JPH031757B2 - - Google Patents
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- JPH031757B2 JPH031757B2 JP59014578A JP1457884A JPH031757B2 JP H031757 B2 JPH031757 B2 JP H031757B2 JP 59014578 A JP59014578 A JP 59014578A JP 1457884 A JP1457884 A JP 1457884A JP H031757 B2 JPH031757 B2 JP H031757B2
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- circuit
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Links
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 41
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/20—Address safety or protection circuits, i.e. arrangements for preventing unauthorized or accidental access
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/16—Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明はランダム・アクセス読取/書込メモリ
装置に関連する発明であつて、多重読取/書込装
置を用いる高密度な装置のため比較回路の発明に
係るものである。
装置に関連する発明であつて、多重読取/書込装
置を用いる高密度な装置のため比較回路の発明に
係るものである。
[技術的背景]
局所的記憶装置として、高速度レジスタを必要
とする選択されたマイクロ・プロセツサに於い
て、各レジスタが書込のために多数のデータ・イ
ン・ポート(data−in ports)から別個にアドレ
スでき、そして読取のために多数のデータ・アウ
ト・ポートに対して別個にアドレスできる事が望
ましい。レジスタ内のデータは任意のデータ・イ
ン・ポートに於てアドレスでき、そして任意のデ
ータ・アウト・ポートに於て読取れる。その様な
多重ポート(multi−potr)装置は独立した読取
及び書込アドレス指定を用いて配置した例えば3
ビツト・メモリ構成から成り、よつて書込時に同
一アドレス位置に於て各構成内に同一の情報が書
込まれ、次に順次書込によつて異なるポート・ア
ドレス内に並列に書込を行ない、よつて3つの構
成の各々が同じアドレス位置に於て同じ情報を含
み、3つの異なる位置−3つの異なるアドレス−
に於ける3つの構成の同時読取が3つのアウト・
ポートの各々に3つの異なるワードを与える。情
報をマージ即ち組合せ、単一の構成からそれらを
読取る場合に問題が生じる。その様な技法を用い
る場合の問題の1つは、3つの読取ヘツドの全て
が同時に同じセルからデータを読取ろうとするの
を禁止する制限がない事である。同時読取のゆえ
に或るセルはより大型でなければならないので、
セル寸法及びアレイ寸法は2倍ないし3倍とな
る。よつてその様な多重ポート回路はこれまで回
避されてきた。そして単一セルに於ける多重読取
りを阻止し、多重読取を用いて各ポートにそのセ
ル・データを配送する満足すべき方法はこれ迄存
在しなかつた。
とする選択されたマイクロ・プロセツサに於い
て、各レジスタが書込のために多数のデータ・イ
ン・ポート(data−in ports)から別個にアドレ
スでき、そして読取のために多数のデータ・アウ
ト・ポートに対して別個にアドレスできる事が望
ましい。レジスタ内のデータは任意のデータ・イ
ン・ポートに於てアドレスでき、そして任意のデ
ータ・アウト・ポートに於て読取れる。その様な
多重ポート(multi−potr)装置は独立した読取
及び書込アドレス指定を用いて配置した例えば3
ビツト・メモリ構成から成り、よつて書込時に同
一アドレス位置に於て各構成内に同一の情報が書
込まれ、次に順次書込によつて異なるポート・ア
ドレス内に並列に書込を行ない、よつて3つの構
成の各々が同じアドレス位置に於て同じ情報を含
み、3つの異なる位置−3つの異なるアドレス−
に於ける3つの構成の同時読取が3つのアウト・
ポートの各々に3つの異なるワードを与える。情
報をマージ即ち組合せ、単一の構成からそれらを
読取る場合に問題が生じる。その様な技法を用い
る場合の問題の1つは、3つの読取ヘツドの全て
が同時に同じセルからデータを読取ろうとするの
を禁止する制限がない事である。同時読取のゆえ
に或るセルはより大型でなければならないので、
セル寸法及びアレイ寸法は2倍ないし3倍とな
る。よつてその様な多重ポート回路はこれまで回
避されてきた。そして単一セルに於ける多重読取
りを阻止し、多重読取を用いて各ポートにそのセ
ル・データを配送する満足すべき方法はこれ迄存
在しなかつた。
米国特許第3896417号明細書は突合わされた即
ちマツチした信号が生じると、書込カウンタが使
用禁止となる様に、入力書込リング・カウンタ及
び入力読取リング・カウンタの回転位置を比較す
る比較器と共に複数個のシフトレジスタが配列さ
れた装置を開示している。
ちマツチした信号が生じると、書込カウンタが使
用禁止となる様に、入力書込リング・カウンタ及
び入力読取リング・カウンタの回転位置を比較す
る比較器と共に複数個のシフトレジスタが配列さ
れた装置を開示している。
米国特許第4183095号明細書はメモリ装置の動
作モードを制御するために比較器を用いる事によ
つて、選択したメモリ素子から順次データを読取
り、そして該素子へデータを書込む高密度メモリ
装置を開示している。読取及び書込のモードはク
ロツク導体上の信号を比較する事によつて選択さ
れる。
作モードを制御するために比較器を用いる事によ
つて、選択したメモリ素子から順次データを読取
り、そして該素子へデータを書込む高密度メモリ
装置を開示している。読取及び書込のモードはク
ロツク導体上の信号を比較する事によつて選択さ
れる。
米国特許第4078261号明細書には書込サイクル
の間読取回路の使用が禁止される装置が開示され
ている。
の間読取回路の使用が禁止される装置が開示され
ている。
[発明の目的及び概要]
本発明は、比較が成立した場合即ち比較を行う
信号が全て等しい場合に、複数のアレイ・ワード
解読器のうちの選択されたものが脱勢されて多重
読取を禁止し、未禁止状態のワード解読器と同じ
アドレスの出力線の全てへ出力データをスイツチ
する間により高位の選択された読取ヘツドが禁止
される様にメモリ・アレイ内のワード解読器のア
ドレス入力を比較するための手段を用いるメモ
リ・アレイ用の改良された支援回路に係る。比較
回路はリプル(ripple)技法を用い、ソース・フ
オロワ回路が介在した複数の排他的OR回路から
成る。比較回路の最初と最後の段は排他的OR回
路である。この比較回路は任意の寸法のシステム
に適応可能であつて、良好な電力パフオーマンス
を与え、寸法が小さくて済む。
信号が全て等しい場合に、複数のアレイ・ワード
解読器のうちの選択されたものが脱勢されて多重
読取を禁止し、未禁止状態のワード解読器と同じ
アドレスの出力線の全てへ出力データをスイツチ
する間により高位の選択された読取ヘツドが禁止
される様にメモリ・アレイ内のワード解読器のア
ドレス入力を比較するための手段を用いるメモ
リ・アレイ用の改良された支援回路に係る。比較
回路はリプル(ripple)技法を用い、ソース・フ
オロワ回路が介在した複数の排他的OR回路から
成る。比較回路の最初と最後の段は排他的OR回
路である。この比較回路は任意の寸法のシステム
に適応可能であつて、良好な電力パフオーマンス
を与え、寸法が小さくて済む。
よつて本発明の目的はマルチ・(多重)ポー
ト・メモリ装置のための改良された支援回路を提
供する事にある。
ト・メモリ装置のための改良された支援回路を提
供する事にある。
本発明の他の目的は、任意寸法の装置に拡張し
うる及びより効率のよい電力性能及びより小型の
寸法を可能になる多重ポート・メモリ装置のため
の比較回路を提供する事にある。
うる及びより効率のよい電力性能及びより小型の
寸法を可能になる多重ポート・メモリ装置のため
の比較回路を提供する事にある。
[実施例]
多重レジスタ・スタツクは選択されたマイク
ロ・プロセサに固有のものであつて、或るマイク
ロ・プロセサは局所記憶として16個の高速度レジ
スタを必要とする。各レジスタは32ビツト・プロ
セサに対して少なくとも32ビツト長(パリテイが
必要ならば更に長い)である事が必要である。レ
ジスタ・スタツクを夫々32ビツトの16個のワード
を有する512ビツト・スタチツク・メモリ(各読
取及び書込が32ビツト幅のワードである)と考え
ると便利である。
ロ・プロセサに固有のものであつて、或るマイク
ロ・プロセサは局所記憶として16個の高速度レジ
