JPS599170A - 薄膜の製造方法 - Google Patents

薄膜の製造方法

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JPS599170A
JPS599170A JP11816882A JP11816882A JPS599170A JP S599170 A JPS599170 A JP S599170A JP 11816882 A JP11816882 A JP 11816882A JP 11816882 A JP11816882 A JP 11816882A JP S599170 A JPS599170 A JP S599170A
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JP
Japan
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target material
target
compsn
thin film
sputtering
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JP11816882A
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Yuujirou Kaneko
裕治郎 金子
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はスパッタリングによる薄膜の製造方法に関し、
特には、合金または複合系組成物薄膜をスパッタリング
により形成する方法に関する。
ス・ぞツタリング法は、陽極および陰極間に高電6圧を
印加して放電させるものであって、′?tt、離したイ
オン(Ar など)が陰極上に置かれたターゲットに衝
突し、この結果ターゲット材料がはじき出され、これが
基板に付着されて薄膜が形成されるものである。そして
、ターゲット材料をそのまま付着させる場合と、例えば
ターゲット材料として金属を用い、これと雰囲気ガスと
の間で反応な生ぜしめて醸化物、窒化物などの薄膜を形
成する反応性スパッタリングがある。
また、高周波電圧を印加すれば、金属に加えて、誘電体
をスパッタすることもできる。
スパッタリングによれば、他の:ネ膜形成方法、例えば
真空蒸着法に比較して(1)fすれた特性の薄膜が得ら
れる、(2)ターゲット材料を忠実に再現した薄膜が得
られる(特に合金の場合)などの利点を有するものの、
−万において大きい径のターゲット材料の興作が困難で
あるという問題があった。特にGdなとの非常に酸化じ
ゃすい金属等にあっては合金の作成自体が非常に難しろ
という問題があった。
この問題を解決する方法として、特開昭57−4785
1号公報には、2種類の純粋な金属により厚さ方向て一
定圧、かつ外表面の成分比が形成すべき薄膜と一致する
ようにしたターゲットが報告されている。
第1図は、金属Aの円板11(通常30〜30い1×5
〜101捕d稈度)に円柱状(通− グ 常1〜10  ×1〜10− 程度)の不透孔を幾何学
的な配置で穿ち、この孔の中に異なる金属Bのロッドあ
るいは粉末13をターゲットの外表面が平滑になるよう
に入れたものであるが、このターゲツト材は加工が困雌
である。また、第2図のように金1iAのターゲット材
料lf上に金にBのチップ15(5〜10rm ×1〜
10朋 程度)を幾何学的に配置して、その外表面の成
分比を形成すべき薄膜の組成比と一致させてスパッタリ
ングする方法も知られている。
しかしながら、この方法ではチップで覆れた部分の金属
Bが有効に活用されず不経済である。
さらK、上記いずれの方法においても2種類以上の金属
の配置によってはターゲットの有効径全体に亘って、か
なり膜組成の均一な薄膜を製造できるが、それにも自ら
限界があり、特に大きな基板に対して均一な薄膜を形成
することは不可能であった。
本発明は、上記の従来技術の問題点を解決するため((
なされたものであり、膜の組成比を容易に制御すること
のできる薄膜の製造方法を提供することを目的とする。
すなわち、本発明の薄膜の製造方法は、2種以上の材料
をターゲット材料としてスノぞツタリングを行なう薄膜
の晃造方法において、固定された板状の第1のターゲツ
ト材上に、第1のターゲツト材とは異なる組成の第2の
ターゲツト材を第1のターゲット材一部が露出するよう
にして重ね、第2のターゲツト材を第1のターゲツト材
と接触させたまま回転させてスノにツタリングを行なう
ことを特徴とする。
以下、添付図面に添って本発明をさらに詳細に説明する
第3図は本発明で用いるターゲットの斜視図であり、第
4図はその紳rV−rVK沿った断面図である。ターゲ
ットは1の材料よりなる円板上の幀1のクーゲット材1
7と、この第1のターゲツト材17と異なる材料からな
り、第1のターゲット材料υ′)一部な覆う第2のター
ゲツト材19が重ねられて植成される6両ターゲツト材
の材料は、スパッタリング可能であれば問わず、金属(
単1*2よび合金)、非金属あるいはそれらの化合物(
酸化物等)のいずれでもよい。
第2σ)ターゲツト材の形状は問わず、第1のクーゲッ
ト材の中心を中心として回転可能な小片で、ちればいず
れでもよいが、均一な膜組成を得ろごと、」すよび第1
のターゲットの消耗量を一5′t!、にする4多11点
かりは第4図f示(7たような扇形が好ましい。また、
第2のターゲツト材の回11云?:合′易て行なうため
には、第2のターゲツト材を外縁部で結合して一体化弓
″ることか好まし℃′1゜ 第5図は本発明で用いられるターゲットの池C′・構成
例を示し、第1のターゲツト材17の直径方向の消耗量
をさらに均一にするため、第2のターゲット19′の外
縁部に切欠きを設け、第1のターゲツト材17の外縁部
を露出せしめたものである。第6図も同様しHのターゲ
ツト材17の直径方向の消耗量を均一にするための構成
例であって、第2のターゲラ)1(/の開口部を形成す
る扇形の曲率半径と第1のターゲラ)170半径がほぼ
等しくしである。
第1のターゲットは通常30〜30(lon’X5〜1
0咽1の金属などKよって形成され、第2のターゲツト
材は通常5〜10朋 の複数の小片(典型的には扇形)
あるいは、この小片を外縁部(スパッタリングの有効径
外)で結合して一体化して形成され、両ターゲット材に
よって構成されるターゲットの外表面の面積比を制御す
ることにより所望の組成の薄膜を得ることができる。
第7図は、本発明の方法によりスパッタリングケ行なう
場合について示す摸弐図であり、陰極21上に第1のタ
ーゲツト材17および第2のターゲット月19が置かA
1.対向する陽極23上には基板25が配設されている
。両極性KW圧が印加されると放電が起こり、Ar  
が第1および第2のターゲツト材17および19<叩き
つけられて、それぞれの構成原子29.29’が叩き出
されて基板27−ヒに薄膜を形成する。
この薄膜の組成比は、第2のターゲットの面積と、これ
により覆れることなく産出する第1の面積を予め計算し
て設定することにより、厳しく制御できる。
第2のターゲツト材の回転速度は均一な膜を得るために
は高速であることが好ましいが、第1のターゲツト材に
接触させてやる必要があるなど(′l&械的な観点から
宮って、通常5〜50rprn稈度が一般的である。
以上説明したように、本発明によれば薄膜の組成比を容
易に制御することができ、しかもターゲットの製作が容
易である。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は従来のターゲラ)Kつ第3図は本
発明fおけるターゲットの構成例を示す斜視図であ・す
、第4図はその線IV−IVに沿った断面図である。第
5図および第6図は本発明におけろターゲットの他の構
成例な示す斜視図である。 第7図は本発明圧ついて説明する模式図である。 17・・・第1のターゲツト材 19.19’、19”・・・第2のターゲツト材25・
・・基 版

