JPS6249241A - 炉内物質のスペクトル分析装置 - Google Patents
炉内物質のスペクトル分析装置Info
- Publication number
- JPS6249241A JPS6249241A JP60190273A JP19027385A JPS6249241A JP S6249241 A JPS6249241 A JP S6249241A JP 60190273 A JP60190273 A JP 60190273A JP 19027385 A JP19027385 A JP 19027385A JP S6249241 A JPS6249241 A JP S6249241A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- furnace
- lens
- gas
- probe
- lens mount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発J1の利ff1分デf]
本発明は炉内物質の同定・定jii化力沃喜びにそれに
用いる装置及びプ「1−ブに関する。
用いる装置及びプ「1−ブに関する。
[発明の背景1
燃料消費を最小ならしめ、かつ、安定な生産Hを得て炉
を操業するためには炉内状況を住確に把握する必要があ
る。そして、炉内状況を1丁(確に把握するためには炉
内物質の同定及び7埴化が必要である。この点を高炉を
例にとり説明する。
を操業するためには炉内状況を住確に把握する必要があ
る。そして、炉内状況を1丁(確に把握するためには炉
内物質の同定及び7埴化が必要である。この点を高炉を
例にとり説明する。
まず、高炉の概要を第1図及び第2図に示す。
高炉のプロフィルを大別すれば、7f!gzoi、朝顔
202、炉腹203、炉腹204、炉口205に分れる
。ぞして、高炉の機能を満たずためζ、二出鉄目206
、出滓u 207 、送風側u 208 、 ストン
クライン209.装入装置210、ガス管211が炉本
体に取り付けらねている。炉内に装入するし原本1は、
1−クスと鉱f;で、ご2れを交り1:層状に投入する
。投入された原料は、一定の落下軌跡212をとりなが
ら移動板213に衝突し、軌跡の方向を変えて第3図(
a)に示すように、先行原料2141:i、−;にドシ
る。ノにドした原本1は原料自身のもつ内部摩濱角と5
先行原料の分布形状とによっ−C1半径方向の層厚と粒
度の異なるコークス層214bと鉱石層714aを形成
する。
202、炉腹203、炉腹204、炉口205に分れる
。ぞして、高炉の機能を満たずためζ、二出鉄目206
、出滓u 207 、送風側u 208 、 ストン
クライン209.装入装置210、ガス管211が炉本
体に取り付けらねている。炉内に装入するし原本1は、
1−クスと鉱f;で、ご2れを交り1:層状に投入する
。投入された原料は、一定の落下軌跡212をとりなが
ら移動板213に衝突し、軌跡の方向を変えて第3図(
a)に示すように、先行原料2141:i、−;にドシ
る。ノにドした原本1は原料自身のもつ内部摩濱角と5
先行原料の分布形状とによっ−C1半径方向の層厚と粒
度の異なるコークス層214bと鉱石層714aを形成
する。
−方、空気は、8風炉で下数百度に加熱され、熱風は羽
[1支管216を経て、炉の円周方向に一定の間隔で取
すイ・1けられた羽目208から毎秒的250mの速度
で炉内に吹込み、羽「1前のレースウェイ217(第3
図(b))と燃焼帯をつくる。
[1支管216を経て、炉の円周方向に一定の間隔で取
すイ・1けられた羽目208から毎秒的250mの速度
で炉内に吹込み、羽「1前のレースウェイ217(第3
図(b))と燃焼帯をつくる。
レースウェイと燃焼帯で発生した高熱は湯溜部の溶銑と
スラグを加熱するのに一部を消費し、残りはガスによっ
て燃焼帯から−L部前方、下部方向に運ばれるが、その
M合は不明である。12かし、L部方向が著しく多いこ
とは確かである。
スラグを加熱するのに一部を消費し、残りはガスによっ
て燃焼帯から−L部前方、下部方向に運ばれるが、その
M合は不明である。12かし、L部方向が著しく多いこ
とは確かである。
こうして燃焼帯からガスによって運び出された熱は充填
層内をド方からL方へとト昇する過程で原料に熱を!j
−えながらガス温度を低fして層外に排出し、ガス管2
11を通って炉外に出る。
層内をド方からL方へとト昇する過程で原料に熱を!j
−えながらガス温度を低fして層外に排出し、ガス管2
11を通って炉外に出る。
ガスによって加熱yれた原料は鋸石が1−力から下方へ
と降下するにつれて高温になり、還元も箸しく進行する
。こうして最終的には溶解して溶銑とスラグに分離する
が、コークスはそのまま下方へと温度を高めながら降下
する。分離した溶鉄とスラグは滴下帯のコークス層22
0(第3図(C))を滴下するが、この過程で更に加熱
されるために、高温で、かつ流動性の良い液滴となって
、降下する。この段階で、燃焼帯近傍で発生するとみな
されているSiOガス221と接触するため高シリコン
の溶銑218となって貯銑の場に達するが、半径方向な
らびに円周方向で不均一分布をしている湯溜で混合Sれ
て出aI&分となる。
と降下するにつれて高温になり、還元も箸しく進行する
。こうして最終的には溶解して溶銑とスラグに分離する
が、コークスはそのまま下方へと温度を高めながら降下
する。分離した溶鉄とスラグは滴下帯のコークス層22
0(第3図(C))を滴下するが、この過程で更に加熱
されるために、高温で、かつ流動性の良い液滴となって
、降下する。この段階で、燃焼帯近傍で発生するとみな
されているSiOガス221と接触するため高シリコン
の溶銑218となって貯銑の場に達するが、半径方向な
らびに円周方向で不均一分布をしている湯溜で混合Sれ
て出aI&分となる。
以I−のように高炉内での固体の流れとド方から1−脣
するガス流れ、さらには溶液の流れについて述べてきた
が、これらはいずれも炉の1一部から装入する原料の半
径方向の層厚と粒度分布に、また、燃焼帯からl&出す
るガスにの割合は、それを取りまく周辺の粒子の充填4
II造とト方からl!#!−’F−してくる原料の壜に
よって決る。結局炉内のガス澄れが炉の1一部から装入
する原t1の分6Iで決ることになる。
するガス流れ、さらには溶液の流れについて述べてきた
が、これらはいずれも炉の1一部から装入する原料の半
径方向の層厚と粒度分布に、また、燃焼帯からl&出す
るガスにの割合は、それを取りまく周辺の粒子の充填4
II造とト方からl!#!−’F−してくる原料の壜に
よって決る。結局炉内のガス澄れが炉の1一部から装入
する原t1の分6Iで決ることになる。
しかし、燃焼温度は羽目からの吹込む送風皐、燃料比、
水蒸気添加率、酸素富化−ドによって変えることができ
る。
水蒸気添加率、酸素富化−ドによって変えることができ
る。
したがって、炉熱ならびに銑中シリコンを制御しようと
するならば高温域丈なわち滴下帯の温度とSi051分
圧を測定17、これが最適になるように装入側と、送風
