JPH07159475A - 電気回路の反射パルス測定装置 - Google Patents
電気回路の反射パルス測定装置Info
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- JPH07159475A JPH07159475A JP30815193A JP30815193A JPH07159475A JP H07159475 A JPH07159475 A JP H07159475A JP 30815193 A JP30815193 A JP 30815193A JP 30815193 A JP30815193 A JP 30815193A JP H07159475 A JPH07159475 A JP H07159475A
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- electric circuit
- oscilloscope
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 パルス発生器及びオシロスコープの接地の仕
様による影響を受けずに、再現性に優れた反射パルスの
電圧波形（ＴＤＲ波形）を得る。 【構成】 接地用リード線１５を介してグランドに接地
されたパルス発生器１３とオシロスコープ１４とを、例
えばケーブル１１，１２及び負荷１０からなる電気回路
に接続して、パルス発生器１３から所定電圧の矩形パル
スを入射させるとともに、電気回路からのＴＤＲ波形を
オシロスコープ１４で測定する導体の反射パルス測定装
置において、パルス発生器１３及びオシロスコープ１４
と接地用リード線１５間に、入射する矩形パルスに対し
て大きなインピーダンスを持つインダクタンス１６を介
在させ、パルス発生器及びオシロスコープの接地の仕様
が種々変化しても、常に同じＴＤＲ波形を得る。
様による影響を受けずに、再現性に優れた反射パルスの
電圧波形（ＴＤＲ波形）を得る。 【構成】 接地用リード線１５を介してグランドに接地
されたパルス発生器１３とオシロスコープ１４とを、例
えばケーブル１１，１２及び負荷１０からなる電気回路
に接続して、パルス発生器１３から所定電圧の矩形パル
スを入射させるとともに、電気回路からのＴＤＲ波形を
オシロスコープ１４で測定する導体の反射パルス測定装
置において、パルス発生器１３及びオシロスコープ１４
と接地用リード線１５間に、入射する矩形パルスに対し
て大きなインピーダンスを持つインダクタンス１６を介
在させ、パルス発生器及びオシロスコープの接地の仕様
が種々変化しても、常に同じＴＤＲ波形を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電線や電力ケーブル等
を含む電気回路から反射される反射パルスの電圧波形を
測定する電気回路の反射パルス測定装置に関する。
を含む電気回路から反射される反射パルスの電圧波形を
測定する電気回路の反射パルス測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の測定装置では、例えば図
７に示すように、一端に負荷１０が接続された電力ケー
ブル１１，１２からなる電気回路の他端に、パルス発生
器１３及びオシロスコープ１４を接続させるとともに、
上記パルス発生器１３及びオシロスコープ１４の低電圧
側を接地用リード線１５を介してグランドに接地し、測
定回路を構成する。そして、上記パルス発生器１３から
所定電圧の矩形波パルスを電力ケーブル１１に入射し、
電気回路の各部分の持つ上記矩形波パルスに対する特性
インピーダンスの大きさに応じた大きさで反射してくる
反射パルス電圧波形、いわゆるＴＤＲ（Time Domain Re
flectometry ）波形を、オシロスコープ１４で測定して
いた。
７に示すように、一端に負荷１０が接続された電力ケー
ブル１１，１２からなる電気回路の他端に、パルス発生
器１３及びオシロスコープ１４を接続させるとともに、
上記パルス発生器１３及びオシロスコープ１４の低電圧
側を接地用リード線１５を介してグランドに接地し、測
定回路を構成する。そして、上記パルス発生器１３から
所定電圧の矩形波パルスを電力ケーブル１１に入射し、
電気回路の各部分の持つ上記矩形波パルスに対する特性
インピーダンスの大きさに応じた大きさで反射してくる
