JPS6082662A - スパツタタ−ゲツト及びスパツタリング方法 - Google Patents

スパツタタ−ゲツト及びスパツタリング方法

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Publication number
JPS6082662A
JPS6082662A JP18691583A JP18691583A JPS6082662A JP S6082662 A JPS6082662 A JP S6082662A JP 18691583 A JP18691583 A JP 18691583A JP 18691583 A JP18691583 A JP 18691583A JP S6082662 A JPS6082662 A JP S6082662A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sputtering
alloy
sputter
target
sputter target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18691583A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Nakamura
宏 中村
Hiroto Nagatomo
長友 宏人
Hiroshi Maejima
前島 央
Masakuni Akiba
秋葉 政邦
Goshi Kojima
小島 剛資
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Ome Electronic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd, Hitachi Ome Electronic Co Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP18691583A priority Critical patent/JPS6082662A/ja
Publication of JPS6082662A publication Critical patent/JPS6082662A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明はスパッタリング(スパッタ)により合金薄膜を
形成する際に用いて好適なスパッタターゲット等のスパ
ッタ技術に関するものである。
〔背景技術〕
近年、半導体製品を中心として薄膜形成法にスパッタ法
と称する成膜技術が発達してきている。
このスパッタ法は、固相から固相への成膜方式であるこ
とから、特に合金の成膜を行なう場合にその組成制御は
直接成膜源、つまりターゲットの合金組成を制御すれば
よく、比較的容易に所望の合金膜を得ることができる。
また、成膜の方向性がないことから微細な段差部への成
膜を容易に行なうこともでき、特に微細パターンの半導
体製品に有効である。
しかしながら、このスパッタ法による合金成膜において
精錬できないような特殊合金膜を成膜する場合には、タ
ーゲットを精錬形成することができないことから次のよ
うな成膜方法をとらざるを得ない。第1id、合金を構
成する単素材別に個別のスパッタ電極を用いて同時に成
膜する方法、第2は合金を構成する単素材を粉末状にし
かつこれを所望の組成比になるように混ぜあわせて固め
た焼結合金をターゲットにする方法である。ところが、
前者にあっては、複数個のスパッタ電極を使用するため
に合金組成比はスパッタ出力やスパッタ時間を個別に制
御する必要があり、組成比制御は極めて困難なものにな
る。甘だ後者にあっては、焼結合金中には各素材を固め
るだめの触媒が含まれていることから、この触媒もスパ
ッタされ、合金成膜の純度に悪影響を与えるという問題
がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、特に精錬できない合金の成膜を容易に
行なうことができるスパンタ技術を提供することにある
一1′た本発明の目的は、任意の組成比の合金薄膜を容
易に形成することができるスパンタ技術を提供すること
にある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、短冊形状で種類の異なる材料で構成されてい
るスパッタ部材を、メタルを固着材とし/ てバッキングプレートの主表面に配列してスパッタター
ゲットを形成し、そのスパッタターゲットを用いてスパ
ッタリングすることにより、試料表面上に任意の組成比
の合金薄膜を容易に形成することができる。
〔実施例〕
第1図は本発明を半導体装置の製造用スパッタ装置に適
用した実施例である。図示のように、内部を気密に保っ
たチャンバ1内に上部電極2と下部電極3を対向配置す
ると共に、両電極2,3間には高周波電源4の電力を印
加する。そして、下部電極3上には成膜を行なうウェー
ハ等の試料5を載置する一方、上部電極2にはスパッタ
ターゲット6を取着し、またチャンバ1にはガス供給ロ
アと排気口8を開設し、チャンバ1内を所要のガス雰囲
気の真空度に設定している。
前記スパッタターゲット6は、第2図に上下を逆に向け
て図示するように、短冊状に形成した複数本のスパッタ
部材9を平面方向に配列して全体を板状に構成した上で
、これをバッキングプレート10上にインジウム合金等
のメタル11を固着剤としてメタルボンディングによっ
て固着している。前記スパッタ部材9は、成膜合金を組
成する材料からなり、特に精錬が難かしい特殊な金属材
料を組合わせている。そして、各スパッタ部材9゜例え
ば本例ではA−B合金膜を形成するための人部材9aと
B部材9bとにA−B合金膜の組成比に応じて、各数量
が考慮されている。即ち、A部材9aとB部材9bの平
面幅寸法が等しい場合には、各部材のスパッタ速度SA
、SBとAΦBの組成比Nとから各部材9a、9bの枚
数NA、NBけ次式によってめられる。
なお、幅寸法や長さ寸法がA、B部材で異なる場合には
、各部材の平面総面積が前述の関係比を満足するように
する。例えば、第3図に示すような円形のターゲラ)6
Aの場合には各部材9a′。
9b’ の長さが一定でないため面積比で設定すること
になる。
また、前記A部材9aとB部材9bとは平面方向に均一
な分布となるように配列を行なっている。
以上の構成によれば、チャンバ1内を所要の真空ガス圧
に設定した上で高周波電力を電極2,3間に印加すれば
、チャンバ1内に生じたイオンがスパッタターゲット6
を衝突し、クーゲット6を構成するA部材9a、B部材
9bから夫々A分子、3分子をたたき出し、これらA、
Hの両分子を試料表面に堆積させて合金膜を形成するこ
とになる。
そして、このときターゲット6は表面(平面)の全域か
ら略均−に分子が′fcたき出されるため、ターゲット
6を構成するA部材9aとB部材9bのスパッタ速度お
よび面積比の相関に基づいて決定される量割合でへ分子
、B分子がたたき出されて合金膜を形成し、これにより
、所要の組成比の合金膜が形成されることになる。した
がって、A部材9aとB部材9bの配列数比つ凍り平面
面積比を適宜変えたターゲットを構成すればこれに応じ
て組成比の異なる合金膜を極めて容易に形成することが
できる。
〔効果〕
(11スパッタターゲットは種類の異なる材料から構成
されている短冊状のスパッタ部材を複数個平面配列し、
た構成としているので、スパッタ部材の配列を変えるだ
けで所望の組成比の合金膜を得ることができる。
(2)スパッタ部材を短冊状に形成しこれらをメタルを
固着材としてバッキングプレートの主表面に配列してタ
ーゲットを構成しているので、各種のスパッタ部材の配
列数量を変えることができるので組成比を容易に変更で
きると共に、各種スパッタ部材を特異な平面形状に構成
する場合に比較して材料の無駄がなく低コスト[91作
できる。
(3)スパッタ部材を短冊状に形成し、これを配列して
ターゲットを構成しているので、各種のスバ\ ワタ部材を均一に平面配列することができ、均質な合金
膜の形成に有効となる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
たとえばターゲットを構成するスパッタ部材は2種類に
限らず3種以上の材料を(1’用して3種以上の合金膜
を形成してもよい。また、短冊状に形成した各スパッタ
部材は純金属材料の与ならず精錬可能な合金を使用して
もよい。更に、スパッタ部材は非金属材料であってもよ
い。
寸ブζ、スパック装置におけるスパッタリング方式はコ
ンベンショナルダイオード方式およびプレーナマグネト
ロン方式等特定の方式に限定されるものではない。その
他、スパッタ部材を若干テーパのある短冊状に形成し、
これを放射方向に配列してターゲ・ノドを構成するよう
にしてもよい。
〔利用分野〕
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である半導体製造用のスパ
ッタ技術に一適用した場合について説明り、fcが、そ
れに限定されるもので/r、fなく、成膜技術の全般に
適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のスパッタ装置の断面図、第2図はスパ
ッタターゲットの斜視図、第3図はスパッタターゲット
の変形例の斜視図である。 1・・・チャンバ、2・・・上部電極、3・・・下部電
極、4・・・高周波電力源、5・・・試料(ウェーハ)
、6゜6A・・・スパッタターゲット、9・・・部材、
9a、 9a’・・・A部材、9b、、9b’・・・3
部材、10・・・ノくツキングプレート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、バンキングプレートの主表面に、短冊形状の複数の
    スバ、り部材がメタルを固着材とし、て配列され、前記
    スパッタ部材は種類の異なる材料で構成されていること
    を特徴としたスパッタターゲット。 2、各スパッタ部材は、前記部材をスパッタしたときに
    形成する薄膜の合金組成比に対応し、で、その部材の占
    める面積比が定められていることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載のスパッタターゲット。 3 メタルはインジウム合金であることを特徴とする特
    待請求の範囲第1項記載のスパッタターゲット。 4、短冊形状で椋類の異なる材料で構成されているスパ
    ッタ部材が、バッキングプレートの主素面に、メタルを
    固着材として配列されてなるスパッタターゲットを、対
    向する電極の一方に載置した後に、前記スパッタターゲ
    ットをスパッタして、試料表面上に薄膜を形成するスパ
    ッタリング方法。
JP18691583A 1983-10-07 1983-10-07 スパツタタ−ゲツト及びスパツタリング方法 Pending JPS6082662A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01255665A (ja) * 1988-04-05 1989-10-12 Toshiba Corp スパッタリングターゲット
JPH0347963A (ja) * 1989-03-01 1991-02-28 Toshiba Corp スパッタリングターゲットおよび金属膜の形成方法
CN107385403A (zh) * 2017-08-01 2017-11-24 深圳大学 一种ZnSb基热电薄膜及其制备方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01255665A (ja) * 1988-04-05 1989-10-12 Toshiba Corp スパッタリングターゲット
JPH0347963A (ja) * 1989-03-01 1991-02-28 Toshiba Corp スパッタリングターゲットおよび金属膜の形成方法
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