JPS61101009A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents

厚膜型正特性半導体素子の製造方法

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JPS61101009A
JPS61101009A JP22351284A JP22351284A JPS61101009A JP S61101009 A JPS61101009 A JP S61101009A JP 22351284 A JP22351284 A JP 22351284A JP 22351284 A JP22351284 A JP 22351284A JP S61101009 A JPS61101009 A JP S61101009A
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JP
Japan
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thick film
film type
type positive
positive temperature
temperature coefficient
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Pending
Application number
JP22351284A
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Inventor
野井 慶一
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明げ機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 BaTiO3系半導体からなる素子は所定温度以上で急
激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチン
グ後の自己発熱特性を有し、昇温特性2ペー/゛ が速く自己温度制御機能を有し、外部の制御回路を必要
としないため広く利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体HBaTi05系半導体
粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能
な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることば困難で
あるとされていた。
従来、BaTiJ系半導体を膜状に加工する方法として
げ、次のようなものが知られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものを薄片に研
磨する。
■ 真空蒸着法により基板上に薄膜を形成する。
■ BaTiOs系半導体粉末に導電性の添加剤とガラ
スフリットを加えてペースト状とし、基板上にスクリー
ン印刷した後、焼成する。
しかし、前記■の方法でHBaTi05BaTiJ系半
導体が大きくもろいため、膜状にまで研磨することに甚
だ困難である。捷た、前記■の方法でに操作が面倒であ
り、発熱体に適した大電力を得ることがむずかしい。さ
らに、前記■の方法では面積抵抗が高くなりやすく制御
が困難で、bす、3べ−7 発熱体には適σず、またあらかじめガラスフリットを調
合、焼成しておかなければならず、面倒で。
あると共にガラスフリットの材質によってはBaTiO
3系半導体の持つスイッチング特性及び自己発熱特性を
劣化σせる。そして、ガラスフリットを加えることによ
りBaTiOs系半導体とガラスフリットの耐熱性、熱
膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が妨げられる。
さらに、導電性の添加剤とガラスフリットを均一に混合
することは困難であり、特性にばらつきを生じる原因の
一つとなっている。
発明の目的 そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状にす
ることにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
発明の構成 本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
iO3系半導体粉末iCThB 4及びThB 6のう
ちの少なくとも1種類をその混合量が全重量に対して1
〜60重量係加え、ペースト状にした混合物を基板−ト
に塗布して厚膜状とした後、焼成することにより厚膜型
正特性半導体素子を得ようとするものである〇 従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
BaTiO3系半導体粉末同士の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、BaTiO3系粉末同士を物
理的に接続するのにガラスフリットが必要でめった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリット
の両方の役割をはだすものとして、ThB4゜ThB6
を用いたところに特徴を有している。これらThB4.
 ThB6は常温では導体であり、1000〜1100
’C以上の温度になると一部分が分解して粒子表面K 
B2O3が析出するが、粒子内部は元のままで表面のB
2O3膜により分解が阻止σれる。
従っ1、BaTi03系半導体粉末と、ThB4 、 
ThB6の粉末とを混合して焼成すると、ThB4.T
’hB6の表面に析出するB2O3がガラスフリットと
同じ役5ベーン 割をし、粒子内部が導電性添加剤の役割をするため、T
h、B 4 、 ThB 6を添加するだけでガラスフ
リットを必要としない厚膜型正特性半導体素子が得られ
る。
また、導電性金属を添加することにより熱伝導性が悪い
ガラスフリッtfc比べて熱伝導性が良くなり、熱衝撃
性も向上する。
実施例の説明 以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
実施例1 BaTiO31c 1.0 モル% ノNb2O5を加
え1300’Cで焼成した後、粉砕してBaTi05系
半導体粉末を得る。前記BaTiO3系半導体粉末に全
重量に対して12重量係のTIIB 4粉末を加え均一
に混合し、さらにα−テルピネオールを加えてペースト
状混合物1を作る。
一方、1t2o3’yどをらなる基板2上に、bらかじ
め一対のムgなどの導電性物質からなる電極3゜4を設
けておき、前記電極3.4上にその電極3゜6ベーノ 4の一部が残るように前記ペースト状混合物1をスクリ
ーン印刷などにより塗布し、室温から1σC分の昇温速
度で1350’ctで昇温し、1時間保持した後、炉内
放冷する。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得
た。
実施例2 実施例1と同様にしてBaTio 5に3.0モル係の
CeO2を加え1250’Cで焼成した後、粉砕してB
aTiO3系半導体粉末を得る。前記BaTi05系半
導体粉末に全重量に対して36重量係のThe6粉末を
加え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを加えて
ペースト状混合物IKする。ついで、実施例1と同様に
前記基板2上にあらかじめ前記電極3,4を設けておき
、前記電極3,4の一部が残るように前記ペースト状混
合物1をスクリーン印刷などにより塗布し、室温から1
0′C/分の昇温速度で1300’Cjで昇温し、30
分間保持した後、炉内放冷する。とのようにして厚膜型
半導体素子を得た。
こうして得た厚膜型半導体素子の室温での面積7ベーノ
゛ 抵抗は実施例1の場合3゜8Xル側であり、実施例2の
場合1.2 KQ/cAであり、各々の温度と抵抗値の
関係は第2図に示した通りであった。第2図でAは実施
例1vCより得られた素子の特性、Bは実施例2の場合
の特性である。
発明の効果 以上のように本発明の製造方法によれば、ThB4゜T
hB6粉末が従来の導電性添加剤とガラスフリントの両
方の、役割をはたし、電気的接続、物理的接続に十分な
効果があり、ガラスフリットなしで厚膜型正特性半導体
素子が得られることとなる。
捷た、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のThB4.TIIB6を用
いることにより、熱伝導が良くなり熱衝撃性も向上する
。さらに、スクリーン印刷などにより製造できることか
ら作業が容易で量産が可能であるっ なお、本発明においてBaTiO3系半導体粉末として
はBaTi05に各種の添加剤を加えて半導体化したも
のであればなんでもよい。また、ThB4゜ThB 6
粉末の添加量を全重量に対して1〜60重量係と規定し
たのは、1重量係未満では面積抵抗が大きくなりすぎ発
熱体に不適当であり、BaTiO3粉末同士の物理的固
定もできなく、一方60重量係を越えると面積抵抗が小
さくなりすぎ、自己制御特性(PTC特性)が小さくな
り発熱体に不適当になるためである。なお、実施例では
ThB4゜ThB 6を1種類づつ添加する場合につい
てのみ示したが、2種類を同時に前記の範囲でもって添
加しても同様の効果が得られることを確認した。芒らに
、BaTiO3系半導体粉末とThB4. The6粉
末をペースト状にするのに有機溶剤(実施例ではα−テ
ルピネオール)を用いたが、ペースト状にできるもので
あればなんでもよい。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きいものである0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正時9ベー/ 性半導体素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の
実施例による素子の温度と抵抗値の関係を示す図である
。 1・・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・基板、
3,4・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 一温麿(0C)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. BaTiO_3系半導体粉末にThB_4及びThB_
    6のうちの少なくとも1種類をその混合量が全重量に対
    して1〜60重量%加え、ペースト状にした混合物を基
    板上に塗布して厚膜状とした後、焼成することを特徴と
    する厚膜型正特性半導体素子の製造方法。
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