側から操作する必要がある。
するならば高温域丈なわち滴下帯の温度とSi051分
圧を測定17、これが最適になるように装入側と、送風
側から操作する必要がある。
しかし、かかる゛F4定方法は炉内状況判定の尺度には
ならない場合が多々ある。その原因は、高炉の下部高温
域に才31jる金属シリコンの溶鉄への移行の機構が不
明であるからである。
ならない場合が多々ある。その原因は、高炉の下部高温
域に才31jる金属シリコンの溶鉄への移行の機構が不
明であるからである。
高炉のF部高温i成における金属シリ−】ンの溶銑への
移行の機構については大別するとつぎの2つの仮説に分
類、される。
移行の機構については大別するとつぎの2つの仮説に分
類、される。
1つは、スラグ−メタル反応による溶銑へのSiの移行
のメカニズJ、すなわち炭素飽和による5i02の塁元
紮汲ったものである。他の1つばガス−メタル反応、5
9である。後説は、高炉のド部高温域では、コークス中
の灰分及び鉱り中のシリカがコークスのカーボンと反1
j・、’ して(1)式のようにS i Oガスを発生
するというムのである。
のメカニズJ、すなわち炭素飽和による5i02の塁元
紮汲ったものである。他の1つばガス−メタル反応、5
9である。後説は、高炉のド部高温域では、コークス中
の灰分及び鉱り中のシリカがコークスのカーボンと反1
j・、’ して(1)式のようにS i Oガスを発生
するというムのである。
5i02 (s)+C(s)〜→
S io (g) +GO(g) (1)こうして
発生したSiOガスは、炉内を1−、シ↑する過程で生
成した鉄粒と接触する。接触17たSiOガスは鉄粒中
のカーボンと(2)式のように反応して溶鉄社中に共存
すると考える。
発生したSiOガスは、炉内を1−、シ↑する過程で生
成した鉄粒と接触する。接触17たSiOガスは鉄粒中
のカーボンと(2)式のように反応して溶鉄社中に共存
すると考える。
S io (g) +c (S)
−十s + (+) +co (g’> (2
)そ1.てこのSiOガスは高温強還元雰囲気下、すな
わち羽「1曲の燃焼帯外周辺と考えられており、この考
え力を☆持する研究J%や技術者が非常に多い。
−十s + (+) +co (g’> (2
)そ1.てこのSiOガスは高温強還元雰囲気下、すな
わち羽「1曲の燃焼帯外周辺と考えられており、この考
え力を☆持する研究J%や技術者が非常に多い。
1−かじ、いずわの説を取るにせよI記説は仮説にすぎ
ない。
ない。
以上、高炉を例に説Ijl したが、現在のところ炉内
の状況を1[確に把握する1段は開発されておらず、従
来からfの1段の開発が然′−Ip zれていた。
の状況を1[確に把握する1段は開発されておらず、従
来からfの1段の開発が然′−Ip zれていた。
木発明者は、光学的−1段による高炉内の観察、Δ11
温、物質同定ト′関する一連のRf究のなかで可視域に
スペクトルをも゛つアルカリ物質の同定と定品化t、″
成功した。そしてその研究過程で赤外域にスペクトルを
もつ物質挿の同定、すなわり分子−振動のうち双極子モ
ーメントに変化を起こす物質(たとえばSiOガス)の
固自振動を検出することが出来るならば、炉内の高温域
C発生する物質たとえばSiOガスの直接測定も可能−
Cあるという知見をえた。
温、物質同定ト′関する一連のRf究のなかで可視域に
スペクトルをも゛つアルカリ物質の同定と定品化t、″
成功した。そしてその研究過程で赤外域にスペクトルを
もつ物質挿の同定、すなわり分子−振動のうち双極子モ
ーメントに変化を起こす物質(たとえばSiOガス)の
固自振動を検出することが出来るならば、炉内の高温域
C発生する物質たとえばSiOガスの直接測定も可能−
Cあるという知見をえた。
本発明はかかる知見に基づいてなされたものである。
[発明の概星]
本出願に係る第1発明は、炉内の観測1.ようとする位
置に、炉内で発生する光線を炉内から炉外に導き出すた
めのプローブを挿入し、1核ブロー・ブを介して得られ
た光線を分光器に入射し、該分光器により該光線を分光
し、該分光した光線を光電変換装置に入射I2て該光線
なii(気信号に変換し、該変換された電気信号を増幅
:4により増幅した後、適宜の人ホ「段により表示する
ことによりスペクトルを(!1.該スペクトルから炉内
物質の同定及び定量化を行なうことを41f徴とする炉
内物質の同定及び定量化方法〒ある。
置に、炉内で発生する光線を炉内から炉外に導き出すた
めのプローブを挿入し、1核ブロー・ブを介して得られ
た光線を分光器に入射し、該分光器により該光線を分光
し、該分光した光線を光電変換装置に入射I2て該光線
なii(気信号に変換し、該変換された電気信号を増幅
:4により増幅した後、適宜の人ホ「段により表示する
ことによりスペクトルを(!1.該スペクトルから炉内
物質の同定及び定量化を行なうことを41f徴とする炉
内物質の同定及び定量化方法〒ある。
ここで、この第1発明の対象となる炉は、たとえば、高
炉、転炉、電気炉、燃焼炉、ガス発生炉、ボイラー、ガ
ス発生炉等である。要は、その内部において光源をグ、
えうる炉ならばよい、なお、ガス発生炉とは、その内部
において各種ガスが存在する炉であり、たとえば、内部
において各種化学反i二によりガスが発生t’ 6 、
!:うな炉である。
炉、転炉、電気炉、燃焼炉、ガス発生炉、ボイラー、ガ
ス発生炉等である。要は、その内部において光源をグ、
えうる炉ならばよい、なお、ガス発生炉とは、その内部
において各種ガスが存在する炉であり、たとえば、内部
において各種化学反i二によりガスが発生t’ 6 、
!:うな炉である。
また、炉内物質は、気体、液体、固体のいかんを問わな
い、また、炉が高炉の場合にはSiOガスの同定・7清
化が炉内状況の11′確なlf!Ifll上重要である
が、ここCいう炉内物質にはSiOガスも当然含まれる
。
い、また、炉が高炉の場合にはSiOガスの同定・7清
化が炉内状況の11′確なlf!Ifll上重要である
が、ここCいう炉内物質にはSiOガスも当然含まれる
。
また、分光器と1,7ては、たとえば、回折格f分光器
、フーリエ変換ダ1分光器、分散型1ダブルビ・−ム分
光μ等を用いればLい。
、フーリエ変換ダ1分光器、分散型1ダブルビ・−ム分
光μ等を用いればLい。
本出願に係る第2の発IJ1は、炉内t、j?3生する
光線を炉内から炉外し1導き出すための、炉内のw1膓
1、ようとする位置に挿入されたプローブと、該プロー
ブに光学的に接続された分光器と、該分光器に光学的に
接続された′X、電変換yi置装、該光電変換装置と電
気的に接続された増輻雰と、該増幅謬に電気的に接続さ
れた表示手段な有することを特徴とする炉内物質の同定
・7皐化に用いる装置である。
光線を炉内から炉外し1導き出すための、炉内のw1膓
1、ようとする位置に挿入されたプローブと、該プロー
ブに光学的に接続された分光器と、該分光器に光学的に
接続された′X、電変換yi置装、該光電変換装置と電
気的に接続された増輻雰と、該増幅謬に電気的に接続さ
れた表示手段な有することを特徴とする炉内物質の同定
