。
データ線12及び13には「高」 (“Hi g h”
)又は「低」 (“LOW″)電圧のデータが送られて
くる。このときのデータは、データ線12とデータ線1
3とでは反対のデータ(例えば、データ線12が“Ht
gh”のときは、データ線13はLOW”)になってい
る。
書き込み時には、データ線12及び13にデータが送ら
れ、かつアドレス線11が選択されるとトランジスタ2
及び3が導通し、データ線12及び13の情報がメモリ
セル内に転送されることになシ、データ様12と13の
情報がメモリセル内に書き込まれることになる。書き込
まれた情報は、別の情報が書き込まれるまで保持される
読み出し時には、データ線12と13は何のデータも送
られていない状態になっている。そして、アドレス線1
1が選択されることによって、トランジスタ2と3が導
通し、メモリセル内の情報がデータ線12と13に出力
される。尚、読み出しによってメモリセル内の情報は壊
されることはなく、情報は記憶され続ける。
このように作用する本発明の基礎となったランダムアク
セスメモリによれば、アドレス線11とは別のアドレス
線によって図示のメモリセルの情報を読み出すことがで
きなかった。
第2図は、上記基礎技術の欠点を解消した本発明に係る
CMOSスタティック型ランダムアクセスメモリセルを
示す回路図である。第2図に示す実施例は2本(一対)
のデータ線12及び13と、スイッチング素子としての
2つのトランジスタ2及び3と、2つの記憶素子として
のインバータ4及び5と、第1のアドレスa11とを備
えて回路構成されている点では上記基礎技術のランダム
アクセスメモリセルと同一の回路構成であるものの、第
2のアドレス線14と、第3の読み出し専用のデータ線
15と、セル内の情報をデータ線15に転送するための
第3のスイッチング素子としてのトランジスタ7が付加
されている点で上記基礎技術と異なるものである。
このように構成された本実施例の作用を説明する。
まず、この実施例におけるメモリセルへノ書キ込みは、
第1図に示すランダムアクセスメモリ(以下、RAMと
称す)セルと同様に、データ様12と13にデータが送
られ、しかもアドレス線11が選択されることによシ2
つのトランジスタ2と3が導通してメモリセル内に情報
が転送される。このとき、アドレス線14は選択されて
いないので、トランジスタ7は導通することはない。
書き込まれた情報は別のデータが書き込まれるまで記憶
されている。
読み出し時は、書き込みアドレスと同一のアドレス11
を選択することによシ、メモリセル内の情報をトランジ
スタ2と3を介して、データ線12と13に読み出すこ
とができる。
また、吉:き込みアドレス11以外の読み出し用アドレ
ス14を選択することにょシ、トランジスタ7f:介し
て読み出し専用データ線15にメモリセル内の情報を読
み出すことも可能である。尚、アドレス線11.14を
同時にアクセスしないときは、データ線15を設ける必
要はない。
第3図は、本発明に係るzbttのRAMセルを示す回
路図である。第2図のRAMセル(1bi、t)を2つ
用いて2bit のRAMセル構成にしているが、アド
レス線11と14をそれぞれ書き込みアドレスと同時に
、読み出し専用アドレスとしても使用している。
書き込み時には、アドレス49111を選択することに
より、データ線12と13の情報がトランジスタ2と3
を介してメモリセル6内に書き込まれる。
同様に、アドレス線14を選択することによって、メモ
リセル8内に情報を書き込むことができる。
このとき、データ線12と13の情報を任意に変えて、
所望の情報をメモリセル6あるいは8に書き込むことが
可能である。
読み出し時には、アドレス線11を選択することによっ
て、メモリセル6内の情報をトランジスタ2と3を介し
て、データ線12と13に読み出すと同時に、メモリセ
ル8内の情報をトランジスタ7を介してデータ線15に
読み出すことが可能である。
同様に、読み出し時にアドレス線14を選択すると、メ
モリセル8内の情報をトランジスタ2と3を介して、デ
ータ線12と13に読み出すと同時ニ、メモリセル6内
の情報をトランジスタ7を介して、読み出し専用データ
線15に出力する。
この第2実施例によれば、21)itのRAMセルを第
3図の回路構成にすることにょ勺、2本のアドレス線1
1と14を、2つのRAMセル6と8のアドレスとして
、共用することができるので、アドレス線の本数が半数
で済み、RAMセルの面積削減につなか!11、LSI
の集積度向上に寄与している。
第4図は、本発明の第2実施例の如きzbit几AMセ
ル9を64ケ用いた1 6wordX8 bit(合計
xzsbtt)の几k M 4”1”j成の実施例を示
す図である。@3図に示す22b1tiLAセル9を図
示X方向に8ケ、図示X方向に8ケ並設し、アドレス線
11と14はX方向の8ケに対して共通に用いている。
また、データ線12と13及び読み出し専用データ線1
5rよ、X方向の8ケのzbtt几AMセル9に共通し
ている。したがって、各々のzbit几AMセル9に対
するデータ線12と13へ1゛き込み用データを送シ、
任意のアドレス線を選択することによって、X方向の8
ケのRAMセル9に、5bit並列書き込みが可能であ
る。
読み出し時は、任意のアドレス線を選択することにより
、選択されたアドレス線に対するX方向8bitの情報
をデータ線12と、13に出力すると共に、zbitn
、AMセル9のもう一方のbitの情報を読み出し専用
データ515(8本)に出力する。つま’)、16bi
l並列読み出しが可能でおる。
第5図は、本発明の22b1tRAセル9を64ケ使用
した具体的なRAMブロックの回路構成例である。デコ
ーダlOによって、16本(「0」〜rFJ )のアド
レス線がRAMへ送られている。第5図の実施例では、
デコーダ10から2bitl(、にMセル9へ、アドレ
ス「0」とr8J 、Illと「9」。
・・・・・・、「7」とrFJの組み合わせで転送され
ている。
誉き込み時には、cinO〜7から書き込みデータが転
送され、かつ、ライトイネーブル信号が送られて、書き
込みデータ(cinO〜7)が、各2b i tRIA
MRAMセル6線12と13に転送される。この状態に
おいて、デコーダ10からのアドレス線の任意の一本の
アドレス1:選択することによl)、cinからのデー
タ8bitを選択したアドレスへ書き込むことができる
。同様にして、書き込みデータCi nら工、MID)
アドレスへ所望のデータを書き込むことが可能である。
一方、読み出し時には、Ciロ からの書き込みデータ
は、ライトネーブル信号16がオフ状態であり、22b
1tRAセル9のデータ12と13にはデータは転送さ
れない。この状態において、デコーダ10からの任意の
一本のアドレスを選択することによシ、そのアドレスの
5bitの情報がBoutQ〜7に出力され、((選択
したアドレス)+8 ) mod16 (ココで、m□
d16は16進を意味する)のアドレスの81)itの
情報がAOutO〜7に出力される。この読み出しアド
レスと、出力データ(AoutとBout)の関係は下
表に示すようになる。
表 〔発明の効果〕 以上述べたように本発明によれば、半導体メモリ装置へ
書き込みを行ったアドレスと、それ以外のアドレスでも
、書き込んだ情報を読み出すことが可能な半導対メモリ
装置を提供できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基礎となったCMOSスタティック型
ランダムアクセスメモリ(几AM)セルの回路図、第2
図は本発明によるCMOSスタテ゛イック型RAMセル
の回路図、第3図は第2図の几個セルを2ケ用いた22
b1tRAセルの回路図、第4の具体的構成を示す回路
図である。 2.3.7・・・MOSトランジスタ、4,5・・・C
MOSインバーダ、6,8・・・RAMセル、9・・・
22b1tRAセル、10・・・デコーダ、11.14
・・・アドレス信号線、12.13・・・データ線、1
5・・・読み出し専用データ線。 代理人 弁理士 鵜沼辰之 弔10 、c’>l 7 戸 μ 処”13 第1頁の続き @発明者坂東 忠秋 @発明者高槻 蘭也 日立市幸町3丁目1番1号 株式会社日立製作所日立研
究社内

