JP5605318B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5605318B2 JP5605318B2 JP2011137302A JP2011137302A JP5605318B2 JP 5605318 B2 JP5605318 B2 JP 5605318B2 JP 2011137302 A JP2011137302 A JP 2011137302A JP 2011137302 A JP2011137302 A JP 2011137302A JP 5605318 B2 JP5605318 B2 JP 5605318B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- period
- output intensity
- intensity signal
- sample
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 80
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 claims description 75
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 42
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 42
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 description 33
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 18
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 4
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/33—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
- G01N21/276—Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
紫外可視分光光度計160は、試料セル6と、参照セル8と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、光検出器12と、セクタ鏡(切替部、遮光部)40と、複数の反射鏡3、5、7、9、10、11と、光を透過しない筐体15と、インデクス信号発生部20と、アナログ−デジタル(A/D)変換器14と、紫外可視分光光度計160全体を制御するコンピュータ130とを備える。
なお、分析者が筐体15の扉を開くことにより、試料セル6や参照セル8を、新たな試料セルや参照セルに交換することができるようになっている。
セクタ鏡40は、単色光を試料側光束LSと参照側光束LRとに交互に一定周期で振り分ける。さらに、セクタ鏡40には、回転に伴って試料側光束LSと参照側光束LRとを一定周期で遮光する遮光部41が設けられており、試料側光束LSの入射期間と試料側光束LSの遮光期間と参照側光束LRの入射期間と参照側光束LRの遮光期間とがこの順に一定周期で発生するようにしている。
インデクス信号発生部20は、所定速度で回転駆動されるセクタ鏡40の回転に同期して、1回転に1パルスのインデクス信号IDXを発生する。例えば、セクタ鏡40の回転周期は電源周波数に同期した周波数とされ、50Hz又は60Hzが採用される。
まず、試料側光束LSは、反射鏡5を経て試料セル6に照射され、試料セル6を通過した光は反射鏡9、11を経て光検出器12の受光面に送られる。光検出器12に送られた光は、光検出器12で光電変換されて、試料側入射期間の出力強度信号Sとして取り出される。また、セクタ鏡40には、回転に伴って試料側光束LSを一定周期で遮光する遮光部41が設けられているので、遮光部41に対応した光検出器12の出力強度信号は試料側遮光期間の出力強度信号DSとなる。そして、光検出器12の出力強度信号S、DSは、A/D変換器14により一定時間間隔でサンプリングされてデジタル電圧値(信号値)に変換される。
図2は、セクタ鏡40の1回転の期間(これを1周期(N)とする)のタイミング図であり、図3は、複数周期期間に亘る信号値(デジタル電圧値)と時間との関係の一例を示す図である。
なお、A/D変換器14でのサンプリング周期が周期Nに比べて短く、A/D変換器14の出力データ(以下「検出値データ」という)が1周期Nにおける各信号に対してそれぞれ多数(本例では6個ずつ)得られるので、D1〜D6、D7〜D12、D13〜D18、及び、D19〜D24は、出力強度信号S、出力強度信号DS、出力強度信号R、出力強度信号DRにそれぞれ対応する検出値データである。
透過率(%)=〔(SN−DSN)/(RN−DRN)〕/Z×100 ・・・(19)
Zは、対照として用いる試料(多くは水又は空気)を測定したときの〔(SN−DSN)/(RN−DRN)〕を予め記憶しておいたものである。
具体的には、各周期N毎に、出力強度信号SNに対応する検出値データD4〜D6、出力強度信号DSNに対応する検出値データD10〜D12、出力強度信号RNに対応する検出値データD16〜D18、出力強度信号DRNに対応する検出値データD21〜D24について、それぞれの平均値を計算し、式(19)に代入して第N周期の透過率を求める。
