JP2002162294A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光電子増倍管の検出感度を適切に設定し、高
い精度で透過率（又は吸光度）を算出する。 【解決手段】 試料側信号及び参照側信号が得られる周
期単位で、光検出器への印加電圧Ｖ１〜Ｖ３を示すデー
タと、それに対応して光検出器から得られる信号をデジ
タル値に変換したデータＤ11〜Ｄ46とをメモリに格納し
ておき、それら過去のデータから、次の周期Ｔ４におけ
る適切な印加電圧Ｖ４を算出する。周期Ｔ４の１周期内
では印加電圧Ｖ４を維持する。これによれば、１周期期
間内の検出感度が一定になり、しかも、印加電圧は過去
の状態に基づいて推定される適切な値であるため、透過
率等を精度よく計算することができる。
い精度で透過率（又は吸光度）を算出する。 【解決手段】 試料側信号及び参照側信号が得られる周
期単位で、光検出器への印加電圧Ｖ１〜Ｖ３を示すデー
タと、それに対応して光検出器から得られる信号をデジ
タル値に変換したデータＤ11〜Ｄ46とをメモリに格納し
ておき、それら過去のデータから、次の周期Ｔ４におけ
る適切な印加電圧Ｖ４を算出する。周期Ｔ４の１周期内
では印加電圧Ｖ４を維持する。これによれば、１周期期
間内の検出感度が一定になり、しかも、印加電圧は過去
の状態に基づいて推定される適切な値であるため、透過
率等を精度よく計算することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定光を光検出器
で検出する、紫外可視分光光度計や蛍光分光光度計など
の分光光度計に関し、更に詳しくは、光電子増倍管な
ど、外部からの印加電圧に応じて検出感度（増幅率）が
変更可能である光検出器を用いた分光光度計に関する。
で検出する、紫外可視分光光度計や蛍光分光光度計など
の分光光度計に関し、更に詳しくは、光電子増倍管な
ど、外部からの印加電圧に応じて検出感度（増幅率）が
変更可能である光検出器を用いた分光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えばダブルビーム型の紫外可視分光光
度計では、光源から発した光を分光器に導入して特定波
長の単色光を取り出し、この単色光を回転するセクタ鏡
などにより試料側光束及び参照側光束の２光束に交互に
振り分ける。各光束はそれぞれ試料セル及び参照セルを
通過したあとに１つの光検出器に入射され、そこで光電
変換されて、試料側光束信号ｓ及び参照側光束信号ｒと
して取り出される。セクタ鏡には、回転に伴って試料側
光束及び参照側光束の一部期間をそれぞれ遮光する遮光
部が設けられており、この個所に対応した光検出器出力
が試料側暗信号ｚ ｓ及び参照側暗信号ｚｒとなる。そし
て、試料側光束信号ｓ、参照側光束信号ｒ、試料側暗信
号ｚｓ及び参照側暗信号ｚｒを用い、次式により透過率
が測定結果として求まる。 透過率（％）＝〔（ｓ−ｚｓ）／（ｒ−ｚｒ）〕×１００ …(1)
度計では、光源から発した光を分光器に導入して特定波
長の単色光を取り出し、この単色光を回転するセクタ鏡
などにより試料側光束及び参照側光束の２光束に交互に
振り分ける。各光束はそれぞれ試料セル及び参照セルを
通過したあとに１つの光検出器に入射され、そこで光電
変換されて、試料側光束信号ｓ及び参照側光束信号ｒと
して取り出される。セクタ鏡には、回転に伴って試料側
光束及び参照側光束の一部期間をそれぞれ遮光する遮光
部が設けられており、この個所に対応した光検出器出力
が試料側暗信号ｚ ｓ及び参照側暗信号ｚｒとなる。そし
て、試料側光束信号ｓ、参照側光束信号ｒ、試料側暗信
号ｚｓ及び参照側暗信号ｚｒを用い、次式により透過率
が測定結果として求まる。 透過率（％）＝〔（ｓ−ｚｓ）／（ｒ−ｚｒ）〕×１００ …(1)
【０００３】このような分光光度計では、光検出器とし
て光電子増倍管が用いられることが多い。光電子増倍管
では、多数段設けられたダイノードに印加する電圧を変
えることにより検出感度（電子の増倍率）を調整するこ
とができる。分光測定において、良好なＳ／Ｎ比を確保