スタを必要とする。各レジスタは32ビツト・プロ
セサに対して少なくとも32ビツト長(パリテイが
必要ならば更に長い)である事が必要である。レ
ジスタ・スタツクを夫々32ビツトの16個のワード
を有する512ビツト・スタチツク・メモリ(各読
取及び書込が32ビツト幅のワードである)と考え
ると便利である。
ここで用いる“多重ポート”なる用語は、書込
に関して多数のデータ・イン・ポートから各レジ
スタが別個にアドレス可能でなければならない
事、もしくは、各レジスタが読取に関して多数の
データ・アウト・ポートに対して個々にアドレス
可能でなければならない事という要件を満足させ
るものを指す。また、“ポート”という語は所定
のレジスタ(もしくはレジスタ内のビツト)をア
ドレスできる。任意のポートからアドレス可能な
多数の通路を指す。
に関して多数のデータ・イン・ポートから各レジ
スタが別個にアドレス可能でなければならない
事、もしくは、各レジスタが読取に関して多数の
データ・アウト・ポートに対して個々にアドレス
可能でなければならない事という要件を満足させ
るものを指す。また、“ポート”という語は所定
のレジスタ(もしくはレジスタ内のビツト)をア
ドレスできる。任意のポートからアドレス可能な
多数の通路を指す。
多重ポート・レジスタ・スタツクの動作を更に
明瞭に示すために、3読取を必要とする多重ポー
ト・レジスタ・スタツクの下記の実施態様を考察
する。独立した読取及び書込アドレツシングを用
いる3つのシングル・ポート512ビツトメモリを、
書込に於て同一のアドレス位置に各メモリ内に同
一の情報を書込む様に配置する。次に3つのメモ
リの各々が同じアドレス位置に同じ情報を含む様
に順次書込によつてメモリの異なつたポート・ア
ドレス内へ並列に情報を書込む。最後に3つの異
なるアドレスに於ける3つのメモリの同時読取を
行う事によつて、3つの異なるポートの各々に3
つの異なるワードが呈せられる。
明瞭に示すために、3読取を必要とする多重ポー
ト・レジスタ・スタツクの下記の実施態様を考察
する。独立した読取及び書込アドレツシングを用
いる3つのシングル・ポート512ビツトメモリを、
書込に於て同一のアドレス位置に各メモリ内に同
一の情報を書込む様に配置する。次に3つのメモ
リの各々が同じアドレス位置に同じ情報を含む様
に順次書込によつてメモリの異なつたポート・ア
ドレス内へ並列に情報を書込む。最後に3つの異
なるアドレスに於ける3つのメモリの同時読取を
行う事によつて、3つの異なるポートの各々に3
つの異なるワードが呈せられる。
この態様を第1図、第2A図及び第2B図に例
示する。第1図に於て、本発明を用いる多重ポー
ト・メモリ装置のブロツク図を示す。
示する。第1図に於て、本発明を用いる多重ポー
ト・メモリ装置のブロツク図を示す。
この装置は記憶セル11のアレイ10を備えて
いる。各セルは1組のワード線及び1組の差動ビ
ツト線へ結合されている。各組のワード線及び各
組の差動ビツト線は装置に於けるポートの数と同
数ある。一例として3ポート装置について説明す
る。この場合、各セルは3本のワード線及び6本
のビツト線(ワード線に対して直交する様配列さ
れた3本が組になつた対の差動ビツト線)へ結合
されている。ワード線は、個々の組の入力アドレ
ス線P1,P2及びP3により駆動される3つの
各組のワード解読器12,13及び14へ結合さ
れる。即ち、第1図は3ポート(3つの読取及び
書込ポート)の単位セル11(各々1ビツト)を
示す。もしもセル11が32個水平方向に繰返され
るならば(図には2個しか示してない)、それは
レジスタ・スタツクの1ワードを表わす。セル1
1が垂直方向に例えば16個並べられる(第1図に
は3個しか示してない)。それはレジスタ・スタ
ツクの第1ビツトを示す。
いる。各セルは1組のワード線及び1組の差動ビ
ツト線へ結合されている。各組のワード線及び各
組の差動ビツト線は装置に於けるポートの数と同
数ある。一例として3ポート装置について説明す
る。この場合、各セルは3本のワード線及び6本
のビツト線(ワード線に対して直交する様配列さ
れた3本が組になつた対の差動ビツト線)へ結合
されている。ワード線は、個々の組の入力アドレ
ス線P1,P2及びP3により駆動される3つの
各組のワード解読器12,13及び14へ結合さ
れる。即ち、第1図は3ポート(3つの読取及び
書込ポート)の単位セル11(各々1ビツト)を
示す。もしもセル11が32個水平方向に繰返され
るならば(図には2個しか示してない)、それは
レジスタ・スタツクの1ワードを表わす。セル1
1が垂直方向に例えば16個並べられる(第1図に
は3個しか示してない)。それはレジスタ・スタ
ツクの第1ビツトを示す。
第2B図に示す様に、トランジスタ30,3
1,32及び33がメモリ・セル即ちラツチを構
成し、トランジスタ34及び35がビツト線40
及び41を読取及び書込のためにセルへ差動的に
結合する。これは基本的には公知の6デバイス・
セルである。
1,32及び33がメモリ・セル即ちラツチを構
成し、トランジスタ34及び35がビツト線40
及び41を読取及び書込のためにセルへ差動的に
結合する。これは基本的には公知の6デバイス・
セルである。
トランジスタ36,37,38及び39は付加
的な2つのポートのためのビツト線結合即ち付加
的な2対のビツト線結合を構成する。各セルは3
本のワード線46,47及び48の1つによつて
選択され、その対応するビツト線の対によつて読
取られもしくは書込まれる。このセルの下に垂直
方向に配列された2個の他のワードに於ける2つ
の他のセルもまた夫々のワード線によつて選択さ
れ、それらの夫々のポートから夫々のビツト線対
でもつて読取もしくは書込が行なわれる。
的な2つのポートのためのビツト線結合即ち付加
的な2対のビツト線結合を構成する。各セルは3
本のワード線46,47及び48の1つによつて
選択され、その対応するビツト線の対によつて読
取られもしくは書込まれる。このセルの下に垂直
方向に配列された2個の他のワードに於ける2つ
の他のセルもまた夫々のワード線によつて選択さ
れ、それらの夫々のポートから夫々のビツト線対
でもつて読取もしくは書込が行なわれる。
ごく最近迄3つ全部のポートが同時に同じセル
からデータを読取らない様にする制限がなかつ
た。状態を変えずにビツト線結合デバイスが配送
できる電流全部を受取るために、トランジスタ3
0及び31は大型でなければならない。即ちそれ
らトランジスタは多重読取擾乱時にデータを損失
してはならない。もしも同じセルに於いて3つの
同時読取が許されるならば、トランジスタ30及
び31はあたかもそのセルに於て1つの読取りの
みが行なわれる場合の3倍の寸法である事が必要
である。しかしそれらトランジスタの寸法を3倍
にする事はセルの寸法を2倍にし、ひいてはアレ
イの寸法を2倍にする事を意味する。
からデータを読取らない様にする制限がなかつ
た。状態を変えずにビツト線結合デバイスが配送
できる電流全部を受取るために、トランジスタ3
0及び31は大型でなければならない。即ちそれ
らトランジスタは多重読取擾乱時にデータを損失
してはならない。もしも同じセルに於いて3つの
同時読取が許されるならば、トランジスタ30及
び31はあたかもそのセルに於て1つの読取りの
みが行なわれる場合の3倍の寸法である事が必要
である。しかしそれらトランジスタの寸法を3倍
にする事はセルの寸法を2倍にし、ひいてはアレ
イの寸法を2倍にする事を意味する。
本発明はこれらの問題を全て解決するものであ
つて、非選択線の読取を禁止し、これと同時に1
つの選択された読取ヘツドから他の2つの多重選
択された読取ヘツド(ただし、禁止されている)
の出力ポートへデータをスイツチするため回路を
付加するものである。こ場合において、付加回路
の0.01mm2の付加によつて少くとも2mm2のアレイ面
積が節減でき、より高速の性能が得られる。
つて、非選択線の読取を禁止し、これと同時に1
つの選択された読取ヘツドから他の2つの多重選
択された読取ヘツド(ただし、禁止されている)
の出力ポートへデータをスイツチするため回路を
付加するものである。こ場合において、付加回路
の0.01mm2の付加によつて少くとも2mm2のアレイ面
積が節減でき、より高速の性能が得られる。
ビツト線は適当な書込ヘツド18,19及び2
0へ、そして3つの読取ヘツド21,22及び2
3へ結合される。なお、そのうちの読取ヘツド2
2及び23は更にマルチプレクサ回路を含んでい
る。マルチプレクサ回路を含むそれらのヘツド2
2及び23はより上位の回路として用いられる。
ヘツド23は、ヘツド21より上位のヘツド22
よりも上位である。同様に比較回路24,25及
び26へ結合されたこれらの書込解読器はより上
位の回路として用いられる。解読器14は、解読
器12より上位の解読器13よりも上位である。
本発明に従つて3つの比較回路24,25及び2
6が用いられるが、その各々はワード解読器入力
アドレス線の選択的な組合せへ、上位のワード解
読器13及び14の一方もしくは他方へ、並びに
上位の読取ヘツド22及び23の一方もしくは他
方へ結合されて、ワード解読器へのアドレス入力
を比較し、比較成立の場合に於て、選択されたよ
