JPH06160456A - 非接触式回路ルート検査装置 - Google Patents
非接触式回路ルート検査装置Info
- Publication number
- JPH06160456A JPH06160456A JP4339704A JP33970492A JPH06160456A JP H06160456 A JPH06160456 A JP H06160456A JP 4339704 A JP4339704 A JP 4339704A JP 33970492 A JP33970492 A JP 33970492A JP H06160456 A JPH06160456 A JP H06160456A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- frequency signal
- level
- receiving electrode
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電気回路が絶縁物で覆われていても回路ルー
トの検査を行えるようにする。 【構成】 検査すべき回路に高周波信号を印加する高周
波信号発生器２を設ける。検査すべき回路のルートをた
どって高周波信号を受信する主受信電極６を有するプロ
ーブ５を用いる。主受信電極６で受信した高周波信号を
主検波増幅器８で検波増幅して回路検出電圧を発生させ
る。回路検出電圧と比較基準電圧とをレベル比較器９で
比較する。レベル比較器９の比較結果を表示器１２で表
示させる。
トの検査を行えるようにする。 【構成】 検査すべき回路に高周波信号を印加する高周
波信号発生器２を設ける。検査すべき回路のルートをた
どって高周波信号を受信する主受信電極６を有するプロ
ーブ５を用いる。主受信電極６で受信した高周波信号を
主検波増幅器８で検波増幅して回路検出電圧を発生させ
る。回路検出電圧と比較基準電圧とをレベル比較器９で
比較する。レベル比較器９の比較結果を表示器１２で表
示させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板等の回
路ルートをたどって検査を行うのに好適な非接触式回路
ルート検査装置に関するものである。
路ルートをたどって検査を行うのに好適な非接触式回路
ルート検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、電気回路網の接続状態の検査に
は、テスターを用いて検査すべき回路のいずれかの部分
に、一方の接触電極を接続して直流を流し、検査すべき
回路のルートにそって他方の接触電極を接触させながら
２点間に電流が流れているか否かにより回路の接続状態
を検査していた。
は、テスターを用いて検査すべき回路のいずれかの部分
に、一方の接触電極を接続して直流を流し、検査すべき
回路のルートにそって他方の接触電極を接触させながら
２点間に電流が流れているか否かにより回路の接続状態
を検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】テスターでは多くの電
気回路があって、ある２点間に接触電極を触れさせる場
合、別の端の配線場所が事前にわかっていないときに
は、その場所を探すために次々に接触電極を触れさせて
探して行かなければならない。通常の場合、電気回路は
特定の場所以外は絶縁物で覆われているので、この絶縁
物を破壊して調べなければならない問題点がある。
気回路があって、ある２点間に接触電極を触れさせる場
合、別の端の配線場所が事前にわかっていないときに
は、その場所を探すために次々に接触電極を触れさせて
探して行かなければならない。通常の場合、電気回路は
特定の場所以外は絶縁物で覆われているので、この絶縁
物を破壊して調べなければならない問題点がある。
【０００４】本発明の目的は、電気回路が絶縁物で覆わ
れていても回路ルートの検査を支承なく行える非接触式
回路ルート検査装置を提供することにある。
れていても回路ルートの検査を支承なく行える非接触式
回路ルート検査装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する本
発明の構成を示すと、次の通りである。
発明の構成を示すと、次の通りである。
【０００６】請求項１に記載の非接触式回路ルート検査