反射パルス電圧波形、いわゆるＴＤＲ（Time Domain Re
flectometry ）波形を、オシロスコープ１４で測定して
いた。
【０００３】ここで、もし電気回路に断線、短絡、地
絡、ケーブル内部への水の侵入等の異常が発生すると、
オシロスコープ１４で測定されるＴＤＲ波形の変化とな
って現れるため、電気回路の上記異常時のＴＤＲ波形
を、正常時のＴＤＲ波形と比較することにより、電気回
路の異常発生を検出し、上記異常が発生している場合に
は、その異常が発生した場所を特定していた。
絡、ケーブル内部への水の侵入等の異常が発生すると、
オシロスコープ１４で測定されるＴＤＲ波形の変化とな
って現れるため、電気回路の上記異常時のＴＤＲ波形
を、正常時のＴＤＲ波形と比較することにより、電気回
路の異常発生を検出し、上記異常が発生している場合に
は、その異常が発生した場所を特定していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記測定装
置では、同一の電気回路に対して時期をずらして複数回
の測定を行う場合、測定現場で常に同じ接地の仕様にす
ることが難しく、パルス発生器１３及びオシロスコープ
１４を接地させる接地用リード線１５の長さや配置状況
が異なると、同一の電気回路に対する正常時のＴＤＲ波
形の測定であっても、得られるＴＤＲ波形に相違が生じ
るという現象があった。
置では、同一の電気回路に対して時期をずらして複数回
の測定を行う場合、測定現場で常に同じ接地の仕様にす
ることが難しく、パルス発生器１３及びオシロスコープ
１４を接地させる接地用リード線１５の長さや配置状況
が異なると、同一の電気回路に対する正常時のＴＤＲ波
形の測定であっても、得られるＴＤＲ波形に相違が生じ
るという現象があった。
【０００５】ここで、例えば図７に示したパルス発生器
１３には、Textronix 社製Ｓ−２４を用いて、図８に示
す形状の矩形波パルスを発生させ、さらにオシロスコー
プ１４には、Textronix 社製２４３０Ａを用い、また接
地用リード線１５には、導体断面積が２［mm2 ］のビニ
ル絶縁電線を用い、以下の表１に示す長さや配置状況を
変えた場合のＴＤＲ波形の測定例を図９に示す。
１３には、Textronix 社製Ｓ−２４を用いて、図８に示
す形状の矩形波パルスを発生させ、さらにオシロスコー
プ１４には、Textronix 社製２４３０Ａを用い、また接
地用リード線１５には、導体断面積が２［mm2 ］のビニ
ル絶縁電線を用い、以下の表１に示す長さや配置状況を
変えた場合のＴＤＲ波形の測定例を図９に示す。
【０００６】
【表１】
【０００７】図９において、上述した条件の下でＴＤＲ
波形の測定を行うと、上記オシロスコープ１４で測定さ
れる各ＴＤＲ波形Ａ1 〜Ａ3 には、図９に示すように、
大きなズレが生じることとなる。この波形変化の状態
は、電気回路の異常が、例えば完全な断線、短絡、地絡
といった状態で、電気回路が正常な状態にある時と比較
して、ＴＤＲ波形の変化が非常に大きな変化となって現
れる場合には、それ程大きな障害とはならないが、例え
ばケーブル内部への水の侵入、高抵抗を介した短絡、地
絡といった状態で、電気回路が正常な状態にある時と比
較して、ＴＤＲ波形の変化が小さな変化となって現れる
場合には、異常部分のＴＤＲ波形の変化を明確に把握で
きないという問題点があった。
波形の測定を行うと、上記オシロスコープ１４で測定さ
れる各ＴＤＲ波形Ａ1 〜Ａ3 には、図９に示すように、
大きなズレが生じることとなる。この波形変化の状態
は、電気回路の異常が、例えば完全な断線、短絡、地絡
といった状態で、電気回路が正常な状態にある時と比較
して、ＴＤＲ波形の変化が非常に大きな変化となって現
れる場合には、それ程大きな障害とはならないが、例え
ばケーブル内部への水の侵入、高抵抗を介した短絡、地
絡といった状態で、電気回路が正常な状態にある時と比
較して、ＴＤＲ波形の変化が小さな変化となって現れる
場合には、異常部分のＴＤＲ波形の変化を明確に把握で
きないという問題点があった。
【０００８】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
で、接地の仕様による影響を受けずに、再現性に優れた
ＴＤＲ波形を得ることができる電気回路の反射パルス測
定装置を提供することを目的とする。
