JPS5943374A - 二次電子増倍管の利得検出器 - Google Patents
二次電子増倍管の利得検出器Info
- Publication number
- JPS5943374A JPS5943374A JP57152611A JP15261182A JPS5943374A JP S5943374 A JPS5943374 A JP S5943374A JP 57152611 A JP57152611 A JP 57152611A JP 15261182 A JP15261182 A JP 15261182A JP S5943374 A JPS5943374 A JP S5943374A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- converter
- secondary electron
- electron multiplier
- gain
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/24—Testing of discharge tubes
- G01R31/25—Testing of vacuum tubes
- G01R31/252—Testing of electron multipliers, e.g. photo-multipliers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/30—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、たとえば質量分析装置、イオンマイクロアナ
ライザ等に使用される二次電子増倍管の利得検出器に関
する。
ライザ等に使用される二次電子増倍管の利得検出器に関
する。
従来、二次電子増倍管の利得は、予め使用初期に実測定
を行ない、実験的に得られた概略利得を知るしかその術
がなく、実際の使用状態において利得の低下が見られた
時（これは必然的に生ずる）、その低下がどの程度変化
したか否か正確に知ることができなかった。
を行ない、実験的に得られた概略利得を知るしかその術
がなく、実際の使用状態において利得の低下が見られた
時（これは必然的に生ずる）、その低下がどの程度変化
したか否か正確に知ることができなかった。
このため、たとえば質量分析装置において、クロマトグ
ラフの強度に応じて二次電子増倍管の利得を制御し、イ
オン検出の実質的ダイナミックレンジを向上せんとする
場合にも、基準となる利得の正確な値が把握できないた
めに、その実現が困難となっていた。
ラフの強度に応じて二次電子増倍管の利得を制御し、イ
オン検出の実質的ダイナミックレンジを向上せんとする
場合にも、基準となる利得の正確な値が把握できないた
めに、その実現が困難となっていた。
本発明の目的は、イオン検出の実質的ダイナミックレン
ジを向上し得る二次電子増倍管の利得検出器を提供する
ものである。
ジを向上し得る二次電子増倍管の利得検出器を提供する
ものである。
このような目的を達成するために、本発明は、二次電子
増倍管の利得と高圧印加電圧の基準信号の関係を、特定
のピークの強度の変化とその時の基準信号の関係から、
測定前に予め求め、それをメモリ上にテーブル値として
記憶させておくようにしたものである。
増倍管の利得と高圧印加電圧の基準信号の関係を、特定
のピークの強度の変化とその時の基準信号の関係から、
測定前に予め求め、それをメモリ上にテーブル値として
記憶させておくようにしたものである。
以下、実施例を用いて本発明を詳細に説明する。
第１図は本発明による二次電子増倍管の利得検出器の一
実施例を示すブロック図である。同図において、二次電
子増倍管１があり、この二次電子増倍管１には高電圧電
源２から通常０〜−３ｋＶの高圧が印加され、その電圧
によって利得が決定されるようになっている。高電圧電
源２の出力は基準信号発生用Ｄ／Ａコンバータ３の出力
信号によって決定されるようになっており、このＤ／Ａ
コンバータ３の入力ディジタル信号はコンピュータ制御
部６から送出されるようになっている。一方、二次電子
増倍管１の出力電流は電流検出器４によって電圧変換さ
れ、Ａ／Ｄコンバータ５によってディジタル化された後
、コンピュータ制御部６に送出されるようになっている
。ここで、電流検出器４は、第２図に示すような構成か
らなり、たとえば、検出電流が１０−６Ａを越えると、
増幅器出力が飽和し検出ができないようになっている。
実施例を示すブロック図である。同図において、二次電
子増倍管１があり、この二次電子増倍管１には高電圧電
源２から通常０〜−３ｋＶの高圧が印加され、その電圧
によって利得が決定されるようになっている。高電圧電
源２の出力は基準信号発生用Ｄ／Ａコンバータ３の出力
信号によって決定されるようになっており、このＤ／Ａ
コンバータ３の入力ディジタル信号はコンピュータ制御
部６から送出されるようになっている。一方、二次電子
増倍管１の出力電流は電流検出器４によって電圧変換さ
れ、Ａ／Ｄコンバータ５によってディジタル化された後
、コンピュータ制御部６に送出されるようになっている
