JPS6012705A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents

厚膜型正特性半導体素子の製造方法

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JPS6012705A
JPS6012705A JP12050783A JP12050783A JPS6012705A JP S6012705 A JPS6012705 A JP S6012705A JP 12050783 A JP12050783 A JP 12050783A JP 12050783 A JP12050783 A JP 12050783A JP S6012705 A JPS6012705 A JP S6012705A
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JP
Japan
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thick film
powder
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semiconductor element
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野井 慶一
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 BaTiO3系半導体からなる素子は所定温度以上で急
激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチン
グ後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自己温度制
御機能を有し、外部の制御回路を必要としないため広く
利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3糸半導体
粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能
な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難で
あるとされていた。
従来、BaTiO3 法としては、次のようなものが知られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものを膜片に研
磨する。
■ 真空蒸着法により基板上に薄膜を形成する。
■ BaTi0 s系半導体粉末に導電性の添加剤とガ
ラスフリットを加えてペースト状とし、基板上にスクリ
ーン印刷した後、焼成する。
しかし、前記■の方法ではBILTiOs 系半導体の
結晶粒子径が大きくもろいため、膜状にまで研磨するこ
とは甚だ困難である。また、前記■の方法では操作が面
倒であり、発熱体に適した大電力を得ることがむつかし
い。さらに、前記■の方法では面積抵抗が高くなシ易く
制御が困難であシ、発熱体には適さず、またあらかじめ
ガラスフリットを調合、焼成しておかなければならず、
面倒であると共にガラスフリットの材”質によってはB
aTiOs 系半導体の持つスイッチング特性及び自己
発熱特性を劣化させる。そして、ガラスフリットを加え
ることによりBaTiOs 系半導体とガラスフリット
の耐熱性、熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が
妨げられる。さらに、導電性の添加剤とガラスフリフト
を均一に混合することは困難であシ、特性にばらつきを
生じる原因の一つとなっている。
発明の目的 そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状にす
るととKよシ熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持っ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
発明の構成 本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
i0 s 系半導体粉末にCeSi、CeSi2゜Ce
5Si3粉末の1種類または2種類以上を全重量に対し
て1〜60重量%加えてペースト状にした混合物を基板
上に塗布して厚膜状とした後焼成することによシ厚膜型
正特性半導体素子を得ようとするものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
13a’l’i03 系中導体粉末同志の電気的接続の
ために導電性添加剤が必要であり、13aTio s系
粉末同志を物理的に接続するのにガラスフリットが必要
であった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラ哀フリット
の両方の役割をはだすものとしてCeSi。
CeSi2またはCe5Sis を用いたところに特徴
を有している。この0eSi、Ce8i2.Ce5Si
3は常温では導体であり、1000〜1100°C以上
の温度になると一部分が分解して粒子表面にSiO2が
析出するが、粒子内部は元のままで表面のSiO2膜に
より分解が阻止される。従って、BaTiOs 系半導
体粉末と、CjeSi、CaSi2 またはCa5Si
3粉末を混合して焼成すると、CaSi、CeSi2.
Ca58is (7)表面に析出するSiO2がガラス
フリフトと同じ役割をし、粒子内部が導電性添加剤の役
割をするため、CeSi。