・7皐化に用いる装置である。
本出願に係る第3発明は、内部が中空の中空本体と、先
端にレンズが収納され、該レンズから該l/ンズの焦点
距離離れた位置に該1/ンズにより集光された光線を炉
列に導びくための光学的−手段紮設けてあるレンズマウ
ントとをイJし、該レンズが、該中空本体の先端から適
宜の(Q置にくるように該レンズマウントを、懐中空本
体の中空部に長「方向に慴動IIf能に嵌装置−11該
レンズマウントの適宜の位置に、外部に連通し、1咳1
/ンズ前面にガスを噴射し得る開[Iを設け、該l/ン
ズマウントを後方に慴動きせたときには該中空本体の先
端部11部ど連通し、該レンズマウントを前方に慴動さ
せたときには、該中空本体の先端部11部との連通が遮
断される気体通路を該レンズマウントの適宜の位置に設
置tたことを特徴とする炉内物質の同定・定量化方法に
用いるプローブである。
端にレンズが収納され、該レンズから該l/ンズの焦点
距離離れた位置に該1/ンズにより集光された光線を炉
列に導びくための光学的−手段紮設けてあるレンズマウ
ントとをイJし、該レンズが、該中空本体の先端から適
宜の(Q置にくるように該レンズマウントを、懐中空本
体の中空部に長「方向に慴動IIf能に嵌装置−11該
レンズマウントの適宜の位置に、外部に連通し、1咳1
/ンズ前面にガスを噴射し得る開[Iを設け、該l/ン
ズマウントを後方に慴動きせたときには該中空本体の先
端部11部ど連通し、該レンズマウントを前方に慴動さ
せたときには、該中空本体の先端部11部との連通が遮
断される気体通路を該レンズマウントの適宜の位置に設
置tたことを特徴とする炉内物質の同定・定量化方法に
用いるプローブである。
ここで、光線を炉外に導くための光学的1段としては、
たとえば、光)γイノへ−又はリレーレンズ等を用いれ
ばよい。
たとえば、光)γイノへ−又はリレーレンズ等を用いれ
ばよい。
本発明においては、炉内から放射される光線は、炉内物
質に榛1突1.て該物質を励起し、発光又は吸収スペク
トルが現われる。このスペクトルはプローブを介1.て
分tX内に入射する0分光器内においてはX、線は分X
、され1分光された光線はさらに克′It変換装置に入
射する。X市変換装δにおいて光線は電気(1号1′変
1々5れる。変換、された電気信号は微弱なため増幅μ
に入力L2増幅する。増幅yhた′電気信号は適宜の大
小[段により&示すること(、=よりスペクトル・が得
られピ)。
質に榛1突1.て該物質を励起し、発光又は吸収スペク
トルが現われる。このスペクトルはプローブを介1.て
分tX内に入射する0分光器内においてはX、線は分X
、され1分光された光線はさらに克′It変換装置に入
射する。X市変換装δにおいて光線は電気(1号1′変
1々5れる。変換、された電気信号は微弱なため増幅μ
に入力L2増幅する。増幅yhた′電気信号は適宜の大
小[段により&示すること(、=よりスペクトル・が得
られピ)。
[発明の実施例]
(第1実施例)
本例では第4図に示ずブ「1−ブ1?0を用いて炉内物
質の同?及び定量化を行なった。
質の同?及び定量化を行なった。
まず、このプローブを説)!11する。
プローブは中空本体とし/ンズマウントとを41する。
プローブの中空本体は、本例においては第5図に、j\
すように、先端部材101、スベーナ−102、管10
5、管107をイ1し−(いる。
すように、先端部材101、スベーナ−102、管10
5、管107をイ1し−(いる。
先端部材101の聞[−1は前方から中程Gj向かい内
径が減少1.でいる。この蒲郡130は先端部間11か
ら流入1.たガスの溜り場となる。
径が減少1.でいる。この蒲郡130は先端部間11か
ら流入1.たガスの溜り場となる。
一方、スペーサー102はその後方外側が2段の段付状
態となっており、スペーサー102は先端部材101に
溶接しである。スペーサー102の最も外側の段には、
管105が嵌合され、2番目の段には管106が嵌合さ
れている。また、内側には管107が嵌合されている。
態となっており、スペーサー102は先端部材101に
溶接しである。スペーサー102の最も外側の段には、
管105が嵌合され、2番目の段には管106が嵌合さ
れている。また、内側には管107が嵌合されている。
管105と管106とは通路128を形成し、管106
と管107とは通路127を形成する。モして、管10
6には通路127と通路128とを連通ずる開目129
が設けてある0通路127は冷却水人口1itに、通路
128は冷却水出口にそれぞれ連通している。また、管
107はガス送入口112(第4図)に連通している。
と管107とは通路127を形成する。モして、管10
6には通路127と通路128とを連通ずる開目129
が設けてある0通路127は冷却水人口1itに、通路
128は冷却水出口にそれぞれ連通している。また、管
107はガス送入口112(第4図)に連通している。
次に第6図から第10図に基づいてレンズマウントを説
明する。
明する。
レンズマウントは、レンズマウント本体x。
3、中間部材142.スペーサー144、押え部材14
6とからなる(第6図)。
6とからなる(第6図)。
レンズマウント本体103は、中空であり、中空部の内
径は3段介1.−分れ、第6図の図面1−左から順小さ
くなり、第1中空部148、第2中空部150、第3中
空部125が形成、されている、第1中空部148には
、内側に第1中空部の内径より大きな内径を41する周
方向の溝152を設けてある。
径は3段介1.−分れ、第6図の図面1−左から順小さ
くなり、第1中空部148、第2中空部150、第3中
空部125が形成、されている、第1中空部148には
、内側に第1中空部の内径より大きな内径を41する周
方向の溝152を設けてある。
第2中空部150の長さは略i/ンズの焦点距離である
。
。
また、レンズマウント本体103の外周には第7[A及
び第8図かられかるよ−)に長r力向の溝154が設け
てある。この溝154のI)g数は任意でよいが図面−
1−では4つ設けてある。
び第8図かられかるよ−)に長r力向の溝154が設け
てある。この溝154のI)g数は任意でよいが図面−
1−では4つ設けてある。
第3中空部125に通ずるネジ穴162が設けられてい
る。
る。
中間部材142も中空部内径が2段に分かれており、大
きい方の内径はレンズ124の外径と同じである。その
境界はレンズの曲面に沿った形状をしている。その外周
には、第9図に示すように長手方向の溝156が、没け
である。また、後方(図面[−右側)側面には、溝15
6に連通する半径H向の溝158が設けてある。この溝
158は、1/ンズマウント本体103に、中間部材1
42、押え部材146を組)γてたとき、中間部材15
6の溝156と押え部材146の溝160との(l置台
せを特に行なうことなく溝156と1lI1160との
連通を確保するための溝である。y4156、溝158
の個数は任意であるが、図面トでは4つ設けてある。
きい方の内径はレンズ124の外径と同じである。その
境界はレンズの曲面に沿った形状をしている。その外周
