JPS60260103A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents
厚膜型正特性半導体素子の製造方法Info
- Publication number
- JPS60260103A JPS60260103A JP11701584A JP11701584A JPS60260103A JP S60260103 A JPS60260103 A JP S60260103A JP 11701584 A JP11701584 A JP 11701584A JP 11701584 A JP11701584 A JP 11701584A JP S60260103 A JPS60260103 A JP S60260103A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thick film
- glass frit
- powder
- semiconductor element
- temperature coefficient
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
BaTi05 系半導体からなる素子は所定温度以上で
急激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチ
ング後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自己温度
制御機能を有し、外部の制御回路を必要としないだめ広
く利用されている。
急激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチ
ング後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自己温度
制御機能を有し、外部の制御回路を必要としないだめ広
く利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3系半導体
粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能
な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難で
あるとされていた。
粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能
な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難で
あるとされていた。
従来、BaTiO3系半導体を膜状に加工する方法とし
ては、次のようなものが知られている。
ては、次のようなものが知られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものを薄片に研
磨する。
磨する。
■ 真空蒸着法に゛より基板上に薄膜を形成する。
■ BaTiO3系半導体粉末に導電性の添加剤とガラ
スフリットを加えてペースト状とし、基板上にスクリー
ン印刷した後、焼成する。
スフリットを加えてペースト状とし、基板上にスクリー
ン印刷した後、焼成する。
しかし、前記1の方法ではBaTiO3系半導体の結晶
粒子径が大きくもろいため、膜状にまで研磨することは
甚だ困難である。まだ、前記■の方法では操作が面倒で
あり、発熱体に適した大電力を得ることがむつかしい。
粒子径が大きくもろいため、膜状にまで研磨することは
甚だ困難である。まだ、前記■の方法では操作が面倒で
あり、発熱体に適した大電力を得ることがむつかしい。
さらに、前記■の方法では面積抵抗が高くなり易く制御
が困難であり、発熱体には適さず、またあらかじめガラ
スフリットを調合、焼成しておかなければならず、面倒
であると共にガラスフリットの材質によってはBaTi
03系半導体の持つスイッチング特性及び自己発熱特性
を劣化させる。そして、ガラスフリットを加えることに
よりBaTiO3系半導体とガラスフリットの耐熱性、
熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が妨げられる
。さらに、導電性の添加剤とガラスフリットを均一に混
合することは困難であり、特性にばらつきを生じる原因
の一つとなっている。
が困難であり、発熱体には適さず、またあらかじめガラ
スフリットを調合、焼成しておかなければならず、面倒
であると共にガラスフリットの材質によってはBaTi
03系半導体の持つスイッチング特性及び自己発熱特性
を劣化させる。そして、ガラスフリットを加えることに
よりBaTiO3系半導体とガラスフリットの耐熱性、
熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が妨げられる
。さらに、導電性の添加剤とガラスフリットを均一に混
合することは困難であり、特性にばらつきを生じる原因
の一つとなっている。
発明の目的
そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状にす
ることにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状にす
ることにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
発明の構成
本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
iO3系半導体粉末にLaB 6 を1.0〜60.0
重量%加えてペースト状にした混合物を基板上に塗布し
て厚膜状とした後焼成することにより厚膜型正特性半導
体素子を得ようとするものである。
iO3系半導体粉末にLaB 6 を1.0〜60.0
重量%加えてペースト状にした混合物を基板上に塗布し
て厚膜状とした後焼成することにより厚膜型正特性半導
体素子を得ようとするものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
BaTiO3系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、BaTiO3系粉末同志を物
理的に接続するのにガラスフリットが必要であった。
BaTiO3系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、BaTiO3系粉末同志を物
理的に接続するのにガラスフリットが必要であった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリット
の両方の役割をはだすものとして、LaB 6を用いた
ところに特徴を有している。このLaB 6は常温では
導体であり、1000〜1100℃以上の温度になると
一部分が分解して粒子表面にB2O3が析出するが、粒