すると共に大きなダイナミックレンジを得るためには、
後段の増幅器やアナログ−デジタル変換器のダイナミッ
クレンジの制限を受けない範囲で、光電子増倍管におい
てできるだけ大きな検出感度を設定することが望まし
い。
て光電子増倍管が用いられることが多い。光電子増倍管
では、多数段設けられたダイノードに印加する電圧を変
えることにより検出感度（電子の増倍率）を調整するこ
とができる。分光測定において、良好なＳ／Ｎ比を確保
すると共に大きなダイナミックレンジを得るためには、
後段の増幅器やアナログ−デジタル変換器のダイナミッ
クレンジの制限を受けない範囲で、光電子増倍管におい
てできるだけ大きな検出感度を設定することが望まし
い。
【０００４】そこで、このような目的を達成するため
に、光検出器（光電子増倍管）の検出出力に応じて該光
検出器への印加電圧を制御しその検出感度を調整する、
というフィードバック制御が従来より採用されている。
具体的には、光検出器で得られる参照側光束信号が一定
となるように、試料側光束信号と参照側光束信号との和
が一定となるように、或いは、試料側光束信号と参照側
光束信号とのいずれか大きいほうの信号が一定となるよ
うに、光検出器への印加電圧を変化させるという制御が
知られている。
に、光検出器（光電子増倍管）の検出出力に応じて該光
検出器への印加電圧を制御しその検出感度を調整する、
というフィードバック制御が従来より採用されている。
具体的には、光検出器で得られる参照側光束信号が一定
となるように、試料側光束信号と参照側光束信号との和
が一定となるように、或いは、試料側光束信号と参照側
光束信号とのいずれか大きいほうの信号が一定となるよ
うに、光検出器への印加電圧を変化させるという制御が
知られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
分光光度計では、上述したようなフィードバック制御が
常に機能しているため、次のような問題が生じる。すな
わち、例えば測定中に光源光量が変動すると、これに応
じて光検出器への印加電圧が速やかに変化される。この
ような変化はセクタ鏡の回転とは無関係に行われるか
ら、光検出器での検出感度が、上記(1)式で透過率を算
出するための試料側光束信号ｓと参照側光束信号ｒとを
取得する際で互いに相違するということが起こり得る。
光電子増倍管では、検出感度は印加電圧の６〜１０乗に
比例するため、たとえ僅かな印加電圧の変化であっても
精密な測定にとって無視できないものとなる。
分光光度計では、上述したようなフィードバック制御が
常に機能しているため、次のような問題が生じる。すな
わち、例えば測定中に光源光量が変動すると、これに応
じて光検出器への印加電圧が速やかに変化される。この
ような変化はセクタ鏡の回転とは無関係に行われるか
ら、光検出器での検出感度が、上記(1)式で透過率を算
出するための試料側光束信号ｓと参照側光束信号ｒとを
取得する際で互いに相違するということが起こり得る。
光電子増倍管では、検出感度は印加電圧の６〜１０乗に
比例するため、たとえ僅かな印加電圧の変化であっても
精密な測定にとって無視できないものとなる。
【０００６】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その主たる目的は、測定中の一時
的な光源光量の変動や光検出器の出力信号の急激な変動
の影響を受けずに、高い精度で吸光度や透過率などを算
出することができる分光光度計を提供することにある。
成されたものであり、その主たる目的は、測定中の一時
的な光源光量の変動や光検出器の出力信号の急激な変動
の影響を受けずに、高い精度で吸光度や透過率などを算
出することができる分光光度計を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、光源と、分光器と、検出感度が外
部からの印加電圧に応じて変更可能である光検出器とを
有し、該光検出器で得られた信号を基に、所定周期毎に
吸光度又はこれに相当する値を算出する分光光度計にお
いて、 a)前記光検出器に電圧を印加する電圧発生手段と、 b)過去に前記光検出器に印加された電圧と、それに応じ