には、第9図に示すように長手方向の溝156が、没け
である。また、後方(図面[−右側)側面には、溝15
6に連通する半径H向の溝158が設けてある。この溝
158は、1/ンズマウント本体103に、中間部材1
42、押え部材146を組)γてたとき、中間部材15
6の溝156と押え部材146の溝160との(l置台
せを特に行なうことなく溝156と1lI1160との
連通を確保するための溝である。y4156、溝158
の個数は任意であるが、図面トでは4つ設けてある。
押え部材146には、そのレンズ側端面に、ト(¥方向
の溝160が設けてある(第10図)。
の溝160が設けてある(第10図)。
レンズ124はスペーサー114を介して中空部材14
2内に収納され、レノr124を収納17た中間部材1
42をレンズマウント本体103にさらに収納する。押
え部材14(5でレンズ124を押さえる。図面L−Q
は、押さえ部材とレンズマウント本体との固定f一段は
示していないが、適宜の位置でネジ11−め等すればよ
い。なお1本例ではレンズとしてZn5el/ンズを用
いている。
2内に収納され、レノr124を収納17た中間部材1
42をレンズマウント本体103にさらに収納する。押
え部材14(5でレンズ124を押さえる。図面L−Q
は、押さえ部材とレンズマウント本体との固定f一段は
示していないが、適宜の位置でネジ11−め等すればよ
い。なお1本例ではレンズとしてZn5el/ンズを用
いている。
レンズマウント本体103の第3中空部125には第1
1図(a)に示すように、管108が嵌合してあり、ネ
ジ穴162を通しでネジにより管108はレンズ−1ラ
ント本体103に固定される管10Bには、管10Bと
の間にスキマ162を設けて光ファイバー109が挿入
される。スキマ162は、外部のガス送入+−1(図示
せず)に通じている。
1図(a)に示すように、管108が嵌合してあり、ネ
ジ穴162を通しでネジにより管108はレンズ−1ラ
ント本体103に固定される管10Bには、管10Bと
の間にスキマ162を設けて光ファイバー109が挿入
される。スキマ162は、外部のガス送入+−1(図示
せず)に通じている。
以上のように構成したレンズマウントをプロー/の中空
本体の答107内に長「方向に摺動i’r fEに嵌装
する。
本体の答107内に長「方向に摺動i’r fEに嵌装
する。
なお、プローブの先゛−からレンズまでの距離はスペク
トルの強度■紮り−える式 %式%) において■、をダえる。
トルの強度■紮り−える式 %式%) において■、をダえる。
次に、このプローブの使用法を説明−する。
プローブを炉内のAM宇しようとする位置に挿入する。
そのとき、外部のガス送入「1から不活性力“ス、たと
えば、窒素力スを送入する。このガスは、スキマ162
、第2中空部150、溝158、溝156.溝152、
溝160を介してレノズ124前面に噴出する。このガ
スは絶えず1/ンズ124前面に噴出し続け、レンズ面
を清浄にするとともに、炉内から吹き+1けられるチリ
等からI/ンズ而面保護する。
えば、窒素力スを送入する。このガスは、スキマ162
、第2中空部150、溝158、溝156.溝152、
溝160を介してレノズ124前面に噴出する。このガ
スは絶えず1/ンズ124前面に噴出し続け、レンズ面
を清浄にするとともに、炉内から吹き+1けられるチリ
等からI/ンズ而面保護する。
一方、レンズマウントlO3を後方に移動させると、レ
ズマウント103の前側面とスペーサー102との間に
スキマ107が生ずる。その状j匙でガス−、ス入■1
12から不活P[ガスを送入する。
ズマウント103の前側面とスペーサー102との間に
スキマ107が生ずる。その状j匙でガス−、ス入■1
12から不活P[ガスを送入する。
このガスは、管107内を通り、溝154.スキマ17
0を介して溜部130、先端間■に魔れる。そのときの
スペクトルを得ることにより標準スペクトルを(!)る
ことかできる。
0を介して溜部130、先端間■に魔れる。そのときの
スペクトルを得ることにより標準スペクトルを(!)る
ことかできる。
次に、ガス送入r:+ 112からのガス送入を11−
めると、炉内ガスは先端間1−1から溜部130、スキ
マ】70、溝154、ガス送入r+ 112へと流れる
。このとき、先端開口には前方から中程に向かい内径が
減少し、さらに中程から後方にかけて内径は大きくなっ
ているので、プローブ120の中空部に流入したガスは
溜部130において減速し、はぼ停止1状態となるので
ガスの同定Φ7騒化を行なう場合には安定した測定紮行
なうことができる。
めると、炉内ガスは先端間1−1から溜部130、スキ
マ】70、溝154、ガス送入r+ 112へと流れる
。このとき、先端開口には前方から中程に向かい内径が
減少し、さらに中程から後方にかけて内径は大きくなっ
ているので、プローブ120の中空部に流入したガスは
溜部130において減速し、はぼ停止1状態となるので
ガスの同定Φ7騒化を行なう場合には安定した測定紮行
なうことができる。
なお、この炉内ガスはガス送入1112とは別にガス排
出11を設けてそこに流してもよい。
出11を設けてそこに流してもよい。
溜部に炉内ガスが充満したときに、レンズマウント10
3を前方に移動させると、スキマ170はなくなり、炉
内h′スの流れはなくなり炉内ガスは溜部130内に安
定する。そのときにおけるスベ1トルを得ることにより
1.1イ定に4象のスペクトルが得られる。
3を前方に移動させると、スキマ170はなくなり、炉
内h′スの流れはなくなり炉内ガスは溜部130内に安
定する。そのときにおけるスベ1トルを得ることにより
1.1イ定に4象のスペクトルが得られる。
なお、レンズマウント103を前方に移動させた状態に
おいては、レンズ+iii面を保護するための不活性ガ
スは流れ続けている。
おいては、レンズ+iii面を保護するための不活性ガ
スは流れ続けている。
また、冷却本人「+ l l 1から冷却水を送入する
と、冷却水は、通路127.開ri l 29、通路1
28を介して冷却水出目110に魔れ、プローブを炉内
の熱から保護することができる。
と、冷却水は、通路127.開ri l 29、通路1
28を介して冷却水出目110に魔れ、プローブを炉内
の熱から保護することができる。
以(−説明したようにプローブの中空本体内にレンズを
収納した場合には、直接光ファイバーにより炉内光線を
集光した場合に比べて約8倍高い強度のスペクトルがイ
リられ炉内物質の同定・定量化がより+E確かつ迅速に
行なうことができる。
収納した場合には、直接光ファイバーにより炉内光線を
集光した場合に比べて約8倍高い強度のスペクトルがイ
リられ炉内物質の同定・定量化がより+E確かつ迅速に
行なうことができる。
また、標準光を得ることもできる。
次に炉内物質の同定一定星化方法に用いる装置を第12
図に、l、tiずき説明する。
図に、l、tiずき説明する。
本装置は、(1)プローブ、(2)分光器、(3)光電
変換器、(4)増幅部、(5)演′σ部(6)記録計か
ら構成されている。以ドに谷溝f、Qを説明1″る。
変換器、(4)増幅部、(5)演′σ部(6)記録計か
ら構成されている。以ドに谷溝f、Qを説明1″る。
(1)プローブ
プローブとしては前述した−7「1−ブ紮用いればよい
。
。
(2)分光器
本例では第1表に示すイを様をHする分光器を使用した
。
。
第1表
分光器で単波長に分光された光線は出[1側のスリット
から!A部に射出きれる。射出された赤列尤はZn S
eのレンズで集光、ぎれ尤屯変挨奏の電番ざ、イ、jミ
点ケ結ぶ。このZn Se L/ンズは赤外11iにお
いては、約70%赤列光を透過するが、反射防11膜処
理を行なえば透過には約39%J−でする。第13図に
Zn Seレンズの透過波反特輯、第2表にZn5eレ
ンズの仕様を・iζす。レンズは側カ!対鍮に合わ+i
透過波長の異なるレンズを適宜選択すればよい。
から!A部に射出きれる。射出された赤列尤はZn S
eのレンズで集光、ぎれ尤屯変挨奏の電番ざ、イ、jミ
点ケ結ぶ。このZn Se L/ンズは赤外11iにお
いては、約70%赤列光を透過するが、反射防11膜処
理を行なえば透過には約39%J−でする。第13図に
Zn Seレンズの透過波反特輯、第2表にZn5eレ
ンズの仕様を・iζす。レンズは側カ!対鍮に合わ+i
透過波長の異なるレンズを適宜選択すればよい。
第2表
(3)光電変換装置
本例では光電変換装置とした赤外線検知器をmいた。赤
外線検知器の?を様を第3表に示す。赤外線検知器は赤
外線の強度を電気信号に変換するbのである。これはZ
n5elzンZによって集光きれた光を赤外線11il
!知器のゲルマニラI、の窓の内側に張り付けた水銀、
カドニウム、テルルの合金より作られた光′這変換装a
ll−に集光する。この装置は赤外光が入射すると電気
抵抗が減少する特性を有しており、この特性を利JlI
して赤外線の強度を電気信号に変換している。第14図
に赤外線検知器の波長感度特性を示す。
外線検知器の?を様を第3表に示す。赤外線検知器は赤
外線の強度を電気信号に変換するbのである。これはZ
n5elzンZによって集光きれた光を赤外線11il
!知器のゲルマニラI、の窓の内側に張り付けた水銀、
カドニウム、テルルの合金より作られた光′這変換装a
ll−に集光する。この装置は赤外光が入射すると電気
抵抗が減少する特性を有しており、この特性を利JlI
して赤外線の強度を電気信号に変換している。第14図
に赤外線検知器の波長感度特性を示す。
第3表
(4)増幅部
増llI+!部は赤外線検知器から出た電気信号をプリ
アンプで20倍に増幅した後、t −) Dツクインア
ンプへ送る。オー トロンノフインアンプは前述のヒフ
ターからの周11! fi−A号を取り入れることによ
っ−C、’A r’iにうもれた中から必゛政な交渣信
すのみを拾い出すことが可能で、高い雑音除去使方をイ
1【。
アンプで20倍に増幅した後、t −) Dツクインア
ンプへ送る。オー トロンノフインアンプは前述のヒフ
ターからの周11! fi−A号を取り入れることによ
っ−C、’A r’iにうもれた中から必゛政な交渣信
すのみを拾い出すことが可能で、高い雑音除去使方をイ
1【。
でいる。第4表にオートロツクイ引ンプの41様を示す
、またシンクロスコープはこの電気信号の波形を写し出
1.て、(☆相のずれを監視、するものである。
、またシンクロスコープはこの電気信号の波形を写し出
1.て、(☆相のずれを監視、するものである。
第4表
(5)演′fJ?8
演算は#−)ロンクイJ−ンブどハらの出)J信号を演
算するものである。
算するものである。
今標準時の出力をA、Jlil定1(νの出力をBとす
る。この信号は集光シ1の回転゛ト円鏡から遅れて来る
判別信号により、アナログ信号からデジタル信号1変換
1.でいる、そして、B/Aの演算を行ない、iffび
アナログ信号に変換した記録部1へ送る。
る。この信号は集光シ1の回転゛ト円鏡から遅れて来る
判別信号により、アナログ信号からデジタル信号1変換
1.でいる、そして、B/Aの演算を行ない、iffび
アナログ信号に変換した記録部1へ送る。
(6)記録部
記録部はオートロクイナンプからの出力信号と演算部か
らの出力信号を連続的に記録するものである。オートロ
ックイナンプからの出力信号は演算されていないので、
A、Hの間に出力差(吸収)があると、チャート1−で
ぬりつぶされた状態で現れる(第18図、第19図番照
)、また演算部からの出力信号は演算されているので、
吸収がない場合B/A=1となって屑に一定1.ている
。
らの出力信号を連続的に記録するものである。オートロ
ックイナンプからの出力信号は演算されていないので、
A、Hの間に出力差(吸収)があると、チャート1−で
ぬりつぶされた状態で現れる(第18図、第19図番照
)、また演算部からの出力信号は演算されているので、
吸収がない場合B/A=1となって屑に一定1.ている
。
吸収が生じた場合はB/A< 1となりチャート1−で
は吸収のない場合より出(Jが小きく記録される。また
その吸収のピークは吸収強Ifに比例して記録される。
は吸収のない場合より出(Jが小きく記録される。また
その吸収のピークは吸収強Ifに比例して記録される。
次に、炉内物質の同定一定1.l化J1法について説1
多1する。
多1する。
本例では操業炉に代え、実験室的に回宇・定量化を行な
った。tなわち、第12図に示す反応管301を実験室
炉内に設置1、この反応管301内において操業炉を再
現しで測定を11なった。本例では後述する試本1ト′
つき測定を行なった。また。
った。tなわち、第12図に示す反応管301を実験室
炉内に設置1、この反応管301内において操業炉を再
現しで測定を11なった。本例では後述する試本1ト′
つき測定を行なった。また。
操業炉内に近づけるため反応管内にはVヤリアガスを流
し、また放射板303を設けた。
し、また放射板303を設けた。
本例で使用11.た試料はAl−3i4−スラグ合金(
S i02 CaOAI2 0i )、
S i02 +C,5i02+Si、固体のSiO
である。
S i02 CaOAI2 0i )、
S i02 +C,5i02+Si、固体のSiO
である。
以下各試料の作成について述べる。
(+) A 1.−3 i合金
Al−Si合金はSi(東礒%)を95,90.80%
としたものを作成した。あらかじめ計算により玉清比を
求め、AI、Siをるつぼに入れ1500℃、1時間で
溶解した。得られた試#1は乳鉢ですりつぶ1.て使用
1,7た。
としたものを作成した。あらかじめ計算により玉清比を
求め、AI、Siをるつぼに入れ1500℃、1時間で
溶解した。得られた試#1は乳鉢ですりつぶ1.て使用
1,7た。
(2)スラグ(S 102−CaO−A1201 )ス
ラグは5i02 :CaO:Al2O3=5:3:1
のtf比で合計50gと12だ、秤埴した各試料を混合
し、るつぼに入れ1500℃、1時間G溶解した。得ら
れたスラグは乳鉢ですりつぶして使用した。
ラグは5i02 :CaO:Al2O3=5:3:1
のtf比で合計50gと12だ、秤埴した各試料を混合