り上位のワード解読器を禁止し、選択されたより
上位の読取を脱勢する。この様にしてセルからの
出力データは、未禁止状態のワード解読器と同じ
アドレスをもつ出力読取ヘツドを介してのみ伝送
される。
0へ、そして3つの読取ヘツド21,22及び2
3へ結合される。なお、そのうちの読取ヘツド2
2及び23は更にマルチプレクサ回路を含んでい
る。マルチプレクサ回路を含むそれらのヘツド2
2及び23はより上位の回路として用いられる。
ヘツド23は、ヘツド21より上位のヘツド22
よりも上位である。同様に比較回路24,25及
び26へ結合されたこれらの書込解読器はより上
位の回路として用いられる。解読器14は、解読
器12より上位の解読器13よりも上位である。
本発明に従つて3つの比較回路24,25及び2
6が用いられるが、その各々はワード解読器入力
アドレス線の選択的な組合せへ、上位のワード解
読器13及び14の一方もしくは他方へ、並びに
上位の読取ヘツド22及び23の一方もしくは他
方へ結合されて、ワード解読器へのアドレス入力
を比較し、比較成立の場合に於て、選択されたよ
り上位のワード解読器を禁止し、選択されたより
上位の読取を脱勢する。この様にしてセルからの
出力データは、未禁止状態のワード解読器と同じ
アドレスをもつ出力読取ヘツドを介してのみ伝送
される。
第2A図及び第2B図は夫々に示される一点鎖
線の個所を相互に接続することによりセル11の
1つ及びそれに関連するワード解読器の細部を示
す。
線の個所を相互に接続することによりセル11の
1つ及びそれに関連するワード解読器の細部を示
す。
セル11は1対の交差結合したトランジスタ3
0及び31を有し、それらのソースが接地され、
ドレインが夫々のトランジスタ負荷32及び33
を介して電源134へ接結されている。トランジ
スタ30及び31のドレインは更に夫々のビツト
線トランジスタを介して夫々のビツト線へ接続さ
れている。即ちトランジスタ30のドレインはビ
ツト線トランジスタ34,36及び38を介して
夫々のビツト線40,42及び44へ接続され、
トランジスタ31のドレインはビツト線トランジ
スタ35,37及び39を介して夫々のビツト線
41,43及び45へ接続されている。
0及び31を有し、それらのソースが接地され、
ドレインが夫々のトランジスタ負荷32及び33
を介して電源134へ接結されている。トランジ
スタ30及び31のドレインは更に夫々のビツト
線トランジスタを介して夫々のビツト線へ接続さ
れている。即ちトランジスタ30のドレインはビ
ツト線トランジスタ34,36及び38を介して
夫々のビツト線40,42及び44へ接続され、
トランジスタ31のドレインはビツト線トランジ
スタ35,37及び39を介して夫々のビツト線
41,43及び45へ接続されている。
基本的にセルの動作は、差動信号が特定のセル
に接続されたビツト線の対に於て発生されるので
トランジスタ30及び31の状態に依存する。例
えば、もしもトランジスタ30がオフ状態で、ト
ランジスタ31がオン状態になると、トランジス
タ30に接続されたビツト線は高電位となり、ト
ランジスタ31に接続されたビツト線は低電位に
なる。よつて3つのビツト線の対40及び41,
42及び43,44及び45の各々(ビツト線ト
ランジスタを介してセルへ接続される)に於て異
つた電圧が生じる。選択されたビツト線に於ける
差動電圧は適当な読取ヘツド21,22及び23
によつて書込後の任意の時間に於て読取る事がで
きる。従つてこの装置は時間多重読取/書込を用
いる。即ち読取/書込動作がシーケンシヤル即ち
順次的であつて、同時的ではない。
に接続されたビツト線の対に於て発生されるので
トランジスタ30及び31の状態に依存する。例
えば、もしもトランジスタ30がオフ状態で、ト
ランジスタ31がオン状態になると、トランジス
タ30に接続されたビツト線は高電位となり、ト
ランジスタ31に接続されたビツト線は低電位に
なる。よつて3つのビツト線の対40及び41,
42及び43,44及び45の各々(ビツト線ト
ランジスタを介してセルへ接続される)に於て異
つた電圧が生じる。選択されたビツト線に於ける
差動電圧は適当な読取ヘツド21,22及び23
によつて書込後の任意の時間に於て読取る事がで
きる。従つてこの装置は時間多重読取/書込を用
いる。即ち読取/書込動作がシーケンシヤル即ち
順次的であつて、同時的ではない。
説明する実施例は限定されているが本発明を同
時的読取/書込動作に適用できる事は云う迄もな
い。
時的読取/書込動作に適用できる事は云う迄もな
い。
ビツト線トランジスタのゲートは図示する様に
夫々ワード線46,47及び48に対して一対ず
つ接続されている。
夫々ワード線46,47及び48に対して一対ず
つ接続されている。
これらのワード線は更に夫々選択されたワード
解読器49,50及び51の1つに接続される。
これらのワード線解読器は夫々ワード解読器1
2,13及び14に含まれるワード解読器の組合
せの各々の1つである事は云う迄もない。各ワー
ド解読器は基本的には複数個の入力解読トランジ
スタからなり、その各々のゲートは個々のアドレ
ス線に接続されている。この場合単に説明の目的
から3つのアドレスが用いられるものと仮定す
る。すなわち、解読器49は、3つの入力解読ト
ランジスタ52,53及び54を有し、それらの
ゲートは全体としてアドレスP1として示す個々
のアドレス線55,56及び57へ接続されてい
る。入力トランジスタ52,53及び54のソー
スは接地され、ドレインは負荷59を介して電源
58へ並びにスイツチング・トランジスタ60
(そのドレインは電源61へ、ソースはワード線
46へ接続されている)のゲートへ接続されてい
る。
解読器49,50及び51の1つに接続される。
これらのワード線解読器は夫々ワード解読器1
2,13及び14に含まれるワード解読器の組合
せの各々の1つである事は云う迄もない。各ワー
ド解読器は基本的には複数個の入力解読トランジ
スタからなり、その各々のゲートは個々のアドレ
ス線に接続されている。この場合単に説明の目的
から3つのアドレスが用いられるものと仮定す
る。すなわち、解読器49は、3つの入力解読ト
ランジスタ52,53及び54を有し、それらの
ゲートは全体としてアドレスP1として示す個々
のアドレス線55,56及び57へ接続されてい
る。入力トランジスタ52,53及び54のソー
スは接地され、ドレインは負荷59を介して電源
58へ並びにスイツチング・トランジスタ60
(そのドレインは電源61へ、ソースはワード線
46へ接続されている)のゲートへ接続されてい
る。
装置に於てもしも3アドレスより多いアドレス
が必要とされるか使用されるならば、入力アドレ
ス線の数に等しい数の付加的な入力解読トランジ
スタがその様な解読器に於て使用される事は云う
迄もない。
が必要とされるか使用されるならば、入力アドレ
ス線の数に等しい数の付加的な入力解読トランジ
スタがその様な解読器に於て使用される事は云う
迄もない。
その様なワード解読器は一般に次の様に働く。
もしもアドレス線55,56及び57のいずれか
もしくは全てが正の信号を呈するならば、例えば
アドレス線55が高電位でトランジスタ52がオ
ン(導通状態)となつてトランジスタ60のゲー
トが接地電位になる。即ちトランジスタ(以下ト
ランジスタTrで表現する。)60はオフ(遮断状
態)であつて、アドレス線46はオフ状態であ
る。全ての入力アドレス線55,56及び57の
全てが負であると、Tr60はオンとなり、ワー
ド線46はTr60を介して電源61へ接続され
るので高電位となる。ワード46が高電位になる
と、ビツト線Tr34及び35がオンとなり、セ
ルに於ける情報即ち交差結合したTr30及び3
1の状態がビツト線対40及び41(ビツト線
Tr34及び34を介してセルへ結合されている)
によつて差動的に受取られる。
もしもアドレス線55,56及び57のいずれか
もしくは全てが正の信号を呈するならば、例えば
アドレス線55が高電位でトランジスタ52がオ
ン(導通状態)となつてトランジスタ60のゲー
トが接地電位になる。即ちトランジスタ(以下ト
ランジスタTrで表現する。)60はオフ(遮断状
態)であつて、アドレス線46はオフ状態であ
る。全ての入力アドレス線55,56及び57の
全てが負であると、Tr60はオンとなり、ワー
ド線46はTr60を介して電源61へ接続され
るので高電位となる。ワード46が高電位になる
と、ビツト線Tr34及び35がオンとなり、セ
ルに於ける情報即ち交差結合したTr30及び3
1の状態がビツト線対40及び41(ビツト線
Tr34及び34を介してセルへ結合されている)
によつて差動的に受取られる。
他の解読器50及び51も解読器49とほぼ同
じものであつて、解読器50がアドレス解読Tr
52a,53a及び54aに並列の1つの付加的
なTr62を有し、解読器51が入力アドレス解
読Tr52b,53b及び54bと並列の2つの
付加的なTr63及び64を有している点を除い
て同じ様に動作する。解読器50に於ける付加的
Tr62のゲートは第1比較回路24の出力に接
続され、解読器51に於ける第1の付加Tr63
のゲートは第2比較器25の出力に接続され、そ
