JPS5981540A - 溶融金属の直接発光分光分析装置 - Google Patents
溶融金属の直接発光分光分析装置Info
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- JPS5981540A JPS5981540A JP19108882A JP19108882A JPS5981540A JP S5981540 A JPS5981540 A JP S5981540A JP 19108882 A JP19108882 A JP 19108882A JP 19108882 A JP19108882 A JP 19108882A JP S5981540 A JPS5981540 A JP S5981540A
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- condensing
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/69—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence specially adapted for fluids, e.g. molten metal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
電を行わせ、発生する励起光を分光分析して溶融金属中
の各４１成分の含有率全オンラインリアルタイムで求め
る浴融金属の直接発光分光分析装置ｒｔＶＣ関するもの
である。
の各４１成分の含有率全オンラインリアルタイムで求め
る浴融金属の直接発光分光分析装置ｒｔＶＣ関するもの
である。
金属の製造工程あるいは製品の品質管理には、ｒ菌体ブ
ロック試料を対象とする発光分光分析法が最も活用され
ている。しかし、より迅速な工程管理のために溶融状態
で直接分析できる装置にの開発が要請されている。
ロック試料を対象とする発光分光分析法が最も活用され
ている。しかし、より迅速な工程管理のために溶融状態
で直接分析できる装置にの開発が要請されている。
溶融金属に直接電気的放電を行わせて分光分析する方法
は、これまでにいくつかの検討例が発表されており、こ
れらの内容はアイアン・アンド・スチール・インターナ
ショナルの５２ （１ ９７９ ）７７之８３頁や米国
特許３，６ ４ ５，６ ２ ５、３．６５９，９４４
．３，６６９，５４６に掲載されている。しかし、これ
らのいずれも実験段階にあると１■える。と云うのは、
実際に製造現場で実用できる溶融金属の直接分析装置で
あるため・には、励起光を分光検出し、各波長の光の強
度から溶融金属各種のトラブルが起り易いユ溶融金属綽
直近場所から離れた場所に設置する手段や、湯面レベル
変動の影響を受けにくく、高熱振動等による光軸変動が
起らない安定した励起光及び効率のよい集光手段、及び
高熱、振動等による光軸変動を起さず損失の少ない高効
率の励起光伝送手段が開示されてないからである。
は、これまでにいくつかの検討例が発表されており、こ
れらの内容はアイアン・アンド・スチール・インターナ
ショナルの５２ （１ ９７９ ）７７之８３頁や米国
特許３，６ ４ ５，６ ２ ５、３．６５９，９４４
．３，６６９，５４６に掲載されている。しかし、これ
らのいずれも実験段階にあると１■える。と云うのは、
実際に製造現場で実用できる溶融金属の直接分析装置で
あるため・には、励起光を分光検出し、各波長の光の強
度から溶融金属各種のトラブルが起り易いユ溶融金属綽
直近場所から離れた場所に設置する手段や、湯面レベル
変動の影響を受けにくく、高熱振動等による光軸変動が
起らない安定した励起光及び効率のよい集光手段、及び
高熱、振動等による光軸変動を起さず損失の少ない高効
率の励起光伝送手段が開示されてないからである。
本発明は実用化のために必要な上記各手段について研究
しその結果到達したもので、次の諸構成が主な特徴であ
る溶融金属の直接発光分光分析装置を提供する。
しその結果到達したもので、次の諸構成が主な特徴であ
る溶融金属の直接発光分光分析装置を提供する。
（１）発光強度に及ぼす湯面レベル（対電極と湯面との
間隙）の変動の影響を最少限に抑えるために、湯面に垂