し、るつぼに入れ1500℃、1時間G溶解した。得ら
れたスラグは乳鉢ですりつぶして使用した。
測定はAl−Si合金とスラグを混合して使用した。そ
の改礒比はA1−Si合金ニスラグ;l:2で、合計7
.5gとした。
の改礒比はA1−Si合金ニスラグ;l:2で、合計7
.5gとした。
(3) S iO2+ C
3i02は純度99.99%(レアメタリック社製)を
乾燥器(120℃で水分を除去したものを使用した。炭
素はグンファイト(東海高熱V)を振動ミルで約100
grnに粉砕17た後、1200℃Arガス雰囲気中で
焼成した。
乾燥器(120℃で水分を除去したものを使用した。炭
素はグンファイト(東海高熱V)を振動ミルで約100
grnに粉砕17た後、1200℃Arガス雰囲気中で
焼成した。
測定ハS i 02 トW素ノi[(91iSi O2
: C=1:2で合計6gとして乳鉢で1昆合して使用
した。
: C=1:2で合計6gとして乳鉢で1昆合して使用
した。
(1)sio+s+
Siは&lti度99.91;li;(レアメタリンク
ンI製)を乾燥器(120℃)で木分紮除ノミ1.たち
のを使用した。
ンI製)を乾燥器(120℃)で木分紮除ノミ1.たち
のを使用した。
測定は3の5i02と東1i1t、s i : S i
02−1:lで合二t 3 gとして乳鉢で混合1−た
ちのを使用した。
02−1:lで合二t 3 gとして乳鉢で混合1−た
ちのを使用した。
(5)Si’0
3iOは純Ji′99.95%以16(大阪ブ=タニウ
ム製)を乾燥器(120℃)で水分を除去したものを乳
鉢ですりつぶして使用した。
ム製)を乾燥器(120℃)で水分を除去したものを乳
鉢ですりつぶして使用した。
第12図には電気炉305の反応管301内に設置され
た放射板303.供試料307、熱電対309の位置的
関係も示されている。測定に際して、再結晶化高純tλ
アルミナ製([1水化学陶業ン1製)ポートに入れた供
試料307を電気炉305の中心の位置にセットする。
た放射板303.供試料307、熱電対309の位置的
関係も示されている。測定に際して、再結晶化高純tλ
アルミナ製([1水化学陶業ン1製)ポートに入れた供
試料307を電気炉305の中心の位置にセットする。
次に反応管301内を真空にしてもれている部分がない
ことを確認する。モしてArガスを流し込みふたたび真
空にする。、−れを3回程繰り返して反応管′301内
をArガスに置換する。
ことを確認する。モしてArガスを流し込みふたたび真
空にする。、−れを3回程繰り返して反応管′301内
をArガスに置換する。
この後1枕気炉305を通電加熱する。なおシl温蒔に
は反応管301内に倫すArガスti1と等(lのガス
が■除できるように真空、1!ンプVバイパスをかけ、
反応管301内の圧勾が大気圧と等しくなるようにニー
ドルバルブによりJfl’iする。
は反応管301内に倫すArガスti1と等(lのガス
が■除できるように真空、1!ンプVバイパスをかけ、
反応管301内の圧勾が大気圧と等しくなるようにニー
ドルバルブによりJfl’iする。
測定は反応管301内が所定温度に達したならば、スペ
クトル測定を5000〜800cm”の範囲について行
なった。実験条件を第5表に示す。
クトル測定を5000〜800cm”の範囲について行
なった。実験条件を第5表に示す。
上記のような方法を利用した炉内物質のスペクトル測定
の結果、試料がAl−Si合金+スラグ、固体のSho
の場合及び5in2+C,5i02+Siの場合もSi
Oガスのスペクトルが確認できたが、SiO□十〇でA
rガス雰囲気のものが最もよくスペクトルが現われた 2m15図はSiOガス吸収スペクトルが最も良く現れ
たものである。これは縦紬に赤外線の強度C%)、横軸
に波数(cm−’)8−表わしたものであり、測定は5
000〜800 c m−’について行なった。第15
図のF部はキーリア刀スH2′T!1j75cc/mi
n、炉内温度1500℃、供試績5i02+Cである。
の結果、試料がAl−Si合金+スラグ、固体のSho
の場合及び5in2+C,5i02+Siの場合もSi
Oガスのスペクトルが確認できたが、SiO□十〇でA
rガス雰囲気のものが最もよくスペクトルが現われた 2m15図はSiOガス吸収スペクトルが最も良く現れ
たものである。これは縦紬に赤外線の強度C%)、横軸
に波数(cm−’)8−表わしたものであり、測定は5
000〜800 c m−’について行なった。第15
図のF部はキーリア刀スH2′T!1j75cc/mi
n、炉内温度1500℃、供試績5i02+Cである。
2445.5〜2388.6c m−’ 。
2293.6〜2202.8c m −’ 、 125
1.1−1168.9c m−’ 。
1.1−1168.9c m−’ 。
1128.1〜1044.9c m−’にそれぞれ吸収
が現れた。
が現れた。
それぞれの吸収はCO2ガス、Coガヌ、SiOガスの
倍振動、5I202ガスである。
倍振動、5I202ガスである。
キャリアガスをArガスからH2に置換して測定したも
のを第15図F一段に示f、3000.1500゜10
0100O’に鋭い吸収スペクトルが現れた。この3つ
の吸収はOH基の吸収である。
のを第15図F一段に示f、3000.1500゜10
0100O’に鋭い吸収スペクトルが現れた。この3つ
の吸収はOH基の吸収である。
L程締了後Arガス雰囲気中で徐んした反応管内を見る
と、試ネ1のボートから分光器側に向か−)た−而に、
こはく色の蒸着物が見られた。
と、試ネ1のボートから分光器側に向か−)た−而に、
こはく色の蒸着物が見られた。
特に放射板より200mm前後の伎tには、より多くの
蒸着物が見られた。またK 3 r窓材にもこはく色の
蒸着物が4−1 h Lでいた。
蒸着物が見られた。またK 3 r窓材にもこはく色の
蒸着物が4−1 h Lでいた。
大阪チタ二リムの試料1ごよると、StO薄膜の一般的
性質と1.たldi S i O膜はl X L Ot
o rr以ドの低酸素分圧ドTF 、!’? i#
(〜けた用台、こはく色をすすると記、され(い乙。こ
のことから反応管内のこは〈色のへγ1物はStOであ
るご−とが[−分考えられる。よってこのこはく色の7
% J物について調査を行なった。
性質と1.たldi S i O膜はl X L Ot
o rr以ドの低酸素分圧ドTF 、!’? i#
(〜けた用台、こはく色をすすると記、され(い乙。こ
のことから反応管内のこは〈色のへγ1物はStOであ
るご−とが[−分考えられる。よってこのこはく色の7
% J物について調査を行なった。
)入着物の調にはフーリエ住換赤外線分光器(FT−I
R)を用いて行なった3Δ一定はKBr粒状結晶とlに
看物を乳鉢ですりつぶし、1品合[またものを圧力20
0kg/cm2で加圧g形したものを1−1述のF I
−I Hの分′X、器(11本′屯−C製)にセット
して行なった。第16図はこの側室結果である。
R)を用いて行なった3Δ一定はKBr粒状結晶とlに
看物を乳鉢ですりつぶし、1品合[またものを圧力20
