JPS6158209A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents

厚膜型正特性半導体素子の製造方法

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JPS6158209A
JPS6158209A JP17981684A JP17981684A JPS6158209A JP S6158209 A JPS6158209 A JP S6158209A JP 17981684 A JP17981684 A JP 17981684A JP 17981684 A JP17981684 A JP 17981684A JP S6158209 A JPS6158209 A JP S6158209A
Authority
JP
Japan
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thick film
semiconductor element
glass frit
powder
batio3
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Pending
Application number
JP17981684A
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English (en)
Inventor
野井 慶一
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 BaTiO3系半4体からなる素子は所定温度以上で急
倣に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチン
グ後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自己温度制
御機能を有し、外部の制御回路を、1ン、j互仁1−?
、l、コーレ(す/壬IIITJaし、ニー1−7従来
の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3系半導体粉末
を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能な厚
膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難である
とされていた。
従来、BaTiO3系半導体を膜状に加工する方法とし
ては、次のようなものが知られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものを薄片に研
磨する。
■ 真空蒸着法により基板上に薄膜を形成する。
■ BaTiO3系半導体粉末に導電性の添加剤とガラ
スフリットを加えてペースト状とし、基板上にスクリー
ン印刷した後、焼成する。
しかし、前記■の方法ではB&TiO3系半導体の結晶
粒子径が大きくもろいため、膜状にまで研磨することは
甚だ困難である。また、前記■の方法では操作が面倒で
あり、発熱体に適した大電力を得ることがむつかしい。
さらに、前記■の方法では面積抵抗が高くなり易く制御
が困難であり、発熱体には適さず、まだあらかじめガラ
スフリットを調合、焼成しておかなければならず、面倒
であると共にガラスフリットの材質によってはBaTi
O3系半導体の持つスイッチング特性及び自己発熱特性
を劣化させる。そして、ガラスフリットを加えることに
よりBaTiO3系半導体とガラスフリットの耐熱性、
熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が妨げられる
。さらに、導電性の添加剤とガラスフリットを均一に混
合することは困難であり、特性にばらつきを生じる原因
の一つとなっている。
発明の目的 □そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上
の繁雑さを解消し、ガラスフリットを用いずに厚膜状に
することによシ熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性
を持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法
を提供することを目的としている。
発明の構成 本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
iO3系半導体粉末にTbB4. TbB6のうち少な
くとも1種類を1〜60重量%加えてペースト状にした
混合物を基板上に塗布して厚膜状とした後焼成すること
により厚膜型正特性半導体素子を得ようとするものであ
る。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
BaTiO3系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、BaTiO3系粉末同志を物
理的に接続するのにガラスフリットが必要であった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリスト
の両方の役割をはだすものとして、TbB 4および/
またはTbB6を用いたところに特徴を有している。こ
のTbB4. TbB6は常温では導体であり、100
0〜1100″C以上の温度になると一部分が分解して
粒子表面に8205が析出するが、粒子内部は元のまま
で表面の8205膜により分解が阻止される。従って、
BaTiO3系半導体粉末と、TbB4.。
TbB6粉末を混合して焼成すると、TbB4.TbB
6の表面に析出するB2O5がガラスフリットと同じ役
割をし、粒子内部が導電性添加剤の役割をするため、T
bB4. TbB6を添加するだけでガラスフリットを
必要としない厚膜型正特性半導体素子が得られる。
また、導電性金属を添加することにより熱伝導性が悪い
ガラスフリットに較べ熱伝導性が良くなり、熱衝撃性も
向上する。
実施例の説明 以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
実施例1 b BaTi03に1.0%ノNb2O5を加え1300℃
で焼成した後、粉砕してBaTiO3系半導体粉末を得
る。
前記BaTi0.系半導体粉末に全重量に対して7重量
%のTbB4粉末を加え均一に混合し、さらにα−テル
ピネオールを加えてペースト状混合物1を作る。
一方、Al2O,などからなる基板2上にあらかじめ一
対のAgなどの導電性物質からなる電極3,4を設けて
おき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残る
ように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などに
より塗布し、室温から1゜°C/m1nの昇温速度で1
350°Cまで昇温し、1時間保持した後、炉内放冷す
る。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得た。
実施例2 実施例1と同様にしてBaTiO3に3.0モル%のY
2O5を加え1250°Cで焼成した後、粉砕してBa
TiO3系半導体粉末を得る。前記BaTiO3系半導
体粉末に全重量に対して3o重量%のTbB6粉末を加
え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを加えてペ
ースト状混合物1にする。ついで、実施例1と同様に前
記基板2上にあらかじめ前記電極3゜4を設けておき、
前記電極3,4の一部が残るように前記ペースト状混合
物1をスクリーン印刷などにより塗布し、室温から10
°C/min の昇温速度で1300″Cまで昇温し、
30分間保持した後、炉内放冷する。このようにして厚
膜型半導体素子を得た。
こうして得た厚膜型半導体素子の室温での面積抵抗は実
施例1の場合5.4にΩ/ cノ!であり、実施例2の
場合はO,BKΩA:rJであり、各々の温度と抵抗値
の関係は第2図に示した通りであった。第2図で人は実
施例1により得られた素子の特性、Bは実施例2の場合
の特性である。
発明の効果 以上のように本発明の製造方法によれば、TbB4゜T
bB 6粉末が従来の導電性添加剤とガラスフリットの
両方の役割をはだし、電気的接続、物理的接続に十分な
効果があり、ガラスフリットなしで厚膜状正特性半導体
素子が得られることとなる。
まだ、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のTbB4. TbB6を用
いることにより、熱伝導が良くなり熱衝撃性も向上する
。さらに、スクリーン印刷などにより製造できることか
ら作業が容易で量産が可能である。
なお、本発明においてBaTiO3系半導体粉末として
はBaTiC)5に各種の添加剤を加えて半導体化した
ものであればなんでもよい。まだ、TbB4.TbB6
粉末の添加量を全重量に対して1〜60fi量%と規定
したのは、1重量%未満では面積抵抗が大きくなりすぎ
発熱体に不適当であり、BaTiO3粉末同志の物理的
固定もできなく、一方60重量%を越えると面積抵抗が
小さくなりすぎ、自己制御特性(PTC特性)が小さく
なり発熱体に不適当になるためである。さらに、BaT
iO3系半導体粉末とTbB4. TbB6粉末をペー
スト状にするのに有機溶剤   ゛(実施例ではα−テ
ルピネオール)を用いたが、ペースト状にできるもので
あればなんでもよい。
なお、実施例では添加物が1種類の場合のみ示したが、
2種類を同時に加えても同様の効果があることを確認し
た。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・・基板
、3,4・・・・・・電極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. BaTiO3_系半導体粉末にTbB_4、TbB_6
    のうち少なくとも1種類を1〜60重量%加え、ペース
    ト状にした混合物を基板上に塗布して厚膜状とした後、
    焼成してなることを特徴とする厚膜型正特性半導体素子
    の製造方法。
JP17981684A 1984-08-29 1984-08-29 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Pending JPS6158209A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0213640A (ja) * 1988-06-29 1990-01-18 Komatsu Wall Ind Co Ltd 吊り天井システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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