JPS6158208A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents

厚膜型正特性半導体素子の製造方法

Info

Publication number
JPS6158208A
JPS6158208A JP17981584A JP17981584A JPS6158208A JP S6158208 A JPS6158208 A JP S6158208A JP 17981584 A JP17981584 A JP 17981584A JP 17981584 A JP17981584 A JP 17981584A JP S6158208 A JPS6158208 A JP S6158208A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thick film
positive temperature
glass frit
temperature coefficient
semiconductor element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17981584A
Other languages
English (en)
Inventor
野井 慶一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP17981584A priority Critical patent/JPS6158208A/ja
Publication of JPS6158208A publication Critical patent/JPS6158208A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Thermistors And Varistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 BaTi0J系半導体からなる素子は所定温度以上で急
戯に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチン
グ後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自己温度制
御機能を有し、外部の制御回路を必要としないため広く
利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3系半導体
粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能
な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難で
あるとされていた。
従来、BaTiO3系半導体を膜状に加工する方法とし
ては、次のようなものが短られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものを薄片に研
磨する。
■ 真空蒸着法により基板上に薄膜を形成する。
■ BaTiO3系半導体粉末に導電性の添加剤とガラ
スフリットを加えてペースト状とし、基板上にスクリー
ン印刷した後、焼成する。
しかし、前記■の方法ではBaTiO3系半縛体の結晶
粒子径が大きくもろい′ため、膜状にまで研磨すること
は甚だ困難である。また、前記■の方法では操作が面倒
であり、発熱体に適した大電力を得ることがむつかしい
。さらに、前記■の方法では面積抵抗が高くなり易く制
御が困難であり、発熱体には適さず、またあらかじめガ
ラスフリットを調合、焼成しておかなければならす、面
倒であると共にガラスフリットの材質によってはBaT
工03系半導体の持つスイッチング特性及び自己発熱特
性を劣化させる。そして、ガラスフリットを加えること
によりBaTiO3系半導体とガラスフリットの耐熱性
、島影張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が妨げられ
る。さらに、導電性の添加剤とガラスフリットを均一に
混合することは困難であり、特性にばらつきを生じる原
因の一つとなっている。
発明の目的 そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状にす
ることにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
発明の構成 本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
iO3系半導体粉末にGdB4、GdB6のうち少なく
とも1種類を1〜60重量%加えてペースト状にした混
合物を基板上に塗布して厚膜状とした後焼成することに
より厚膜型正特性半導体素子を得ようとするものである
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
B aT i O3系半導体粉末同志の電気的接続のた
めに導電性添加剤が必要であり、BaTi○3系粉末同
志を物理的に接続するのにガラスフリットが必要であっ
た。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリット
の両方の役割をはだすものとして、GdB 4および/
または(1,dB6を用いたところに特徴を有している
。このGdB4、GdBs は常温では導体であり、1
000〜1100℃以上の温度になると一部分が分解し
て粒子表面に8203が析出するが、粒子内部は元のま
まで表面の8203膜により分解が阻止される。従って
、BaT iO3系半導体粉末と、GdB4、GdB6
粉末を混合して焼成すると、GdB 4、GdB6の表
面に析出するB2O3がガラスフリットと同じ役割をし
、粒子内部が導電性添加剤の役割をするため、GdB4
、GdB6を添加するだけでガラスフリットを必要とし
ない厚膜型正特性半導体素子が得られる。
また、導電性金属を添加することにより熱伝導性が悪い
ガラスフリットに較べ熱伝導性が良くなり、熱tr撃性
も向上する。
実施例の説明 以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
実施例1 BaTi03に1.0%/L/%のNb2o3を加え1
300℃で焼成した後、粉砕してBaTiO3系半導体
粉末を得る。前記BaTioa系半導体粉末に全重量に
対して1o重量%のGdB 4粉末を加え均一に混合し
、ざらにα−テルピネオールを加えてペースト状混合物
1を作る。
一方、Al2O3などからなる基板2上にあらかじめ一
対のAgなどの導電性物質からなる電極3゜4を設けて
おき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残る
ように前記ペースト状a合物1をスクリーン印刷などに
より塗布し、室6情から1゜℃/Winの昇温速度で1
350℃まで昇温し、1時間保持した後、炉内放冷する
。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得た。
実施例2 実施例1と同様にしてBaTiO3に3.0モル%のL
a203を加え1250’(:で焼成した後、粉砕して
BaTiO3系半導体粉末を得る。前記BaT工03系
半導体粉末に全重量に対して25重量%のGdBs粉末
を加え均一に混合し、ざらにα−テルピネオールを加え
てペースト状混合物1にする。ついで、実施例1と同様
に前記基板2上にあらかじめ前記電極3.4を設けてお
き、前記電極3,4の一部が残るように前記ペースト状
混合物1をスクリーン印刷などにより塗布し・、室温か
ら10℃/m工nの昇温速度で1300℃ま°で昇温し
、30分間保持した後、炉内放冷する。このようにして
厚膜型半導体素子を得た。
こうして得た厚膜型半導体素子の室温での面積抵抗は実
施例1の場合3,8にΩ/cy4であり、実施例2の場
合1.3にΩ10Aてあり、各々の温度と抵抗1′直の