そこで、各信号に対してそれぞれ多数(本例では6個ずつ)の検出値データ(D1〜D6、D7〜D12、D13〜D18、D19〜D24)を得ていることから、多数の検出値データのうちから後半の時間に得られた検出値データ(D4〜D6、D10〜D12、D16〜D18、D21〜D24)のみを用いることが実行されている。さらに後半の時間に得られた検出値データ(D5〜D6、D11〜D12、D17〜D18、D22〜D24)のみを用いることも考えられるが、S/Nが損をすることになり、また、仮にそうした場合でも測定精度を充分に向上させることはできなかった。
図4では、真出力強度信号sN(=SN−S0)を取得したくても、第N周期の入射期間の出力強度信号SNを測定しながらS0を測定することはできない。そのため、S0を推定する。ここで、S0は、第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号SN−1(直前の出力強度信号)の影響で0になっていないと考えられる。そこで、第N周期の入射期間の出力強度信号SNに含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号SN−1の影響を除去するための補正係数Aを、実験や計算で算出した。これにより、補正係数Aを用いることを見出した。
また、上記の発明において、前記記憶部は、第N周期の入射期間の出力強度信号SNに含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号SN−1の影響を除去するための補正係数Aを記憶し、前記制御部は、下記式(1)を用いて第N周期の真出力強度信号sNを算出するようにしてもよい。
sN=(SN−SN−1×A) ・・・(1)
sN=(SN−SN−1×B)−DSN ・・・(2)
ここで、DS N は、第N周期の遮光期間の出力強度信号である。
sN=(SN−SN−1×B)−(DSN−SN×C) ・・・(3)
sN=SN−(DSN−1−DSN)×1/2×D−DSN ・・・(4)
ここで、DS N は、第N周期の遮光期間の出力強度信号であり、DS N−1 は、第(N−1)周期の遮光期間の出力強度信号である。
sN=(SN−SN−1×E) ・・・(5)
rN=(RN−RN−1×E’) ・・・(6)
また、「補正係数E’」とは、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号RNに含まれる第(N−1)周期の参照側入射期間の出力強度信号RN−1の影響を除去するためのものであり、波長λや検出器毎に実験的に若しくは計算で予め定められた数値や数式をいう。例えば各波長λにおいて光検出器への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。なお、補正係数Eと同じものとしてもよい。
sN=(SN−RN−1×F)−DSN ・・・(7)
rN=(RN−SN×F’)−DRN ・・・(8)
ここで、DS N は、第N周期の試料側遮光期間の出力強度信号であり、DR N は、第N周期の参照側遮光期間の出力強度信号である。
また、「補正係数F’」とは、遮光期間があることを考慮して第N周期の参照側入射期間の出力強度信号RNに含まれる第N周期の試料側入射期間の出力強度信号SNの影響を除去したりするためのものであり、波長λや検出器毎に実験的に若しくは計算で予め定められた数値や数式をいう。例えば各波長λにおいて光検出器への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。なお、補正係数Fと同じものとしてもよい。
sN=(SN−RN−1×F)−(DSN−SN×G) ・・・(9)
rN=(RN−SN×F’)−(DRN−RN×G’) ・・・(10)
また、「補正係数G’」とは、第N周期の参照側遮光期間の出力強度信号DRNに含まれる第N周期の参照側入射期間の出力強度信号RNの影響を除去するためのものであり、波長λや検出器毎に実験的に若しくは計算で予め定められた数値や数式をいう。例えば各波長λにおいて光検出器への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。なお、補正係数Gと同じものとしてもよい。
sN=SN−(DRN−1−DSN)×1/2×H−DSN ・・・(11)
rN=RN−(DSN−DRN)×1/2×H’−DRN ・・・(12)
ここで、DS N は、第N周期の試料側遮光期間の出力強度信号であり、DR N は、第N周期の参照側遮光期間の出力強度信号であり、DR N−1 は、第(N−1)周期の参照側遮光期間の出力強度信号である。
また、「補正係数H’」とは、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号RNが少ない光量を示すものであり、第N周期の試料側入射期間の出力強度信号SNが多い光量を示すものであったとき(例えば、出力強度信号SNが出力強度信号RNの100倍以上の光量を示すものであったとき)に、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号RNに含まれる第N周期の試料側入射期間の出力強度信号SNの影響を除去するためのものであり、波長λや検出器毎に実験的に若しくは計算で予め定められた数値や数式をいう。例えば各波長λにおいて光検出器への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。なお、補正係数Hと同じものとしてもよい。なお、RNがSNより多い光量を示す場合には、計算される補正量((DSN−DRN)×1/2×H’)はRNに対して小さく無視できるので、上記補正を適用したままでもよい。
図1は、本発明の第一実施形態であるダブルビーム型の紫外可視分光光度計を示す概略構成図である。なお、紫外可視分光光度計160と同様のものについては、同じ符号を付している。
