JPS61284565A - 複合膜形成装置 - Google Patents

複合膜形成装置

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JPS61284565A
JPS61284565A JP12599785A JP12599785A JPS61284565A JP S61284565 A JPS61284565 A JP S61284565A JP 12599785 A JP12599785 A JP 12599785A JP 12599785 A JP12599785 A JP 12599785A JP S61284565 A JPS61284565 A JP S61284565A
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Japan
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vapor
film
crucibles
evaporation
composition
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JP12599785A
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Tetsuyoshi Wada
哲義 和田
Yoshikiyo Nakagawa
義清 中川
Yoshinobu Masuo
増尾 義信
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Ryomei Engineering Co Ltd
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Ryomei Engineering Co Ltd
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔座業上の利用分野〕 本発明は、スパッタリング装置、イオンブレーティング
装置などのPVD(物理的蒸着)装置のような薄膜被膜
形成装置として好適な複合膜形成装置に関する。また、
本発明は、銅帯等に多元蒸着金施すための真壁蒸着装置
において、複合膜の組成および皮膜厚さ全均一による複
合膜形成装置に関する。
〔従来の技術〕
第11図に真壁蒸着法による従来の合金膜作製法を示す
。蒸着室1は図示外の真壁ボングによp 10−’ 〜
10−@TorrO高真空に排気さnている。蒸発ルツ
ボ4,4′内の蒸着用金属5,5′は抵抗加熱あるいは
電子ビーム等により溶解され蒸気となる。この蒸気は上
方で混合し、円板2に付着する。よって、円板2に蒸着
用金J!ji5と蒸着用金属5′の複合被膜が作製でき
る。ま友、マズク3は、被膜が作製さnる範囲全限定す
るために円板2の直下に設定さnている。尚、最終的に
、円板2全而に被膜を作製するため、円板2は回転させ
ている。
第12図は第11図のIV−rl/l/矢面断面す。
マスク3の開口部12は、被膜を作製する範囲全限定す
るために設けらnているものである。
〔発明が解決しようとする問題点j 第11図において、蒸発ルツボ4,4′かうM生ずる蒸
着用金属5,5′の蒸気の密度はルツボ直上で最大であ
ジ、ルツボ直上から離nるに従って蒸気密度は小さくな
る。つまり、第11図の領域5C!(5c’)から5b
(5b’)、5a(5a’)になるに従って、その蒸着
用金属の蒸気密度は小さくなる。又、破膜13の中央部
131)における蒸着用金属5と蒸着用金属ダの組成比
が同じであるとする。すると位置13aにおける組成は
蒸着用金属5が蒸着用金属ダよジも高くなり位置15 
cにおける組成は蒸着用金属ダが蒸着金属5よりも高く
なる。よって、膜厚が一定な被膜を作製したとしても、
組成的には不均一な被膜となるためM膜不来の特性が得
らnない結果となる。
〔本発明の目的〕
本発明は、上記問題点を解消することを目的とし几もの
であって、複合膜の組成および該被膜厚さを均一にする
ことができる複合膜形成装置’2提供することを目的と
する。
〔本発明の構成」 すなわち、本発明は、多元蒸着を施す友めの複合膜形成
装置において、被蒸着面と蒸発ルツボとの間に1個以上
の開口部を有するマスク全2個以上配設してなることを
特徴とする複合膜形成装置である。
〔実施例〕
以下第1図お:び第2図に基づいて本発明の詳細な説明
する。第1図は本発明の実施例である合金膜作製を示す
図であり、第2図は第1図1−1矢視断面図である。
本発明は、従来のマスク5と蒸発ルツボ4゜4′との間
に第2図に示すような複数の開口部8゜8′ヲ持つマス
クZを設は次もので、この開口部8及び8′は蒸発用ル
ツボ5及び5′の上方に位置する。尚、開口部8,8′
の形状は、蒸気密度の高い場所(ルツボ直上)では開口
幅を狭く、蒸気密度の低い場所(ルツボ直上から離n几
場所)では開口幅を広く設定し、被膜6における蒸発用
金属5.ダの組成比がいずれの場所においても同一とな
るようにする。
次に、本発明の詳細な説明すると、今、第1図の領域5
bとsb’の蒸気密度が同一であるとすると、被膜の中
央部6bにおける蒸着金属5と5′の組成比は同一とな
る。−万、位置6Cにおいては、蒸気密度の低い領域5
Cではマスク開口幅が広い文め蒸気量か多くなジ、蒸気
密度の高い領域5 a’ではマスク開口幅が狭いため蒸
気量が少なくなる。よって、位置6cにおける蒸発用金
属5,5′の組成比は同一となる。位置6aにおいても
同様に、蒸気密度の低い領域5 c’ではマスク開口幅
が広い交め蒸気量が多くなり蒸気密度の高い領域5aで
はマスク開口幅が狭いため蒸気量が少なくなる。よって
位置6aにおける蒸発用金属5,5′の組成比は同一と
なる。以上の結果として、広範囲にわたって膜厚。
組成が均一な被膜が得られる。
〔具体例〕
本発明の装置全使用して銅帯表面にOr −Fθ合金膜
全作製する具体例を従来法と対比させて以下説明する。
第3図(従来法によるOr −Fe合金膜の作製を示す
図−)および第5図(第3図■−■矢視図)に示す従来
法、並びに第4図(本発明の装置全使用してOr −F
e合金膜を作製する図)および第6図(第5図■−■矢
視図)に示す本発明の具体例によf) Or、 Feを