で、接地の仕様による影響を受けずに、再現性に優れた
ＴＤＲ波形を得ることができる電気回路の反射パルス測
定装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、接地用リード線を介してグランドに接
地されたパルス発生手段であるパルス発生器とパルス波
形測定手段であるオシロスコープとを電気回路に接続し
て、前記パルス発生器から前記電気回路に所定電圧の矩
形パルスを入射させるとともに、前記電気回路からの反
射パルスの電圧波形を前記オシロスコープで測定する電
気回路の反射パルス測定装置において、前記パルス発生
器及びオシロスコープとグランド間に、前記パルスに対
して大きなインピーダンスを持つインダクタンスを介在
させた電気回路の反射パルス測定装置が提供される。
め、本発明では、接地用リード線を介してグランドに接
地されたパルス発生手段であるパルス発生器とパルス波
形測定手段であるオシロスコープとを電気回路に接続し
て、前記パルス発生器から前記電気回路に所定電圧の矩
形パルスを入射させるとともに、前記電気回路からの反
射パルスの電圧波形を前記オシロスコープで測定する電
気回路の反射パルス測定装置において、前記パルス発生
器及びオシロスコープとグランド間に、前記パルスに対
して大きなインピーダンスを持つインダクタンスを介在
させた電気回路の反射パルス測定装置が提供される。
【００１０】
【作用】パルス発生器及びオシロスコープと接地用リー
ド線の間に、矩形パルスに対して大きなインピーダンス
を持つインダクタンスを接続させる。従って、接地用リ
ード線を任意の接続方法でグランドに接地させても、上
記接地の仕様による影響を受けずに、再現性に優れたＴ
ＤＲ波形を得ることが可能になる。
ド線の間に、矩形パルスに対して大きなインピーダンス
を持つインダクタンスを接続させる。従って、接地用リ
ード線を任意の接続方法でグランドに接地させても、上
記接地の仕様による影響を受けずに、再現性に優れたＴ
ＤＲ波形を得ることが可能になる。
【００１１】
【実施例】本発明の実施例を図１乃至図６の図面に基づ
き説明する。図１は、本発明に係る導体の反射パルス測
定装置を示す図である。なお、図１において、図７と同
様な構成部分に関しては、説明の都合上、同一符号とす
る。図１において、本実施例では、一端に負荷１０が接
続された電力ケーブル１１，１２の他端に、パルス発生
器１３及びオシロスコープ１４を接続させるとともに、
上記パルス発生器１３及びオシロスコープ１４の低電圧
側を、インダクタンス１６及び接地用リード線１５を介
してグランドに接地し、電気回路を構成する。すなわ
ち、図１において、図７と異なる点は、パルス発生器１
３及びオシロスコープ１４と、接地回路を構成する接地
用リード線１５の間に、適当な大きさのインピーダンス
を持つインダクタンス１６を接続した点である。
き説明する。図１は、本発明に係る導体の反射パルス測
定装置を示す図である。なお、図１において、図７と同
様な構成部分に関しては、説明の都合上、同一符号とす
る。図１において、本実施例では、一端に負荷１０が接
続された電力ケーブル１１，１２の他端に、パルス発生
器１３及びオシロスコープ１４を接続させるとともに、
上記パルス発生器１３及びオシロスコープ１４の低電圧
側を、インダクタンス１６及び接地用リード線１５を介
してグランドに接地し、電気回路を構成する。すなわ
ち、図１において、図７と異なる点は、パルス発生器１
３及びオシロスコープ１４と、接地回路を構成する接地
用リード線１５の間に、適当な大きさのインピーダンス
を持つインダクタンス１６を接続した点である。
【００１２】図２は、図１に示した測定装置の等価回路
であり、この図を用いてインダクタンス１６をパルス発
生器１３及びオシロスコープ１４と接地用リード線１５
間に挿入した理由を説明する。図２において、Ｉは往路
電流、Ｉ0 は復路電流、Ｉ1 はグランド側に漏れ出して
いる漏れ電流を示し、Ｉ＝Ｉ0 ＋Ｉ1 の関係になってい
る。また、Ｚ1 は導体間のインピーダンス、Ｚ2 は導体
−グランド間のインピーダンス、ＺE は接地回路の持つ
インピーダンス、ＺL はインダクタンス１６の持つイン
ピーダンスである。
であり、この図を用いてインダクタンス１６をパルス発
生器１３及びオシロスコープ１４と接地用リード線１５
間に挿入した理由を説明する。図２において、Ｉは往路