。ここで、電流検出器４は、第２図に示すような構成か
らなり、たとえば、検出電流が１０−６Ａを越えると、
増幅器出力が飽和し検出ができないようになっている。
そこで、この時Ｄ／Ａコンバータ３のディジタル入力値
を減少させ、二次電子増倍管１の利得を低下させる必要
が生ずるが、このために、ディジタル入力値と二次電子
増倍管の利得の関係が明確であることが要求される。し
たがって、特定の質量数を捕捉する手段８（具体的には
磁場の設定、あるいは加速電圧の設定手段等）が設けら
れ、その特定の質量数ピークの強度、すなわちＡ／Ｄ変
換器５の出力が、Ｄ／Ａコンバータ３の入力ディジタル
値によってどの様に変化するかを、コンピュ−タ制御部
６によってＤ／Ａコンバータ３の入力ディジタル値を逐
一変化する毎にＡ／Ｄ変換器の出力を読み取り調べるこ
とができるようになっている。そして、その結果得られ
る第３図に示すような相関関係をメモリ中にテーブルと
して格納されている。なお、二次電子増倍管の利得は、
径時的に変化するので試料測定前に上記テーブルを作製
しでおけば、容易にイオン検出系のダイナミックレンジ
を拡大することができる。
を減少させ、二次電子増倍管１の利得を低下させる必要
が生ずるが、このために、ディジタル入力値と二次電子
増倍管の利得の関係が明確であることが要求される。し
たがって、特定の質量数を捕捉する手段８（具体的には
磁場の設定、あるいは加速電圧の設定手段等）が設けら
れ、その特定の質量数ピークの強度、すなわちＡ／Ｄ変
換器５の出力が、Ｄ／Ａコンバータ３の入力ディジタル
値によってどの様に変化するかを、コンピュ−タ制御部
６によってＤ／Ａコンバータ３の入力ディジタル値を逐
一変化する毎にＡ／Ｄ変換器の出力を読み取り調べるこ
とができるようになっている。そして、その結果得られ
る第３図に示すような相関関係をメモリ中にテーブルと
して格納されている。なお、二次電子増倍管の利得は、
径時的に変化するので試料測定前に上記テーブルを作製
しでおけば、容易にイオン検出系のダイナミックレンジ
を拡大することができる。
以上述べたことから明らかなように、本発明による二次
電子増倍管の利得検出器によれば、二次電子増倍管の往
時変化に関係なく、イオン検出部のダイナミックレンジ
を正確にあげることができるようになる。
電子増倍管の利得検出器によれば、二次電子増倍管の往
時変化に関係なく、イオン検出部のダイナミックレンジ
を正確にあげることができるようになる。
第１図は本発明による二次電子増倍管の利得検出器の一
実施例を示すブロック図、第２図は前記利得検出器の電
流検出器の一実施例を示す構成図、第３図はメモリに格
納されるデータの説明図を示す。 １・・・二次電子増倍管、２・・・高電圧電源、３・・
・Ｄ／Ａコンバータ、４・・・電流検出器、５・・・Ａ
／Ｄ変換器、６・・・コンピュータ制御部。 静１間 パ−＼
実施例を示すブロック図、第２図は前記利得検出器の電
流検出器の一実施例を示す構成図、第３図はメモリに格
納されるデータの説明図を示す。 １・・・二次電子増倍管、２・・・高電圧電源、３・・
・Ｄ／Ａコンバータ、４・・・電流検出器、５・・・Ａ
／Ｄ変換器、６・・・コンピュータ制御部。 静１間 パ−＼
Claims (1)
- １、二次電子増倍管およびこの二次電子増倍管に印加す
る高圧電源、この高圧電源を制御するための基準信号発
生器とを備えたものにおいて、前記基準信号発生用とし
てＤ／Ａコンバータを設け、このＤ／Ａコンバータの入
力ディジタル値と二次電子増倍管の利得あるいは二次電
子増倍管の出力電流検出値の相関テーブルをメモリテー
ブルに予め設け、必要に応じて読出し可能としたことを
特徴とする二次電子増倍管の利得検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57152611A JPS5943374A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 二次電子増倍管の利得検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57152611A JPS5943374A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 二次電子増倍管の利得検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5943374A true JPS5943374A (ja) | 1984-03-10 |
| JPH0234430B2 JPH0234430B2 (ja) | 1990-08-03 |
Family
ID=15544173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57152611A Granted JPS5943374A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 二次電子増倍管の利得検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5943374A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002162294A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