子内部は元のままで表面のB2O3膜により分解が阻止
される。従って、BaTi05 系半導体粉末と、La
B6粉末を混合して焼成すると、LaB 6の表面に析
出するB2O3がガラスフリットと同じ役割をし、粒子
内部が導電性添加剤の役割をするため、LaB 6を添
加するだけでガラスフリットを必要としない厚膜型正特
性半導体素子が得られ志。
の両方の役割をはだすものとして、LaB 6を用いた
ところに特徴を有している。このLaB 6は常温では
導体であり、1000〜1100℃以上の温度になると
一部分が分解して粒子表面にB2O3が析出するが、粒
子内部は元のままで表面のB2O3膜により分解が阻止
される。従って、BaTi05 系半導体粉末と、La
B6粉末を混合して焼成すると、LaB 6の表面に析
出するB2O3がガラスフリットと同じ役割をし、粒子
内部が導電性添加剤の役割をするため、LaB 6を添
加するだけでガラスフリットを必要としない厚膜型正特
性半導体素子が得られ志。
まだ、導電性金属を添加することにより、熱伝導性が悪
いガラスフリットに較べ熱伝導性が良くなり、熱衝撃性
も向上する。
いガラスフリットに較べ熱伝導性が良くなり、熱衝撃性
も向上する。
実施例の説明
以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
明する。
実施例1
BaTi05 に1.0モル%のNb2O5を加え13
00℃で塊成した後、粉砕してBaTiO3系半導体粉
末を得る。前記BaTiO3系半導体粉末に全重量に対
して15.0重量%のLaB 6粉末を加え均一に混合
し、さらにα−テルピネオールを加えてペースト状混合
物1を作る。
00℃で塊成した後、粉砕してBaTiO3系半導体粉
末を得る。前記BaTiO3系半導体粉末に全重量に対
して15.0重量%のLaB 6粉末を加え均一に混合
し、さらにα−テルピネオールを加えてペースト状混合
物1を作る。
一方、Al2O3などからなる基板2上にあらかじめ一
対のAg などの導電性物質からなる電極3゜4を設け
ておき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残
るように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷彦ど
により塗布し、室温から101:/min の昇温速度
で1360℃寸で昇温し、1時間保持した後、炉内放冷
する。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得た。
対のAg などの導電性物質からなる電極3゜4を設け
ておき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残
るように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷彦ど
により塗布し、室温から101:/min の昇温速度
で1360℃寸で昇温し、1時間保持した後、炉内放冷
する。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得た。
実施例2
実施例1と同様にしてBaTi03に3.0モル%のY
2O3を加え1260℃で焼成した後、粉砕してBaT
iO3系半導体粉末を得る。前記BaTiO3系半導体
粉末に全重量に対して28.0重量%のLaB 6粉末
を加え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを加え
てペースト状混合物1にする。ついで、実施例1と同様
に前記基板2上にあらかじめ前記電極3,4を設けてお
き、前記電極3,4の一部が残るように前記ペースト状
混合物1をスクリーン印刷などにより塗布し、室温から
10℃/minの昇温速度で1300℃寸で昇温し、3
0分間保持した後、炉内放冷する。このようにして厚膜
型半導体素子を得た。
2O3を加え1260℃で焼成した後、粉砕してBaT
iO3系半導体粉末を得る。前記BaTiO3系半導体
粉末に全重量に対して28.0重量%のLaB 6粉末
を加え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを加え
てペースト状混合物1にする。ついで、実施例1と同様
に前記基板2上にあらかじめ前記電極3,4を設けてお
き、前記電極3,4の一部が残るように前記ペースト状
混合物1をスクリーン印刷などにより塗布し、室温から
10℃/minの昇温速度で1300℃寸で昇温し、3
0分間保持した後、炉内放冷する。このようにして厚膜
型半導体素子を得た。
こうして得た厚膜型半導体素子の室温での面積抵抗は実
施例1の場合3.9にΩ/crAであり、実施例2の場
合1.1にΩ’/anであり、各々の温度と抵抗値の関
係は第2図に示した通りであった。第2図でAは実施例
1によシ得られた素子の特性、Bは実施例2の場合の特
性である。
施例1の場合3.9にΩ/crAであり、実施例2の場
合1.1にΩ’/anであり、各々の温度と抵抗値の関
係は第2図に示した通りであった。第2図でAは実施例
1によシ得られた素子の特性、Bは実施例2の場合の特
性である。
発明の効果
以上のように本発明の製造方法によれば、LaB 6粉
末が従来の導電性添加剤とガラスフリットの両方の役割
をはだし、電気的接続、物理的接続に十分な効果があり
、ガラスフリットなしで厚膜状正特性半導体素子が得ら
れることとなる。
末が従来の導電性添加剤とガラスフリットの両方の役割
をはだし、電気的接続、物理的接続に十分な効果があり
、ガラスフリットなしで厚膜状正特性半導体素子が得ら
れることとなる。
寸だ、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のLaB 6 を用いること
により、熱伝導が良くなり熱衝撃性も向上する。さらに
、スクリーン印刷などにより製造できることから作業が
容易で量産が可能である。
て熱伝導のよい導電性金属のLaB 6 を用いること
により、熱伝導が良くなり熱衝撃性も向上する。さらに
、スクリーン印刷などにより製造できることから作業が
容易で量産が可能である。
なお、本発明においてBaTiO3系半導体粉末として
はBaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化したも
のであればなんでもよい。捷だ、LaB 6 粉末の添
加量を全重量に対して1〜60重量%と規定したのは、
1重量%未満では面積抵抗が大きくなりすぎ発熱体に不
適当であり、BaTi05 粉末同志の物理的固定もで
きなく、一方60重量%を越えると面積抵抗が小さくな
りすき゛、自己制御特性(PTC特性)が小さくなり発
熱体に不適当になるためである。さらに、BaTi0
B 系半導体粉末とLaB 6粉末をペースト状にする