装置は、検査すべき回路のいずれかの部分に高周波信号
を印加する高周波信号発生器と、検査すべき回路に接近
させて前記高周波信号を非接触で受信する主受信電極を
有するプローブと、前記主受信電極で受信された前記高
周波信号を検波増幅して回路検出電圧を発生する主検波
増幅器と、比較基準電圧を発生する比較基準電圧発生器
と、前記回路検出電圧と前記比較基準電圧とを比較する
レベル比較器と、前記レベル比較器の比較結果を表示す
る表示器とを備えてなるものである。
装置は、検査すべき回路のいずれかの部分に高周波信号
を印加する高周波信号発生器と、検査すべき回路に接近
させて前記高周波信号を非接触で受信する主受信電極を
有するプローブと、前記主受信電極で受信された前記高
周波信号を検波増幅して回路検出電圧を発生する主検波
増幅器と、比較基準電圧を発生する比較基準電圧発生器
と、前記回路検出電圧と前記比較基準電圧とを比較する
レベル比較器と、前記レベル比較器の比較結果を表示す
る表示器とを備えてなるものである。
【０００７】請求項２に記載の非接触回路ルート検査装
置は、検査すべき回路のいずれかの部分に高周波信号を
印加する高周波信号発生器と、検査すべき回路に接近さ
せて前記高周波信号を非接触で受信する主受信電極及び
該主受信電極を同軸状に包囲して配置されていて背景雑
音を検出する補助受信電極を有するプローブと、前記主
受信電極で受信された前記高周波信号を検波増幅して回
路検出電圧を発生する主検波増幅器と、前記補助受信電
極で受信された背景雑音電圧を検波増幅して比較基準電
圧を発生する副検波増幅器と、この比較基準電圧のレベ
ルが元の背景雑音電圧の検波レベルより所定レベルだけ
高くなるようにレベル調整するレベル調整器と、前記回
路検出電圧とレベル調整された比較基準電圧とを比較す
るレベル比較器と、前記レベル比較器の比較結果を表示
する表示器とを備えてなるものである。
置は、検査すべき回路のいずれかの部分に高周波信号を
印加する高周波信号発生器と、検査すべき回路に接近さ
せて前記高周波信号を非接触で受信する主受信電極及び
該主受信電極を同軸状に包囲して配置されていて背景雑
音を検出する補助受信電極を有するプローブと、前記主
受信電極で受信された前記高周波信号を検波増幅して回
路検出電圧を発生する主検波増幅器と、前記補助受信電
極で受信された背景雑音電圧を検波増幅して比較基準電
圧を発生する副検波増幅器と、この比較基準電圧のレベ
ルが元の背景雑音電圧の検波レベルより所定レベルだけ
高くなるようにレベル調整するレベル調整器と、前記回
路検出電圧とレベル調整された比較基準電圧とを比較す
るレベル比較器と、前記レベル比較器の比較結果を表示
する表示器とを備えてなるものである。
【０００８】
【作用】請求項１のように、高周波信号発生器を備えて
その高周波信号出力を検査すべき回路のいずれかの部分
に印加すると、検査すべき回路ルートに高周波電流が流
れ、高周波磁界が発生する。この高周波磁界は、検査す
べき電気回路の表面に電気絶縁物が被覆されていてもそ
の表面空間に現われるので、プローブの主受信電極によ
り非接触（主受信電極が回路の導体に直接接触しない）
で受信することができる。
その高周波信号出力を検査すべき回路のいずれかの部分
に印加すると、検査すべき回路ルートに高周波電流が流
れ、高周波磁界が発生する。この高周波磁界は、検査す
べき電気回路の表面に電気絶縁物が被覆されていてもそ
の表面空間に現われるので、プローブの主受信電極によ
り非接触（主受信電極が回路の導体に直接接触しない）
で受信することができる。
【０００９】主受信電極で受信された高周波信号は、回
路検出電圧検波増幅器で検波増幅し、回路検出電圧を得
る。この回路検出電圧と比較基準電圧発生器から発生さ
せた比較基準電圧とをレベル比較器で比較し、回路検出
電圧が比較基準電圧に対して所定の条件になっている
と、表示器がブザー音，発光等でその旨表示する。
路検出電圧検波増幅器で検波増幅し、回路検出電圧を得
る。この回路検出電圧と比較基準電圧発生器から発生さ
せた比較基準電圧とをレベル比較器で比較し、回路検出
電圧が比較基準電圧に対して所定の条件になっている
と、表示器がブザー音，発光等でその旨表示する。
【００１０】従って、プローブで回路ルートをたどって
行けば、表示が変わることにより断線箇所等を非接触で
検出できる。
行けば、表示が変わることにより断線箇所等を非接触で