各々溶解し、対向する銅帯表面にOr −Fe合金J[
(目標70 wt% Fe)を作製し友。その後、触針
式膜厚計による合金膜の膜厚の測定及びICP(プラズ
マ発光分光分析)によるXPeの組成分析全行い均一性
の評価を行つ九〇 この場合のコーテング条件は次のとおりである。
基 板・・・・・・・・・・・・串・ 200wX1.
2tm蒸発源・・・・・・・・・・・・・・ 電子ビー
ム蒸発源電子ビームパワー=  Or 2 kw 、 
IFe 4.5kw蒸発源間距離・・・・・・・・ 1
5(1m蒸着距離・・・・・・・・・・・・ 200■
また、被膜作製は、まずOr 9およびFe10を蒸発
ルツボ4および4′に入社、蒸着室1を高真望にする。
次にOr 9およびFe 10 fr:電子ビームによ
り溶解し、−万、鋼帯11を第5図。
第6図に示す矢印方向に送る。そして、シャッター14
を開放して蒸着″?を開始し、目標の距離が得らnるま
で蒸着を行う。蒸着完了後、シャツタ−14を閉じ、鋼
帯11の送りを止め、電子ビームのパワー七切る。この
被膜作製手順を従来法(第5図)および本発明の具体例
(第4図)とも同一条件で行う。
膜厚測定結果?第7図(従来法によるもの)及び第8図
(本発明によるもの)に示し、Feの分析結果全第9図
(従来法によるもの)および第1C図(本発明によるも
の)に示す。この第7〜10図からみて、本発明による
被膜(第8図、第10図)は、従来法により作製した被
膜(第7図、第9図)に比較して、より広い範囲にわ友
って明らかに均一性(膜厚および組成)にすぐnている
ものである。
尚、第7図、第8図の膜厚比とは、その場における膜厚
と最大膜厚との比のことである0〔本発明の効果〕 本発明は、以上詳記したように、被蒸着面と蒸発ルツボ
との間に1個以上の開口部七肩するマスクを複数個配設
し7’C%のであるから、複合膜の組成並びに該被膜の
膜厚が均一な複合膜が形成する効果が生ずるものである
。また、本発明は回転基板や銅帯のような基板に対して
適用可能であり、工業的に価値のあるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例である合金膜作製を示す図、第
2図は第1図の1−1矢視断面を示す図、第3図は従来
法の具体例としてCr−Fe合金膜の作製を示す図、第
4図は本発明の具体例としてCjr−IFθ合金膜の作
製を示す図、第5図は第5図の■−■矢視断面を示す図
、第6図は第4図引ト■矢視断面を示す図、第7図は従
来法により作製しfl−Or−XPe合金膜の膜厚を測
定し九結果を示す図、第8図は本発明により作製した0
r−IFe合金膜の膜厚を測定し危結果を示す図、第9
図は従来法により作製し友0r−Fe合金膜のFei分
析し友結果を示す図、第10図は、本発明により作製し
ft−Or −76合金膜のEFe f分析した結果全
売す図、第11図は従来法による合金膜作製を示す図、
第12図は第11図のII/−■矢視断面を示す図であ
る。 1・・・蒸着室     2・・・円 板3・・・マス
ク    4,4′・・−H発ルツボ5、ダ ・・・蒸
着用金属 6・・・本発明により作製さnる被膜 7・
・・本発明に係るマスク8.8′  ・・・本発明に係
るマスク開口部9 ・・・ Or          
   10  ・−・ ?θ11・・−鋼 帯    
12−−−マスク開口部13・・・被 膜    14
・・・シャッター復代理人  内 1)  明 復代理人  萩 原 亮 − 復代理人  安 酉 篤 夫 第2図 第3図 第4図 第7図 簿8図 鋼帯中心からの距Nhm唱 e+帯中心からの距離(荀m) 鋼帯中心からの距Mrtn屑ン 第11図 第12図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 多元蒸着を施すための複合膜形成装置において、被蒸着
    面と蒸発ルツボとの間に1個以上の開口部を有するマス
    クを2個以上配設してなることを特徴とする複合膜形成
    装置。
JP12599785A 1985-06-12 1985-06-12 複合膜形成装置 Expired - Lifetime JPH0723535B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP12599785A JPH0723535B2 (ja) 1985-06-12 1985-06-12 複合膜形成装置

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JP12599785A JPH0723535B2 (ja) 1985-06-12 1985-06-12 複合膜形成装置

Publications (2)

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JPS61284565A true JPS61284565A (ja) 1986-12-15
JPH0723535B2 JPH0723535B2 (ja) 1995-03-15

Family

ID=14924163

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JP12599785A Expired - Lifetime JPH0723535B2 (ja) 1985-06-12 1985-06-12 複合膜形成装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007046112A (ja) * 2005-08-10 2007-02-22 Canon Inc 成膜方法及び成膜装置
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CN112262226A (zh) * 2018-06-13 2021-01-22 安赛乐米塔尔公司 真空沉积设备和用于涂覆基底的方法

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JPH0723535B2 (ja) 1995-03-15

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