JPS59210330A - 溶融金属の電極間間隔自動調節型微粒子長距離搬送プラズマ発光分光分析装置 - Google Patents

溶融金属の電極間間隔自動調節型微粒子長距離搬送プラズマ発光分光分析装置

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JPS59210330A
JPS59210330A JP8544483A JP8544483A JPS59210330A JP S59210330 A JPS59210330 A JP S59210330A JP 8544483 A JP8544483 A JP 8544483A JP 8544483 A JP8544483 A JP 8544483A JP S59210330 A JPS59210330 A JP S59210330A
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JP
Japan
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fine particles
discharge
counter electrode
tube
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JP8544483A
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Akihiro Ono
小野 昭紘
Masao Saeki
佐伯 正夫
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/73Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using plasma burners or torches

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、浴融金属表面と対電極間に高電圧をかけて、
スパークなどの電気的放電を行わせ、溶融金属中の成分
組成を代表する微粒子を蒸発生成させ−これを離れた場
所に設定しであるプラズマ発光分光分析装置に不活性ガ
ス流で搬送し、溶融金属中の各種成分含有率をオンライ
ンリアルタイムで直接分析することを目的とする発光分
光分析装置に関するものである。
金属の製造工程管理には、ザンプリングして固化させた
ブロック試料ケ対象とするスパーク発光分光分析が活用
されている。しかし、近年とくに鉄鋼業に見られるよう
な、より迅速な製造工程管理あるいは多段精錬製鋼法な
どの新製造プロセスの操業管理のために、溶銑や溶鋼の
ような溶融金、属を直接対象とするオンラインリアルタ
イムの分析手法の開発が強く要請されている。
実際の製造現j劾で実用できる溶融金属の直接分析装置
の実現ケはかるには、先ずその現場は高温。
振動、ダストなど測定環境が非常に悪い点を考慮しなけ
ればならない。このような劣悪な測定環境下では、トラ
ブルが起る分光、検出器等の精密測定機器は、溶融金属
の存在場所から離して設置し。
溶融金属を電気的放電等によって微粒子に変えて搬送す
るなどの方法が有望となる。
本発明(は、溶融金属を0.1pm 以下で、しかも粒
度分布域が狭い微粒子を安定して発生させる方法、搬送
管内壁等への微粒子の付着残留を防止して数l Q m
の長距離を効率よく搬送する方法および分析装置への導
入方法等を中心に研究開発を進め、簡単迅速に高精度で
分析できる実用的な新規分析装置を提供するものである
第1図〜第3図に示す本発明の実施例装置により本発明
の詳細な説明する。
本発明は大別すると微粒子生成グローブl、同グローブ
内圧力を測定するストレー/ゲージ40および湯面レベ
ル計38と連動する同プローブの上下位置調部装置20
.スパーク放電装置18、微粒子搬送管22.搬送ガス
分配装置24およびプラズマ発光分光分析装置37から
構成される。
微粒子生成プローブ1は、溶融金属13と対電極8間に
高電圧をかけてスパーク放電を行わせ。
浴融金属を局部的に更に高温の過熱状態に保ち、金属の
組成を代表する煙状の微粒子を蒸発させる働きをする部