て該光検出器で得られた信号とを対応付けて記憶してお
く記憶手段と、 c)該記憶手段の記憶内容に基づいて、１乃至複数の前記
周期単位で前記印加電圧を変更すべく前記電圧発生手段
を制御する電圧制御手段と、を備えたことを特徴として
いる。
に成された本発明は、光源と、分光器と、検出感度が外
部からの印加電圧に応じて変更可能である光検出器とを
有し、該光検出器で得られた信号を基に、所定周期毎に
吸光度又はこれに相当する値を算出する分光光度計にお
いて、 a)前記光検出器に電圧を印加する電圧発生手段と、 b)過去に前記光検出器に印加された電圧と、それに応じ
て該光検出器で得られた信号とを対応付けて記憶してお
く記憶手段と、 c)該記憶手段の記憶内容に基づいて、１乃至複数の前記
周期単位で前記印加電圧を変更すべく前記電圧発生手段
を制御する電圧制御手段と、を備えたことを特徴として
いる。
【０００８】
【発明の実施の形態、及び効果】この発明に係る分光光
度計では、或る時点で光検出器の信号が変化したとき、
その変化に応じて光検出器への印加電圧が直ちに変更さ
れるのではなく、早くとも次の周期の始めから印加電圧
が変更される。そして、電圧制御手段は、少なくともそ
の周期中は同一の印加電圧が保持されるように電圧発生
手段を制御する。なお、ここでいう所定周期とは、例え
ばダブルビーム方式の場合には、吸光度や透過率を計算
するために必要な試料側信号と参照側信号とが揃う最小
の時間単位である。
度計では、或る時点で光検出器の信号が変化したとき、
その変化に応じて光検出器への印加電圧が直ちに変更さ
れるのではなく、早くとも次の周期の始めから印加電圧
が変更される。そして、電圧制御手段は、少なくともそ
の周期中は同一の印加電圧が保持されるように電圧発生
手段を制御する。なお、ここでいう所定周期とは、例え
ばダブルビーム方式の場合には、吸光度や透過率を計算
するために必要な試料側信号と参照側信号とが揃う最小
の時間単位である。
【０００９】本発明に係る分光光度計によれば、少なく
とも１周期期間の測定の間には光検出器への印加電圧が
変化しないため、光検出器での検出感度が一定に維持さ
れる。したがって、例えばダブルビーム方式の場合に
は、試料側信号と参照側信号との測定条件が同一とな
り、これらを基に算出される吸光度や透過率などの値の
精度を高めることができる。
とも１周期期間の測定の間には光検出器への印加電圧が
変化しないため、光検出器での検出感度が一定に維持さ
れる。したがって、例えばダブルビーム方式の場合に
は、試料側信号と参照側信号との測定条件が同一とな
り、これらを基に算出される吸光度や透過率などの値の
精度を高めることができる。
【００１０】また、上記電圧制御手段は、デジタル的に
演算を行って印加電圧に対応する値を算出する演算手段
と、その演算結果をアナログ信号に変換するデジタル−
アナログ変換手段とを含み、そのアナログ値を上記電圧
発生手段に与える構成とすることができる。
演算を行って印加電圧に対応する値を算出する演算手段
と、その演算結果をアナログ信号に変換するデジタル−
アナログ変換手段とを含み、そのアナログ値を上記電圧
発生手段に与える構成とすることができる。
【００１１】この構成によれば、１周期の期間内で、電
圧発生手段に対して一定の電圧値を与えることができる
ので、例えばコンデンサなどを利用して電圧を保持する
場合に比較して、印加電圧の安定性を高めることがで
き、光検出器の動作条件が安定する。これにより、一
層、高い精度で測定を行うことができる。更にまた、よ
り複雑な印加電圧の制御が行えるので、ダイナミックレ
ンジを一層大きくしたりＳ／Ｎ比を一層改善したりする
ことができる。
圧発生手段に対して一定の電圧値を与えることができる
ので、例えばコンデンサなどを利用して電圧を保持する
場合に比較して、印加電圧の安定性を高めることがで
き、光検出器の動作条件が安定する。これにより、一
層、高い精度で測定を行うことができる。更にまた、よ
り複雑な印加電圧の制御が行えるので、ダイナミックレ
ンジを一層大きくしたりＳ／Ｎ比を一層改善したりする
ことができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明に係る分光光度計の一実施例で
あるダブルビーム型分光光度計について、図面を参照し
て説明する。図１は本実施例の分光光度計の光路構成
図、図２は本分光光度計の信号処理部の要部の構成図で
ある。
あるダブルビーム型分光光度計について、図面を参照し
て説明する。図１は本実施例の分光光度計の光路構成
図、図２は本分光光度計の信号処理部の要部の構成図で
ある。
【００１３】図１において、光源１から発した光は分光
器２に入射され、ここで所望の波長を有する単色光が取
り出される。この単色光は反射鏡３によりセクタ鏡４に
送られ、セクタ鏡４により試料側光束Ｓと参照側光束Ｒ
の２光束に分割される。また、セクタ鏡４には光の遮蔽
部が設けられており、試料側光束Ｓ及び参照側光束Ｒの
発生期間と交互に遮光期間が発生するようにしている。
試料側光束Ｓは反射鏡５を経て試料セル６に照射され、
試料セル６を通過した光は反射鏡９、１１を経て光電子
増倍管である光検出器１２の受光面に送られる。他方、
参照側光束Ｒは反射鏡７を経て参照セル８に照射され、
参照セル８を通過した光は反射鏡１０を経て光検出器１
２の受光面に送られる。
器２に入射され、ここで所望の波長を有する単色光が取
り出される。この単色光は反射鏡３によりセクタ鏡４に
送られ、セクタ鏡４により試料側光束Ｓと参照側光束Ｒ
の２光束に分割される。また、セクタ鏡４には光の遮蔽
部が設けられており、試料側光束Ｓ及び参照側光束Ｒの
発生期間と交互に遮光期間が発生するようにしている。
試料側光束Ｓは反射鏡５を経て試料セル６に照射され、
試料セル６を通過した光は反射鏡９、１１を経て光電子
増倍管である光検出器１２の受光面に送られる。他方、
参照側光束Ｒは反射鏡７を経て参照セル８に照射され、
参照セル８を通過した光は反射鏡１０を経て光検出器１
２の受光面に送られる。
【００１４】図２において、光検出器１２の出力信号は
増幅器１３により増幅されたあと、アナログ−デジタル
（Ａ／Ｄ）変換器１４により一定時間間隔でサンプリン
グされてデジタル電圧値に変換される。このデジタルデ
ータはデータバス１５を介してメモリ１７に格納され
る。インデクス信号発生部２０は、所定速度で回転駆動
されるセクタ鏡４の回転に同期して、１回転に１パルス
のインデクス信号ＩＤＸを発生する。例えば、このセク
タ鏡４の回転周期は電源周波数に同期した周波数とさ
れ、５０Ｈｚ又は６０Ｈｚ、或いはその２倍又は１／２
といった周波数が採用される。ＣＰＵ１６は、インデク
ス信号ＩＤＸを受けてメモリ１７の書込みアドレスを制
御すると共に、メモリ１７の読出しアドレスを制御して
所望のデータを読み出し、そのデータを用いて各種演算
処理を実行する。高電圧発生部２２は、Ｄ／Ａ変換器２
１を介してＣＰＵ１６から与えられる指示信号に基づい
て、光検出器１２に高電圧を印加する。光検出器１２の
検出感度はこの印加電圧により定まる。
増幅器１３により増幅されたあと、アナログ−デジタル
（Ａ／Ｄ）変換器１４により一定時間間隔でサンプリン
グされてデジタル電圧値に変換される。このデジタルデ
ータはデータバス１５を介してメモリ１７に格納され
る。インデクス信号発生部２０は、所定速度で回転駆動
されるセクタ鏡４の回転に同期して、１回転に１パルス
のインデクス信号ＩＤＸを発生する。例えば、このセク
タ鏡４の回転周期は電源周波数に同期した周波数とさ
れ、５０Ｈｚ又は６０Ｈｚ、或いはその２倍又は１／２
といった周波数が採用される。ＣＰＵ１６は、インデク
ス信号ＩＤＸを受けてメモリ１７の書込みアドレスを制
御すると共に、メモリ１７の読出しアドレスを制御して
所望のデータを読み出し、そのデータを用いて各種演算
処理を実行する。高電圧発生部２２は、Ｄ／Ａ変換器２
１を介してＣＰＵ１６から与えられる指示信号に基づい
て、光検出器１２に高電圧を印加する。光検出器１２の
検出感度はこの印加電圧により定まる。
【００１５】図３及び図４は本分光光度計の動作を説明
するための図であり、図３はセクタ鏡４の１回転期間
（これを１周期（Ｔ）とする）のタイミング図、図４は
複数周期期間に亘る動作説明図である。
するための図であり、図３はセクタ鏡４の１回転期間
（これを１周期（Ｔ）とする）のタイミング図、図４は
複数周期期間に亘る動作説明図である。
【００１６】図３（ｂ）、（ｃ）に示すように、１周期
Ｔの期間中、光検出器１２は、試料側光束Ｓの遮光期間
に対応する試料側暗信号、試料側光束Ｓの入射期間に対
応する試料側光束信号、参照側光束Ｒの遮光期間に対応
する参照側暗信号、及び、参照側光束Ｒの入射期間に対
応する参照側光束信号を順次出力する。図３（ｄ）に示
すように、Ａ／Ｄ変換器１４でのサンプリング周期は周
期Ｔに比べて遙かに短い。そのため、図３（ｅ）に示す
ように、Ａ／Ｄ変換器１４の出力データ（以下「検出値
データ」という）は、１周期Ｔ期間における上記各信号
に対してそれぞれ多数（本例では６個ずつ）得られるこ
とになる。例えばこのような測定時に光源１の光量が一
時的に変動すると、図３（ｃ）中に点線で示したように
検出出力が変動する。
Ｔの期間中、光検出器１２は、試料側光束Ｓの遮光期間
に対応する試料側暗信号、試料側光束Ｓの入射期間に対
応する試料側光束信号、参照側光束Ｒの遮光期間に対応
する参照側暗信号、及び、参照側光束Ｒの入射期間に対
応する参照側光束信号を順次出力する。図３（ｄ）に示
すように、Ａ／Ｄ変換器１４でのサンプリング周期は周
期Ｔに比べて遙かに短い。そのため、図３（ｅ）に示す
ように、Ａ／Ｄ変換器１４の出力データ（以下「検出値
データ」という）は、１周期Ｔ期間における上記各信号
に対してそれぞれ多数（本例では６個ずつ）得られるこ
とになる。例えばこのような測定時に光源１の光量が一
時的に変動すると、図３（ｃ）中に点線で示したように
検出出力が変動する。
【００１７】従来の分光光度計では、このような検出出
力の変動を受けて光検出器１２への印加電圧が変化する
ため、光検出器１２の検出感度が変わってしまう。これ
に対し、本実施例の分光光度計では、次のようにして光
検出器１２への印加電圧を制御している。すなわち、本
分光光度計では、基本的に、ＣＰＵ１６が光検出器１２
への印加電圧の値を決定し、しかも、その印加電圧は上
記１周期Ｔ期間中は一定であるように、換言すれば周期
Ｔ単位でのみ変更されるように制御される。
力の変動を受けて光検出器１２への印加電圧が変化する
ため、光検出器１２の検出感度が変わってしまう。これ
に対し、本実施例の分光光度計では、次のようにして光
検出器１２への印加電圧を制御している。すなわち、本
分光光度計では、基本的に、ＣＰＵ１６が光検出器１２
への印加電圧の値を決定し、しかも、その印加電圧は上
記１周期Ｔ期間中は一定であるように、換言すれば周期
Ｔ単位でのみ変更されるように制御される。
【００１８】本実施例では、１周期Ｔ期間中に、図３
（ｅ）に示すＤ11〜Ｄ16、Ｄ21〜Ｄ26、Ｄ31〜Ｄ36、Ｄ
41〜Ｄ46なる検出値データがメモリ１７に格納される
（図４（ｄ）参照）。ここで、Ｄ11〜Ｄ16、Ｄ21〜Ｄ2
6、Ｄ31〜Ｄ36、及びＤ41〜Ｄ46は、各周期毎に、試料
側暗信号ｚｓ、試料側光束信号ｓ、参照側暗信号ｚｒ、
参照側光束信号ｒにそれぞれ対応する検出値データであ
る。更にメモリ１７には、その周期毎の印加電圧の値
（例えば周期Ｔ１ではＶ１、周期Ｔ２ではＶ２）又はこ
れに相当する値がデータとして格納される（以下、これ
を「印加電圧値データ」という）。
（ｅ）に示すＤ11〜Ｄ16、Ｄ21〜Ｄ26、Ｄ31〜Ｄ36、Ｄ
41〜Ｄ46なる検出値データがメモリ１７に格納される
（図４（ｄ）参照）。ここで、Ｄ11〜Ｄ16、Ｄ21〜Ｄ2
6、Ｄ31〜Ｄ36、及びＤ41〜Ｄ46は、各周期毎に、試料
側暗信号ｚｓ、試料側光束信号ｓ、参照側暗信号ｚｒ、
参照側光束信号ｒにそれぞれ対応する検出値データであ
る。更にメモリ１７には、その周期毎の印加電圧の値
（例えば周期Ｔ１ではＶ１、周期Ｔ２ではＶ２）又はこ
れに相当する値がデータとして格納される（以下、これ
を「印加電圧値データ」という）。
【００１９】ＣＰＵ１６は時間的に次の周期において光
検出器１２に印加すべき電圧を、上述の如くメモリ１７
に格納されている検出値データ及び印加電圧値データに