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、記憶素子に一対のデータ線を第1及び第2のスイッ
    チング素子をもってそれぞれ接続し、前記第1及び第2
    のスイッチング素子に、これら素子を駆動制御する第1
    のアトL//C線を接続し、前記記憶素子に第3のデー
    タ線を第3のスイッチング素子をもって接続し、該第3
    のスイッチング素子にこれを駆動制御する第2のアドレ
    ス線を接続してなることを特徴とする半導体メモリ装置
    。 2 第1の記憶素子に一対のデータ線を第1及び第2の
    スイッチング素子をもってそれぞれ接続し、前記第1及
    び第2のスイッチング素子に、これら素子を出動制御す
    る第1のアドレス線を接続し、前記記憶素子に第2のデ
    ータ線を第3のスイッチング素子をもって接続し、該第
    3のスイッチング素子にこれを駆動制御する第2のアド
    レス線を接続してなる第1の半導体メモリセルと、第2
    の記憶素子に前記一対のデータ線を第3及び第4のスイ
    ッチング素子をもってそれぞれ接続し、前記第3及び第
    4のスイッチング素子に、これら素子を駆動制御する前
    記第2のアドレス線を接続し、前記記憶素子に前記第3
    のデータ線を第5のスイッチング素子をもって接続し、
    該第5のスイッチング素子にこれを駆動制御する第1の
    アドレス線を接続してなる半導体メモリセルとを備えて
    なることを%iとする半導体メモリ装置。
JP59024719A 1984-02-13 1984-02-13 半導体メモリ装置 Granted JPS60170096A (ja)

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JP59024719A JPS60170096A (ja) 1984-02-13 1984-02-13 半導体メモリ装置

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JP59024719A JPS60170096A (ja) 1984-02-13 1984-02-13 半導体メモリ装置

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JPS60170096A true JPS60170096A (ja) 1985-09-03
JPH0335752B2 JPH0335752B2 (ja) 1991-05-29

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JP59024719A Granted JPS60170096A (ja) 1984-02-13 1984-02-13 半導体メモリ装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6412300U (ja) * 1987-07-06 1989-01-23

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5760586A (en) * 1980-09-26 1982-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Random access memory
JPS5771574A (en) * 1980-10-21 1982-05-04 Nec Corp Siemconductor memory circuit
JPS57118482A (en) * 1981-01-14 1982-07-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Demodulator of television audio signal

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JPH0335752B2 (ja) 1991-05-29

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