して第2の付加的Tr64のゲートは第3の比較
器26の出力に接続されている。
じものであつて、解読器50がアドレス解読Tr
52a,53a及び54aに並列の1つの付加的
なTr62を有し、解読器51が入力アドレス解
読Tr52b,53b及び54bと並列の2つの
付加的なTr63及び64を有している点を除い
て同じ様に動作する。解読器50に於ける付加的
Tr62のゲートは第1比較回路24の出力に接
続され、解読器51に於ける第1の付加Tr63
のゲートは第2比較器25の出力に接続され、そ
して第2の付加的Tr64のゲートは第3の比較
器26の出力に接続されている。
便宜上解読器49への入力アドレス線55,5
6及び57は全体としてアドレスの組(アドレ
ス・セツト)P1として示す。解読器50への入
力解読アドレス線55a,56a,及び57aは
アドレスの組P2で示し、そして解読器51への
入力アドレス線55b,56b及び57bはアド
レスの組P3として示す。
6及び57は全体としてアドレスの組(アドレ
ス・セツト)P1として示す。解読器50への入
力解読アドレス線55a,56a,及び57aは
アドレスの組P2で示し、そして解読器51への
入力アドレス線55b,56b及び57bはアド
レスの組P3として示す。
これらのアドレス線は個々の解読器へ接続され
ると共に、夫々比較器24,25及び26の1つ
へも接続される。例えば比較器24にはアドレス
の組P1及びP2が接続され、そして比較器25
にはP1及びP3が、比較器26にはP2及びP
3が夫々接続される。
ると共に、夫々比較器24,25及び26の1つ
へも接続される。例えば比較器24にはアドレス
の組P1及びP2が接続され、そして比較器25
にはP1及びP3が、比較器26にはP2及びP
3が夫々接続される。
これらの比較器に於て、アドレスの組が比較さ
れ、もしも比較が成り立つと、比較器から適当な
正の出力信号が発生される。例えばアドレスの組
P1及びP2の比較によつて、線65に正の信号
が呈せられる。この信号は比較器24から解読器
における付加的なTr(この場合は線67aを介し
て解読器50のTr62a)へ送られる。この正
信号はTr62aをオンにし、ワード線47を脱
勢状態にする。これによつて解読器50は有効に
脱勢され即ち使用禁止状態となり、入力アドレス
の組P2に対する動作が阻止される。同様に、も
しもアドレスの組P1及びP3の間の比較が成立
すると、線66及び63aに信号が現われ、解読
器51に於けるTr63がオンになつて、ワード
線48が脱勢される。また、アドレスの組P2及
びP3の比較が成立すると、線67及び64aに
信号が現われて、解読器51のTr64がオンに
なり、ワード線48が脱勢される。この場合比較
器25もしくは26からの正信号が解読器51を
有効に脱勢する。
れ、もしも比較が成り立つと、比較器から適当な
正の出力信号が発生される。例えばアドレスの組
P1及びP2の比較によつて、線65に正の信号
が呈せられる。この信号は比較器24から解読器
における付加的なTr(この場合は線67aを介し
て解読器50のTr62a)へ送られる。この正
信号はTr62aをオンにし、ワード線47を脱
勢状態にする。これによつて解読器50は有効に
脱勢され即ち使用禁止状態となり、入力アドレス
の組P2に対する動作が阻止される。同様に、も
しもアドレスの組P1及びP3の間の比較が成立
すると、線66及び63aに信号が現われ、解読
器51に於けるTr63がオンになつて、ワード
線48が脱勢される。また、アドレスの組P2及
びP3の比較が成立すると、線67及び64aに
信号が現われて、解読器51のTr64がオンに
なり、ワード線48が脱勢される。この場合比較
器25もしくは26からの正信号が解読器51を
有効に脱勢する。
同時に、これらのより上位の読取ヘツド22及
び23の一方または両方を選択的に脱勢するため
に比較回路の出力がより上位の読取ヘツド22及
び23へ送られる。例えば、もしもアドレスP1
及びP2の比較が成立すると、より上位の読取ヘ
ツド22のみが脱勢され、読取ヘツド21及び2
3は生かされる。同様に、もしもアドレスP2及
びP3のみの比較が成立すると、より上位のヘツ
ド23のみが脱勢されて、読取ヘツド21及び2
2は生かされたままである。最終的にもしもこれ
らのアドレスが全て比較成立するならば、両方の
ヘツド22及び23が脱勢され、単一の読取ヘツ
ドのみ即ちヘツド21が生きた状態にある。云う
迄もない事であるが、異なるセルには異なるアド
レスが付与される事によつて各セルが付勢される
が、2つ以上の同一のアドレスによつてセルがア
ドレスされている時には問題が生じる事を明確に
理解されたい。
び23の一方または両方を選択的に脱勢するため
に比較回路の出力がより上位の読取ヘツド22及
び23へ送られる。例えば、もしもアドレスP1
及びP2の比較が成立すると、より上位の読取ヘ
ツド22のみが脱勢され、読取ヘツド21及び2
3は生かされる。同様に、もしもアドレスP2及
びP3のみの比較が成立すると、より上位のヘツ
ド23のみが脱勢されて、読取ヘツド21及び2
2は生かされたままである。最終的にもしもこれ
らのアドレスが全て比較成立するならば、両方の
ヘツド22及び23が脱勢され、単一の読取ヘツ
ドのみ即ちヘツド21が生きた状態にある。云う
迄もない事であるが、異なるセルには異なるアド
レスが付与される事によつて各セルが付勢される
が、2つ以上の同一のアドレスによつてセルがア
ドレスされている時には問題が生じる事を明確に
理解されたい。
より上位の読取ヘツドはセルから同時にデータ
を読取る動作が阻止され、よつてセル11のTr
30及び31は該セルを流れる電流が過剰でなく
なるので寸法を拡大する必要がない。
を読取る動作が阻止され、よつてセル11のTr
30及び31は該セルを流れる電流が過剰でなく
なるので寸法を拡大する必要がない。
比較器24をより詳細に示す第3図を参照す
る。
る。
この比較器24は3つの直列に接続した排他的
OR69,69a及び69bとインバータ72及
び73とから成る。比較は低電力ロジツクに於
て、好ましくはアドレスが記憶される命令アドレ
ス・レジスタに於て実施される。その結果セル内
に於ける1つの読取のみが保証され、セルTr3
0及び31は寸法が1/3に減じられ、更に、ビツ
ト線がより短くなり、ビツト線の寄生容量が相当
減りよつてビツト線の立上り時間及び立下り時間
がそれに対応して短くなる。
OR69,69a及び69bとインバータ72及
び73とから成る。比較は低電力ロジツクに於
て、好ましくはアドレスが記憶される命令アドレ
ス・レジスタに於て実施される。その結果セル内
に於ける1つの読取のみが保証され、セルTr3
0及び31は寸法が1/3に減じられ、更に、ビツ
ト線がより短くなり、ビツト線の寄生容量が相当
減りよつてビツト線の立上り時間及び立下り時間
がそれに対応して短くなる。
上述の様に、比較回路24は3つの排他的OR
69,69a及び69bを有し、その各々がビツ
ト毎(bit−by−bit)のアドレス比較を行なう。
即ちアドレスの組P1のアドレス線55及びアド
レスの組P2のアドレス線55aは交差結合され
たTr70及び71(これらのドレインはノード
Aに於て相互に接続されている)のソースを介し
て第1の排他的OR69へ接続されている。この
ノードAは負荷Tr74を介して電源75へ、負
荷Tr78及びフオロアTr79を含む、インバー
タ回路72のインバータTr76及び77のゲー
トへ接続される。Tr76のソースは接地され、
そのドレインは第2の負荷Tr78を介して電源
75へ接続されている。Tr76のドレインは更
にフオロワTr79のゲートへも接続されている。
Tr79のドレインは接地され、そのソースはTr
77を介して電源75及びノードBへ接続されて
いる。
69,69a及び69bを有し、その各々がビツ
ト毎(bit−by−bit)のアドレス比較を行なう。
即ちアドレスの組P1のアドレス線55及びアド
レスの組P2のアドレス線55aは交差結合され
たTr70及び71(これらのドレインはノード
Aに於て相互に接続されている)のソースを介し
て第1の排他的OR69へ接続されている。この
ノードAは負荷Tr74を介して電源75へ、負
荷Tr78及びフオロアTr79を含む、インバー
タ回路72のインバータTr76及び77のゲー
トへ接続される。Tr76のソースは接地され、
そのドレインは第2の負荷Tr78を介して電源
75へ接続されている。Tr76のドレインは更
にフオロワTr79のゲートへも接続されている。
Tr79のドレインは接地され、そのソースはTr
77を介して電源75及びノードBへ接続されて
いる。
第3図に示す様に、次の排他的OR回路69a
は、該回路の交差結合されたTr80及び81の
ソースに異つたアドレス線56,56aが接続さ
れている点以外は回路69とほぼ同じである。こ
れらのTr80及び81のドレインは共にノード
Bに接続され、そこから次のインバータ回路73
へ接続される。インバータ回路73の出力は第3
の最終的な排他的OR回路69bへ接続される。
ノードBはTr82及び83のゲートへ接続され、