紫外可視分光光度計60は、試料セル6と、参照セル8と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、光検出器12と、セクタ鏡(切替部、遮光部)40と、複数の反射鏡3、5、7、9、10、11と、光を透過しない筐体15と、インデクス信号発生部20と、アナログ−デジタル(A/D)変換器14と、紫外可視分光光度計60全体を制御するコンピュータ30とを備える。
sN=(SN−RN−1×Fλ)−DSN ・・・(7)
rN=(RN−SN×Fλ)−DRN ・・・(8)
透過率(%)=(sN/rN)/Z×100 ・・・(20)
Zは、対照として用いる試料(多くは水又は空気)を測定したときの(sN/rN)を予め記憶しておいたものである。
補正係数Fλは、第N周期の試料側入射期間の出力強度信号SNに含まれる第(N−1)周期の参照側入射期間の出力強度信号RN−1の影響を除去したり、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号RNに含まれる第N周期の試料側入射期間の出力強度信号SNの影響を除去したりするためのものであり、波長λ1、λ2、λ3、・・・毎に実験や計算で予め定められた数値である。例えば各波長λ1、λ2、λ3、・・・において光検出器12への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。
また、式(7)は式(7’)としてもよい。通常は同じ状態での測定を複数周期繰り返すことが多く、周期Nが進んでも急激な光量変化が起こることは少ないため、RN−1=RNである。
sN=(SN−RN×Fλ)−DSN ・・・(7’)
具体的には、分光器2で取り出された測定光の波長λを取得して、第(N−1)周期において、出力強度信号RN−1に対応する検出値データD16〜D18の平均値を計算して、さらに第N周期において、出力強度信号SNに対応する検出値データD4〜D6、出力強度信号DSNに対応する検出値データD10〜D12、出力強度信号RNに対応する検出値データD16〜D18、出力強度信号DRNに対応する検出値データD21〜D24について、それぞれの平均値を計算し、式(7)と式(8)とに代入して第N周期の試料側真出力強度信号sNと参照側真出力強度信号rNとを求める。そして、第N周期の試料側真出力強度信号sNと参照側真出力強度信号rNとを式(20)に代入して第N周期の透過率を求める。また、第N周期において、出力強度信号RNに対応する検出値データD16〜D18の平均値を計算して、さらに第(N+1)周期において、出力強度信号SN+1に対応する検出値データD4〜D6、出力強度信号DSN+1に対応する検出値データD10〜D12、出力強度信号RN+1に対応する検出値データD16〜D18、出力強度信号DRN+1に対応する検出値データD21〜D24について、それぞれの平均値を計算し、式(7)と式(8)とに代入して第(N+1)周期の試料側真出力強度信号sNと参照側真出力強度信号rNとを求める。そして、第(N+1)周期の試料側真出力強度信号sNと参照側真出力強度信号rNとを式(20)に代入して第(N+1)周期の透過率を求める。このようにして第N周期の透過率を順次求めていく。
図8は、本発明の第二実施形態であるシングルビーム型の紫外可視分光光度計を示す概略構成図である。なお、紫外可視分光光度計160と同様のものについては、同じ符号を付している。
紫外可視分光光度計260は、試料セル6と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、光検出器12と、遮光部41と、複数の反射鏡3、5、9、11と、光を透過しない筐体15と、インデクス信号発生部20と、アナログ−デジタル(A/D)変換器14と、紫外可視分光光度計260全体を制御するコンピュータ230とを備える。
sN=SN−(DSN−1−DSN)×1/2×Dλ−DSN ・・・(4)
透過率(%)=sN/Z×100 ・・・(21)
Zは、対照として用いる試料(多くは水又は空気)を測定したときのsNを予め記憶しておいたものである。
補正係数Dλは、第N周期の入射期間の出力強度信号SNに含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号SN−1の影響を除去するためのものであり、波長λ1、λ2、λ3、・・・毎に実験や計算で予め定められた数値である。例えば各波長λ1、λ2、λ3、・・・において光検出器12への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。
具体的には、分光器2で取り出された測定光の波長λを取得して、第(N−1)周期において、出力強度信号DSN−1に対応する検出値データの平均値を計算するとともに、第N周期において、出力強度信号SNに対応する検出値データ、出力強度信号DSNに対応する検出値データについて、それぞれの平均値を計算し、式(4)に代入して第N周期の試料側真出力強度信号sNを求める。そして、第N周期の試料側真出力強度信号sNを式(21)に代入して第N周期の透過率を求める。このようにして第N周期の透過率を順次求めていく。
図9は、本発明の第三実施形態である、入射期間と遮光期間とを一定周期で交互に持たないタイプのシングルビーム型の紫外可視分光光度計を示す概略構成図である。なお、紫外可視分光光度計160と同様のものについては、同じ符号を付している。
紫外可視分光光度計360は、試料セル6と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、光検出器12と、複数の反射鏡3、4、5、9、11と、光を透過しない筐体15と、インデクス信号発生部20と、アナログ−デジタル(A/D)変換器14と、紫外可視分光光度計360全体を制御するコンピュータ330とを備える。