| JP2012515412A (ja) * | 2009-01-12 | 2012-07-05 | アデイクセン・バキユーム・プロダクト | 高ダイナミック入力信号の測定処理デバイス、対応する漏洩検出器、および測定処理方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0586886U (ja) * | 1992-04-30 | 1993-11-22 | 川崎汽船株式会社 | ブロッコリー包装容器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56111571U (ja) * | 1980-01-25 | 1981-08-28 |
-
1982
- 1982-09-03 JP JP57152611A patent/JPS5943374A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56111571U (ja) * | 1980-01-25 | 1981-08-28 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
| JP2002162294A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JP2012515412A (ja) * | 2009-01-12 | 2012-07-05 | アデイクセン・バキユーム・プロダクト | 高ダイナミック入力信号の測定処理デバイス、対応する漏洩検出器、および測定処理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0234430B2 (ja) | 1990-08-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4766312A (en) | Methods and apparatus for detecting negative ions from a mass spectrometer | |
| JPS5943374A (ja) | 二次電子増倍管の利得検出器 | |
| JPS5780649A (en) | Electron ray energy analyzer | |
| JP2000082439A (ja) | 飛行時間型質量分析計 | |
| KR970030035A (ko) | 개선된 질량 분석장치와 라디칼 측정 방법 | |
| JPS635859B2 (ja) | ||
| US4686466A (en) | Method for automatically setting the voltage resolution in particle beam measuring devices and apparatus for implementation thereof | |
| JPH11213941A (ja) | 質量分析システム | |
| JPH0447945B2 (ja) | ||
| JPS6350749A (ja) | 四重極形質量分析計 | |
| JPH05157847A (ja) | ランダムパルス計測装置およびその計測装置を備えた放射線計測装置 | |
| JPS5638761A (en) | Setting of magnetic field in mass spectrometer | |
| JPS6233246Y2 (ja) | ||
| SU1583994A1 (ru) | Устройство дл измерени давлени в электровакуумном приборе | |
| JPH0211977B2 (ja) | ||
| JPS6241377B2 (ja) | ||
| JPS5816595B2 (ja) | 質量分析装置 | |
| JPS592404B2 (ja) | Ａｇｃ アンプ | |
| JPS5914860B2 (ja) | 質量分析管のパルス又は交流変調自動補正方法 | |
| SU849113A1 (ru) | Устройство дл измерени запираю-щЕгО НАпР жЕНи элЕКТРОВАКууМНыХпРибОРОВ | |
| JPS5958345A (ja) | 濃度測定装置 | |
| JPH0731496Y2 (ja) | Ｉｃｐ質量分析装置 | |
| JPS5999348A (ja) | 質量分析計のマスマ−カ回路 | |
| JPH046741A (ja) | 質量分析計のイオン検出器 | |
| Bovet et al. | Turn by turn observation of the vertical size of LEP bunches with an x-ray detector |