Tr82のソースは接地され、そのドレインはソ
ース・フオロワTr85のゲートへ接続されてい
る。Tr85のドレインは接地され、そのソース
はTr83を介して電源75及び出力線65へ接
続されている。この排他的OR回路69bは1対
の交差結合されたTr86及び87を有する。そ
れらのソースは夫々アドレス線57及び57aに
接続され、ドレインは出力線65に接続されてい
る。この様にしてPIアドレス入力及びP2アド
レス入力の間に於てアドレス対アドレス
(address by address)の比較が実施される。こ
の比較器は等しい長さの2つのアドレスを比較す
る場合、モジユール・リプル(module ripple)
法を実行する。回路は完全にスタチツク即ち静的
であるのでクロツキングは必要でない。
は、該回路の交差結合されたTr80及び81の
ソースに異つたアドレス線56,56aが接続さ
れている点以外は回路69とほぼ同じである。こ
れらのTr80及び81のドレインは共にノード
Bに接続され、そこから次のインバータ回路73
へ接続される。インバータ回路73の出力は第3
の最終的な排他的OR回路69bへ接続される。
ノードBはTr82及び83のゲートへ接続され、
Tr82のソースは接地され、そのドレインはソ
ース・フオロワTr85のゲートへ接続されてい
る。Tr85のドレインは接地され、そのソース
はTr83を介して電源75及び出力線65へ接
続されている。この排他的OR回路69bは1対
の交差結合されたTr86及び87を有する。そ
れらのソースは夫々アドレス線57及び57aに
接続され、ドレインは出力線65に接続されてい
る。この様にしてPIアドレス入力及びP2アド
レス入力の間に於てアドレス対アドレス
(address by address)の比較が実施される。こ
の比較器は等しい長さの2つのアドレスを比較す
る場合、モジユール・リプル(module ripple)
法を実行する。回路は完全にスタチツク即ち静的
であるのでクロツキングは必要でない。
以下に於て回路の動作を説明する。まず第1の
アドレスの組P1が線55,56,57上の信号
からなり、第2のアドレスの組P2が線55a,
56a及び57a上の信号からなり、更に線56
及び56a上の信号(これらの信号は相互に異な
る)を除いて全ての信号が等しいと仮定する。こ
の場合、線55及び55aに於ける信号が等しい
ので、Tr70及び71はオフであつて、ノード
Aは負荷Tr74によつて高電位となり、Tr7
6,77はオンとなる。Tr76及び77がオン
となる事によつて、Tr79はオフにされ、Tr7
7がオンである事によつて、Tr79のソースは
高電位になる。しかしながら、線56及び56a
上の信号は異なるので、交差結合されたTr80
もしくは81の一方がオンとなり、ノードBを低
電位にし、Tr82及び83のゲートを低電位に
維持する。よつてこれらのTrはオフにとどまる。
Tr82がオフであつて、Tr85のゲートが負荷
Tr84を介して高電位になると、Tr85がオン
になつて出力線65を低電位に引く。線65が低
電位であると、読取ヘツド22へ信号が送られな
い。よつてそのヘツドは通常の動作を行なう。
アドレスの組P1が線55,56,57上の信号
からなり、第2のアドレスの組P2が線55a,
56a及び57a上の信号からなり、更に線56
及び56a上の信号(これらの信号は相互に異な
る)を除いて全ての信号が等しいと仮定する。こ
の場合、線55及び55aに於ける信号が等しい
ので、Tr70及び71はオフであつて、ノード
Aは負荷Tr74によつて高電位となり、Tr7
6,77はオンとなる。Tr76及び77がオン
となる事によつて、Tr79はオフにされ、Tr7
7がオンである事によつて、Tr79のソースは
高電位になる。しかしながら、線56及び56a
上の信号は異なるので、交差結合されたTr80
もしくは81の一方がオンとなり、ノードBを低
電位にし、Tr82及び83のゲートを低電位に
維持する。よつてこれらのTrはオフにとどまる。
Tr82がオフであつて、Tr85のゲートが負荷
Tr84を介して高電位になると、Tr85がオン
になつて出力線65を低電位に引く。線65が低
電位であると、読取ヘツド22へ信号が送られな
い。よつてそのヘツドは通常の動作を行なう。
アドレスの組P1及びP2間の比較が成立する
場合即ち線55,55a,56,56a,57及
び57a上の信号が全て同一である場合には、回
路は次の様に動作する。Tr70,71のゲート
へ印加される線55及び55a上の信号が等しい
ので、それらのTr70,71は両方ともオフで
あつて、ノードAは負荷Tr74によつて高電位
となり、Tr76,77はオンとなる。Tr76が
オンであると、Tr79はオフになり、ノードB
はTr77がオンであるので高電位となる。この
場合、線56及び56aに於ける信号は同一であ
り、交差結合Tr80もしくは81のいずれもが
オンにならず、ノードBが高電位となつてTr8
2,83のゲートを高電位にし、よつてこれらの
TrがオンとなつてTr85をオフにし、Tr83の
動作によつて出力線65の電位が立ち上る。線5
7及び57aに現れる2つの信号が等しいので
Tr86,87もオフであり、よつて出力線65
は高電位を維持する。出力線65が高電位である
と、第4図に関連した禁止及び伝送回路へ信号が
送られ、よつて読取ヘツド21及び23は同一の
情報を読取る。
場合即ち線55,55a,56,56a,57及
び57a上の信号が全て同一である場合には、回
路は次の様に動作する。Tr70,71のゲート
へ印加される線55及び55a上の信号が等しい
ので、それらのTr70,71は両方ともオフで
あつて、ノードAは負荷Tr74によつて高電位
となり、Tr76,77はオンとなる。Tr76が
オンであると、Tr79はオフになり、ノードB
はTr77がオンであるので高電位となる。この
場合、線56及び56aに於ける信号は同一であ
り、交差結合Tr80もしくは81のいずれもが
オンにならず、ノードBが高電位となつてTr8
2,83のゲートを高電位にし、よつてこれらの
TrがオンとなつてTr85をオフにし、Tr83の
動作によつて出力線65の電位が立ち上る。線5
7及び57aに現れる2つの信号が等しいので
Tr86,87もオフであり、よつて出力線65
は高電位を維持する。出力線65が高電位である
と、第4図に関連した禁止及び伝送回路へ信号が
送られ、よつて読取ヘツド21及び23は同一の
情報を読取る。
リプル(ripple)比較回路からの線65が高電
位であると、第4図に関連して後述する様に読取
ヘツド22を脱勢し、更にアドレス解読器50を
脱勢する。
位であると、第4図に関連して後述する様に読取
ヘツド22を脱勢し、更にアドレス解読器50を
脱勢する。
比較器25も同じ様に配列されている。それは
アドレス解読器49へ入力されたアドレスの組P
1とアドレス解読器51へ入力されたアドレスの
組P3とを比較し、その出力線66は読取ヘツド
23に関連する禁止及び伝送回路へ接続されてお
り、更にワード解読器51に於けるデバイス即ち
Tr63への線63aにも接続される。
アドレス解読器49へ入力されたアドレスの組P
1とアドレス解読器51へ入力されたアドレスの
組P3とを比較し、その出力線66は読取ヘツド
23に関連する禁止及び伝送回路へ接続されてお
り、更にワード解読器51に於けるデバイス即ち
Tr63への線63aにも接続される。
比較回路26は同様にアドレス組P2とP3を
比較する。その出力線67は読取ヘツド23に関
連する第2の禁止及び伝送回路及びワード解読器
51内のデバイス64への禁止線64aへ接続さ
れる。線66もしくは67上の正の信号が読取ヘ
ツド23及びワード線解読器51を禁止する。
比較する。その出力線67は読取ヘツド23に関
連する第2の禁止及び伝送回路及びワード解読器
51内のデバイス64への禁止線64aへ接続さ
れる。線66もしくは67上の正の信号が読取ヘ
ツド23及びワード線解読器51を禁止する。
第4図を参照する。本発明において用いるのに
適した読取ヘツド21,22及び23とこれらに
関連したマルチプレクサ回路を詳細に説明する。
適した読取ヘツド21,22及び23とこれらに
関連したマルチプレクサ回路を詳細に説明する。
読取ヘツド21は1対のビツト線読取トランジ
スタ90及び91を有しており、それらのゲート
は夫々差動ビツト線40及び41へ結合されてい
る。トランジスタ90,91のドレインは夫々負
荷Tr92,93を介して電源95へ接続され、
Tr90,91のソースは接地されている。更に
Tr90,91のドレインは出力増幅器へ結合さ
れている。この例に於ては、差動増幅器94を用
いている。この増幅器94は低インピーダンス源
である。この増幅器94は公知のものを用いう
る。その出力部は出力読取線96へ結合され、ビ
ツト線Tr34,35がワード線46の付勢によ
つてオンに転じると常に付勢される。前述の様
に、これらのビツト線Trの付勢によつてセルTr
30,31からの差動信号が夫々ビツト線40,
41上に現われる。この差動信号は読取信号Tr
90もしくは91の一方をオンに転じ、よつて増
幅器94は適当な信号を発する。即ち読取ヘツド
