JPS6064404A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents

厚膜型正特性半導体素子の製造方法

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JPS6064404A
JPS6064404A JP17344983A JP17344983A JPS6064404A JP S6064404 A JPS6064404 A JP S6064404A JP 17344983 A JP17344983 A JP 17344983A JP 17344983 A JP17344983 A JP 17344983A JP S6064404 A JPS6064404 A JP S6064404A
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thick film
semiconductor element
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temperature coefficient
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野井 慶一
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 BaTiO3系半導体からなる素子は所定温度以上で急
激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチン
グ後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く1己温度制
御機能を有し、外部の制御回路を必要としないため広く
利用されている。
従来の1唱第1.サーミスタ発熱体しf BaTiol
系丁導体粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、
実用1り能な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得るこ
とは困難であるとされていた。
従来、Ba1’i03系半導体を膜状に加工する方法と
しては、次のようなものが知られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものを動片に研
磨する。
■ 真空蒸着法により基板上に薄膜を形成する。
■ BaTi0.系半導体粉末に導電性の添加剤とガラ
スフリットを加えてペースト状とし、基板」二にスクリ
ーン印刷した後、焼成する。
しかし、前記■の方法でlJ、Ba5ic、系甲尋体の
結晶R了径が大きくもろいため、膜状に1で(iJI 
IJl、’することは甚だ困難である。また、前記■の
方法では操作が面倒であり、発熱体に通しだ大電力を得
ることがむつかしい。さらに、前記■の方法では面積抵
抗が11.′I<なり易く制御が困難であり、発熱体に
は逸さす、ま、たあらかじめガラスフリノトを調合、焼
成しておかなければならず、面倒であると共にガラスフ
リットの材質によってはBaTiO3系半導体の持つス
イッチング特性及び自己発熱特性を劣化させる。そして
、ガラスフリットを加えることによりBaTiO3系半
導体とガラスフリットの耐熱性、熱膨張係数の差から熱
衝撃に弱く、熱伝導が妨げられる。場らに、導電性の添
加剤とガラスフリットを均一に混合することは困難であ
り、特性にばらつきを生じる原因の一つとなっている。
発明の目的 そこで不発1夕」では前記従来技術の欠点であった製造
上の繁雑さを解決し、カラスフリットを用いずにl!l
膜状にすることVC上り熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均
一な慣性を持つ厚膜型正特性半4体素子を容易に製造で
きる方法を提供することを目的としている。
発明の構成 本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
iO3系半導体粉末にTi、Si3. TiSiまたは
TiSi2のうち少なくとも1種類を全重量に対して1
〜60重量%加えてペースト状にした混合物を基板上に
塗布して厚膜状とした後焼成することにより厚膜型正特
性半導体素子を得ようとするものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
BaTi0.系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、BaTλ03系粉末同志全粉
末同志接続するのにカラスフリントが必吸であった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とカラスフリ、ト
の両刀の役割をはたずものとしてTi5Si、(・Ti
SiまだはTiSi2を用いたところに特徴を治してい
る。このTi5SiJ、 TiSi 、”1isi□は
常Isn’tてil:、z7体テアリ、1000−11
00’C:を以」:、 )Wi冒現になると一部分が分
解して粒子表面に5in2 がυ1出するが、粒子内部
は元のままで表面のSiO□膜にJoり分解が阻止され
る。従りて、BaTi0.l系半導体粉末とTi、Si
3. TiSiまだkl、TiSi2粉木を混合して焼
成すると、Ti5Si3. TiSiまたはTiSi2
の表面に析出するbib2 がカラスフリットと同じ役
