JPS60260103A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents

厚膜型正特性半導体素子の製造方法

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JPS60260103A
JPS60260103A JP11701584A JP11701584A JPS60260103A JP S60260103 A JPS60260103 A JP S60260103A JP 11701584 A JP11701584 A JP 11701584A JP 11701584 A JP11701584 A JP 11701584A JP S60260103 A JPS60260103 A JP S60260103A
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glass frit
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semiconductor element
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野井 慶一
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 BaTi05 系半導体からなる素子は所定温度以上で
急激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチ
ング後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自己温度
制御機能を有し、外部の制御回路を必要としないだめ広
く利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3系半導体
粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能
な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難で
あるとされていた。
従来、BaTiO3系半導体を膜状に加工する方法とし
ては、次のようなものが知られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものを薄片に研
磨する。
■ 真空蒸着法に゛より基板上に薄膜を形成する。
■ BaTiO3系半導体粉末に導電性の添加剤とガラ
スフリットを加えてペースト状とし、基板上にスクリー
ン印刷した後、焼成する。
しかし、前記1の方法ではBaTiO3系半導体の結晶
粒子径が大きくもろいため、膜状にまで研磨することは
甚だ困難である。まだ、前記■の方法では操作が面倒で
あり、発熱体に適した大電力を得ることがむつかしい。
さらに、前記■の方法では面積抵抗が高くなり易く制御
が困難であり、発熱体には適さず、またあらかじめガラ
スフリットを調合、焼成しておかなければならず、面倒
であると共にガラスフリットの材質によってはBaTi
03系半導体の持つスイッチング特性及び自己発熱特性
を劣化させる。そして、ガラスフリットを加えることに
よりBaTiO3系半導体とガラスフリットの耐熱性、
熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が妨げられる
。さらに、導電性の添加剤とガラスフリットを均一に混
合することは困難であり、特性にばらつきを生じる原因
の一つとなっている。
発明の目的 そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状にす
ることにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
発明の構成 本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
iO3系半導体粉末にLaB 6 を1.0〜60.0
重量%加えてペースト状にした混合物を基板上に塗布し
て厚膜状とした後焼成することにより厚膜型正特性半導
体素子を得ようとするものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
BaTiO3系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、BaTiO3系粉末同志を物
理的に接続するのにガラスフリットが必要であった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリット
の両方の役割をはだすものとして、LaB 6を用いた
ところに特徴を有している。このLaB 6は常温では
導体であり、1000〜1100℃以上の温度になると
一部分が分解して粒子表面にB2O3が析出するが、粒
子内部は元のままで表面のB2O3膜により分解が阻止
される。従って、BaTi05 系半導体粉末と、La
B6粉末を混合して焼成すると、LaB 6の表面に析
出するB2O3がガラスフリットと同じ役割をし、粒子
内部が導電性添加剤の役割をするため、LaB 6を添
加するだけでガラスフリットを必要としない厚膜型正特
性半導体素子が得られ志。
まだ、導電性金属を添加することにより、熱伝導性が悪
いガラスフリットに較べ熱伝導性が良くなり、熱衝撃性
も向上する。
実施例の説明 以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
実施例1 BaTi05 に1.0モル%のNb2O5を加え13
00℃で塊成した後、粉砕してBaTiO3系半導体粉
末を得る。前記BaTiO3系半導体粉末に全重量に対
して15.0重量%のLaB 6粉末を加え均一に混合
し、さらにα−テルピネオールを加えてペースト状混合
物1を作る。
一方、Al2O3などからなる基板2上にあらかじめ一
対のAg などの導電性物質からなる電極3゜4を設け
ておき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残
るように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷彦ど
により塗布し、室温から101:/min の昇温速度
で1360℃寸で昇温し、1時間保持した後、炉内放冷
する。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得た。
実施例2 実施例1と同様にしてBaTi03に3.0モル%のY
2O3を加え1260℃で焼成した後、粉砕してBaT
iO3系半導体粉末を得る。前記BaTiO3系半導体
粉末に全重量に対して28.0重量%のLaB 6粉末
を加え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを加え
てペースト状混合物1にする。ついで、実施例1と同様
に前記基板2上にあらかじめ前記電極3,4を設けてお
き、前記電極3,4の一部が残るように前記ペースト状
混合物1をスクリーン印刷などにより塗布し、室温から
10℃/minの昇温速度で1300℃寸で昇温し、3
0分間保持した後、炉内放冷する。このようにして厚膜
型半導体素子を得た。
こうして得た厚膜型半導体素子の室温での面積抵抗は実
施例1の場合3.9にΩ/crAであり、実施例2の場
合1.1にΩ’/anであり、各々の温度と抵抗値の関
係は第2図に示した通りであった。第2図でAは実施例
1によシ得られた素子の特性、Bは実施例2の場合の特
性である。
発明の効果 以上のように本発明の製造方法によれば、LaB 6粉
末が従来の導電性添加剤とガラスフリットの両方の役割
をはだし、電気的接続、物理的接続に十分な効果があり
、ガラスフリットなしで厚膜状正特性半導体素子が得ら
れることとなる。
寸だ、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のLaB 6 を用いること
により、熱伝導が良くなり熱衝撃性も向上する。さらに
、スクリーン印刷などにより製造できることから作業が
容易で量産が可能である。
なお、本発明においてBaTiO3系半導体粉末として
はBaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化したも
のであればなんでもよい。捷だ、LaB 6 粉末の添
加量を全重量に対して1〜60重量%と規定したのは、
1重量%未満では面積抵抗が大きくなりすぎ発熱体に不
適当であり、BaTi05 粉末同志の物理的固定もで
きなく、一方60重量%を越えると面積抵抗が小さくな
りすき゛、自己制御特性(PTC特性)が小さくなり発
熱体に不適当になるためである。さらに、BaTi0 
B 系半導体粉末とLaB 6粉末をペースト状にする
のに有機溶剤(実施例ではα−テルピネオール)を用い
たが、ペースト状にできるものであればなんでもよい。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は太きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・基板、
3,4・・・・・・電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 BaTi0 B 系半導体粉末にLaB 6 を1.0
    〜6o、。 重量%加え、ペースト状にした混合物を基板上に塗布し
    て厚膜状とした後、焼成してなることを特徴とする厚膜
    型正特性半導体素子の製造方法。
JP11701584A 1984-06-07 1984-06-07 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Granted JPS60260103A (ja)

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JPS60260103A true JPS60260103A (ja) 1985-12-23
JPH0534803B2 JPH0534803B2 (ja) 1993-05-25

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