21は公知の典型的なヘツドである。
スタ90及び91を有しており、それらのゲート
は夫々差動ビツト線40及び41へ結合されてい
る。トランジスタ90,91のドレインは夫々負
荷Tr92,93を介して電源95へ接続され、
Tr90,91のソースは接地されている。更に
Tr90,91のドレインは出力増幅器へ結合さ
れている。この例に於ては、差動増幅器94を用
いている。この増幅器94は低インピーダンス源
である。この増幅器94は公知のものを用いう
る。その出力部は出力読取線96へ結合され、ビ
ツト線Tr34,35がワード線46の付勢によ
つてオンに転じると常に付勢される。前述の様
に、これらのビツト線Trの付勢によつてセルTr
30,31からの差動信号が夫々ビツト線40,
41上に現われる。この差動信号は読取信号Tr
90もしくは91の一方をオンに転じ、よつて増
幅器94は適当な信号を発する。即ち読取ヘツド
21は公知の典型的なヘツドである。
読取ヘツド22も同様であつて、1組の読取
Tr98,99を有しており、それらのゲートは
読取線42,43へ結合される。読取Tr98,
99のソースは接地される。92a,93aは負
荷Tr,94aは差動増幅器である。加えて、読
取ヘツド22にはマルチプレクサ回路が設けられ
ている。この回路は第2の組の読取Tr90a,
91aを有する。これらのTrのゲートは夫々差
動ビツト線40,41へ接続され、夫々のソース
はスイツチングTr97を介して接地され、夫々
のドレインは負荷Tr92a,93aを介して電
源95へ、更に差動増幅器94aへ、ひいては出
力読取線96aへ接続されている。これらのTr
に加えて、このマルチプレクサ回路は2つの禁止
Tr100,101を有している。これらのTrの
ドレインは夫々ビツト線42及び43へ接続さ
れ、ソースは接地されている。ゲートか比較回路
24からの禁止線65へ接続されている。更にこ
の線65にはスイツチングTr97のゲートが接
続されている。Tr97のソースは接地され、ド
レインはTr90a,91aを介して差動増幅器
94aへ接続される。
Tr98,99を有しており、それらのゲートは
読取線42,43へ結合される。読取Tr98,
99のソースは接地される。92a,93aは負
荷Tr,94aは差動増幅器である。加えて、読
取ヘツド22にはマルチプレクサ回路が設けられ
ている。この回路は第2の組の読取Tr90a,
91aを有する。これらのTrのゲートは夫々差
動ビツト線40,41へ接続され、夫々のソース
はスイツチングTr97を介して接地され、夫々
のドレインは負荷Tr92a,93aを介して電
源95へ、更に差動増幅器94aへ、ひいては出
力読取線96aへ接続されている。これらのTr
に加えて、このマルチプレクサ回路は2つの禁止
Tr100,101を有している。これらのTrの
ドレインは夫々ビツト線42及び43へ接続さ
れ、ソースは接地されている。ゲートか比較回路
24からの禁止線65へ接続されている。更にこ
の線65にはスイツチングTr97のゲートが接
続されている。Tr97のソースは接地され、ド
レインはTr90a,91aを介して差動増幅器
94aへ接続される。
もしもアドレス組P1及びP2が異なつている
ならば、ビツト線40,41及びビツト線42,
43の両方の組は信号(前述の様に異るセルから
の信号であるが)を有する。この場合、読取ヘツ
ド21は前述の様に動作する。これらの信号は読
取Tr90a,91aの一方並びにTr98,99
の一方をオンに転じる。読取ヘツド22は、Tr
98及び99の一方がオンとなり、異なるセルか
らの情報を有する線42及び43のみを読取る。
読取Tr90a,91aはスイツチングTr97が
オンにならないのでそれらのソースが接地電位か
ら絶縁され、両者ともオンになり得ない。
ならば、ビツト線40,41及びビツト線42,
43の両方の組は信号(前述の様に異るセルから
の信号であるが)を有する。この場合、読取ヘツ
ド21は前述の様に動作する。これらの信号は読
取Tr90a,91aの一方並びにTr98,99
の一方をオンに転じる。読取ヘツド22は、Tr
98及び99の一方がオンとなり、異なるセルか
らの情報を有する線42及び43のみを読取る。
読取Tr90a,91aはスイツチングTr97が
オンにならないのでそれらのソースが接地電位か
ら絶縁され、両者ともオンになり得ない。
即ち、読取ヘツド22は1組より多い数のビツ
ト線を読取る事が阻止される。
ト線を読取る事が阻止される。
両方のワード線上の情報を呼出すアドレスP1
及びP2が同一である場合、比較回路24に於て
比較が成立し、これによつて線65は正電位を呈
する。線65が正電位になると、アドレス解読器
50がオフになる(ひいてはこれがビツト線Tr
36,37をオフにする。)だけでなく、禁止Tr
100,101のゲートが正電位となつて、これ
らのTrがオンに転じて、ビツト線42,43を
接地する。この接地によつて、Tr98,99は
オンにならない。
及びP2が同一である場合、比較回路24に於て
比較が成立し、これによつて線65は正電位を呈
する。線65が正電位になると、アドレス解読器
50がオフになる(ひいてはこれがビツト線Tr
36,37をオフにする。)だけでなく、禁止Tr
100,101のゲートが正電位となつて、これ
らのTrがオンに転じて、ビツト線42,43を
接地する。この接地によつて、Tr98,99は
オンにならない。
同時に、線65上の正の信号によつてスイツチ
ングTr97はオンになつて、Tr90a,91a
のソースを接地させる。この状態が生じると、ビ
ツト線40,41上の信号が読取Tr90a,9
1aの一方をオンにし、よつて増幅器94aがオ
ンとなつて増幅器94が発生するのと同じ信号を
出す。
ングTr97はオンになつて、Tr90a,91a
のソースを接地させる。この状態が生じると、ビ
ツト線40,41上の信号が読取Tr90a,9
1aの一方をオンにし、よつて増幅器94aがオ
ンとなつて増幅器94が発生するのと同じ信号を
出す。
この様にして、両方の差動増幅器(読取ヘツ
ド)94,94aをオンに転じる事ができ、信号
を生じる事ができる。1組のビツト線Tr34,
35のみがオンになるので、メモリTr30,3
1を流れる電流は最小になる。マルチプレクサ
は、脱勢されてないワード解読器49と同じアド
レスをもつ出力読取線96aへビツト線40,4
1上に現われるセルのデータをスイツチした事に
なる。
ド)94,94aをオンに転じる事ができ、信号
を生じる事ができる。1組のビツト線Tr34,
35のみがオンになるので、メモリTr30,3
1を流れる電流は最小になる。マルチプレクサ
は、脱勢されてないワード解読器49と同じアド
レスをもつ出力読取線96aへビツト線40,4
1上に現われるセルのデータをスイツチした事に
なる。
読取ヘツド23も同様であつて、ビツト線4
4,45へ夫々接続された一組の読取Tr102,
103を有し、それらのソースが夫々接地されて
おり、ドレインが負荷Tr92b,93bを介し
て電源95へ及び出力線96bへ接続されてい
る。
4,45へ夫々接続された一組の読取Tr102,
103を有し、それらのソースが夫々接地されて
おり、ドレインが負荷Tr92b,93bを介し
て電源95へ及び出力線96bへ接続されてい
る。
更に、読取ヘツド23にはマルチプレクサ回路
が設けられている。第1のマルチプレクサ回路は
スイツチング回路Tr97a,読取Tr90b,9
1b並びに禁止Tr108,109から成る。Tr
97a,108,109はゲートが比較回路25
からの禁止線66へ接続されている。Tr108,
109は夫々接地電位とビツト線44,45の間
に夫々配置される。スイツチングTr90b,9
1bのゲートは夫々ビツト線40,41に接続さ
れ、それらのドレインは差動増幅器94bに接続
される。第2のマルチプレクサ回路はスイツチン
グTr104、1対の読取Tr98a,98a(こ
れらのゲートは夫々ビツト線42,43へ接続さ
れている)並びに禁止Tr106,107を有す
る。Tr104,106及び107のゲートは比
較器26からの禁止線67へ接続されている。
Tr106,107は夫々接地電位とビツト線4
4,45の間に設けられている。Tr104は接
地電位、読取Tr98a,99a(ゲートが夫々線
42,43へ、ドレインが差動増幅器94bへ接
続されている。
が設けられている。第1のマルチプレクサ回路は
スイツチング回路Tr97a,読取Tr90b,9
1b並びに禁止Tr108,109から成る。Tr
97a,108,109はゲートが比較回路25
からの禁止線66へ接続されている。Tr108,
109は夫々接地電位とビツト線44,45の間
に夫々配置される。スイツチングTr90b,9
1bのゲートは夫々ビツト線40,41に接続さ
れ、それらのドレインは差動増幅器94bに接続
される。第2のマルチプレクサ回路はスイツチン
グTr104、1対の読取Tr98a,98a(こ
れらのゲートは夫々ビツト線42,43へ接続さ
れている)並びに禁止Tr106,107を有す
る。Tr104,106及び107のゲートは比
較器26からの禁止線67へ接続されている。