直に対向する位Ｉ４に励起光集光レンズを設けた構成に
したこと。
間隙）の変動の影響を最少限に抑えるために、湯面に垂
直に対向する位Ｉ４に励起光集光レンズを設けた構成に
したこと。
（２）集光した励起光の分光検出部への伝送手段が、振
動等による光軸変動を受けず、町とり性を有する光ファ
イノ々−ケーブルであること。
動等による光軸変動を受けず、町とり性を有する光ファ
イノ々−ケーブルであること。
（３）励起光、集光時の光軸変動を防ぐために、電気的
放電を行う対電極と集光レンズ及び光ファイツクーケー
ブルの受光端部を同一１呆持体に取り付けだ構成にした
こと。
放電を行う対電極と集光レンズ及び光ファイツクーケー
ブルの受光端部を同一１呆持体に取り付けだ構成にした
こと。
より詳細には、本発明装置は、下端部には先端が溶融金
属表面とわずかな間隙を保った対電極を、該対電極の先
端の上部には対電極先端に光軸を合致させて設けた・ｒ
ｍｍ先光集光レンズ、該集光レンズの周囲には不活性ガ
ス吐出孔を、更に核集光レンズの上部には末端を分光検
出器に接続する光ノアイノζ−ケーブルを、そして上部
に不活性ガス吹き込み孔を有する密閉状で縦長の集光筒
と；該集光筒を内包し、上部には不活性ガス吹き込み管
を、下部には湯面レベル検出器を、集光筒との間には不
活性ガス通路を有し、下端部に溶融金属表面に対向して
開口する開口部を備え、下部周囲には測定時に下端を溶
融金属内に浸漬できる長さをもち、上部に不活性ガス排
出口を設けた大気遮へい用円筒を有し、かつ、昇降機構
を有する集光筒の保護円筒と；から成るスノξ−り発光
チャンノ々−及び対電極と溶融金属とのそれぞれの間に
結線した発光装置、 を具備していることを特徴とする溶融金属の直接発光分
光分析装置である。
属表面とわずかな間隙を保った対電極を、該対電極の先
端の上部には対電極先端に光軸を合致させて設けた・ｒ
ｍｍ先光集光レンズ、該集光レンズの周囲には不活性ガ
ス吐出孔を、更に核集光レンズの上部には末端を分光検
出器に接続する光ノアイノζ−ケーブルを、そして上部
に不活性ガス吹き込み孔を有する密閉状で縦長の集光筒
と；該集光筒を内包し、上部には不活性ガス吹き込み管
を、下部には湯面レベル検出器を、集光筒との間には不
活性ガス通路を有し、下端部に溶融金属表面に対向して
開口する開口部を備え、下部周囲には測定時に下端を溶
融金属内に浸漬できる長さをもち、上部に不活性ガス排
出口を設けた大気遮へい用円筒を有し、かつ、昇降機構
を有する集光筒の保護円筒と；から成るスノξ−り発光
チャンノ々−及び対電極と溶融金属とのそれぞれの間に
結線した発光装置、 を具備していることを特徴とする溶融金属の直接発光分
光分析装置である。
本発明の実施例装置の説明に先立ち、本発明装置σに到
達するまでに行った実験について述べる。
達するまでに行った実験について述べる。
溶融金属を放電対象とする場合、湯面レベルの変動によ
り励起光強度変化が起り易いので湯面レベルの変動に基
づく電極間間隙の変化の影響を受けにくい励起光の集光
角度について実験をした。
り励起光強度変化が起り易いので湯面レベルの変動に基
づく電極間間隙の変化の影響を受けにくい励起光の集光
角度について実験をした。
固体ブロック試料を対象とするスノξ−り発光分光分析
では、試料面に対して３０度の角度から集光してレリ、
上述の米国特許では湯面匠対して３０度あるいは水・１
乙方向からの集光を採用している。
では、試料面に対して３０度の角度から集光してレリ、
上述の米国特許では湯面匠対して３０度あるいは水・１
乙方向からの集光を採用している。
本発明者は各角度からス、ｏ−り励起光を集光できる実
験装置を開発して鉄試料を対象に電極間間隙と各角度に
於る発光強度との関係を詳細に調査した。
験装置を開発して鉄試料を対象に電極間間隙と各角度に
於る発光強度との関係を詳細に調査した。
実験結果の１例を第１図に示す。この図では横軸に各集
光角度に於る電極間間隙を、縦軸に鉄中の各成分に起因
するスペクトル線強度の鉄のスペクトル線強度に対する
比をとり、間隙を２５關から４５朋に変えた時の強度比
の増加割合を示しである。この図において、例えば、
５ｉＴ２８８．２／Ｆｅ１１２７１．４についてみれ
ば、２８８．２ ｎｍの波長に於けるＳｉの発光強度の