検出できる。
【００１１】請求項２では、背景雑音電圧を利用し、こ
の背景雑音電圧のレベルより所定レベルだけ高い比較基
準電圧を用いるので、背景雑音電圧のレベルが高くて
も、この背景雑音電圧に邪魔されないで、回路ルートの
検査を行える。
の背景雑音電圧のレベルより所定レベルだけ高い比較基
準電圧を用いるので、背景雑音電圧のレベルが高くて
も、この背景雑音電圧に邪魔されないで、回路ルートの
検査を行える。
【００１２】
【実施例】図１及び図２では、本発明に係る非接触式回
路ルート検査装置１の第１実施例を示したものである。
路ルート検査装置１の第１実施例を示したものである。
【００１３】この非接触式回路ルート検査装置１は、高
周波信号（例えば、４ＭＨｚ）を発生する高周波信号発
生器２を有している。高周波信号発生器２からの高周波
信号は、同軸コード３の中心導体３ａで出力されるよう
になっている。同軸コード３の中心導体３ａは外部導体
３ｂで同軸状に包囲されている。このような同軸コード
３の中心導体３ａは被検査物であるプリント配線板４の
検査すべき回路のいずれかの部分に接続され、外部導体
３ｂはプリント配線板４のアース導体に接続されるよう
になっている。
周波信号（例えば、４ＭＨｚ）を発生する高周波信号発
生器２を有している。高周波信号発生器２からの高周波
信号は、同軸コード３の中心導体３ａで出力されるよう
になっている。同軸コード３の中心導体３ａは外部導体
３ｂで同軸状に包囲されている。このような同軸コード
３の中心導体３ａは被検査物であるプリント配線板４の
検査すべき回路のいずれかの部分に接続され、外部導体
３ｂはプリント配線板４のアース導体に接続されるよう
になっている。
【００１４】この非接触式回路ルート検査装置１は、プ
リント配線板４の検査すべき回路を非接触で検査するた
めのプローブ５を有している。プローブ５は検査すべき
回路のルートをたどって該回路ルートからの高周波信号
を非接触で受信する主受信電極６を有する。主受信電極
６の先端は、プラスチック等の絶縁物７で絶縁されてい
る。
リント配線板４の検査すべき回路を非接触で検査するた
めのプローブ５を有している。プローブ５は検査すべき
回路のルートをたどって該回路ルートからの高周波信号
を非接触で受信する主受信電極６を有する。主受信電極
６の先端は、プラスチック等の絶縁物７で絶縁されてい
る。
【００１５】主受信電極６で受信された高周波信号は、
主検波増幅器８で検波増幅されて回路検出電圧として出
力されるようになっている。該回路検出電圧は、レベル
比較器９に印加されるようになっている。
主検波増幅器８で検波増幅されて回路検出電圧として出
力されるようになっている。該回路検出電圧は、レベル
比較器９に印加されるようになっている。
【００１６】この非接触式回路ルート検査装置１は、ま
た比較基準電圧を発生する比較基準電圧発生器１０を有
している。該比較基準電圧は、レベル調整器１１で所定
のレベルに調整されてレベル比較器９に与えられるよう
になっている。
た比較基準電圧を発生する比較基準電圧発生器１０を有
している。該比較基準電圧は、レベル調整器１１で所定
のレベルに調整されてレベル比較器９に与えられるよう
になっている。
【００１７】レベル比較器９は、回路検出電圧と比較基
準電圧とを比較し、回路検出電圧が比較基準電圧より大
きいとき、回路有との判定出力を出すようになってい
る。
準電圧とを比較し、回路検出電圧が比較基準電圧より大
きいとき、回路有との判定出力を出すようになってい
る。
【００１８】判定出力は、表示器１２に与えられ、ブザ
ー或いは発光ダイオード等で音或いは発光により回路の
検出が表示されるようになっている。
ー或いは発光ダイオード等で音或いは発光により回路の
検出が表示されるようになっている。
【００１９】このような構造の非接触式回路ルート検査
装置１は、高周波信号発生器２より高周波信号をプリン
ト配線板４上の検査すべき回路のいずれかの部分に印加
し、検出すべき回路のルートをプローブ５でたどる。プ
ローブ５の主受信電極６が検査すべき回路の近傍にある
と、該主受信電極６が高周波信号を受信する。該高周波
信号は主検波増幅器８で検波増幅されて図３に示すよう
に回路検出電圧Ｓ1 又はＳ2 として出力される。
装置１は、高周波信号発生器２より高周波信号をプリン
ト配線板４上の検査すべき回路のいずれかの部分に印加