Tr106,107は夫々接地電位とビツト線4
4,45の間に設けられている。Tr104は接
地電位、読取Tr98a,99a(ゲートが夫々線
42,43へ、ドレインが差動増幅器94bへ接
続されている。
もしも正の信号がアドレス組P1及びP2の比
較によつて線66へ与えられるならば、デバイス
108,109はオンとなつて、よつてデバイス
線44,45が接地され、禁止される。と同時
に、Tr97aがオンとなり、ビツト線40,4
1上の信号に依存して電流がTr90b,91b
のいずれかを流れる事ができ、差動増幅器94b
が付勢される。比較器26からの線67上の信号
は同様の機能を行うが、この場合、線67上の情
報が禁止Tr106,107をオンにし、ビツト
線44,45を接地する。同時に、Tr104も
オンとなり、よつてビツト線42,43上の信号
を検出するTr98a,99aをオンにする。も
しも線65上に於て比較器の信号が同時に検出さ
れているならば禁止Tr100及び101によつ
て線42,43は接地される事に注目すべきであ
る。その様な場合に於て、Tr98a,99aが
オンになる事は何の効果も生じないであろう。こ
れはビツト線42,43が禁止Tr100及び1
01によつて接地されたからである。
較によつて線66へ与えられるならば、デバイス
108,109はオンとなつて、よつてデバイス
線44,45が接地され、禁止される。と同時
に、Tr97aがオンとなり、ビツト線40,4
1上の信号に依存して電流がTr90b,91b
のいずれかを流れる事ができ、差動増幅器94b
が付勢される。比較器26からの線67上の信号
は同様の機能を行うが、この場合、線67上の情
報が禁止Tr106,107をオンにし、ビツト
線44,45を接地する。同時に、Tr104も
オンとなり、よつてビツト線42,43上の信号
を検出するTr98a,99aをオンにする。も
しも線65上に於て比較器の信号が同時に検出さ
れているならば禁止Tr100及び101によつ
て線42,43は接地される事に注目すべきであ
る。その様な場合に於て、Tr98a,99aが
オンになる事は何の効果も生じないであろう。こ
れはビツト線42,43が禁止Tr100及び1
01によつて接地されたからである。
上記の様に、この読取ヘツドは2つのマルチプ
レクサ回路を有している。もしも例えば4ポート
装置を考えるならば、もちろんその装置は第4の
対のビツト線及び第4の解読器だけでなく、全入
力アドレスを比較するに十分な3つの付加的比較
回路及びそれと関連した3つのマルチプレクサ回
路を有する第4の読取ヘツドを必要とするであろ
う。即ち各々の付加的なより上位の読取ヘツドは
前段の読取ヘツドよりも1つ多いマルチプレクサ
回路を持たねばならない。
レクサ回路を有している。もしも例えば4ポート
装置を考えるならば、もちろんその装置は第4の
対のビツト線及び第4の解読器だけでなく、全入
力アドレスを比較するに十分な3つの付加的比較
回路及びそれと関連した3つのマルチプレクサ回
路を有する第4の読取ヘツドを必要とするであろ
う。即ち各々の付加的なより上位の読取ヘツドは
前段の読取ヘツドよりも1つ多いマルチプレクサ
回路を持たねばならない。
もしもアドレス組P1,P2,P3が全て異な
るならば、3つの組のビツト線40及び41,4
2及び43,44及び45の全てがその上に信号
を有する。この場合、読取ヘツド21,22及び
23は夫々そのノーマル・モードで動作するであ
ろう。即ちヘツド21はビツト線40,41上の
信号を読取り、ヘツド22はビツト線42,43
上の情報を読取り、ヘツド23はビツト線44及
び45上の情報を読取る。
るならば、3つの組のビツト線40及び41,4
2及び43,44及び45の全てがその上に信号
を有する。この場合、読取ヘツド21,22及び
23は夫々そのノーマル・モードで動作するであ
ろう。即ちヘツド21はビツト線40,41上の
信号を読取り、ヘツド22はビツト線42,43
上の情報を読取り、ヘツド23はビツト線44及
び45上の情報を読取る。
ヘツド23に於てはビツト線44,45上の信
号のみが検出される。これはデバイス102,1
03のみが接地電位に直接に接続され、よつてオ
ンになりうるからである。全ての他の読取デバイ
ス98a,99a,90b,91bは接地電位か
ら絶縁され、よつてオフ状態にある。
号のみが検出される。これはデバイス102,1
03のみが接地電位に直接に接続され、よつてオ
ンになりうるからである。全ての他の読取デバイ
ス98a,99a,90b,91bは接地電位か
ら絶縁され、よつてオフ状態にある。
即ち読取ヘツドは1組のビツト線よりも多い線
の読取を禁止される。
の読取を禁止される。
さて、アドレスP1及びP3が同一である場
合、比較器25に於て比較が成立して、線66は
正電位となる。線66が正になると、アドレス解
読器51がオフとなり、ワード線48及びビツト
線Tr38,39がオフになるのみならず、禁止
Tr108,109のゲートが正となつて、これ
らのTrがオンになり、ビツト線44,45を接
地する。このビツト線44,45の接地によつて
Tr102,103はオンになり得ない。
合、比較器25に於て比較が成立して、線66は
正電位となる。線66が正になると、アドレス解
読器51がオフとなり、ワード線48及びビツト
線Tr38,39がオフになるのみならず、禁止
Tr108,109のゲートが正となつて、これ
らのTrがオンになり、ビツト線44,45を接
地する。このビツト線44,45の接地によつて
Tr102,103はオンになり得ない。
しかしながら、これと同時にTr97aがオン
になり、読取Tr90b,91bのための接地用
通路を与える。よつてこれらのTrは生きて、検
出したビツト線信号を増幅器94bへ伝送する。
になり、読取Tr90b,91bのための接地用
通路を与える。よつてこれらのTrは生きて、検
出したビツト線信号を増幅器94bへ伝送する。
同様に、アドレスP2及びP3が比較成立する
と、ビツト線44,45はTr106,107を
介して接地され、Tr104がオンとなつて読取
Tr98a,99aをオンにする。スイツチング
Tr97aはオフであつて、読取Tr90b,91
bは生きない。
と、ビツト線44,45はTr106,107を
介して接地され、Tr104がオンとなつて読取
Tr98a,99aをオンにする。スイツチング
Tr97aはオフであつて、読取Tr90b,91
bは生きない。
もしも3つのアドレス信号組が同一であるなら
ば、両方の禁止線66,67がオンとなり、ビツ
ト線44,45はTr106,107,108及
び109を介して接地され、スイツチングTr9
7a,104はオンになる。しかしながらこの場
合に於て、読取ヘツド22に接続される禁止線6
5もまた正であつて、よつて禁止Tr100,1
01を介してビツト線42,43を接地する。こ
のビツト線42,43の接地の故に、読取ヘツド
23に於いて、Tr104がオンになる事は何の
効果も生じない。これはTr98a及び99aの
ゲートも何も信号を受け取らず、これらのTrが
オンにならないからである。全てのアドレス組が
同じである様にこの例に於ては全読取ヘツドがビ
ツト線40,41のみを読取るであろう。
ば、両方の禁止線66,67がオンとなり、ビツ
ト線44,45はTr106,107,108及
び109を介して接地され、スイツチングTr9
7a,104はオンになる。しかしながらこの場
合に於て、読取ヘツド22に接続される禁止線6
5もまた正であつて、よつて禁止Tr100,1
01を介してビツト線42,43を接地する。こ
のビツト線42,43の接地の故に、読取ヘツド
23に於いて、Tr104がオンになる事は何の
効果も生じない。これはTr98a及び99aの
ゲートも何も信号を受け取らず、これらのTrが
オンにならないからである。全てのアドレス組が
同じである様にこの例に於ては全読取ヘツドがビ
ツト線40,41のみを読取るであろう。
本発明に於て差動ビツト線対の代りにシング
ル・エンド・ビツト線を用いうる事は云う迄もな
い。
ル・エンド・ビツト線を用いうる事は云う迄もな
い。
以上に於て、アレイ寸法を顕著に減縮し、パホ
ーマンスを改良するマルチ・ポート・レジスタ・
アレイに於ける多重読取を阻止するための技術を
説明した。基本的には上記の技術はワード及び読
取ヘツド領域に於ける禁止及び伝送オペレーシヨ
ンと共にアドレス比較を付加する事によつて実施
される。典型的な回路に於て所要の回路に於ける
相当な面積の減少及びその回路の信頼度の改善が
確認された。
ーマンスを改良するマルチ・ポート・レジスタ・
アレイに於ける多重読取を阻止するための技術を
説明した。基本的には上記の技術はワード及び読
取ヘツド領域に於ける禁止及び伝送オペレーシヨ
ンと共にアドレス比較を付加する事によつて実施
される。典型的な回路に於て所要の回路に於ける
相当な面積の減少及びその回路の信頼度の改善が
確認された。
以上に於て比較器の実施例をマツチ・ポート装
置に於て用いる事を説明したが、他の応用に於て
も用いうる事は云うまでもない。
置に於て用いる事を説明したが、他の応用に於て
も用いうる事は云うまでもない。
例えばその比較器の概念は、選択された多重並