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.2種以上の材料をターゲット材料としてスパッタリ
    ングを行なう#膜の製造方法において、固定された板状
    の第1のターゲツト材上に、第1のターゲツト材とは真
    なる組成の第2のターゲツト材を第1のターゲット材一
    部が匹出するようにして重ね、第2のターゲツト材を第
    1のターゲツト材と接触させたまま回転させてスパッタ
    リングを行なうことを特徴とする薄膜の製造方法。
JP11816882A 1982-07-07 1982-07-07 薄膜の製造方法 Granted JPS599170A (ja)

Priority Applications (1)

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JP11816882A JPS599170A (ja) 1982-07-07 1982-07-07 薄膜の製造方法

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JP11816882A JPS599170A (ja) 1982-07-07 1982-07-07 薄膜の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS599170A true JPS599170A (ja) 1984-01-18
JPH0314905B2 JPH0314905B2 (ja) 1991-02-27

Family

ID=14729794

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JP11816882A Granted JPS599170A (ja) 1982-07-07 1982-07-07 薄膜の製造方法

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JP (1) JPS599170A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60202925A (ja) * 1984-03-28 1985-10-14 Hitachi Ltd スパツタタ−ゲツトおよびスパツタリング方法
CN112962076A (zh) * 2021-02-04 2021-06-15 西南交通大学 一种二代高温超导带材金属前驱膜的制备方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60202925A (ja) * 1984-03-28 1985-10-14 Hitachi Ltd スパツタタ−ゲツトおよびスパツタリング方法
CN112962076A (zh) * 2021-02-04 2021-06-15 西南交通大学 一种二代高温超导带材金属前驱膜的制备方法

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JPH0314905B2 (ja) 1991-02-27

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