電流、Ｉ0 は復路電流、Ｉ1 はグランド側に漏れ出して
いる漏れ電流を示し、Ｉ＝Ｉ0 ＋Ｉ1 の関係になってい
る。また、Ｚ1 は導体間のインピーダンス、Ｚ2 は導体
−グランド間のインピーダンス、ＺE は接地回路の持つ
インピーダンス、ＺL はインダクタンス１６の持つイン
ピーダンスである。
【００１３】ここで、インダクタンス１６を接続させな
い場合には、パルス発生器１３から入射された矩形パル
スの一部がアース側に漏れ出しており、その漏れ出す程
度は、接地回路系の持つ、矩形パルスに対するインピー
ダンスの大きさに応じて変動する。上記接地回路系の持
つインピーダンスの大きさは、接地の仕様により変動す
るので、その結果としてＴＤＲ波形に相違が生じるもの
と考えられる。
い場合には、パルス発生器１３から入射された矩形パル
スの一部がアース側に漏れ出しており、その漏れ出す程
度は、接地回路系の持つ、矩形パルスに対するインピー
ダンスの大きさに応じて変動する。上記接地回路系の持
つインピーダンスの大きさは、接地の仕様により変動す
るので、その結果としてＴＤＲ波形に相違が生じるもの
と考えられる。
【００１４】すなわち、インダクタンス１６を接続させ
ない場合には、インピーダンスＺEが接地の仕様により
変動するので、これに伴い漏れ電流Ｉ1 が変動すること
となり、この結果、復路電流Ｉ0 が変動して、オシロス
コープ１４で測定されるＴＤＲ波形が接地の仕様により
変動することとなる。これに対してインダクタンス１６
を接地回路に接続させた場合には、インダクタンス１６
は、矩形パルスに対して大きなインピーダンスを持つこ
ととなるので、適当な大きさを持つインダクタンスを接
地回路に接続させることにより、上記接地回路系の持つ
インピーダンスの変動を無視することができるようにな
る。
ない場合には、インピーダンスＺEが接地の仕様により
変動するので、これに伴い漏れ電流Ｉ1 が変動すること
となり、この結果、復路電流Ｉ0 が変動して、オシロス
コープ１４で測定されるＴＤＲ波形が接地の仕様により
変動することとなる。これに対してインダクタンス１６
を接地回路に接続させた場合には、インダクタンス１６
は、矩形パルスに対して大きなインピーダンスを持つこ
ととなるので、適当な大きさを持つインダクタンスを接
地回路に接続させることにより、上記接地回路系の持つ
インピーダンスの変動を無視することができるようにな
る。
【００１５】すなわち、インピーダンスＺE の変動幅、
例えば変動幅Ｚe に対して、Ｚe ≪ＺL の関係を有する
インダクタンス１６を接続させた場合には、漏れ電流Ｉ
1 が一定となり、この結果、復路電流Ｉ0 が一定となっ
てオシロスコープ１４で測定されるＴＤＲ波形が接地の
仕様に関係なく一定となる。次に、本発明に係る測定装
置によるＴＤＲ波形の測定例を示す。ここでは、従来例
と同様に、図１に示したパルス発生器１３には、Textro
nix 社製Ｓ−２４を用いて、図８に示す形状の矩形波パ
ルスを発生させ、オシロスコープ１４には、Textronix
社製２４３０Ａを用い、また接地用リード線１５には、
導体断面積が２［mm2 ］のビニル絶縁電線を用い、以下
の表２に示す長さや配置状況を変え、さらに接続するイ
ンダクタンスの大きさを０．１５［mH］、０．３［m
H］、１．０［mH］、２．０［mH］に設定した場合のＴ
ＤＲ波形の測定例を図３乃至図６に示す。
例えば変動幅Ｚe に対して、Ｚe ≪ＺL の関係を有する
インダクタンス１６を接続させた場合には、漏れ電流Ｉ
1 が一定となり、この結果、復路電流Ｉ0 が一定となっ
てオシロスコープ１４で測定されるＴＤＲ波形が接地の
仕様に関係なく一定となる。次に、本発明に係る測定装
置によるＴＤＲ波形の測定例を示す。ここでは、従来例
と同様に、図１に示したパルス発生器１３には、Textro
nix 社製Ｓ−２４を用いて、図８に示す形状の矩形波パ
ルスを発生させ、オシロスコープ１４には、Textronix
社製２４３０Ａを用い、また接地用リード線１５には、
導体断面積が２［mm2 ］のビニル絶縁電線を用い、以下
の表２に示す長さや配置状況を変え、さらに接続するイ
ンダクタンスの大きさを０．１５［mH］、０．３［m
H］、１．０［mH］、２．０［mH］に設定した場合のＴ
ＤＲ波形の測定例を図３乃至図６に示す。
【００１６】
【表２】
【００１７】上記インダクタンス１６が０．１５［mH］