のに有機溶剤(実施例ではα−テルピネオール)を用い
たが、ペースト状にできるものであればなんでもよい。
はBaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化したも
のであればなんでもよい。捷だ、LaB 6 粉末の添
加量を全重量に対して1〜60重量%と規定したのは、
1重量%未満では面積抵抗が大きくなりすぎ発熱体に不
適当であり、BaTi05 粉末同志の物理的固定もで
きなく、一方60重量%を越えると面積抵抗が小さくな
りすき゛、自己制御特性(PTC特性)が小さくなり発
熱体に不適当になるためである。さらに、BaTi0
B 系半導体粉末とLaB 6粉末をペースト状にする
のに有機溶剤(実施例ではα−テルピネオール)を用い
たが、ペースト状にできるものであればなんでもよい。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は太きいものである。
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は太きいものである。
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・基板、
3,4・・・・・・電極。
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・基板、
3,4・・・・・・電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 BaTi0 B 系半導体粉末にLaB 6 を1.0
〜6o、。 重量%加え、ペースト状にした混合物を基板上に塗布し
て厚膜状とした後、焼成してなることを特徴とする厚膜
型正特性半導体素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11701584A JPS60260103A (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11701584A JPS60260103A (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60260103A true JPS60260103A (ja) | 1985-12-23 |
JPH0534803B2 JPH0534803B2 (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=14701333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11701584A Granted JPS60260103A (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60260103A (ja) |
-
1984
- 1984-06-07 JP JP11701584A patent/JPS60260103A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0534803B2 (ja) | 1993-05-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS60260103A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS61101008A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS61101007A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158209A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS60261109A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158204A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158208A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6012702A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS60261105A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158211A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158210A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS61101004A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS61101005A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS60260102A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158205A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6012701A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158203A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158207A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS61101009A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS6158206A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS61101003A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS60261102A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS60206103A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS60206105A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 | |
JPS60261107A (ja) | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |