JPS5987376A - コイル検査装置 - Google Patents
コイル検査装置Info
- Publication number
- JPS5987376A JPS5987376A JP57199347A JP19934782A JPS5987376A JP S5987376 A JPS5987376 A JP S5987376A JP 57199347 A JP57199347 A JP 57199347A JP 19934782 A JP19934782 A JP 19934782A JP S5987376 A JPS5987376 A JP S5987376A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- tested
- pulse voltage
- reflected wave
- detected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/72—Testing of electric windings
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は各種コイルの異常の有無を検査するコイル検
査装置に関するものである。
査装置に関するものである。
第1図は従来のコイル検査装置を示す電気結線図である
。l第1図において、第1.第2の被試験コイル(11
、(21はコイルの異常の有無が検査されるものである
。パルス電源(3)ld第1.第2の被試験コイル(1
1、(2にパルス電圧を印加するものである。切換スイ
ッチf4)r/i嬉1.第2の被試験コイル(1) 、
(2Kパルス電源(3)からのパルス電圧を交互に切
換えて印加するものである。ブラウン管オシロ(5)は
第1.第2の被試験コイル+1) 、 (2)Vcパル
ス電圧ケ印加したときの電圧波形を観測するものである
。
。l第1図において、第1.第2の被試験コイル(11
、(21はコイルの異常の有無が検査されるものである
。パルス電源(3)ld第1.第2の被試験コイル(1
1、(2にパルス電圧を印加するものである。切換スイ
ッチf4)r/i嬉1.第2の被試験コイル(1) 、
(2Kパルス電源(3)からのパルス電圧を交互に切
換えて印加するものである。ブラウン管オシロ(5)は
第1.第2の被試験コイル+1) 、 (2)Vcパル
ス電圧ケ印加したときの電圧波形を観測するものである
。
次に動作について説明する。パルス電源(3)からのパ
ルス電圧は、切換スイッチ(4)Kよって第1、第2の
被試験コイル(υ、(2に交互に切換えて印加される。
ルス電圧は、切換スイッチ(4)Kよって第1、第2の
被試験コイル(υ、(2に交互に切換えて印加される。
この第1.第2の被試験コイル+1) 、 (2)に交
互に切換えて印加されるバlレスIEEEの電圧波形を
ブラウン管オシロ(5)で観測スる。
互に切換えて印加されるバlレスIEEEの電圧波形を
ブラウン管オシロ(5)で観測スる。
従って、第1.第2の被試験コイ/L/(11、(2)
が同一のサージインピーダンスであれば、ブラウン管オ
シロ(!5)には一つの波形が観測さ几、異なる場合は
二重の波形が観測される。すなわち、二重の波形を観測
した場合は、何れか一方の小1゜第2の被試験コイル(
11、(2+にレヤーショートなどの異常があることが
判断される。
が同一のサージインピーダンスであれば、ブラウン管オ
シロ(!5)には一つの波形が観測さ几、異なる場合は
二重の波形が観測される。すなわち、二重の波形を観測
した場合は、何れか一方の小1゜第2の被試験コイル(
11、(2+にレヤーショートなどの異常があることが
判断される。
従来の装置は以上のように構成され、二つの第1.第2
の被試鹸コイv(1) 、 (2)全比較試験しなけ几
ばならず、同一の被試験コイルが2個以上あることが必
要である。また被試験コイルが金属性容器に入っている
場合には、検出感1丈が不足し、レヤーショートなどの
異常が発生していても、検出できない欠点があった。
の被試鹸コイv(1) 、 (2)全比較試験しなけ几
ばならず、同一の被試験コイルが2個以上あることが必
要である。また被試験コイルが金属性容器に入っている
場合には、検出感1丈が不足し、レヤーショートなどの
異常が発生していても、検出できない欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、パルス電圧力インピーダンスの変
化点で反射すること分利用して、この反射波を検出する
ことにより被試験コイルが1個の場合でも、また金属性
容器に入つている場合でも、被試験コイルのレヤーショ
ートなどの異′虜を検出できるようにしたコイル検査装
置を提供することを目的としている。
めになされたもので、パルス電圧力インピーダンスの変
化点で反射すること分利用して、この反射波を検出する
ことにより被試験コイルが1個の場合でも、また金属性
容器に入つている場合でも、被試験コイルのレヤーショ
ートなどの異′虜を検出できるようにしたコイル検査装
置を提供することを目的としている。
以下この発明の一実施例を図について説明する。第2図
はこの発明に係るコイル検査装置の一実施例を示す電気
結線図である。図中第1図と同一部分には同一符号を付
している。第2図において、ブラウン管オシロもしくハ
シンクロスコープ(5A)はパルス電源(31から被試
験コイル(1)に印加さnたパルス電圧の反射波全検出
するものである。インピーダンス調整回路(6)は彼拭
瞼コイル(1)と直列に接続され、かつこの直列回路が
ブラウン管オシロもしくけジンクロス:l−7”(5A
)’[並列に接続されて、ブラウン管オシロもL<Hシ
ンクロスコープ(5A)r検出された波形を調整するも
のである。
はこの発明に係るコイル検査装置の一実施例を示す電気
結線図である。図中第1図と同一部分には同一符号を付
している。第2図において、ブラウン管オシロもしくハ
シンクロスコープ(5A)はパルス電源(31から被試
験コイル(1)に印加さnたパルス電圧の反射波全検出
するものである。インピーダンス調整回路(6)は彼拭
瞼コイル(1)と直列に接続され、かつこの直列回路が
ブラウン管オシロもしくけジンクロス:l−7”(5A
)’[並列に接続されて、ブラウン管オシロもL<Hシ
ンクロスコープ(5A)r検出された波形を調整するも
のである。
次にこの動作を第3図((転)、(b)を用いて説明す
る。パルヌ電fJj+1)からのバ々ス′電圧を被試験
コイIしく1) K印加し、このパルス電圧をブラウン
管オシロもL<Hシンクロスコープ(5A)で検出して
観測する。この場合、不必要な反射波が発生せず、第3
図(al K示す波形となるようにインピーダンス調整
装置(61’!r 媚搭する。被試験コイzしく1)に
レヤーショートがある場合には、そのVヤーショート部
分で反射波が発生し、第3図(blの点pr示すように
別のピークを持った波形となり、レヤーショートなどの
異常″lr検出することができる。
る。パルヌ電fJj+1)からのバ々ス′電圧を被試験
コイIしく1) K印加し、このパルス電圧をブラウン
管オシロもL<Hシンクロスコープ(5A)で検出して
観測する。この場合、不必要な反射波が発生せず、第3
図(al K示す波形となるようにインピーダンス調整
装置(61’!r 媚搭する。被試験コイzしく1)に
レヤーショートがある場合には、そのVヤーショート部
分で反射波が発生し、第3図(blの点pr示すように
別のピークを持った波形となり、レヤーショートなどの
異常″lr検出することができる。
以上のようにこの発明によ几ば、パルス電圧の反射波を
検出して被試験コイルの異常?検出するようにしている
ため、1個の被試験コイルの場合であっても、また被試
験コイルが金属性容器に入っている場合であっても、容
易にレヤーショート等の異常?検出できる効果を有する
。
検出して被試験コイルの異常?検出するようにしている
ため、1個の被試験コイルの場合であっても、また被試
験コイルが金属性容器に入っている場合であっても、容
易にレヤーショート等の異常?検出できる効果を有する
。
第1図は従来のコイル検査装置を示す電気結線図、第2
図はこの発F3AK係るコイル検査装置の一実施例を示
す電気結線図、第3図(a) 、 (blはこの発明の
動作説明図である。 図において、(l)は被試験コイル、(3)はパルス(
5) 電M、(5A)はブラウン管オシロモジくニシンクロス
コープ、(6)はインピーダンス調整装置である、なお
各図中同一部分VCは同一符号?付している。 代理人 弁理士 葛 野 信 −(6)
図はこの発F3AK係るコイル検査装置の一実施例を示
す電気結線図、第3図(a) 、 (blはこの発明の
動作説明図である。 図において、(l)は被試験コイル、(3)はパルス(
5) 電M、(5A)はブラウン管オシロモジくニシンクロス
コープ、(6)はインピーダンス調整装置である、なお
各図中同一部分VCは同一符号?付している。 代理人 弁理士 葛 野 信 −(6)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被試験コイ〜にパルス電圧を印加するパルス電源、
前記被試験コイルからの前記パルス電圧の反射波を検出
するブラウン管オシロもしくけシンクロスコープ、およ
び前記ブラウン管オシロもしくけシンクロスコープで検
出された波形を調整するインピーダンス調整装置を備え
、前記ブラウン管オシロもしくはシンクロスコープで検
出された前記反射波の波形から、前記被試験コイルの異
常を検出するようにしたことを特徴とするコイル検査装
置。 2、 インピーダンス調整装置は、被試験コイルに直列
接続されている特許請求の範囲第1項記載のコイル検査
装置。 3、 ブラウン管オシロ4L<[シンクロスコープは、
被試験コイ〜とインピーダンス調整装置との直列回路に
並列接続されている特許請求の範囲第2項記載のコイル
検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57199347A JPS5987376A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | コイル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57199347A JPS5987376A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | コイル検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5987376A true JPS5987376A (ja) | 1984-05-19 |
Family
ID=16406251
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57199347A Pending JPS5987376A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | コイル検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5987376A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4757869A (en) * | 1986-03-19 | 1988-07-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Motor-driven power steering system for a vehicle |
-
1982
- 1982-11-11 JP JP57199347A patent/JPS5987376A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4757869A (en) * | 1986-03-19 | 1988-07-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Motor-driven power steering system for a vehicle |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2371636A (en) | Means for determining the surface electrical resistance of conducting sheets | |
JPS5987376A (ja) | コイル検査装置 | |
JP4248627B2 (ja) | 地絡検査装置 | |
US4074195A (en) | Semiconductor tester | |
US20030030446A1 (en) | Method for providing compensation current and test device using the same | |
JPS5817377A (ja) | フラットケ−ブルの導通検査装置 | |
JPH11326441A (ja) | 半導体試験装置 | |
JP3241777B2 (ja) | インサーキットテスタ用オープンテスト装置 | |
JP3818299B2 (ja) | 電子回路検査装置 | |
JPS62257070A (ja) | プリント基板の布線検査機 | |
JPH0637347Y2 (ja) | Ic試験用スキャナ | |
JPH11231022A (ja) | 半導体装置の検査方法および検査装置 | |
JP3105897B2 (ja) | 配電線路の相判別装置 | |
US3484684A (en) | Apparatus for determining circuit transfer characteristics employing three phase displaced signals and three phase sensitive rectifiers applied to crt deflectors | |
JPH07159475A (ja) | 電気回路の反射パルス測定装置 | |
JP2922020B2 (ja) | 半導体デバイスの試験方法および半導体デバイスの試験装置 | |
JPH08170975A (ja) | 電機機器の部分放電検出回路 | |
JP3436138B2 (ja) | 半導体試験装置用バイアス電源回路 | |
JPH0567654A (ja) | 半導体試験装置及び半導体集積回路装置の試験方法 | |
US20060076965A1 (en) | Contact-free test system for semiconductor device | |
JPH06160456A (ja) | 非接触式回路ルート検査装置 | |
JPH05347335A (ja) | プローブカード | |
US20030132774A1 (en) | Analogue signal testing system for integrated circuit | |
JP2996989B2 (ja) | Icテスターのピン電流測定回路及びその基板 | |
JPS59177846A (ja) | 電子ビ−ム装置 |