基づいて算出する。例えば、図４に示す周期Ｔ３が終了
した時点では、周期Ｔ１〜Ｔ３なる３周期分の検出値デ
ータ及び印加電圧値データを用いて、周期Ｔ４の印加電
圧Ｖ４を決定する。すなわち、これら検出値データ及び
印加電圧値データをメモリ１７から読み出してきて、所
定の演算アルゴリズムに従って最適な印加電圧値を算出
する。この印加電圧値の算出方法としては、従来利用さ
れている方法を含めて各種方法を採ることができる。
検出器１２に印加すべき電圧を、上述の如くメモリ１７
に格納されている検出値データ及び印加電圧値データに
基づいて算出する。例えば、図４に示す周期Ｔ３が終了
した時点では、周期Ｔ１〜Ｔ３なる３周期分の検出値デ
ータ及び印加電圧値データを用いて、周期Ｔ４の印加電
圧Ｖ４を決定する。すなわち、これら検出値データ及び
印加電圧値データをメモリ１７から読み出してきて、所
定の演算アルゴリズムに従って最適な印加電圧値を算出
する。この印加電圧値の算出方法としては、従来利用さ
れている方法を含めて各種方法を採ることができる。
【００２０】具体的な算出方法の一例としては、過去３
周期の各周期毎に、試料側光束信号ｓに対応する検出値
データＤ21〜Ｄ26の平均値、及び参照側光束信号ｒに対
応する検出値データＤ41〜Ｄ46の平均値を計算し、その
両者の加算値の過去の３周期期間の変化率を算出する。
そして、その変化率と各平均値とから次の周期Ｔ４の加
算値を推定し、その推定値と印加電圧値データとから次
の周期Ｔ４に最適な印加電圧を算出する。
周期の各周期毎に、試料側光束信号ｓに対応する検出値
データＤ21〜Ｄ26の平均値、及び参照側光束信号ｒに対
応する検出値データＤ41〜Ｄ46の平均値を計算し、その
両者の加算値の過去の３周期期間の変化率を算出する。
そして、その変化率と各平均値とから次の周期Ｔ４の加
算値を推定し、その推定値と印加電圧値データとから次
の周期Ｔ４に最適な印加電圧を算出する。
【００２１】ＣＰＵ１６はこのようにして算出した印加
電圧値Ｖ４を指示するためのデータをＤ／Ａ変換器２１
に出力し、Ｄ／Ａ変換器２１はこれをアナログ信号に変
換して高電圧発生部２２へと送る。高電圧発生部２２の
このアナログ信号値に応じた高電圧を発生し、光検出器
１２へと印加する。ＣＰＵ１６は周期Ｔ４の１周期期間
中、印加電圧値Ｖ４を保持する。したがって、光検出器
１２への印加電圧は周期Ｔ４の１周期期間中、一定に維
持される。そして、周期Ｔ４が終了すると、ＣＰＵ１６
は、周期Ｔ２〜Ｔ４なる３周期分の検出値データ及び印
加電圧値データを用いて、次なる周期Ｔ５（図４では現
れていない）の印加電圧Ｖ５を決定し、その印加電圧値
Ｖ５がＤ／Ａ変換器２１に出力された時点で始めて光検
出器１２への印加電圧は変更される。
電圧値Ｖ４を指示するためのデータをＤ／Ａ変換器２１
に出力し、Ｄ／Ａ変換器２１はこれをアナログ信号に変
換して高電圧発生部２２へと送る。高電圧発生部２２の
このアナログ信号値に応じた高電圧を発生し、光検出器
１２へと印加する。ＣＰＵ１６は周期Ｔ４の１周期期間
中、印加電圧値Ｖ４を保持する。したがって、光検出器
１２への印加電圧は周期Ｔ４の１周期期間中、一定に維
持される。そして、周期Ｔ４が終了すると、ＣＰＵ１６
は、周期Ｔ２〜Ｔ４なる３周期分の検出値データ及び印
加電圧値データを用いて、次なる周期Ｔ５（図４では現
れていない）の印加電圧Ｖ５を決定し、その印加電圧値
Ｖ５がＤ／Ａ変換器２１に出力された時点で始めて光検
出器１２への印加電圧は変更される。
【００２２】また、ＣＰＵ１６は、メモリ１７に格納さ
れた検出値データを用い、周期Ｔ毎に(1)式に基づいて
透過率（又は吸光度）を算出する。例えば、各周期毎
に、試料側暗信号ｚｓに対応する検出値データＤ11〜Ｄ
16、試料側光束信号ｓに対応する検出値データＤ21〜Ｄ
26、参照側暗信号ｚｒに対応する検出値データＤ31〜Ｄ
36、参照側光束信号ｒに対応する検出値データＤ41〜Ｄ
46について、それぞれの平均値を計算し、これを(1)式
に適用して透過率を求めることができる。それら検出値
データは同一の電圧を印加された光検出器１２で取得さ
れたものであるから、これを基に算出される透過率や吸