し、検出すべき回路のルートをプローブ５でたどる。プ
ローブ５の主受信電極６が検査すべき回路の近傍にある
と、該主受信電極６が高周波信号を受信する。該高周波
信号は主検波増幅器８で検波増幅されて図３に示すよう
に回路検出電圧Ｓ1 又はＳ2 として出力される。
【００２０】回路検出電圧Ｓ1 とＳ2 のレベルが相違す
るのは、検出すべき回路のルートの真上に主受信電極６
が存在するか、検出すべき回路のルートの近くに主受信
電極６が存在するかの相違により、結合する高周波磁界
の強さが変るためであり、強く結合すれば検出レベルは
高くなり、弱く結合すれば検出レベルは低くなる。
るのは、検出すべき回路のルートの真上に主受信電極６
が存在するか、検出すべき回路のルートの近くに主受信
電極６が存在するかの相違により、結合する高周波磁界
の強さが変るためであり、強く結合すれば検出レベルは
高くなり、弱く結合すれば検出レベルは低くなる。
【００２１】回路検出電圧Ｓ1 （又はＳ2 ）は、レベル
比較器９で比較基準電圧Ｖ1 と比較される。回路検出電
圧Ｓ1 （又はＳ2 ）が比較基準電圧Ｖ1 より図示のよう
に高ければ回路有の判定出力を出し、表示器１２がブザ
ー音又は発光等により表示する。従って、この表示を確
認しながら回路のルートをたどると、検査を全ルートに
そって行うことができる。表示をしない箇所があれば、
その箇所に断線箇所或いは接触不良箇所があることがわ
かる。
比較器９で比較基準電圧Ｖ1 と比較される。回路検出電
圧Ｓ1 （又はＳ2 ）が比較基準電圧Ｖ1 より図示のよう
に高ければ回路有の判定出力を出し、表示器１２がブザ
ー音又は発光等により表示する。従って、この表示を確
認しながら回路のルートをたどると、検査を全ルートに
そって行うことができる。表示をしない箇所があれば、
その箇所に断線箇所或いは接触不良箇所があることがわ
かる。
【００２２】このとき比較基準電圧としてＶ1 よりレベ
ルの高いＶ2 を用いると、回路検出電圧Ｓ1 は検出でき
るが、回路検出電圧Ｓ2 は検出できないことになる。従
って、比較基準電圧は、適宜そのレベルを選定する必要
がある。なお、図３において、Ｎは背景雑音電圧であ
る。
ルの高いＶ2 を用いると、回路検出電圧Ｓ1 は検出でき
るが、回路検出電圧Ｓ2 は検出できないことになる。従
って、比較基準電圧は、適宜そのレベルを選定する必要
がある。なお、図３において、Ｎは背景雑音電圧であ
る。
【００２３】図４及び図６は、本発明に係る非接触式回
路ルート検査装置１の第２実施例を示したものである。
なお、前述した図１及び図２と対応する部分には、同一
符号を付けて示している。
路ルート検査装置１の第２実施例を示したものである。
なお、前述した図１及び図２と対応する部分には、同一
符号を付けて示している。
【００２４】本実施例では、プローブ５は主受信電極６
の外周に同軸状に包囲して背景雑音を検出する補助受信
電極１３を有する。この補助受信電極１３も、その先端
は絶縁物７で絶縁されている。
の外周に同軸状に包囲して背景雑音を検出する補助受信
電極１３を有する。この補助受信電極１３も、その先端
は絶縁物７で絶縁されている。
【００２５】主受信電極６で受信された高周波信号は主
検波増幅器８に印加される点は、第１実施例と同様であ
る。
検波増幅器８に印加される点は、第１実施例と同様であ
る。
【００２６】補助受信電極１３で受信された背景雑音電
圧は、副検波増幅器１４で検波増幅された後、レベル調
整器１１で元の背景雑音電圧のレベルより所定レベル
（例えばＶ1 ）だけ高い比較基準電圧Ｖ3 として出力さ
れるようになっている。
圧は、副検波増幅器１４で検波増幅された後、レベル調
整器１１で元の背景雑音電圧のレベルより所定レベル
（例えばＶ1 ）だけ高い比較基準電圧Ｖ3 として出力さ
れるようになっている。
【００２７】その他の構成は、前述した第１実施例と同
様である。
様である。
【００２８】このような非接触式回路ルート検査装置
は、プローブ５の主受信電極６で検査すべき回路からの
高周波信号を受信し、該主電極６の外周に存在する補助
受信電極１３で背景雑音を検出する。補助受信電極１３
で受信された背景雑音電圧は、副検波増幅器１４で検波
増幅された後、レベル調整器１１で図６に示すように元
の背景雑音電圧のレベルより所定レベルだけ高い比較基
準電圧Ｖ3 として出力される。