分である。対電極8は、先端をとがらせた2〜5 rn
rnφ程度のタングステン等の小径丸棒が適当である。
先端を円錐状にとがらせた形状は、微粒子を常時安定し
て蒸発させる上で必要である。
対電極8先端と溶融金属表面13との間隔を5咽として
スパーク放電を飛ばすと、約10 mynφの範囲内で
パルス放電が繰り返され、放電カラム14も安定して形
成され、微粒子の蒸発量も常時安定し、良好な分析結果
が得られる。湯面レベルが多少変動しても、常に対電極
先端からの放電カラム14が形成され、微粒子の蒸発量
の変動もごくわずかに抑えられる。電極間間隙を5 v
anに設定した場合、±2 mmの湯面の変動が起って
も、微粒子の生成量の変動は5%以内に抑制できた。し
かし。
対電極先端を丸棒の断面としたり、微粒子導入管3のパ
イプ断面を直接電極先端として用いた場合は、安定した
放電カラムが形成されず、とくに湯面の変動が起った場
合は放電カラムが移動し、微粒子の蒸発量の再現性が得
られなくなり1分析精度を極端に低下させた。
このような理由から、微粒子導入管3は対電極8の電導
体として用いるが一スパーク放電用の対電極は、この導
入管3の先端に固設するようにした。この固設の方法は
いくつかあるが、第2図及び第3図に示すように微粒子
導入管3の下端に円筒状の電極ホルダー6を溶接々どに
よって接続し。
電極ホルダー6の中心部に対電極8を垂直に挿入し、微
粒子導入ロアを開けるようにしてビス9々どで固定する
方法が適当である。
微粒子導入管3は、鋼や鋼製の内径2〜3 mmφ程度
の小径の管を用いるが、上部は耐熱絶縁材を介して冷却
筒2須部に固定保持される。微粒子導入管3の外側には
、アルミナやマグネシアなどの耐熱絶縁管4が被覆され
るが、その外周には同心円状にわずかな間隙5ができる
ように冷却節2内部には穴があけられておシーこの間隙
5の上部はAr  などの不活性ガス供給管15が取9
つけられ。
下部はガス吹き出し口10’につながっている。冷却筒
2自体は、溶融金属の輻射熱による加熱を防止するため
に、空冷あるいは水冷によって冷却できる機構を備えて
いる。又冷却筒2の下部周囲には留化ホウ素などの絶縁
耐火材でできた円筒1]が取り付けられており、下端を
溶融金属13中に浸漬して内部に小放電室]2を形成し
ている。
上記の微粒子導入管3の下端に対電極8を取り付けた電
極ホルダ一部6は、この小放電室12につきでており、
対電極8の先端部は溶融金属表面13に垂直に対向し、
5〜10 +amの範囲で一定間隔をもって設定され、
対電極先端部のわずか上部に微粒子導入ロアが下向きに
開口している。ガス吹き出し口10は小放電室12の頂
部に位置し。
微粒子導入ロアよりも上部位置にある方が蒸発した微粒
子の効率的導入に適している。
対電極8先端部とm融金属表面13間に高電圧をかけて
スパーク放電を飛ばし、蒸発生成した溶融金属の微粒子
は、 Arガス吹き出し口10から吐出したArガス流
に乗って、対電極8先端直上に位置する微粒子導入ロア
に迅速に運び込まれる。小放電、室12は直径30鼎φ
、高さ30闘以下の小容積であり、蒸発微粒子の拡散は
起りに<<、生成すると同時に効率よく導入ロアー\導
入される。吹き込マレる不活性ガスは、小放電室12内
の大気を追い出して、スパーク放電が起り易い雰囲気を
つくるためと、生成した微粒子を分析計へ搬送するため
に必要となる。
ガスの種類は、生成する微粒子の粒径や量に影響し、A
r 、 He 、 Ar −H2などか用いられるが。
通常ばArガスが適当である。
微粒子を伴なって導入管3を通過するArガス温度は数
100度に達するが5本発明のArガスの吹き込みは、
導入管3の外壁に作った間隙5を通って供給されるため
に、熱交換作用によって予熱されてから吹き込壕れるの
で、溶融金属表面の冷却は防止できる。又、蒸発生成し
た。微粒子は、管内壁の温度が低いと即座に内壁に付着
する性質をもち、微粒子の定量的な搬送が困y・仏にな
る。
従って、冷却筒2内に設ける微粒子導入管3は。
冷却筒2に直接接触して冷却されず、またArガス吹き
込み間隙5は、極力狭くするとともに、ガスが導入管3
外壁に効率よく接触するように、微粒子導入管3の外側
