JP5894530B2 - 分光光度計 - Google Patents
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Description
紫外可視分光光度計160は、試料セル6と、参照セル8と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、光検出器12と、セクタ鏡(切替部、遮光部)40と、複数の反射鏡3、5、7、9、10、11と、光を透過しない筐体15と、光検出器12に印加電圧値Vを印加する高電圧発生部22と、インデクス信号発生部20と、アナログ−デジタル(A/D)変換器14と、デジタル−アナログ(D/A)変換器21と、紫外可視分光光度計160全体を制御するコンピュータ130とを備える。
そして、分析者が筐体15の扉15aを開くことにより、試料セル6や参照セル8を、新たな試料セルや参照セルに交換することができるようになっている。
セクタ鏡40は、単色光を試料側光束Sと参照側光束Rとに交互に一定周期で振り分ける。さらに、セクタ鏡40には、回転に伴って試料側光束Sと参照側光束Rとを一定周期で遮光する遮光部41が設けられており、試料側光束Sの入射期間と試料側光束Sの遮光期間と参照側光束Rの入射期間と参照側光束Rの遮光期間とがこの順に一定周期で発生するようにしている。
インデクス信号発生部20は、所定速度で回転駆動されるセクタ鏡40の回転に同期して、1回転に1パルスのインデクス信号IDXを発生する。例えば、セクタ鏡40の回転周期は電源周波数に同期した周波数とされ、50Hz又は60Hzが採用される。
まず、試料側光束Sは、反射鏡5を経て試料セル6に照射され、試料セル6を通過した光は反射鏡9、11を経て光検出器12の受光面に送られる。光検出器12に送られた光は、光検出器12で光電変換されて、試料側光束信号sとして取り出される。なお、セクタ鏡40には、回転に伴って試料側光束Sを一定周期で遮光する遮光部41が設けられているので、遮光部41に対応した光検出器12の出力強度信号は試料側暗信号zsとなる。そして、光検出器12の出力強度信号は、A/D変換器14により一定時間間隔でサンプリングされてデジタル電圧値(信号値)に変換される。
図2は、セクタ鏡40の1回転の期間(これを1周期(T)とする)のタイミング図であり、図6は、複数周期期間に亘る信号値(デジタル電圧値)と時間との関係の一例を示す図である。
1周期Tの期間中、光検出器12は、試料側光束Sの入射期間に対応する試料側光束信号sと、試料側光束Sの遮光期間に対応する試料側暗信号zsと、参照側光束Rの入射期間に対応する参照側光束信号rと、参照側光束Rの遮光期間に対応する参照側暗信号zrとを順次出力することになる。
なお、A/D変換器14でのサンプリング周期が周期Tに比べて短く、A/D変換器14の出力データ(以下「検出値データ」という)が1周期Tにおける各信号に対してそれぞれ多数(本例では6個ずつ)得られる場合は、D1〜D6、D7〜D12、D13〜D18、及び、D19〜D24は、試料側光束信号s、試料側暗信号zs、参照側光束信号r、参照側暗信号zrにそれぞれ対応する検出値データである。
透過率(%)=〔(s−zs)/(r−zr)〕×100 ・・・(1)
具体的には、各周期毎に、試料側光束信号sに対応する検出値データD1〜D6、試料側暗信号zsに対応する検出値データD7〜D12、参照側光束信号rに対応する検出値データD13〜D18、参照側暗信号zrに対応する検出値データD19〜D24について、それぞれの平均値を計算し、式(1)に代入して透過率を求める。
なお、試料側光束信号sと参照側光束信号rとの光量比が異なる場合は、式(1)の結果にそれを補正するための係数をかける。
このとき、光電子増倍管では、増倍率(印加電圧値V)が高いほど光電子増倍管に入射した光量に応じた電子数をより大きく増幅した電流値を出力できるため、高感度の検出が可能となる。しかし、光電子増倍管は出力される電流の大きさが限界電流値Ithを超えてしまうと劣化する問題がある。
そして、高電圧発生部22は、D/A変換器21を介して電圧制御部131cから与えられる指示信号に基づいて、光検出器12に所定の印加電圧値Vを印加する。
このとき、電圧制御部131cは、算出制御部31bで式(1)を用いて透過率を算出するので、光検出器12への印加電圧値Vは1周期Tの期間中、一定に維持されるようにしている。つまり、1周期T1の期間が終了した後で、電圧制御部131cは次なる1周期T2の印加電圧値V2を決定し、光検出器12への印加電圧値Vを印加電圧値V1から印加電圧値V2に変更するようにしている。
さらに、紫外可視分光光度計160では、1周期Tの期間中、印加電圧値Vを一定に維持した後に、光検出器12への印加電圧値Vを下げるため、限界電流値Ithを超える電流が光検出器12から出力されていても、1周期Tの期間中、電流値が変わらないという問題もあった。
そこで、試料セル6や参照セル8を交換する際に開く筐体15の扉15aに開閉センサを設け、コンピュータ130が扉15aが開いたことを検知し、すなわち外光の入射を検知した際には、光検出器12が劣化しないように、外光入射前に印加電圧値Vを下げることが行われている。その場合、開閉センサを設ける分コストが高くなった。さらに、扉15aに開閉センサを設けても、付属品使用時には開閉センサが働かないため、外光入射を検知できなくなる問題があった。
そこで、本発明は、扉に開閉センサ等を設けることなく、光検出器で得られた出力強度信号によって試料セルを交換する際等の外光の入射を検知することを目的とするものである。
このとき、入射期間の出力強度信号には装置光源からの入射光が含まれるのに対し、遮光期間の出力強度信号には装置光源からの入射光が含まれず装置外からの光しか含まれないため、遮光期間の出力強度信号は全て外光に由来するものとみなすことができる。