列線に沿つて情報を伝送させる事を可能にするト
リー構成に於て用いる事ができる。
列線に沿つて情報を伝送させる事を可能にするト
リー構成に於て用いる事ができる。
第1図は本発明を用いる装置の全体のアレイを
示す図、第2A図及び第2B図は第1図を更に詳
細に説明する図、第3図は比較回路の一実施例を
示す図、第4図は読取ヘツドの一実施例を示す図
である。 10……アレイ、11……記憶セル、12,1
3,14……ワード解読器、15,16,17…
…クロツク・バツフア回路、18,19,20…
…書込ヘツド、21,22,23……読取ヘツ
ド、24,25,26……比較器。
示す図、第2A図及び第2B図は第1図を更に詳
細に説明する図、第3図は比較回路の一実施例を
示す図、第4図は読取ヘツドの一実施例を示す図
である。 10……アレイ、11……記憶セル、12,1
3,14……ワード解読器、15,16,17…
…クロツク・バツフア回路、18,19,20…
…書込ヘツド、21,22,23……読取ヘツ
ド、24,25,26……比較器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 夫々同数の複数のビツトよりなる第1のデー
タ及び第2のデータを比較する回路において、 1対の入力端子及び出力端子を有し、上記第1
及び第2のデータの対応する所定のビツトを上記
1対の入力端子に受取り、該ビツト対の比較結果
を示す信号を上記出力端子に発生する排他的OR
回路を含む第1の比較段と、 上記第1及び第2のデータの残りの対応するビ
ツト対の各々と対応して設けられた第2の比較段
とを有し、 各上記第2の比較段は、入力端子及び出力端子
を有し該入力端子の信号に応答して該出力端子に
同相信号を発生する論理回路と、一方の通電電極
が上記論理回路の上記出力端子に共通に接続さ
れ、他方の通電電極及び制御電極が交差結合され
て1対の入力端子に接続された1対のトランジス
タよりなる排他的OR回路とを含み、 1つの上記第2の比較段の上記論理回路の上記
入力端子は上記第1の比較段の上記出力端子に接
続され、上記第2の比較段は前段の上記論理回路
の上記出力端子が次段の上記論理回路の上記入力
端子に接続されるように直列に接続されており、
各上記第2の比較段の上記1対の入力端子に上記
残りのビツト対のうち対応するビツト対が印加さ
れることを特徴とする比較回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/499,728 US4558433A (en) | 1983-05-31 | 1983-05-31 | Multi-port register implementations |
US499728 | 1995-07-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59227089A JPS59227089A (ja) | 1984-12-20 |
JPH031757B2 true JPH031757B2 (ja) | 1991-01-11 |
Family
ID=23986451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59014578A Granted JPS59227089A (ja) | 1983-05-31 | 1984-01-31 | 比較回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4558433A (ja) |
EP (1) | EP0127008B1 (ja) |
JP (1) | JPS59227089A (ja) |
DE (1) | DE3476600D1 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4535428A (en) * | 1983-03-10 | 1985-08-13 | International Business Machines Corporation | Multi-port register implementations |
US4616347A (en) * | 1983-05-31 | 1986-10-07 | International Business Machines Corporation | Multi-port system |
US4577292A (en) * | 1983-05-31 | 1986-03-18 | International Business Machines Corporation | Support circuitry for multi-port systems |
JPH0614324B2 (ja) * | 1986-05-02 | 1994-02-23 | エムアイピ−エス コンピユ−タ− システムズ、インコ−ポレイテイド | コンピユ−タシステム |
US5237671A (en) * | 1986-05-02 | 1993-08-17 | Silicon Graphics, Inc. | Translation lookaside buffer shutdown scheme |
JPS63225836A (ja) * | 1987-03-13 | 1988-09-20 | Brother Ind Ltd | 記憶装置 |
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US5111431A (en) * | 1990-11-02 | 1992-05-05 | Analog Devices, Inc. | Register forwarding multi-port register file |
EP0617372A1 (en) * | 1993-03-25 | 1994-09-28 | International Business Machines Corporation | Apparatus for determing the optimal value of a control parameter and use of the apparatus |
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GB2278698B (en) * | 1993-05-05 | 1997-09-03 | Hewlett Packard Co | Multi-ported data storage device with improved cell stability |
US5644780A (en) * | 1995-06-02 | 1997-07-01 | International Business Machines Corporation | Multiple port high speed register file with interleaved write ports for use with very long instruction word (vlin) and n-way superscaler processors |
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US6377492B1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-04-23 | Etron Technologies, Inc. | Memory architecture for read and write at the same time using a conventional cell |
US6873567B2 (en) * | 2002-08-09 | 2005-03-29 | International Business Machines Corporation | Device and method for decoding an address word into word-line signals |
KR102663814B1 (ko) * | 2017-02-06 | 2024-05-07 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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DE2135625B1 (de) * | 1971-07-16 | 1973-01-04 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Schaltungsanordnung zur automatischen Schreib-Unterdrückung |
US3896417A (en) * | 1973-11-30 | 1975-07-22 | Bell Telephone Labor Inc | Buffer store using shift registers and ultrasonic delay lines |
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