に狭い間隙をもって、同心円状に2重管構造とすること
が必要である。
また、長時間連続して放電を飛ばしていると、対電極8
の先端部に蒸発生成した微粒子の一部が付着してくるた
めに、断続的に極性を逆にして放電させ、付着した微粒
子を蒸発除去するなどの方法をとる。しかし、長時間連
続分析の場合には。
対電極の交換が必要になる。この交換は迅速に行わなけ
ればならないが1本発明では対電極8と微粒子導入管3
を一体化しであるために、冷却筒2上部の固定具を取り
はずして、上刃に引きぬく簡単々操作で迅速に交換でき
る利点がある。
溶融金属を直接分析する場合に、もつとも問題になるの
は湯面のレベル変動が激しいことで、レベルが静止状態
にあるものはまれである。すなわち、成分含有率を知る
分析の目的は、金属製造の工程管理であるだめに、製造
過程での直接分析が必要であり、製造過程における溶融
金属湯面は通常安定していない。
鉄鋼製造を例にとれば、溶鉱炉から樋に流れ出てくる溶
銑は、時々刻々湯の量が変化するし、そのあとの鍋中で
行う脱リン、脱硫、脱炭などの処理では、湯面の変動は
激しく、沸とう状態を呈している。機械的々工夫や比較
的安定している時期を選んで分析を実施することにして
も、スノく−り放電によって、微粒子を蒸発生成すると
きの対電極8先端と、溶融金属表面13との間隙は1通
常l、Om、m以下にする必要があるために、湯面レベ
ル変動の対策が必須になる。
そこで1本発明では第1図に示すように、湯面レベル検
出器38を溶融金属13表面に対向して設置し、湯面レ
ベルを常時検出し、この検出信号によって対電極8を保
持した微粒子生成プローブ1の冷却筒2を、上下に駆動
する上下位置調節装置20を作動させて、対電極と溶融
金属間の電極間隔を、一定に保持する方法をとった。
湯面レベル検出器は、静電容量型などのものなどが適当
であるが、微粒子゛生成グローブ1あるいは同プローブ
の支持架台19などに固定保持する。
同プローブ]の上下動の駆動源20は、電動機及び油圧
ジヤツキ等を用い、同プローブの上部に取り付ける。
ところが、すでに述べたように放電室12は。
微粒子を効率よく搬送する目的などから小型としている
ために、湯面レベル計38は放電電工2の外部に設置し
てあり、一方放電室12内には、不活性ガス供給管15
よりArガスが吹き込まれ、接続する搬送管22が長く
なると圧力負荷がかかり。
放電室の内外では湯面レベルが異なることになる。
Ar  ガス吹き込み量を17/min  程度とした
場合でも、搬送管22を内径4 mynφ、長さ407
71としたときには、浴融金属に浴鋼を対象とした場合
、湯面ば約20ηLm程度降下してしまう。
すなわち、湯面レベル計38を設置しである放電室12
の外部の湯面レベルと差ができてしまうために、放電室
内の圧力をもとにして補正する必要がでてくる。小放電
室12内の圧力は直j妾ill定しにくいが、この圧力
は、放電室12に直結する微粒子導入管3および不活性
ガス供給用間隙5の圧力とほとんど同じであるために、
同間隙5の圧力を半導体ストレーンゲージ40で測定す
ることにした。
ストレーンゲージ40で測定した放電室12の圧力の検
出値を、増巾器41で増巾し、インターフェース39で
湯面レベル計38による検tB(8号に対して補正計算
をほどこし、ブローフ゛上下位置調節装置20の昇降動
作を実施するようにした。
湯表面の小きざみなレベル変動は、耐火?笥’llを溶
融金属中に浸漬して小放電室12を形成することにより
かなり消失するが、湯面レヘル計38によるレベル検出
精度は±0.5喘以上で、検出イ言号を上下動動作に変
換する速度も速く1本方式によれば、電極間間隙を常時
5朋±1朋にMI4 *ijすることができ、微粒子の
生成を安定して行え、良女子な精度で分析を実施するこ
とが可能になった。
溶融金属13を微粒子に変換する方法はいろいろあるが
、高速のArガス流によるスブンーイ′巨耳」で噴霧す
る方法(文献+ BISRA 、 Annual Re
port78 (1966)、65.”78 (196
’i’)、35 (1968))では、生成した微粒子
径は10〜100μm程度以上で粒径が太きいために長
距離搬送は困難であり一又粒度分布の幅が大きいために