本発明の分光光度計によれば、光検出器に外光が入射したことを検知するための閾値I0を記憶している。そして、制御部は、遮光期間の出力強度信号と閾値I0とに基づいて、光検出器に外光が入射したことを検知する。これにより、例えば、出力強度信号がAD変換限界値から基準閾値Ibとなるように印加電圧値Vを下げるのではなく、光検出器への印加電圧値Vを極端に下げたり、1周期Tの期間中、印加電圧値Vを一定に維持せず、速やかに光検出器への印加電圧値Vを下げたり、遮光シャッタを光検出器の前に配置したりすることができる。
紫外可視分光光度計60は、試料セル6と、参照セル8と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、光検出器12と、セクタ鏡(切替部、遮光部)40と、複数の反射鏡3、5、7、9、10、11と、光を透過しない筐体15と、光検出器12に印加電圧値Vを印加する高電圧発生部22と、インデクス信号発生部20と、アナログ−デジタル(A/D)変換器14と、デジタル−アナログ(D/A)変換器21と、紫外可視分光光度計60全体を制御するコンピュータ30とを備える。
なお、本発明に係る筐体15の扉15aには、開閉センサは設けられていない。つまり、コストを安くすることができる。
なお、メモリ34には、基準閾値Ibが予め記憶されるとともに、光検出器12に外光が入射したことを検知するための閾値I0が予め記憶されている。
具体的には、電圧制御部31cは、光検出器12で得られた信号値を基準閾値Ibと比較し、信号値が基準閾値Ibを超えると光検出器12への印加電圧値Vを下げて検出感度を下げることにより光検出器12から出力される電流を小さくしている。一方、信号値が基準閾値Ibを下回ると光検出器12への印加電圧値Vを上げて検出感度を上げることにより光検出器12から出力される電流を大きくしている。つまり、信号値(試料側光束信号s、参照側光束信号r)が基準閾値Ibになるように制御を実行している。
このとき、検出器12への印加電圧値Vは1周期Tの期間中、一定に維持されるようにしている。つまり、1周期T1の期間が終了した後で、電圧制御部31cは次なる1周期T2の印加電圧値V2を決定し、光検出器12への印加電圧値Vを印加電圧値V1から印加電圧値V2に変更するようにしている。
具体的には、図3(b)に示すように電圧制御部31cは、試料側暗信号zsに対応する6個の検出値データについて、試料側暗信号zsの平均値を計算し、計算した試料側暗信号zsと閾値I0とを比較し、計算した試料側暗信号zsが閾値I0を超えると光検出器12への印加電圧値Vを極端に下げて検出感度を下げることにより光検出器12から出力される電流を小さくしている。つまり、フィードバック制御のように信号値が基準閾値Ibとなるようには調整しない。
さらに、光検出器12への印加電圧値Vは1周期Tの期間中、一定に維持されることなく、速やかに変更されるようになっている。つまり、1周期T1の期間が終了することを待たずに、光検出器12への印加電圧値Vを、1周期T2の試料側遮光期間の印加電圧値V1から、1周期T2の参照側入射期間の印加電圧値V0に変更するようにしている。
まず、ステップS101の処理において、記憶制御部31aは、メモリ34に光検出器12からの試料側光束信号sを記憶させる。
次に、ステップS103の処理において、電圧制御部31cは、試料側暗信号zsが閾値I0以上であるか否かを判定する。試料側暗信号zsが閾値I0以上であると判定したときには、ステップS104の処理において、印加電圧値Vを極端に下げるように高電圧発生部22に指示信号を出力する。
一方、試料側暗信号zsが閾値I0以上でないと判定したときには、ステップS105の処理において、記憶制御部31aは、メモリ34に光検出器12からの参照側光束信号rを記憶させる。
次に、ステップS107の処理において、電圧制御部31cは、参照側暗信号zrが閾値I0以上であるか否かを判定する。参照側暗信号zrが閾値I0以上であると判定したときには、ステップS108の処理において、印加電圧値Vを極端に下げるように高電圧発生部22に指示信号を出力する。
一方、参照側暗信号zrが閾値I0以上でないと判定したときには、ステップS109の処理において、電圧制御部31cは、試料側光束信号s及び参照側光束信号rと基準閾値Ibとを比較して、印加電圧値Vを調整するように高電圧発生部22に指示信号を出力する。
一方、測定を終了すると判定したときには、本フローチャートを終了させる。
(1)上述した紫外可視分光光度計60では、光検出器12が、紫外光を検出する光電子増倍管を含んだものであるような構成を示したが、赤外光を検出するPbS光導電素子を含んだものであるような構成としてもよい。このときには、外光が光検出器に入射しないようにすることが可能な遮光シャッタを備え、制御部は、試料側暗信号zs(試料側遮光期間の出力強度信号)及び参照側暗信号zr(参照側遮光期間の出力強度信号)が閾値I0以上であると判定したときには、遮光シャッタを所定の時間(例えば、1秒等)、光検出器に外光が入射しないように制御することになる。あるいは、遮光シャッタの解除は手動で行ってもよい。
12 光検出器
22 高電圧発生部
31b 算出制御部
31c 電圧制御部
34 メモリ(記憶部)
41 遮光部
50 光源部
60 紫外可視分光光度計
Claims (4)
- 試料セルと、
前記試料セルに測定光を出射する光源部と、
前記試料セルを通過した測定光を検出する光検出器と、
前記光源部からの測定光が光検出器に一定周期で入射しないようにする遮光部と、
前記試料セルと前記光源部と前記光検出器と前記遮光部とが内部に配置された筐体と、
前記光検出器で得られた出力強度信号を、入射期間又は前記遮光部で遮光された遮光期間に対応付けて記憶する記憶部とを備える分光光度計であって、