２７１．、４ ｎｍのＦ”ｃの強度に対する強度比が、
間隙を２．５Ｂから４．５叫に変えた時、集光角度９０
度では４．４％、６０度では１．２．８％、３０度では
３０．４％変化するととが示されている。第１図の各箇
所のグラフから各成分ともに湯面に対して９０度の垂直
方向からの集光の場合が、電、極間間隙の影響を最も受
けにくいことが明らかになった。そして、この９００
という角度にすると、実際の装置としても、湯面に対し
て水平方向や３０度の角度から集光する場合に比べ、発
光チャン、７−の湯面に対する位置設定が容易でｆり！
ｌｌｌ、角ル：設定が確実に行え、溶融金属の瀞射熱の
影ｖを最も受けにくいなどの利点があることが知られた
。
光角度に於る電極間間隙を、縦軸に鉄中の各成分に起因
するスペクトル線強度の鉄のスペクトル線強度に対する
比をとり、間隙を２５關から４５朋に変えた時の強度比
の増加割合を示しである。この図において、例えば、
５ｉＴ２８８．２／Ｆｅ１１２７１．４についてみれ
ば、２８８．２ ｎｍの波長に於けるＳｉの発光強度の
２７１．、４ ｎｍのＦ”ｃの強度に対する強度比が、
間隙を２．５Ｂから４．５叫に変えた時、集光角度９０
度では４．４％、６０度では１．２．８％、３０度では
３０．４％変化するととが示されている。第１図の各箇
所のグラフから各成分ともに湯面に対して９０度の垂直
方向からの集光の場合が、電、極間間隙の影響を最も受
けにくいことが明らかになった。そして、この９００
という角度にすると、実際の装置としても、湯面に対し
て水平方向や３０度の角度から集光する場合に比べ、発
光チャン、７−の湯面に対する位置設定が容易でｆり！
ｌｌｌ、角ル：設定が確実に行え、溶融金属の瀞射熱の
影ｖを最も受けにくいなどの利点があることが知られた
。
次に本発明装置の実施例を示す第２図により本発明の詳
ＩＮ、ＩＩＩについて説明するの不実施例装置は、溶融
金属２５と対電ＷＩ７の間に高電圧をかけて、スパーク
などの電気的放電を行う発光チャンバー１、高電圧を発
生させる発光乞にシ、２７、発生した励起光を集光する
集光レンズ５、励起光を分光器へ伝送する光ファイノ々
−ケーブル６及び励起光を分光し各スペクトル線強度か
ら溶融金属中の各成分の含有率を求める分光検出器２８
などを主体に構成される。
ＩＮ、ＩＩＩについて説明するの不実施例装置は、溶融
金属２５と対電ＷＩ７の間に高電圧をかけて、スパーク
などの電気的放電を行う発光チャンバー１、高電圧を発
生させる発光乞にシ、２７、発生した励起光を集光する
集光レンズ５、励起光を分光器へ伝送する光ファイノ々
−ケーブル６及び励起光を分光し各スペクトル線強度か
ら溶融金属中の各成分の含有率を求める分光検出器２８
などを主体に構成される。
発光チャンバー１は、本発明の主要部分であシ、集光レ
ンズ５、該集光レンズ５の下方でその光軸線−トに先端
７′を１分り対電極７及び該集光レンズの子方にあり端
部中心を集光レンズの光軸線上におく光フアイバー６全
保持固定した集光用円筒４、。
ンズ５、該集光レンズ５の下方でその光軸線−トに先端
７′を１分り対電極７及び該集光レンズの子方にあり端
部中心を集光レンズの光軸線上におく光フアイバー６全
保持固定した集光用円筒４、。
及びこの集光用円筒４を高熱から保藤するため例内包し
て保持する上部及び下部保護円筒２，３、湯面レベル検
出端１７、下部保護円筒の下部を囲繞している大気遮へ
い用円筒１８、電極間間隙微調整器２１、チャンノ々−
昇降装置２３、不活性ガス吹き込み’１１１．１２など
から構成される。
て保持する上部及び下部保護円筒２，３、湯面レベル検
出端１７、下部保護円筒の下部を囲繞している大気遮へ
い用円筒１８、電極間間隙微調整器２１、チャンノ々−
昇降装置２３、不活性ガス吹き込み’１１１．１２など
から構成される。
集光用円筒４はステンレス製の密閉状円筒管で、垂直方
向に設置した上部保護円筒２に取り付けて、うり、集光
円筒４の下端にはタングステン製などの対電極７′！！
ｌ−斜め上方から先端７′が湯面に向くように取り付け
てあり、その先端７′は励起光集光用の集光レンズ５の
光軸線に合致している。
向に設置した上部保護円筒２に取り付けて、うり、集光
円筒４の下端にはタングステン製などの対電極７′！！
ｌ−斜め上方から先端７′が湯面に向くように取り付け