0kg/cm2で加圧g形したものを1−1述のF I
−I Hの分′X、器(11本′屯−C製)にセット
して行なった。第16図はこの側室結果である。
また、KBr窓441ついても同じ測定を行な一〕だ。
第17図はその測定結果である。 1289.1217
、1180.1172.1lG4c m”’に吸収が現
れた。
、1180.1172.1lG4c m”’に吸収が現
れた。
第6表は他の研究によって公表、ぎれSiOの吸収波数
である。表6と4−記紀l範を対比すると、回じmeの
吸Il+7として!217cm−’ (29S i 1
60) 。
である。表6と4−記紀l範を対比すると、回じmeの
吸Il+7として!217cm−’ (29S i 1
60) 。
1180crn −會 (28S i 180
) 、 1I72c m−’(S + O)
、1184cm”’ (=O3i180)が1った。
) 、 1I72c m−’(S + O)
、1184cm”’ (=O3i180)が1った。
この吸収ILSiOの固thの吸11M波数に対k”。
している。J−7γこ−のム5果から原f jAがWな
ると0猜収波数が髪わることもわかった。
ると0猜収波数が髪わることもわかった。
以I−の結果から反応管内ではSiOガスが発生[2で
いるJhが確認きれた。
いるJhが確認きれた。
第6表
(第2実施例)
第20図に一第2実に例を示す。
本例では、プローブと]7て第1実施例で示したプロー
ブの先端に、炉内がスをプローブ先端間[1部陵び溜部
130に’・ダ入4るための孔403を有し、プE’i
−ブkrツノ向に所定の14.ぎの中空部を47[る1
−るキャップを設けrあZ)。なお、侵さば開「1部径
の約10倍とすることが好ましい。なお、この長さは第
1実施例で述べたスペクトルの強1aを!jえる式にお
けるLを′jえる。←ヤツ/401は、光線の放射体と
なりうるちのならばよく、たとえばカーボン等よりなる
ものでよい。本例は気体を測定する場合用のプローブで
ある。
ブの先端に、炉内がスをプローブ先端間[1部陵び溜部
130に’・ダ入4るための孔403を有し、プE’i
−ブkrツノ向に所定の14.ぎの中空部を47[る1
−るキャップを設けrあZ)。なお、侵さば開「1部径
の約10倍とすることが好ましい。なお、この長さは第
1実施例で述べたスペクトルの強1aを!jえる式にお
けるLを′jえる。←ヤツ/401は、光線の放射体と
なりうるちのならばよく、たとえばカーボン等よりなる
ものでよい。本例は気体を測定する場合用のプローブで
ある。
炉内ガスはキャップの孔を介してキャンプの中空部長び
プローブの開口部とli1部に一給入される。
プローブの開口部とli1部に一給入される。
一方、放射体とキャンプとなり、キャップからの光線が
]/アズ1′入射する。
]/アズ1′入射する。
本例では測定する気体が炉内雰囲気から隔離されるので
炉内状況が激しく変化していてもその変化の影響を受け
ることなく極めて安定した状態で′AI一定することが
できる。
炉内状況が激しく変化していてもその変化の影響を受け
ることなく極めて安定した状態で′AI一定することが
できる。
なお、第1実施例、第2実施例ともに、管lO8をレン
ズマウントに固定しておげば管108のの炉外の端を操
作することによりレノズマ・”Iノドを反f−力向tご
店動き([ることかできる。
ズマウントに固定しておげば管108のの炉外の端を操
作することによりレノズマ・”Iノドを反f−力向tご
店動き([ることかできる。
[発明の効IP1
本発明によれば、炉内物質の同定・定)−化をili、
7(に行なうことができ、17たが−)で、炉の操業を
適確に行なうことができる。
7(に行なうことができ、17たが−)で、炉の操業を
適確に行なうことができる。
第1図及び’;t’、 214は高炉内な示すための断
面図、第3図(a)及び(c)は高炉内の装入物の分/
H4をノ1りすための断面図である。第第3図(b)は
高炉内のレースウェイを示すモデル図である。第4図は
、実施例に係るプローブの断面図である。第5図はプロ
ーブの中空本体を示す断面図である。第6図はレンズ1
ウント示す断面図である。第V図は第6図のI−I断面
図である。第8図は第6図のIf−II力南向側面図あ
る。第9図は第6図のm−m方向側面図である。第1O
図は第6図の■−■方向側面図〒ある。第11図はプロ
ーブの前方を示す断面図である。第12図は実施例を示
すフローシート図である。第13図はレンズの透過特性
を示すグラフである。第14図は光電変換装置の波長感
度特性を示すグラフである。第15図は赤外線の強度と
波数との関係紮示1グラフである。第16図は蒸着物の
赤外線スペクトルを示すグラフである。第17図は窓材
の赤外線スペクトルを示すグラフである。第18図は吸
収がある場合の波数と出力電圧及び透磁率との関係を小
すグラフである。第19図は吸収がない場合の波数と出
力電圧及び透磁率との関係?示すグラフである。第20
図は他の実施例に係るプローブの断面図である。 (a) (b) 第3図 (C) 18開昭62−49241 (11) 第旧図 第19図 FL【 第20図 −「 電光 有口 1−「 書 昭和60年10月911 、い+w**v*□6あ ヵ !す 1 4G件の表示 昭和60年特請願第190273号 2 発明の名称 炉内物質の同定―定品化方υ、並び
にそれに用いる装置及びプロー ノ 3 補+Eをする名 私性との関係 特許出願人 4 代理人 住所 東京都渋谷ト代々木1−54〜11明細古の発
明の詳細な説明の欄 6 補正の内容 1 明細占第22頁第2行のrl 、0XIOcmHz
WJをrl、0X10 cmH2”2W−’J
と補正する。
面図、第3図(a)及び(c)は高炉内の装入物の分/
H4をノ1りすための断面図である。第第3図(b)は
高炉内のレースウェイを示すモデル図である。第4図は
、実施例に係るプローブの断面図である。第5図はプロ
ーブの中空本体を示す断面図である。第6図はレンズ1
ウント示す断面図である。第V図は第6図のI−I断面
図である。第8図は第6図のIf−II力南向側面図あ
る。第9図は第6図のm−m方向側面図である。第1O
図は第6図の■−■方向側面図〒ある。第11図はプロ
ーブの前方を示す断面図である。第12図は実施例を示
すフローシート図である。第13図はレンズの透過特性
を示すグラフである。第14図は光電変換装置の波長感
度特性を示すグラフである。第15図は赤外線の強度と
波数との関係紮示1グラフである。第16図は蒸着物の
赤外線スペクトルを示すグラフである。第17図は窓材
の赤外線スペクトルを示すグラフである。第18図は吸
収がある場合の波数と出力電圧及び透磁率との関係を小
すグラフである。第19図は吸収がない場合の波数と出
力電圧及び透磁率との関係?示すグラフである。第20
図は他の実施例に係るプローブの断面図である。 (a) (b) 第3図 (C) 18開昭62−49241 (11) 第旧図 第19図 FL【 第20図 −「 電光 有口 1−「 書 昭和60年10月911 、い+w**v*□6あ ヵ !す 1 4G件の表示 昭和60年特請願第190273号 2 発明の名称 炉内物質の同定―定品化方υ、並び