は、プローブ５の主受信電極６で検査すべき回路からの
高周波信号を受信し、該主電極６の外周に存在する補助
受信電極１３で背景雑音を検出する。補助受信電極１３
で受信された背景雑音電圧は、副検波増幅器１４で検波
増幅された後、レベル調整器１１で図６に示すように元
の背景雑音電圧のレベルより所定レベルだけ高い比較基
準電圧Ｖ3 として出力される。
【００２９】該図６に示すように、背景雑音電圧Ｎのレ
ベルが高いと、比較基準電圧がＶ1では該背景雑音電圧
Ｎの方がレベルが高く、その上に回路検出電圧Ｓ3 （又
はＳ4 ）が乗っているので、背景雑音電圧Ｎが邪魔をし
て回路検出電圧Ｓ3 （又はＳ4 ）を検出できない。
ベルが高いと、比較基準電圧がＶ1では該背景雑音電圧
Ｎの方がレベルが高く、その上に回路検出電圧Ｓ3 （又
はＳ4 ）が乗っているので、背景雑音電圧Ｎが邪魔をし
て回路検出電圧Ｓ3 （又はＳ4 ）を検出できない。
【００３０】しかるに、図６に示すように比較基準電圧
としてＶ3 を設定すると、レベルの高い回路検出電圧Ｓ
3 もレベルの低い回路検出電圧Ｓ4 も、いずれも検出で
きることになる。
としてＶ3 を設定すると、レベルの高い回路検出電圧Ｓ
3 もレベルの低い回路検出電圧Ｓ4 も、いずれも検出で
きることになる。
【００３１】また、図１に示す主受信電極６のみのプロ
ーブ５の場合は、図７に示すように主受信電極６の検出
範囲１５が広いが、図４及び図５に示すように主受信電
極６以外に補助受信電極１３を備えている場合には図８
に示すように主受信電極６の検出範囲１５は狭い。従っ
て、第２実施例のプローブ５を用いると、回路ルートの
上に絶縁物があっても、より正しく回路ルートの位置を
検出することができる。
ーブ５の場合は、図７に示すように主受信電極６の検出
範囲１５が広いが、図４及び図５に示すように主受信電
極６以外に補助受信電極１３を備えている場合には図８
に示すように主受信電極６の検出範囲１５は狭い。従っ
て、第２実施例のプローブ５を用いると、回路ルートの
上に絶縁物があっても、より正しく回路ルートの位置を
検出することができる。
【００３２】なお、本発明は、プリント配線板の検査以
外に、ワイヤーハーネス，多芯ケーブル、その他各種電
気機器等の有線状況や誤配線等の検査等をも、その被覆
を破壊することなく行うことができる。
外に、ワイヤーハーネス，多芯ケーブル、その他各種電
気機器等の有線状況や誤配線等の検査等をも、その被覆
を破壊することなく行うことができる。
【００３３】また、高周波信号発生器２が出す高周波信
号は、４ＭＨｚに限定されるものではなく、その状況に
応じて適宜定めればよい。
号は、４ＭＨｚに限定されるものではなく、その状況に
応じて適宜定めればよい。
【００３４】
【発明の効果】請求項１及び２に記載の発明では、高周
波信号発生器からの高周波信号を検査すべき回路のいず
れかの部分に印加するので、該検査すべきルートに高周
波信号が流れ、高周波磁界が発生することになり、回路
の表面が絶縁物で覆われていてもその絶縁物を破壊する
ことなくプローブの主受信電極により非接触で検査を行
うことができる。
波信号発生器からの高周波信号を検査すべき回路のいず
れかの部分に印加するので、該検査すべきルートに高周
波信号が流れ、高周波磁界が発生することになり、回路
の表面が絶縁物で覆われていてもその絶縁物を破壊する
ことなくプローブの主受信電極により非接触で検査を行
うことができる。
【００３５】特に、請求項２に記載の発明では、プロー
ブの主受信電極の外周に同軸状に補助受信電極を設け、
この補助受信電極で背景雑音電圧を検出し、この背景雑
音電圧のレベルより所定レベルだけ高い比較基準電圧を
用いて回路検出電圧と比較するので、背景雑音電圧のレ
ベルが高くても支障なく回路検出電圧の検出を行うこと
ができる。
ブの主受信電極の外周に同軸状に補助受信電極を設け、
この補助受信電極で背景雑音電圧を検出し、この背景雑
音電圧のレベルより所定レベルだけ高い比較基準電圧を
用いて回路検出電圧と比較するので、背景雑音電圧のレ
ベルが高くても支障なく回路検出電圧の検出を行うこと
ができる。
【図１】本発明に係る非接触式回路ルート検査装置の第
１実施例のブロック図である。
１実施例のブロック図である。
【図２】第１実施例の装置の使用状態の説明図である。
【図３】第１実施例における回路検出電圧と比較基準電
圧と背景雑音電圧との関係を示す説明図である。