てあり、その先端７′は励起光集光用の集光レンズ５の
光軸線に合致している。
集光レンズ５は集光効率を高め、光軸変動を抑えるため
に対電極の先端７′の近くに設定する。
に対電極の先端７′の近くに設定する。
こうすることにより、高熱や振動による光軸変動を防止
できる□文集光用円筒４上部の管１１から］ Ｏｔ／ｍ
程度の流量で吹き込んだＡｒなどの不活性ガス會保岐内
円筒２，３と集光筒４との間隙全通りレンズ５の周囲に
設けた前記吐出孔１０から高速で吹き出させることによ
り、レンズの汚れの防止と冷却を行うことができる。
できる□文集光用円筒４上部の管１１から］ Ｏｔ／ｍ
程度の流量で吹き込んだＡｒなどの不活性ガス會保岐内
円筒２，３と集光筒４との間隙全通りレンズ５の周囲に
設けた前記吐出孔１０から高速で吹き出させることによ
り、レンズの汚れの防止と冷却を行うことができる。
光ファイバー６には、直径２００μ−石英製の素線を約
１３０本束ねたバンドルファイバーを用いた。設置箇所
が溶融金属２５から離れているので耐熱性はあ捷り必賛
でないので一般に光通信に用いられているものでもよい
か毒、紫外域の光を十分に透過する材質で作ったものが
適している。
１３０本束ねたバンドルファイバーを用いた。設置箇所
が溶融金属２５から離れているので耐熱性はあ捷り必賛
でないので一般に光通信に用いられているものでもよい
か毒、紫外域の光を十分に透過する材質で作ったものが
適している。
光ファイバー６の受光端部の中心は集光レンズ５の光軸
に合致させてあり、熱や振動によって光軸が変動しない
ように光ファイノ々−６の受光端部は、不活性ガスの通
過孔９を周囲にもつ固定金具によって、対電極７及び集
光レンズ５を取り付けである集光用円筒にしつかシと固
着し保持する０光フアイバーケーブル６の末端は分光器
入口スリットで結像するためのレンズを介して分光検出
器２８に結合される。レンズ系による光伝送に比べ光フ
ァイバーによる伝送は光軸変動の心配はなく、文数１０
ｍの伝送を行う場合でも、光ファイノ々−は町とり性
があり、伝送通路が曲折していても、容易に装置できる
。
に合致させてあり、熱や振動によって光軸が変動しない
ように光ファイノ々−６の受光端部は、不活性ガスの通
過孔９を周囲にもつ固定金具によって、対電極７及び集
光レンズ５を取り付けである集光用円筒にしつかシと固
着し保持する０光フアイバーケーブル６の末端は分光器
入口スリットで結像するためのレンズを介して分光検出
器２８に結合される。レンズ系による光伝送に比べ光フ
ァイバーによる伝送は光軸変動の心配はなく、文数１０
ｍの伝送を行う場合でも、光ファイノ々−は町とり性
があり、伝送通路が曲折していても、容易に装置できる
。
集光用円筒４はステンレス等の金属で製作し、通電体の
役割をもたせて上部に対電極端子２２を設け、溶融金属
に浸漬した試料電極２４と共に高圧ケーブルで発光装置
２７に接続し７である。
役割をもたせて上部に対電極端子２２を設け、溶融金属
に浸漬した試料電極２４と共に高圧ケーブルで発光装置
２７に接続し７である。
集光用円筒４は第２図に示すように上部保護円実施例で
は冷却効率をよくするため及び、い／こみ易い下部の交
換が容易なように上部円筒２と下部円筒３に分割しであ
る。上部保護円筒２はステンレス製の３重管からなり、
空気又は水などの冷却媒体を管１３から３重管の間に供
給し、管１５から排出して該上部保護円筒全冷却できる
構成にしである。−上部には不活性ガス吹き込み管１２
及び回転することによシ集光用円筒４が上下に移動して
対電極と湯面との間隙を調節できる電極間間隙微調整器
２］が取り付けである。側部には、発光チャンバー１を
支持する台２９が取り付けられ、この部分にチャンバー
の下部を溶融金属２５に浸蹟したり、もち上げたりする
ための昇降装置２３が取り付けである。
は冷却効率をよくするため及び、い／こみ易い下部の交
換が容易なように上部円筒２と下部円筒３に分割しであ
る。上部保護円筒２はステンレス製の３重管からなり、
空気又は水などの冷却媒体を管１３から３重管の間に供
給し、管１５から排出して該上部保護円筒全冷却できる
構成にしである。−上部には不活性ガス吹き込み管１２
及び回転することによシ集光用円筒４が上下に移動して
対電極と湯面との間隙を調節できる電極間間隙微調整器