、励起発光させた際の発光強度の変動が大きく1分析精
度が悪い等の問題がある。
直流アークあるいはアークカラムを、水冷によるピンチ
効果で収束したプラズマアーク照射による過熱蒸発によ
る方法では、対電極と溶融金属表面との電極間隔を、1
〜2ηim程度の極めて短かい距離に保たなければ、あ
る一定量以上の微粒子の蒸発が起らず、かつ蒸気圧の低
い成分の族2発が優先するいわゆる選択蒸発が起り易く
、溶融金属の成分組成を代表する微粒子を安定して生成
させることが難しい。
レーザー照射による方法は、非導電性物質に適用できる
利点をもつが、Co2レーザーのように連続レーザーで
は蒸発量が少なく、ジャイアントパルスレーザ−を採用
せざるを得々いが、1秒間に数10回以上での商出力で
の照射が不可能なことから、これも寸だ正確なオンライ
ン分析用にはあまりi内当でない。
本発明者らは、溶融金属を微粒子として蒸発生成するエ
ネルギー源の適正について詳細な研究を続けた結果、最
適な方法としてスパーク放電を選定した。すなわち、溶
融金属13中に浸漬した高融点金属などから成る棒状電
極17を試料極として陰極とし、溶融金属13表面に、
先端がわずかな間隔をもって設置した対電極8に導通す
る微粒子導入管3の」一端に取り付けた端子16を陽極
として一スパーク放屯装置1日に結線し1両極に高電圧
をかけてスパーク放電を行い、溶融金属13を微粒子と
して蒸発させる。
溶融金属を微粒子として蒸発搬送し、溶融金属中の各種
含有成分量を分析するためには、含有成分を代表する微
粒子を安定して発生させることがとくに重要であるが、
スパーク放電における各放電定数の設定の仕方も影響を
与える。自己誘導10μH1静電容量3μF +抵抗l
Ω、電圧1000Vに設定したスパークライク゛のスパ
ーク放電と、各定数を150μH−8μF−0Ω、70
0Vに設定したアークライクのスパーク放電(放電電流
波形からみると、前者はピーク電流値20OA、保持時
間30 /IS、後者は各々がsoA、4go/ls)
の両放電条件で、鉄鋼試料を対象に微粒子を発生させ、
各成分を繰り返して分析した結果、0.50係含有する
Siの分析値の変動係数は前者が2.5係、後者が11
.6 %、 1.04%含有する■は各々3.8%、1
2.6%、0.30%含有するCuは各々5.1%。
14.2%々どの結果が得られた。
すなわち、上記のように、アークライクよりもスパーク
ライクのスパーク放電の方が、安定して溶融金属中の各
成分を微粒子として蒸発させるのに適している。放電周
波数については−50〜800 Hz  までについて
調べたが一200Hz  以上のように、単位時間当り
の放電回数が多い方が。
分析精度の点から有利であった。
溶融金属中の成分分析を目的とする本発明においては、
微粒子を単に生成する場合と異なり、蒸発微粒子を一定
流速の搬送ガスと共に、常時安定して分析装置37へ送
り込まねばならず、より効率の良い微粒子の搬送技術が
必要になる。
本発明では、溶融金属13表面より蒸発して対電(夕8
先端泊上方向に立ち昇った微粒子を1周囲への拡散を防
ぎ+ Arガス吹き込み管5の下端部10より吹き出し
て、微粒子導入管3下端の開口部7へ流れ込むMガス流
に乗せて迅速に運び去る方法をとった。微粒子が発生す
る小放電室12ば、微粒子導入管3の開口部7以外に出
口がないために。
At  ガス流に引き込まれて常時一定の希釈倍率をも
って、導入管3の開口部7へ送り込まれる。
対電極8先端部と溶融金属表面で形成する放電カラムコ
4の放電を乱さずに、かつ微粒子を安定して、同開口部
7へ送り込むだめのArガス流を形成するためには+ 
Arガス吹き出し圧管5の下端の吹き出し口10は、微
粒子導入管3下端の開口部7よりも、わずかに上部に位
置する必要がある。
微粒子供給管・3に導入された微粒子は、Arガス流に
乗ぜられて、絶縁コネクター21によって接続される微
粒子搬送管22を通って、搬送ガス分配装置24に搬送
されるが、本発明のように微粒子を対象に分析を行う場
合には、これらの内壁に微粒子を付着残留させないこと
が重要な問題に々る。
微粒子導入管3は、溶融金属の高熱によって加熱されて