関係は第2図に示した通りであった。第2図でAは実施
例1により得られた素子の特性、Bは実施例2の場合の
特性である。
発明の効果 以上のように本発明の製造方法によればpdB4・(、
dB、粉末が従来の導電性添加剤とガラスフリットの両
方の役割をはたし、電気的接続、物理的接続に十分な効
果があり、ガラスフリットなしで厚膜状正特性半導体素
子が得られることとなる。
また、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のGdB4、(、dB。
を用いることにより、熱伝導が良くなり熱i撃性も向上
する。さらに、スクリーン印刷などにより製造できるこ
とから作業が容易で量産が可能である。
なお、本発明においてBa7i03系半導体粉末として
はBaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化したも
のであればなんでもよい。また、GdB4、GdB6粉
末の添加量を全重量に対して1〜60重量%と規定した
のは、1重量%未満では面積抵抗が太きくなりすぎ発熱
体に不適当であり、BaTiO3粉末同志の物理的固定
もできなく、一方60重冊%を越えると面積抵抗が小さ
くなりすぎ、自己制御特性(PTC特性)が小さくなり
発熱体に不適当になるためである。さらに、BaT工0
3系半導体粉末とGdB1、GdB6粉末をペースト状
にするのに有機溶剤(実施例ではα−テルピネオール)
を用いたが、ペースト状にできるものであればなんでも
よい。なお、実施例では添加物が1種類の場合のみ示し
たが、2種類を同時に加えても同様の効果があることを
確認した。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・・基板
、3,4・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はか1名第1
図 第2図 〜邊ffccJ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. BaTiO_3系半導体粉末にGdB_4、GdB_6
    のうち少なくとも1種類を1〜60重量%加え、ペース
    ト状にした混合物を基板上に塗布して厚膜状とした後、
    焼成してなることを特徴とする厚膜型正特性半導体素子
    の製造方法。
JP17981584A 1984-08-29 1984-08-29 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Pending JPS6158208A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17981584A JPS6158208A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 厚膜型正特性半導体素子の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17981584A JPS6158208A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 厚膜型正特性半導体素子の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6158208A true JPS6158208A (ja) 1986-03-25

Family

ID=16072369

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17981584A Pending JPS6158208A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 厚膜型正特性半導体素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6158208A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100712683B1 (ko) * 2005-07-13 2007-05-02 주식회사 토탈페이브시스템 도로표면처리장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100712683B1 (ko) * 2005-07-13 2007-05-02 주식회사 토탈페이브시스템 도로표면처리장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6158208A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS61101008A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158209A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158210A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6012702A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158207A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158204A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS61101007A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS60261109A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS60260102A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS60260103A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158206A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6012701A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS60261105A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS61101006A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS60206103A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS60206102A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158202A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS61101004A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPH0534807B2 (ja)
JPS61101009A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6012705A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS60261102A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158203A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS61101005A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法