２］が取り付けである。側部には、発光チャンバー１を
支持する台２９が取り付けられ、この部分にチャンバー
の下部を溶融金属２５に浸蹟したり、もち上げたりする
ための昇降装置２３が取り付けである。
下部保護円筒３けステンレス製の３１管で出来ており、
管１４から冷却媒体を供給１管１６から排出して強制冷
却を行うことができる構造にしである。円筒の内外壁に
はマグネシア等の耐火材と被覆して耐熱性をもたせであ
るＯ下部保護円筒３の下端部３′には集光用円筒４に取
り付けられている対゛電極７の先端７′が位置するので
、この下端部３′の下縁に口径１５ｗＲ程度の開口部１
９を設けて、集光レンズに対する浴融金属の輻射熱や測
光に不要な光をさけるようにしである。又、対電極７の
先端７′と溶融金属２５０表面との間隙は通常１０初以
下であるので、従ってチャンノ々−開ロ部１９も湯面に
近いところにあり、そこで集光用円筒４下部の吐出孔１
０から不活性ガス〃よ吹き出し、これに加えて管】２か
ら吹き込まれ、栄光用円筒４と保内円筒２．３のすき間
を通ってきた不活性ガスが、この開口部１９から吹き出
して、対電極７と溶融金属間及びその附近の空気を追い
出して放電しやすい不活性ガス雰囲気を形成することが
できる。さらに、上部全下部採掘円筒３に装着してあり
、測定時に下部を溶融金属中に浸漬できる長さの耐火物
製の大気遮へい用円筒１８を下部保護円筒３を囲繞して
取り付けであるので、放電個所に、附近の空気を巻込む
ことがない。開口部１９から吹き出した前記不活性ガス
は、下部保時円筒３と大気遮へい用円筒】８とのすき間
を通り大気遮へい用円筒】８の上部に設にまた排出管２
０から大気中に排出される。従って開口部Ｊ９の対電極
先端７′の周辺は確爽に不活性ガス雰囲気に保たれ正常
な放電が実施できる。
管１４から冷却媒体を供給１管１６から排出して強制冷
却を行うことができる構造にしである。円筒の内外壁に
はマグネシア等の耐火材と被覆して耐熱性をもたせであ
るＯ下部保護円筒３の下端部３′には集光用円筒４に取
り付けられている対゛電極７の先端７′が位置するので
、この下端部３′の下縁に口径１５ｗＲ程度の開口部１
９を設けて、集光レンズに対する浴融金属の輻射熱や測
光に不要な光をさけるようにしである。又、対電極７の
先端７′と溶融金属２５０表面との間隙は通常１０初以
下であるので、従ってチャンノ々−開ロ部１９も湯面に
近いところにあり、そこで集光用円筒４下部の吐出孔１
０から不活性ガス〃よ吹き出し、これに加えて管】２か
ら吹き込まれ、栄光用円筒４と保内円筒２．３のすき間
を通ってきた不活性ガスが、この開口部１９から吹き出
して、対電極７と溶融金属間及びその附近の空気を追い
出して放電しやすい不活性ガス雰囲気を形成することが
できる。さらに、上部全下部採掘円筒３に装着してあり
、測定時に下部を溶融金属中に浸漬できる長さの耐火物
製の大気遮へい用円筒１８を下部保護円筒３を囲繞して
取り付けであるので、放電個所に、附近の空気を巻込む
ことがない。開口部１９から吹き出した前記不活性ガス
は、下部保時円筒３と大気遮へい用円筒】８とのすき間
を通り大気遮へい用円筒】８の上部に設にまた排出管２
０から大気中に排出される。従って開口部Ｊ９の対電極
先端７′の周辺は確爽に不活性ガス雰囲気に保たれ正常
な放電が実施できる。
実施にあたっては、予め耐火材でできた板を駆動させて
大部分のスラグを機械的に排除したのちに、該排除した
個所にチャンノ々−１を下降させ大気遮へい用円筒１８
を湯面に浸漬させることによシ、該円筒１８同にはスラ
グが存在せず放電が正常にできる。仮に多少のスラグが
残存していても集光用円筒４の下端の開口部１９から吹
き出す不活性ガスにより、スラグは開口部１９から大気
遮へい用円筒１８の方向へ容易に排除され、溶融金妨の
電気的放電に支障はなくなる。
大部分のスラグを機械的に排除したのちに、該排除した
個所にチャンノ々−１を下降させ大気遮へい用円筒１８
を湯面に浸漬させることによシ、該円筒１８同にはスラ
グが存在せず放電が正常にできる。仮に多少のスラグが
残存していても集光用円筒４の下端の開口部１９から吹
き出す不活性ガスにより、スラグは開口部１９から大気
遮へい用円筒１８の方向へ容易に排除され、溶融金妨の
電気的放電に支障はなくなる。