割をし、粒子内部が導電性添加剤の役割をするため、1
゛1□Si3. ’I°iSiまたはTiSi□を添加
するだけでカラス7リツトを必要としない厚膜型正特性
半導体素子が得られる。
まだ、導電性金属を添加することにより熱伝導性が悪い
カラスフリットに較べ熱伝導性が良くなり、熱衝撃性も
向上する。
実施例の説明 以下に不発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
実施例1 BaTi03に1.0モル%のLa2O3を加え130
0℃で焼成した後、粉砕してIsa’1′i03系半導
体粉末を得る。前記BaTiO3系半導体粉末に全重量
に対して12.0重fa%のTi5Si3粉末を加え均
一に混合し、ざらにα−テルピネオールを加えてペース
ト状混合物1を作る。
一方、Al2O3などからなる基板2上にあらかじめ一
対のAHなどの導電性物質からなる電極3゜4を設けて
おき、前記電極3.4上にその電&34の一部が残るよ
うに前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などによ
り塗布し、室i71’l’Lから1゜′C/ sinの
昇温速度で1360′Cまで昇温し、1時間保持した後
、炉内放冷する。このようにして厚膜型正特性半導体素
子を得た。
実施例2 実施例1と同様にしてBa’I’i03に3.0 モル
チのLa2O3を加え1250’Cで焼成した後、粉砕
してBaTiO3系半導体粉末を得る。nij記baT
iQ3系半導体粉末に全重量に対して24.o重if%
の1°iSi粉末を加え均一に混合し、ざらにα−テル
ビ充オールを加えてペースト状混合物1にする。ついで
、実施例1と同様に前記基板2上にあらかじめnす記電
椰3,4を設けておき、前記電極3.4の一部が残るよ
うに前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などによ
り塗布し、室温から10 ’C/ sinの昇温速度で
1300′c−1,で91温し、30分間1′AI’、
’+した後、炉内放冷する。このようにして厚膜型半導
体素子を得た。
こうして得た厚膜型半導体素子の室幅でのI/+741
’;。
抵抗は実施例1の相合2−3 K1:Vc!であり、実
施例2の場合1−1KQlctlであり、各々の温度と
抵抗値の関係は第2図に示した通りであった。第2図で
Aは実施例1により得られた素子の特性、Bは実施例2
の場合の特性である。
発明の効果 以上のように本発明の製造方法によれば、T工5Si3
 。
TiSiまたは1ユS12粉末が従来の導電性添加剤と
ガラスフリットの両方の役割をはだし、電気的接続、物
理的接続に十分な効果があり、ガラスフリットなしで厚
膜状正特性半導体素子が得られることとなる。
また、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金挑の1°15Si3゜TiSi
 、 TiSi2を用いることにより、熱伝導が良くな
り熱衝撃性も向上する。さらに、スクリーン印刷などに
より製造できることから作業が容易で量産が可能である
なお、本発明においてBaTiO3系半導体粉末として
はba’1103に各種の添加剤を加えで゛1′層休化
したものであればなんでもよい。寸だ、’[’15Si
3゜TiSi 、TiSi2粉末の添加址を全重量に対
して1〜60重量%と規定したのは、1重址チ未満では
U]+積抵抗抵抗きくなりすぎ発熱体に不適当であり、
Ba5ic3粉末同志の物理的固定もできなく、一方6
0重量%を越えると面積抵抗が小ざくなりすき、自己制
御特性(PTC特性)が小さくなり発熱体に不適当にな
るためである。また、実施例では47電性金属として1
種類添加した場合のみ示したが、複数種類の全添加呈が
規定量内であれば同4.にの効果があることを確認した
。ざらに、BaTiO3系半導体粉末とTi5Si3.
 TiSi 、 TiSi2 粉末をペースト状にする
のに有機溶剤(実施例ではα−テルピネオール)を用い
たが、ペースト状にできるものであればなんでもよい。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型面’I′l”rl牢導体素rが容易に
製造でき、その実用土の効果は太きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・基板、3
.4・・・・・電極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. BaTiO3系半導体粉末にTi5Si3. TiSi
     iたはTiSi2のうち少なくとも1種類を1〜60
    重量%加え、ペースト状にした混合物を基板上に塗布し
    て厚膜状とした後、焼成してなることを特輝とする厚膜
    型正特性半導体素子の製造方法。
JP17344983A 1983-09-19 1983-09-19 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Granted JPS6064404A (ja)

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JPS6064404A true JPS6064404A (ja) 1985-04-13
JPH04563B2 JPH04563B2 (ja) 1992-01-08

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