圧と背景雑音電圧との関係を示す説明図である。
【図４】本発明に係る非接触式回路ルート検査装置の第
２実施例のブロック図である。
２実施例のブロック図である。
【図５】第２実施例で用いているプローブの縦断面図で
ある。
ある。
【図６】第２実施例における回路検出電圧と比較基準電
圧と背景雑音電圧との関係を示す説明図である。
圧と背景雑音電圧との関係を示す説明図である。
【図７】第１実施例のプローブの検出範囲を示す説明図
である。
である。
【図８】第２実施例のプローブの検出範囲を示す説明図
である。
である。
１ 非接触式回路ルート検査装置 ２ 高周波信号発生器 ３ 同軸コード ３ａ 中心導体 ３ｂ 外部導体 ４ プリント配線板 ５ プローブ ６ 主受信電極 ７ 絶縁物 ８ 主検波増幅器 ９ レベル比較器 １０ 比較基準電圧発生器 １１ レベル調整器 １２ 表示器 １３ 補助受信電極 １４ 副検波増幅器 １５ 検出範囲
Claims (2)
- 【請求項１】 検査すべき回路のいずれかの部分に高周
波信号を印加する高周波信号発生器と、検査すべき回路
に接近させて前記高周波信号を非接触で受信する主受信
電極を有するプローブと、前記主受信電極で受信された
前記高周波信号を検波増幅して回路検出電圧を発生する
主検波増幅器と、比較基準電圧を発生する比較基準電圧
発生器と、前記回路検出電圧と前記比較基準電圧とを比
較するレベル比較器と、前記レベル比較器の比較結果を
表示する表示器とを備えてなる非接触式回路ルート検査
装置。 - 【請求項２】 検査すべき回路のいずれかの部分に高周
波信号を印加する高周波信号発生器と、検査すべき回路
に接近させて前記高周波信号を非接触で受信する主受信
電極及び該主受信電極を同軸状に包囲して配置されてい
て背景雑音を検出する補助受信電極を有するプローブ
と、前記主受信電極で受信された前記高周波信号を検波
増幅して回路検出電圧を発生する主検波増幅器と、前記
補助受信電極で受信された背景雑音電圧を検波増幅して
比較基準電圧を発生する副検波増幅器と、この比較基準
電圧のレベルが元の背景雑音電圧の検波レベルより所定
レベルだけ高くなるようにレベル調整するレベル調整器
と、前記回路検出電圧とレベル調整された比較基準電圧
とを比較するレベル比較器と、前記レベル比較器の比較
結果を表示する表示器とを備えてなる非接触式回路ルー
ト検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4339704A JPH06160456A (ja) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | 非接触式回路ルート検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4339704A JPH06160456A (ja) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | 非接触式回路ルート検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06160456A true JPH06160456A (ja) | 1994-06-07 |
Family
ID=18330020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4339704A Pending JPH06160456A (ja) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | 非接触式回路ルート検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06160456A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6201398B1 (en) | 1996-03-28 | 2001-03-13 | Oht Inc. | Non-contact board inspection probe |
| US7276202B2 (en) | 2002-04-13 | 2007-10-02 | Kwang-Ho Choi | Method of manufacturing ceramic bottle for plastic cork |