CaS↓2またはCe5Sis粉末を添加するだけでガ
ラスフリットを必要としない厚膜型正特性半導体素子が
得られる。
また、導電性金属を添加することによシ熱伝導性が悪い
ガラスフリットに較べ熱伝導性が良くな−9、熱衝撃性
も向上する。
実施例の説明 以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
実施例1 BaTiOs に1.0モル%のf3ro を加え10
00°Cで焼成した後、粉砕してB1TiOs 系半導
体粉末を得る。前記BaTiOs 系半導体粉末に全重
量に対して36重量%のCe8iz粉末を加え均一に混
合し、さらにα−テルピネオールを加えてペースト状混
合物1を作る。
一方、ム1203などからなる基板2上にあらかじめ一
対のAgなどの導電性物質からなる電極3゜4を設けて
おき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残る
ように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などに
より塗布し、室温から10℃/win の昇温速度で1
360℃まで昇温し、1時間保持した後、炉内放冷する
。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得た。
実施例2 実施例1と同様にしてBaTiOs に3.0モル%の
SrOを加え1250’Cで焼成した後、粉砕してga
Tio s 系半導体粉末を得る。前記BaTiO3系
半導体粉末に全重量に対して10重量%のCe5Si3
粉末を加え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを
加えてペースト状混合物1にする。ついで、実施例1と
同様に前記基板2上にあらかじめ前記電極3,4を設け
ておき−、前記電極3.4の一部が残るように前記ペー
スト状混合物1をスクリーン印刷などにより塗布し、室
温から10°C/!ll1n の昇温速度で1300’
C4で昇温し、30分間保持した後、炉内放冷する。こ
のようにして厚膜型半導体素子を得た。
こうして得だ厚膜型半導体素子の室温での面積抵抗は実
施例1の場合0.9にΩ/ Caであり、実施例2の場
合1.4にΩ/ clであシ、各々の温度と抵抗値の関
係は第2図に示した通シであった。第2図で人は実施例
1によシ得られた素子の特性、Bは実施例2の場合の特
性である。
ここで、前記Ce3i2.Ce53i3粉末に代えてC
adi粉末を用いた場合も前記実施例の場合と同様な特
性を得ることができた。また、これらCeSi、CeS
i2.Ce5Si3 粉末を2種類以上混合して添加し
た場合にも同等の特性が得られることを確認した。そし
て、これらCeSi、CeSi2またはCe58is粉
末の1種類または2種類以上をBaTiQs 系半導体
粉末に全重量に対して1〜60重量%の範囲で′添加し
た場合に良好な特性を有する厚膜型正特性半導体素子が
得られた。
発明の効果 以上のように本発明の製造方法によれば、CeSi、C
eSi2.Ce5Si3 粉末が従来の導電性添加剤と
ガラスフリットの両方の役割をはだし、電気的接続、物
理的接続に十分な効果があり、ガラスフリットなしで厚
膜状正特性半導体素子が得られることとなる。
また、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のCeSi。
0eSL2,0esSi5を用いることにより、熱伝導
が良くなυ熱衝撃性も向上する。さらに、スクリーン印
刷などにより製造できることから作業が容易で量産が可
能である。
なお、本発明においてBaTiOs 系半導体粉末とし
てはBaTiOs に各種の添加剤を加えて半導体化し
たものであればなんでもよい。また、CeSi、Ce5
iz、Ce5Si3 粉末の添加量が全重量に対して1
〜60重量%の範囲を外れた場合、1重量%未満では面
積抵抗が大きくなりすぎ発熱体に不適当であり、Ba’
ri、o s 粉末同志の物理的固定もできなく、一方
60重量%を越えると面積抵抗が小さくなシすぎ、自己
制御特性(PTC特性)が小さくなシ発熱体に不適当に
なるためである。さらに、BaTi05 系半導体粉末
とQeSi。
CeSi2.Ce5Si3粉末をペースト状にするのに
有機溶剤(実施例ではα−テルピネオール)を用いたが
、ペースト状にできるものであればなんでもよい。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・;・ペースト状混合物、2・・・・・・基板
、3,4・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第2
図 →5遥(贋(・cン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. BaTiOs 系半導体粉末にCeSi、CeSi2゜
    Ce5Si3粉末の1種類または2種類以上を全重量に
    対して1〜60重量%加え、ペースト状にし素子の製造
    方法。
JP12050783A 1983-07-01 1983-07-01 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Granted JPS6012705A (ja)

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JPS6012705A true JPS6012705A (ja) 1985-01-23
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