この他に、下部保護円筒３には、電極間間隙を一足にし
て発光チャンノ々−１を所定位置に設定するだめにその
下部に湯面レベル検出端１７を取り付ｒｒｙである。湯
面レベルセンサーには、電気的接触、測温、光や超音波
等全利用したものなどいずれのものを用いてもよい。第
２図には、試料電極２４と高融点金属でできた検出端間
の通電の可否？検出器２６で測定する簡単な例を示しで
ある○不実施例装置で溶融金属の分析を実施するにあた
っては、先ず、冷却水及びＡｒ ガスを流してチャン
ノ々−１ビ」部ｉＡｒ ガスで満たしておく。次に対
電極７の先端と湯面の間隙が２〜１０刺程度の範囲内の
一定距離になるように電極間間隙微調整器２１で調節し
、テヤンノ々−昇降装置２３を作動してスラグ等湯面上
の浮遊物を機械的に排除した湯面−にに下降させていき
、湯面ンペル検出器２６が湯面全検出した位置でチャン
ノ々−を固゛足する○発光装置２７全作動させて対電極
７の先端部と溶融金属２５の表面との間に周波数２００
〜８００Ｈｚ 程度のス、Ｂ−り放電を行わせ、最初
の３〜５秒程度は予備放電として、そのあとの５〜１０
秒間に於る発光強度を分光検出器２８で６１１１５Ｎし
５、溶融金属中に含まれる各成分の含有率を求める。
て発光チャンノ々−１を所定位置に設定するだめにその
下部に湯面レベル検出端１７を取り付ｒｒｙである。湯
面レベルセンサーには、電気的接触、測温、光や超音波
等全利用したものなどいずれのものを用いてもよい。第
２図には、試料電極２４と高融点金属でできた検出端間
の通電の可否？検出器２６で測定する簡単な例を示しで
ある○不実施例装置で溶融金属の分析を実施するにあた
っては、先ず、冷却水及びＡｒ ガスを流してチャン
ノ々−１ビ」部ｉＡｒ ガスで満たしておく。次に対
電極７の先端と湯面の間隙が２〜１０刺程度の範囲内の
一定距離になるように電極間間隙微調整器２１で調節し
、テヤンノ々−昇降装置２３を作動してスラグ等湯面上
の浮遊物を機械的に排除した湯面−にに下降させていき
、湯面ンペル検出器２６が湯面全検出した位置でチャン
ノ々−を固゛足する○発光装置２７全作動させて対電極
７の先端部と溶融金属２５の表面との間に周波数２００
〜８００Ｈｚ 程度のス、Ｂ−り放電を行わせ、最初
の３〜５秒程度は予備放電として、そのあとの５〜１０
秒間に於る発光強度を分光検出器２８で６１１１５Ｎし
５、溶融金属中に含まれる各成分の含有率を求める。
以上説明したように本発明装置によれば、前記の詩作用
効果を有し、そして製造塑、場において溶融金属試刺中
の各含有成分をサンプリング等の操作を行わすに迅速に
直接分析することができ、金属の精錬プロセス等の操業
管理に極めて有益である。
効果を有し、そして製造塑、場において溶融金属試刺中
の各含有成分をサンプリング等の操作を行わすに迅速に
直接分析することができ、金属の精錬プロセス等の操業
管理に極めて有益である。
第１図は溶融金属中含有諸成分のス・ξ−り発光強度に
及ぼす集光角度と電極間間隙についての検討実験結果の
１例を示すグラフであり、第２図は、本発明実施例装置
の縦断面図である。 】は発光チャ／パー、２は上部保護円筒、３は下部保護
円筒、４は栄光用円筒、５は励起光集光２３（ｄチャン
バー昇降装置、２４は試料電極、２５は浴融金属、２６
は溶湯面レベル検出器、２７は発光装置、２８は分光検
出器。 代理人 弁理士 秋 沢 政 光 他２名
及ぼす集光角度と電極間間隙についての検討実験結果の
１例を示すグラフであり、第２図は、本発明実施例装置
の縦断面図である。 】は発光チャ／パー、２は上部保護円筒、３は下部保護
円筒、４は栄光用円筒、５は励起光集光２３（ｄチャン
バー昇降装置、２４は試料電極、２５は浴融金属、２６
は溶湯面レベル検出器、２７は発光装置、２８は分光検
出器。 代理人 弁理士 秋 沢 政 光 他２名
Claims (1)
- （１）下端部には先端が溶融金属表面とわずかな間隙を
保った対電極を、核対電極の先端の上部には対電極先端
に光軸を合致させて設けた励起光集光レンズを、該集光
レンズの周囲には不活性ガス吐出孔を、更に該集光レン
ズの上部には末端を分光検出器に接続する光フアイバー
ケーブルを、そして上部に不活性ガス吹き込み口を有す
る密閉状で縦長の集光筒と；該集光筒を内包し、上部に