にそれに用いる装置及びプロー ノ 3 補+Eをする名 私性との関係 特許出願人 4 代理人 住所 東京都渋谷ト代々木1−54〜11明細古の発
明の詳細な説明の欄 6 補正の内容 1 明細占第22頁第2行のrl 、0XIOcmHz
WJをrl、0X10 cmH2”2W−’J
と補正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 炉内の観測しようとする位置に、炉内で発生する光
線を炉内から炉外に導き出すためのプローブを挿入し、
該プローブを介して得られた光線を分光器に入射し、該
分光器により該光線を分光し、該分光した光線を光電変
換装置に入射して該光線を電気信号に変換し、該変換さ
れた電気信号を増幅器により増幅した後、適宜の表示手
段により表示することによりスペクトルを得、該スペク
トルから炉内物質の同定及び定量化を行なうことを特徴
とする炉内物質の同定・定量化方法。 2 炉が高炉、転炉、電気炉、燃焼炉、ガス発生炉又ボ
イラーである特許請求の範囲第1項記載の炉内物質の同
定・定量化方法。 3 炉内物質がSiOガスである特許請求の範囲第1項
又は第2項記載の炉内物質の同定・定量化方法。 4 炉内で発生する光線を炉内から光学的に炉外に導き
出すためのプローブと、該プローブに光学的に接続され
た分光器と、該分光器に光学的に接続された光電変換装
置と、該光電変換装置と電気的に接続された増幅器と、
該増幅器に電気的に接続された表示手段とを有すること
を特徴とする炉内物質の同定・定量化に用いる装置。 5 内部が中空の中空本体と、先端にレンズが収納され
、該レンズから該レンズの焦点距離離れた位置に該レン
ズにより集光された光線を炉外に導びくための光学的手
段を設けてあるレンズマウントとを有し、該レンズが、
該中空本体の先端から適宜の位置にくるように該レンズ
マウントを該中空本体の中空部に長手方向に摺動可能に
嵌装し、該レンズマウントの適宜の位置に、外部に連通
し、該レンズ前面にガスを噴射し得る開口を設け、該レ
ンズマウントを後方に摺動させたときには該中空本体の
先端開口部と連通し、該レンズマウントを前方に摺動さ
せたときには、該中空本体の先端開口部との連通が遮断
される気体通路を該レンズマウントの適宜の位置に設け
たことを特徴とする炉内物質の同定・定量化方法に用い
るプローブ。 6 光学的手段が光ファイバー又はリレーレンズである
特許請求の範囲第5項記載の炉内物質の同定・定量化方
法に用いるプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60190273A JPS6249241A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 炉内物質のスペクトル分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60190273A JPS6249241A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 炉内物質のスペクトル分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6249241A true JPS6249241A (ja) | 1987-03-03 |
JPH0441942B2 JPH0441942B2 (ja) | 1992-07-09 |
Family
ID=16255409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60190273A Granted JPS6249241A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 炉内物質のスペクトル分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6249241A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2451279A (en) * | 2007-07-26 | 2009-01-28 | Siemens Vai Metals Tech Ltd | Apparatus for gas sampling comprising an inert gas atmosphere in the region of the port |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5819419A (ja) * | 1981-07-25 | 1983-02-04 | Nippon Steel Corp | 高炉炉内状況の判定方法 |
JPS58136755U (ja) * | 1982-03-09 | 1983-09-14 | 株式会社堀場製作所 | 赤外線輻射式高温排ガス測定装置 |
JPS5981540A (ja) * | 1982-10-30 | 1984-05-11 | Nippon Steel Corp | 溶融金属の直接発光分光分析装置 |
-
1985
- 1985-08-29 JP JP60190273A patent/JPS6249241A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5819419A (ja) * | 1981-07-25 | 1983-02-04 | Nippon Steel Corp | 高炉炉内状況の判定方法 |
JPS58136755U (ja) * | 1982-03-09 | 1983-09-14 | 株式会社堀場製作所 | 赤外線輻射式高温排ガス測定装置 |
JPS5981540A (ja) * | 1982-10-30 | 1984-05-11 | Nippon Steel Corp | 溶融金属の直接発光分光分析装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2451279A (en) * | 2007-07-26 | 2009-01-28 | Siemens Vai Metals Tech Ltd | Apparatus for gas sampling comprising an inert gas atmosphere in the region of the port |
GB2451279B (en) * | 2007-07-26 | 2009-10-14 | Siemens Vai Metals Tech Ltd | Remote gas sampling cartridge |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0441942B2 (ja) | 1992-07-09 |
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