に設定された条件の下でＴＤＲ波形の測定を行うと、上
記オシロスコープ１４で測定される各ＴＤＲ波形Ｂ1 〜
Ｂ3には、図３に示すように、まだ若干のズレが認めら
れるが、インダクタンス１６を接続しない図９の場合に
比較すると、そのズレは、かなり小さくなっている。ま
た、上記インダクタンス１６が０．３［mH］、１．０
［mH］、２．０［mH］に設定された条件の下でＴＤＲ波
形の測定を行うと、上記オシロスコープ１４で測定され
る各ＴＤＲ波形Ｃ1 〜Ｃ3 ，Ｄ1 〜Ｄ3 ，Ｅ1 〜Ｅ3
は、図４乃至図６に示すように、全て一致した波形が得
られた。
に設定された条件の下でＴＤＲ波形の測定を行うと、上
記オシロスコープ１４で測定される各ＴＤＲ波形Ｂ1 〜
Ｂ3には、図３に示すように、まだ若干のズレが認めら
れるが、インダクタンス１６を接続しない図９の場合に
比較すると、そのズレは、かなり小さくなっている。ま
た、上記インダクタンス１６が０．３［mH］、１．０
［mH］、２．０［mH］に設定された条件の下でＴＤＲ波
形の測定を行うと、上記オシロスコープ１４で測定され
る各ＴＤＲ波形Ｃ1 〜Ｃ3 ，Ｄ1 〜Ｄ3 ，Ｅ1 〜Ｅ3
は、図４乃至図６に示すように、全て一致した波形が得
られた。
【００１８】従って、本実施例では、パルス発生器及び
オシロスコープと接地用リード線の間に、矩形パルスに
対して大きなインピーダンスを持つインダクタンスを接
続するので、上記パルス発生器及びオシロスコープの接
地の仕様が種々変化しても、常に同じＴＤＲ波形が得ら
れ、再現性に優れたＴＤＲ波形の測定が可能になり、こ
のため信頼性の高い電気回路の異常検知を行うことが可
能となる。
オシロスコープと接地用リード線の間に、矩形パルスに
対して大きなインピーダンスを持つインダクタンスを接
続するので、上記パルス発生器及びオシロスコープの接
地の仕様が種々変化しても、常に同じＴＤＲ波形が得ら
れ、再現性に優れたＴＤＲ波形の測定が可能になり、こ
のため信頼性の高い電気回路の異常検知を行うことが可
能となる。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、グラ
ンドに接地されたパルス発生手段とパルス波形測定手段
とを電気回路に接続して、前記パルス発生手段から前記
電気回路に所定電圧のパルスを入射させるとともに、前
記電気回路からの反射パルスの電圧波形を前記パルス波
形測定手段で測定する電気回路の反射パルス測定装置に
おいて、前記パルス発生手段及びパルス波形測定手段と
グランド間に、インダクタンスを介在させたので、接地
の仕様による影響を受けずに、再現性に優れたＴＤＲ波
形を得ることができる。
ンドに接地されたパルス発生手段とパルス波形測定手段
とを電気回路に接続して、前記パルス発生手段から前記
電気回路に所定電圧のパルスを入射させるとともに、前
記電気回路からの反射パルスの電圧波形を前記パルス波
形測定手段で測定する電気回路の反射パルス測定装置に
おいて、前記パルス発生手段及びパルス波形測定手段と
グランド間に、インダクタンスを介在させたので、接地
の仕様による影響を受けずに、再現性に優れたＴＤＲ波
形を得ることができる。
【図１】本発明に係る電気回路の反射パルス測定装置を
示す図である。
示す図である。
【図２】図１に示した測定装置の等価回路である。
【図３】図１に示したインダクタンスを０．１５［mH］
に設定した場合のＴＤＲ波形図である。
に設定した場合のＴＤＲ波形図である。
【図４】図１に示したインダクタンスを０．３［mH］に
設定した場合のＴＤＲ波形図である。
設定した場合のＴＤＲ波形図である。
【図５】図１に示したインダクタンスを１．０［mH］に
設定した場合のＴＤＲ波形図である。
設定した場合のＴＤＲ波形図である。
【図６】図１に示したインダクタンスを２．０［mH］に
設定した場合のＴＤＲ波形図である。
設定した場合のＴＤＲ波形図である。
【図７】従来の電気回路の反射パルス測定装置を示す図
である。
である。
【図８】電気回路に入射する矩形波パルスの形状を示す
図である。
図である。
【図９】図７に示した従来例におけるＴＤＲ波形図であ
る。
る。