sN=(SN−SN−1×Aλ) ・・・(1)
透過率(%)=sN/Z×100 ・・・(21)
Zは、対照として用いる試料(多くは水又は空気)を測定したときのsNを予め記憶しておいたものである。
補正係数Aλは、第N周期の入射期間の出力強度信号SNに含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号SN−1の影響を除去するためのものであり、波長λ1、λ2、λ3、・・・毎に実験や計算で予め定められた数値である。例えば各波長λ1、λ2、λ3、・・・において光検出器12への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。
具体的には、分光器2で取り出された測定光の波長λを取得して、第(N−1)周期において、出力強度信号SN−1に対応する検出値データの平均値を計算するとともに、第N周期において、出力強度信号SNに対応する検出値データの平均値を計算し、式(1)に代入して第N周期の真出力強度信号sNを求める。そして、第N周期の真出力強度信号sNを式(21)に代入して第N周期の透過率を求める。このようにして第N周期の透過率を順次求めていく。
図10は、本発明の第四実施形態である、入射期間と遮光期間とを一定周期で交互に持たないタイプのダブルビーム型の紫外可視分光光度計を示す概略構成図である。なお、紫外可視分光光度計160と同様のものについては、同じ符号を付している。
紫外可視分光光度計460は、試料セル6と、参照セル8と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、第一光検出器12と、第二光検出器13と、光束振分用ハーフミラー(振分部)42と、複数の反射鏡3、5、9、10と、光を透過しない筐体15と、インデクス信号発生部20と、アナログ−デジタル(A/D)変換器14と、紫外可視分光光度計460全体を制御するコンピュータ430とを備える。
sN=(SN−SN−1×Eλ) ・・・(5)
rN=(RN−RN−1×E’λ) ・・・(6)
透過率(%)=(sN/rN)/Z×100 ・・・(20)
Zは、対照として用いる試料(多くは水又は空気)を測定したときの(sN/rN)を予め記憶しておいたものである。
補正係数Eλは、第N周期の入射期間の試料側出力強度信号SNに含まれる第(N−1)周期の入射期間の試料側出力強度信号SN−1の影響を除去するためのものであり、波長λ1、λ2、λ3、・・・毎に実験や計算で予め定められた数値である。例えば各波長λ1、λ2、λ3、・・・において第一光検出器12への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。
また、補正係数E’λは、第N周期の入射期間の参照側出力強度信号RNに含まれる第(N−1)周期の入射期間の参照側出力強度信号RN−1の影響を除去するためのものであり、波長λ1、λ2、λ3、・・・毎に実験や計算で予め定められた数値である。例えば各波長λ1、λ2、λ3、・・・において第二光検出器13への光入射後の出力強度信号変化を多数回測定し平均するという実験を行って求める。
具体的には、分光器2で取り出された測定光の波長λを取得して、第(N−1)周期において、試料側出力強度信号SN−1に対応する検出値データの平均値を計算するとともに、第N周期において、試料側出力強度信号SNに対応する検出値データの平均値を計算し、式(5)に代入して第N周期の試料側真出力強度信号sNを求める。また、第(N−1)周期において、参照側出力強度信号RN−1に対応する検出値データの平均値を計算するとともに、第N周期において、参照側出力強度信号RNに対応する検出値データの平均値を計算し、式(6)に代入して第N周期の参照側真出力強度信号rNを求める。そして、第N周期の試料側真出力強度信号sNと参照側真出力強度信号rNとを式(20)に代入して第N周期の透過率を求める。このようにして第N周期の透過率を順次求めていく。
(1)上述した紫外可視分光光度計60では、メモリ34には、式(7)と式(8)と式(20)と補正係数Fλ1、Fλ2、Fλ3、・・・とが予め記憶されており、算出制御部31bは、式(7)と式(8)と式(20)と補正係数Fλ1、Fλ2、Fλ3、・・・とにより透過率を算出するような構成を示したが、メモリには、式(9)と式(10)と式(20)と補正係数Fλ1、Fλ2、Fλ3、・・・、Gλ1、Gλ2、Gλ3、・・・とが予め記憶されており、算出制御部は、式(9)と式(10)と式(20)と補正係数Fλ1、Fλ2、Fλ3、・・・、Gλ1、Gλ2、Gλ3、・・・とにより透過率を算出するような構成としてもよく、メモリには、式(11)と式(12)と式(20)と補正係数Hλ1、Hλ2、Hλ3、・・・とが予め記憶されており、算出制御部は、式(11)と式(12)と式(20)と補正係数Hλ1、Hλ2、Hλ3、・・・とにより透過率を算出するような構成としてもよく、メモリには、式(7)〜(12)と式(20)と補正係数とが予め記憶されており、算出制御部は、式(7)〜(12)と式(20)と補正係数とを選択して透過率を算出するような構成としてもよい。
sN=(SN−RN−1×F)−(DSN−SN×G) ・・・(9)
rN=(RN−SN×F)−(DRN−RN×G) ・・・(10)
sN=SN−(DRN−1−DSN)×1/2×H−DSN ・・・(11)
rN=RN−(DSN−DRN)×1/2×H−DRN ・・・(12)
なお、第1周期に式(11)を用いる場合、式(11’)としてもよい。
また、第1周期に式(9)を用いる場合、式(9’)としてもよい。