は不活性ガス吹き込み管を、下部には湯面レベル検出器
を、集光筒との間には不活性ガス通路を有し、下端ｆ＜
Ｂ Ｋ浴融金＠衣面に対向して開口する開口部゛を備え
、下部周囲には両足時に下端を溶融金属内に浸漬できる
長さをもち、上部に不活性ガス排出１−１を設けた太気
運へい用円筒全有し、かつ昇降機構を准する集光筒の保
睦円筒と；から成るスパーク冗光チャンバー及び 対電極と溶融金属とのそれぞれの間に結線した発光装置
、 を具備していることを特徴とする溶融金属の直接発光分
光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19108882A JPS5981540A (ja) | 1982-10-30 | 1982-10-30 | 溶融金属の直接発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19108882A JPS5981540A (ja) | 1982-10-30 | 1982-10-30 | 溶融金属の直接発光分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5981540A true JPS5981540A (ja) | 1984-05-11 |
| JPS6315543B2 JPS6315543B2 (ja) | 1988-04-05 |
Family
ID=16268654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19108882A Granted JPS5981540A (ja) | 1982-10-30 | 1982-10-30 | 溶融金属の直接発光分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5981540A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0143759A2 (en) * | 1983-10-27 | 1985-06-05 | Geotronics Metaltech AB | Analyzing probe |
| JPS6249241A (ja) * | 1985-08-29 | 1987-03-03 | Yoshiichi Kuwano | 炉内物質のスペクトル分析装置 |
| EP3650841A4 (en) * | 2017-07-05 | 2021-03-24 | Zabrodin, Aleksandr Nikolaevich | METHOD AND DEVICE FOR SPECTRAL ANALYSIS OF THE CHEMICAL COMPOSITION OF FUSION METALS |
-
1982
- 1982-10-30 JP JP19108882A patent/JPS5981540A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0143759A2 (en) * | 1983-10-27 | 1985-06-05 | Geotronics Metaltech AB | Analyzing probe |
| JPS6249241A (ja) * | 1985-08-29 | 1987-03-03 | Yoshiichi Kuwano | 炉内物質のスペクトル分析装置 |
| JPH0441942B2 (ja) * | 1985-08-29 | 1992-07-09 | Yoshiichi Kuwano | |
| EP3650841A4 (en) * | 2017-07-05 | 2021-03-24 | Zabrodin, Aleksandr Nikolaevich | METHOD AND DEVICE FOR SPECTRAL ANALYSIS OF THE CHEMICAL COMPOSITION OF FUSION METALS |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6315543B2 (ja) | 1988-04-05 |
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