前記記憶部は、前記光検出器に前記筐体外から前記光検出器を劣化させる可能性のある過大な光量を有する外光が入射したことを検知するための閾値を記憶し、
前記記憶部に記憶された前記出力強度信号のうち前記遮光期間のみに対応する出力強度信号と、前記閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射したことを検知する制御部を備えたことを特徴とする分光光度計。 - 外光が光検出器に入射しないようにすることが可能な遮光シャッタを備え、
前記光検出器に外光が入射したことを検知した際には、前記制御部は前記光検出器に外光が入射しないように、前記遮光シャッタを制御することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。 - 前記光検出器に印加電圧値を印加する電圧発生部を備え、
前記光検出器は、検出感度が印加電圧値に応じて変更可能であり、
前記光検出器に外光が入射したことを検知した際には、前記制御部は前記印加電圧値を調整するように電圧発生部を制御することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。 - 前記筐体の内部に、参照セルと、
測定光を試料セル又は参照セルに一定周期で導くように変更可能な切替部を備え、
前記記憶部は、前記光検出器で得られた出力強度信号を、前記遮光部で遮光された遮光期間及び前記切替部で光路を試料セル又は参照セルに切り替えた切替期間に対応付けて記憶し、前記制御部は、前記出力強度信号のうち、前記試料側遮光期間及び参照側遮光期間と対応付けられた出力強度信号と、前記閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射したことを検知することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の分光光度計。
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JP6492838B2 (ja) * | 2015-03-23 | 2019-04-03 | セイコーエプソン株式会社 | 分光測定装置、画像形成装置、及び分光測定方法 |
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US20190265101A1 (en) * | 2016-07-25 | 2019-08-29 | Shimadzu Corporation | Photometer |
CN111337441B (zh) * | 2020-03-12 | 2023-03-14 | 深圳市朗诚科技股份有限公司 | 一致性调节方法及相关设备 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08233659A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JP2000131230A (ja) * | 1998-10-26 | 2000-05-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 近赤外分光分析方法 |
JP2002081991A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-03-22 | Shimadzu Corp | 光分析装置 |
JP2003508784A (ja) * | 1999-09-08 | 2003-03-04 | ベアリアン・オーストラリア・プロプライエタリー・リミテッド | 分光計付属品および燐光減衰測定 |
JP2005201680A (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5937767B2 (ja) * | 1977-04-20 | 1984-09-12 | オリンパス光学工業株式会社 | 測光装置 |
US6100528A (en) * | 1999-01-19 | 2000-08-08 | Wilt; Robert | Analytical quantification and process control |
US6795181B2 (en) * | 1999-09-08 | 2004-09-21 | Varian Australia Pty Ltd | Spectrometer attachments and phosphorescence decay measurement |
JP2002162294A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08233659A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JP2000131230A (ja) * | 1998-10-26 | 2000-05-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 近赤外分光分析方法 |
JP2003508784A (ja) * | 1999-09-08 | 2003-03-04 | ベアリアン・オーストラリア・プロプライエタリー・リミテッド | 分光計付属品および燐光減衰測定 |
JP2002081991A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-03-22 | Shimadzu Corp | 光分析装置 |
JP2005201680A (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
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