sN=SN−(DRN−DSN)×1/2×H−DSN ・・・(11’)
sN=(SN−RN×F)−(DSN−SN×G) ・・・(9’)
sN=(SN−SN−1×B)−(DSN−SN×C) ・・・(3)
sN=(SN−SN−1×B)−DSN ・・・(2)
12 光検出器
41 遮光部
50 光源部
31、231 CPU(制御部)
34、234 メモリ(記憶部)
60、260 紫外可視分光光度計
Claims (12)
- 試料セルと、
前記試料セルに測定光を出射する光源部と、
前記試料セルを通過した測定光を検出する光検出器と、
前記光検出器で得られた出力強度信号を記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された出力強度信号(S)に基づいて、透過率又は吸光度を算出する制御部とを備え、
前記制御部は、第N周期の入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期以前の入射期間の出力強度信号(SN-1、SN-2、SN-3、・・・)の影響を除去した第N周期の真出力強度信号(sN)を算出することを特徴とする分光光度計。 - 前記記憶部は、第N周期の入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号(SN-1)の影響を除去するための補正係数(A)を記憶し、
前記制御部は、下記式(1)を用いて第N周期の真出力強度信号(sN)を算出することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。
sN=(SN−SN−1×A) ・・・(1) - 前記光源部からの測定光が光検出器に一定周期で入射しないようにする遮光部を備え、一周期として入射期間と遮光期間とをこの順で実行する分光光度計であって、
前記記憶部は、前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶し、
前記制御部は、前記記憶部に記憶された入射期間の出力強度信号(S)と遮光期間の出力強度信号(DS)とに基づいて、透過率又は吸光度を算出することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。 - 前記記憶部は、第N周期の入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号(SN-1)の影響を除去するための補正係数(B)を記憶し、
前記制御部は、下記式(2)を用いて第N周期の真出力強度信号(sN)を算出することを特徴とする請求項3に記載の分光光度計。
sN=(SN−SN−1×B)−DSN ・・・(2)
ここで、DS N は、第N周期の遮光期間の出力強度信号である。 - 前記記憶部は、第N周期の入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号(SN-1)の影響を除去するための補正係数(B)と、第N周期の遮光期間の出力強度信号(DSN)に含まれる第N周期の入射期間の出力強度信号(SN)の影響を除去するための補正係数(C)とを記憶し、
前記制御部は、下記式(3)を用いて第N周期の真出力強度信号(sN)を算出することを特徴とする請求項3に記載の分光光度計。
sN=(SN−SN−1×B)−(DSN−SN×C) ・・・(3) - 前記記憶部は、第N周期の入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の入射期間の出力強度信号(SN-1)の影響を除去するための補正係数(D)を記憶し、
前記制御部は、下記式(4)を用いて第N周期の真出力強度信号(sN)を算出することを特徴とする請求項3に記載の分光光度計。
sN=SN−(DSN−1−DSN)×1/2×D−DSN ・・・(4)
ここで、DS N は、第N周期の遮光期間の出力強度信号であり、DS N−1 は、第(N−1)周期の遮光期間の出力強度信号である。 - 参照セルと、
前記参照セルを通過した測定光を検出する第二光検出器と、
前記試料セルと参照セルとに測定光を振り分ける振分部とを備え、
前記記憶部は、前記第二光検出器で得られた出力強度信号を記憶し、
前記制御部は、前記記憶部に記憶された試料側出力強度信号(S)と参照側出力強度信号(R)とに基づいて、透過率又は吸光度を算出する分光光度計であって、
前記制御部は、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN)に含まれる第(N−1)周期以前の参照側入射期間の出力強度信号(RN-1、RN-2、RN-3、・・・)の影響を除去した第N周期の参照側真出力強度信号(rN)を算出することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。 - 前記記憶部は、第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN-1)の影響を除去するための補正係数(E)と、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN)に含まれる第(N−1)周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN-1)の影響を除去するための補正係数(E')とを記憶し、
前記制御部は、下記式(5)を用いて第N周期の真出力強度信号(sN)を算出するとともに、下記式(6)を用いて第N周期の参照側真出力強度信号(rN)を算出することを特徴とする請求項7に記載の分光光度計。
sN=(SN−SN−1×E) ・・・(5)
rN=(RN−RN−1×E’) ・・・(6) - 試料セルと、