-
1992
- 1992-11-26 JP JP4339704A patent/JPH06160456A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6201398B1 (en) | 1996-03-28 | 2001-03-13 | Oht Inc. | Non-contact board inspection probe |
| US6373258B2 (en) | 1996-03-28 | 2002-04-16 | Naoya Takada | Non-contact board inspection probe |
| US7276202B2 (en) | 2002-04-13 | 2007-10-02 | Kwang-Ho Choi | Method of manufacturing ceramic bottle for plastic cork |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7746086B2 (en) | Non-contact type apparatus for testing open and short circuits of a plurality of pattern electrodes formed on a panel | |
| US3839672A (en) | Method and apparatus for measuring the effectiveness of the shield in a coaxial cable | |
| JP2940815B2 (ja) | 導体回路基板の検査方法およびその検査装置 | |
| JPH0745134A (ja) | 測定用ケーブル及び測定システム | |
| JPH09264919A (ja) | 基板検査方法及び装置 | |
| US5128618A (en) | Withstand-voltage testing method and apparatus | |
| US6940289B2 (en) | Method and apparatus for tracing a line | |
| JP3126414B2 (ja) | 電線敷設装置の破断電線検出器 | |
| US5886531A (en) | Method and appparatus for detecting an electrical connection defect between a connector and a shield cable | |
| JPH02171649A (ja) | 絶縁ケーブルの欠陥検知方法および装置 | |
| JP4248627B2 (ja) | 地絡検査装置 | |
| JPH06160456A (ja) | 非接触式回路ルート検査装置 | |
| JP2003232829A (ja) | 巻線機器の部分放電検出装置 | |
| JPH04249778A (ja) | 電気ケーブル監視装置 | |
| JP3155310B2 (ja) | コンタクトチェック機能付二端子回路素子測定装置および被測定対象のコンタクトチェック方法 | |
| JP2000232141A (ja) | 半導体パッケージ用基板の導通検査方法 | |
| JP4847396B2 (ja) | プローブ、信号検出用のプローブ装置、信号供給用のプローブ装置、および検査装置 | |
| JPH03150474A (ja) | 除電装置の検査器 | |
| US5055828A (en) | Parasitic-ground current indicator for electrical system | |
| JP3097896B2 (ja) | 配線の電流ルート探索方法 | |
| CN114325153B (zh) | 一种电流注入装置和壳体电流传导敏感度测试装置 | |
| JP2013019710A (ja) | 被覆電線の表面汚れ検出装置 | |
| JP3231557B2 (ja) | 部分放電測定用アダプタ及び部分放電測定方法 | |
| JP2004031348A (ja) | 周波数領域特性を利用したｐｄｐ電極検査方法及び装置 | |
| JP2000055974A (ja) | ケーブル終端接続部の部分放電測定方法 |