光度は高い精度を有する。また、各周期毎に適切な検出
感度が設定されるので、ダイナミックレンジも大きくな
る。
れた検出値データを用い、周期Ｔ毎に(1)式に基づいて
透過率（又は吸光度）を算出する。例えば、各周期毎
に、試料側暗信号ｚｓに対応する検出値データＤ11〜Ｄ
16、試料側光束信号ｓに対応する検出値データＤ21〜Ｄ
26、参照側暗信号ｚｒに対応する検出値データＤ31〜Ｄ
36、参照側光束信号ｒに対応する検出値データＤ41〜Ｄ
46について、それぞれの平均値を計算し、これを(1)式
に適用して透過率を求めることができる。それら検出値
データは同一の電圧を印加された光検出器１２で取得さ
れたものであるから、これを基に算出される透過率や吸
光度は高い精度を有する。また、各周期毎に適切な検出
感度が設定されるので、ダイナミックレンジも大きくな
る。
【００２３】なお、上記実施例は単に一例であって、本
発明の趣旨に沿った範囲で適宜変形や修正を行えること
は明らかである。
発明の趣旨に沿った範囲で適宜変形や修正を行えること
は明らかである。
【００２４】また、本発明は、ダブルビーム型の分光光
度計に適用するのみならず、チョッパやシャッタ等によ
り光を周期的に通過・遮断して光検出器に導入する構成
を有する蛍光分光光度計などにも適用できることは当然
である。
度計に適用するのみならず、チョッパやシャッタ等によ
り光を周期的に通過・遮断して光検出器に導入する構成
を有する蛍光分光光度計などにも適用できることは当然
である。
【図１】 本発明の一実施例であるダブルビーム型分光
光度計の光路構成図。
光度計の光路構成図。
【図２】 本実施例の分光光度計の信号処理部の要部の
構成図。
構成図。
【図３】 本実施例の分光光度計においてセクタ鏡の１
回転期間のタイミング図。
回転期間のタイミング図。
【図４】 本実施例の分光光度計において複数周期期間
に亘る動作説明図。
に亘る動作説明図。
１…光源 ２…分光器 ４…セクタ鏡 ６…試料セル ８…参照セル １１…Ａ／Ｄ変換器 １２…光検出器（光電子増倍管） １３…増幅器 １４…アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器 １５…データバス １６…ＣＰＵ １７…メモリ ２０…インデクス信号発生部 ２１…Ｄ／Ａ変換器 ２２…高電圧発生部 Ｒ…参照側光束 Ｓ…試料側光束
Claims (1)
- 【請求項１】 光源と、分光器と、検出感度が外部から
の印加電圧に応じて変更可能である光検出器とを有し、
該光検出器で得られた信号を基に、所定周期毎に吸光度
又はこれに相当する値を算出する分光光度計において、 a)前記光検出器に電圧を印加する電圧発生手段と、 b)過去に前記光検出器に印加された電圧と、それに応じ
て該光検出器で得られた信号とを対応付けて記憶してお
く記憶手段と、 c)該記憶手段の記憶内容に基づいて、１乃至複数の前記
周期単位で前記印加電圧を変更すべく前記電圧発生手段
を制御する電圧制御手段と、 を備えることを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000360491A JP2002162294A (ja) | 2000-11-28 | 2000-11-28 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000360491A JP2002162294A (ja) | 2000-11-28 | 2000-11-28 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002162294A true JP2002162294A (ja) | 2002-06-07 |
Family