前記試料セルに測定光を出射する光源部と、
前記試料セルを通過した測定光を検出する光検出器と、
前記光源部からの測定光が光検出器に一定周期で入射しないようにする遮光部と、
参照セルと、
前記試料セルに代えて参照セルに測定光を一定周期で導くように変更可能な切替部と、
前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記切替部で光路を切り替えた切替期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された試料側入射期間の出力強度信号(S)と試料側遮光期間の出力強度信号(DS)と参照側入射期間の出力強度信号(R)と参照側遮光期間の出力強度信号(DR)とに基づいて、透過率又は吸光度を算出する制御部とを備え、
一周期として試料側入射期間と試料側遮光期間と参照側入射期間と参照側遮光期間とをこの順で実行する分光光度計であって、
前記制御部は、第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の参照側入射期間以前の出力強度信号(RN-1、SN-1、RN-2、SN-2、・・・)の影響を除去した第N周期の試料側真出力強度信号(sN)を算出するとともに、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN)に含まれる第N周期の試料側入射期間以前の出力強度信号(SN、RN-1、SN-1、RN-2、・・・)の影響を除去した第N周期の参照側真出力強度信号(rN)を算出することを特徴とする分光光度計。 - 前記記憶部は、第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN-1)の影響を除去するための補正係数(F)と、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN)に含まれる第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)の影響を除去するための補正係数(F')とを記憶し、
前記制御部は、下記式(7)を用いて第N周期の試料側真出力強度信号(sN)を算出するとともに、下記式(8)を用いて第N周期の参照側真出力強度信号(rN)を算出することを特徴とする請求項9に記載の分光光度計。
sN=(SN−RN−1×F)−DSN ・・・(7)
rN=(RN−SN×F’)−DRN ・・・(8)
ここで、DS N は、第N周期の試料側遮光期間の出力強度信号であり、DR N は、第N周期の参照側遮光期間の出力強度信号である。 - 前記記憶部は、第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN-1)の影響を除去するための補正係数(F)と、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN)に含まれる第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)の影響を除去するための補正係数(F')と、第N周期の試料側遮光期間の出力強度信号(DSN)に含まれる第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)の影響を除去するための補正係数(G)と、第N周期の参照側遮光期間の出力強度信号(DRN)に含まれる第N周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN)の影響を除去するための補正係数(G')とを記憶し、
前記制御部は、下記式(9)を用いて第N周期の試料側真出力強度信号(sN)を算出するとともに、下記式(10)を用いて第N周期の参照側真出力強度信号(rN)を算出することを特徴とする請求項9に記載の分光光度計。
sN=(SN−RN−1×F)−(DSN−SN×G) ・・・(9)
rN=(RN−SN×F’)−(DRN−RN×G’) ・・・(10) - 前記記憶部は、第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)に含まれる第(N−1)周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN-1)の影響を除去するための補正係数(H)と、第N周期の参照側入射期間の出力強度信号(RN)に含まれる第N周期の試料側入射期間の出力強度信号(SN)の影響を除去するための補正係数(H')とを記憶し、
前記制御部は、下記式(11)を用いて第N周期の試料側真出力強度信号(sN)を算出するとともに、下記式(12)を用いて第N周期の参照側真出力強度信号(rN)を算出することを特徴とする請求項9に記載の分光光度計。
sN=SN−(DRN−1−DSN)×1/2×H−DSN ・・・(11)
rN=RN−(DSN−DRN)×1/2×H’−DRN ・・・(12)
ここで、DS N は、第N周期の試料側遮光期間の出力強度信号であり、DR N は、第N周期の参照側遮光期間の出力強度信号であり、DR N−1 は、第(N−1)周期の参照側遮光期間の出力強度信号である。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011137302A JP5605318B2 (ja) | 2011-06-21 | 2011-06-21 | 分光光度計 |
CN201210167582.3A CN102841065B (zh) | 2011-06-21 | 2012-05-25 | 分光光度计 |