１０ 負荷 １１，１２ ケーブル １３ パルス発生器 １４ オシロスコープ １５ 接地用リード線 １６ インダクタンス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田村 尚久 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 坂本 正喜 東京都千代田区内幸町１丁目１番３号 東 京電力株式会社内 (72)発明者 ▲高▼野 秀男 東京都千代田区内幸町２丁目１番４号 東 電設計株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 グランドに接地されたパルス発生手段と
パルス波形測定手段とを電気回路に接続して、前記パル
ス発生手段から前記電気回路に所定電圧のパルスを入射
させるとともに、前記電気回路からの反射パルスの電圧
波形を前記パルス波形測定手段で測定する電気回路の反
射パルス測定装置において、前記パルス発生手段及びパ
ルス波形測定手段とグランド間に、インダクタンスを介
在させたことを特徴とする電気回路の反射パルス測定装
置。 - 【請求項２】 前記インダクタンスは前記入射したパル
スに対して大きなインピーダンスを持つことを特徴とす
る請求項１記載の電気回路の反射パルス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30815193A JPH07159475A (ja) | 1993-12-08 | 1993-12-08 | 電気回路の反射パルス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30815193A JPH07159475A (ja) | 1993-12-08 | 1993-12-08 | 電気回路の反射パルス測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07159475A true JPH07159475A (ja) | 1995-06-23 |
Family
ID=17977514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30815193A Pending JPH07159475A (ja) | 1993-12-08 | 1993-12-08 | 電気回路の反射パルス測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07159475A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121102A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Nissan Motor Co Ltd | 電線・ケーブルの断線検出方法及び断線検出装置 |
| JP2007271374A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Hitachi Cable Ltd | 電線の断線検出装置及び方法 |
| JP2016194422A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-17 | 株式会社関電工 | 非常時における原子炉内温度測定方法及び溶融状態検出方法並びにこれらの装置 |
-
1993
- 1993-12-08 JP JP30815193A patent/JPH07159475A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121102A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Nissan Motor Co Ltd | 電線・ケーブルの断線検出方法及び断線検出装置 |
| JP2007271374A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Hitachi Cable Ltd | 電線の断線検出装置及び方法 |
| JP2016194422A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-17 | 株式会社関電工 | 非常時における原子炉内温度測定方法及び溶融状態検出方法並びにこれらの装置 |
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