ID=18832081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000360491A Pending JP2002162294A (ja) | 2000-11-28 | 2000-11-28 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002162294A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010156655A (ja) * | 2009-01-05 | 2010-07-15 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| WO2012023496A1 (ja) * | 2010-08-18 | 2012-02-23 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
| CN102841065A (zh) * | 2011-06-21 | 2012-12-26 | 株式会社岛津制作所 | 分光光度计 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55116228A (en) * | 1979-03-02 | 1980-09-06 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
| JPS5943374A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-10 | Hitachi Ltd | 二次電子増倍管の利得検出器 |
| JPS62167440A (ja) * | 1985-11-30 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | 回転スリツト式クロマトスキヤナ |
| JPH10142055A (ja) * | 1996-11-13 | 1998-05-29 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
-
2000
- 2000-11-28 JP JP2000360491A patent/JP2002162294A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55116228A (en) * | 1979-03-02 | 1980-09-06 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
| JPS5943374A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-10 | Hitachi Ltd | 二次電子増倍管の利得検出器 |
| JPS62167440A (ja) * | 1985-11-30 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | 回転スリツト式クロマトスキヤナ |
| JPH10142055A (ja) * | 1996-11-13 | 1998-05-29 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010156655A (ja) * | 2009-01-05 | 2010-07-15 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| WO2012023496A1 (ja) * | 2010-08-18 | 2012-02-23 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
| CN102841065A (zh) * | 2011-06-21 | 2012-12-26 | 株式会社岛津制作所 | 分光光度计 |
| JP2013003090A (ja) * | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| US9068932B2 (en) | 2011-06-21 | 2015-06-30 | Shimadzu Corporation | Spectrophotometer |
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