いるので、微粒子は付着しにくくあ捷り問題はないが、
搬送管22は距離が長くなると一温度が低下して付着残
留が起り易くなる。その結果、搬送ガス中の微粒子濃度
が変動したり、コンタミネーションとなって正確な分析
値が得られなくなる。
従って、搬送管22はなるべく小径として搬送ガスの流
速を速くする。図面に示す如く加熱装置23を取り付け
て常時加熱するか、あるいは−塵付着した微粒子は、付
着後難時間以内では容易に剥離できるので、搬送ガスを
更に高速で吹き込んで洗浄する方法などを採用した。
搬送ガス分配装置24は、搬送管22より搬送ガスで送
られてきた微粒子を一旦小空間部で拡散させ、更に均一
化をはかる。プラズマトーチ29へ導入する搬送ガスの
最適流量を得るために、ある−足部分を系外に排出して
搬送ガスの分配を行う。あるいは搬送されてくる間に、
凝集が進んで特に粗大化した粒子を系外に排除して、微
細粒子のミヲフラスマトーチ29へ送り込むための粒径
分離などを行うだめのものである。
分配装置24は一外周に加熱装置23を取り付けだ小径
の円筒管で、微粒子搬送管22を側壁より挿入して管末
端開口部25を上向きに、微粒子供給管26を円筒管の
上部より搬送管末端開口部25と一定間隔をもって相対
するように取り付け、円筒管底部には、流量調節器28
を備えた排出管27を取り付けである。この3本の管は
、いずれも10 m、mφ以下の細管で、粗大粒子及び
余剰の微粒子及び搬送ガスは、底部排出管27より糸外
に排出され、残りの微粒子は、一定流量の搬送ガスと共
に供給管26へ導入される。
微粒子供給管26は、プラズマ励起発光分光分析装置3
7に接続される、。導入された微粒子は図示の如く、微
粒子供給管2゛6.プラズマガス供給管30、冷却ガス
供給管31からなる3重管プラズマトーチ29に運び込
まれ、高周波発生装置32によって形成される高温のA
rプラズマ部33に達して励起発光される。
励起光は分光器34で分光され、光電子増倍管等から成
る検出器35.成分含有率算出装置36によって、各々
のスペクトル線強度が測定され。
溶融金属中の各成分含有率を迅速に求められる。
微粒子を励起発光させる分析装置37としては。
高周波誘導結合型発光分光分析装置が最も適していたが
、そのほかの各種アーク放電等のプラズマ励起発光分光
分析装置あるいは原子吸光分析装置などを適用できる。
本発明装置の分析操作について簡単に述べる。
先ず駆動源20を作動させて、微粒子生成グローブを下
降させ+ Arガス吹き出し口10からArガスを吹き
出させ、耐火筒11内の大気を追い出しながら、耐火筒
11下端を浴融金属]、3中に浸漬し、小放電室12を
慴閉状とする。対′電極8先端部と溶融金属13表面間
は、湯面レベル計38−ストレーンゲージ40および上
下位置調節装置20によって、所定の間隔に自動的に調
節され、スパーク放電装置18の動作により、試料?K
Bi:+7と対電極8間に高電圧をかけて、スパーク放
′屯を飛ばす。
蒸発生成した微粒子は微粒子導入管3、搬送前22、カ
ス分配装置〆24を経て、プラズマトーチ29に送り込
捷れ励起発光するが一10秒間程度の積分全光強j#値
から各成分含有率を測定する。
分析終了後、微粒子生成グローブエのArガス吹込み管
15からArガスをにシf続的に吹き込み、微粒子搬送
管22内壁などに付着した微粒子全洗い落す。
次に微粒子生成グローブlを溶融金属]−3よりひき上
げ、再び分析する必要が生じた時間に、プローブ1を下
降させて、上記操作を繰り返して分析実施例 生成した微粒子の粒径及び粒度分布は、プラズマ中で励
起発光し、て分析する方法において、特に定諷精度に大
きな影響を与えるので重要であるが、本発明装置で、浴
鋼を対象に発生させた微粒子は、大略0.1μm以下の
極めて微細粒子であり、平均粒径が0.0571m の
場合0.04−0.0671mの範囲に、約70係以上
が入るようr粒度分布の幅も狭く、プラズマ発光分光分
析には最適であった。
以上説明したように本発明によれば、溶融金属試料中の
含有成分をサンプリング等の操作を行わずに、迅速かつ
精度よく直接分析することができ。
金属の精錬や製鋼プロセスの操業管理に極めて効果が大
きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例装置全体の説明図、第2図は微粒
子生成プローブ先端部の一兄明図、第3図は第2図のχ
−X断面図である。 工・・・微粒子生成プローブ 2 ・冷却筒3 ・微粒
子導入管    5・・不活性ガス吹き8・・・対電極
         込み管11・・・耐火筒     
  12・・・小放電室工3・・・溶融金属     
 ]7 ・試料電極18・・・スパーク放電装置  2
0・・・グローブ上下位22・微粒子搬送管     
 tit調節装置24・・・搬送ガス分配装置  29
・・プラズマトーチ37・ プラズマ発光分光分析装置

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 下端には、先端が円・乱形状の丸棒対電極を溶融金属表
    面に対向して垂直に取り付け、その直上部に微粒子導入
    用の開口部を設けた同対電極の電導体を兼ねる細径で縦
    長の微粒子導入管、同機粒子導入管の外周に同心円状に
    設け−かつ上部には供給口およびストレーンゲージ取り
    付はロ、下端には吐出口を有した不活性ガス吹き込み管
    を介して一同導入管を内包して保持した冷却筒、同冷却
    筒下部周囲には1分析時に下端を暦融金属中に浸漬して
    内部に大気を遮断した小放電室を形成するよう\、 に設置し尼剛火鏑より成る微粒子生成グローブ;上記導
    入管上部を陽極に、溶融金属中に浸漬した試料電極を陰
    極にして接続しだスノく−ク放電装置; 溶融金属表面
    に対向し、上記プローブに固設しだ湯面レベル側の検出
    信号および上記小放電室内の圧力を測定するために、上
    記不活性ガス吹き込み管に取り付けたストレーンゲージ
    の検出信号と連動して、対電極先端部と溶融金属表面間
    の電極間隔を所望寸法に制御する働きをもつ同グローブ
    の上部に取り付けられた上下位置調節装置;一端を上記
    微粒子導入管上端と接続し、他端を搬送ガス分配装置に
    接続した小径長尺の微粒子搬送管; 同搬送管末端部、
    プラズマ発光装置への微粒子供給管の下端部および余剰
    搬送不活性カスの排出管を取り付けた小形状容器から成
    る搬送ガス分配装置; 同微粒子供給宙の末端、高周波
    誘導結合型プラズマ等の励起源を有する発光装置、分光
    器および検出器等から成る発光分光分析装置を主体に構
    成したことケ特徴とする溶融金属の直接分析装置。
JP8544483A 1983-05-16 1983-05-16 溶融金属の電極間間隔自動調節型微粒子長距離搬送プラズマ発光分光分析装置 Pending JPS59210330A (ja)

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JP8544483A JPS59210330A (ja) 1983-05-16 1983-05-16 溶融金属の電極間間隔自動調節型微粒子長距離搬送プラズマ発光分光分析装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0193821A2 (en) * 1985-03-06 1986-09-10 Allied Corporation In-situ analysis of a liquid conductive material

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0193821A2 (en) * 1985-03-06 1986-09-10 Allied Corporation In-situ analysis of a liquid conductive material
EP0193821A3 (en) * 1985-03-06 1987-06-10 Allied Corporation In-situ analysis of a liquid conductive material

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