US13/528,659 US9068932B2 (en) | 2011-06-21 | 2012-06-20 | Spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011137302A JP5605318B2 (ja) | 2011-06-21 | 2011-06-21 | 分光光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013003090A JP2013003090A (ja) | 2013-01-07 |
JP5605318B2 true JP5605318B2 (ja) | 2014-10-15 |
Family
ID=47361553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011137302A Active JP5605318B2 (ja) | 2011-06-21 | 2011-06-21 | 分光光度計 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9068932B2 (ja) |
JP (1) | JP5605318B2 (ja) |
CN (1) | CN102841065B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10460161B1 (en) | 2017-03-24 | 2019-10-29 | Digimarc Corporation | Methods and systems for ensuring correct printing plate usage and signal tolerances |
US10657636B1 (en) | 2017-03-24 | 2020-05-19 | Digimarc Corporation | Methods and systems to ensure correct printing plate usage for encoded signals |
KR20220004446A (ko) * | 2020-07-03 | 2022-01-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 농도 측정 장치 및 이를 이용한 농도 측정 및 농도 교정 방법 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5466190A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Hitachi Ltd | Two luminous flux spectrophotometer |
JPS56144335U (ja) * | 1980-03-31 | 1981-10-30 | ||
JPS62157536A (ja) * | 1985-12-30 | 1987-07-13 | Japan Spectroscopic Co | 分光光度計における信号検出方法 |
DE19649221B4 (de) * | 1995-11-27 | 2006-09-14 | Shimadzu Corp. | Mehrkanal-Spektrophotometer |
JP2002081991A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-03-22 | Shimadzu Corp | 光分析装置 |
JP2002162294A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JP5150939B2 (ja) * | 2008-10-15 | 2013-02-27 | 大塚電子株式会社 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 |
US20130155405A1 (en) * | 2010-08-18 | 2013-06-20 | Shimadzu Corporation | Spectrophotometer |
-
2011
- 2011-06-21 JP JP2011137302A patent/JP5605318B2/ja active Active
-
2012
- 2012-05-25 CN CN201210167582.3A patent/CN102841065B/zh active Active
- 2012-06-20 US US13/528,659 patent/US9068932B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9068932B2 (en) | 2015-06-30 |
CN102841065A (zh) | 2012-12-26 |
JP2013003090A (ja) | 2013-01-07 |
CN102841065B (zh) | 2015-01-07 |
US20120327411A1 (en) | 2012-12-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN202869961U (zh) | 一种用于水质分析仪表的移动式参比光路装置 | |
JP6891312B2 (ja) | マルチモード設定可能スペクトロメータ | |
JP4997652B2 (ja) | 分光分析装置 | |
JP5894530B2 (ja) | 分光光度計 | |
JP5605318B2 (ja) | 分光光度計 | |
US10365354B2 (en) | Multi-target laser distance meter | |
JP2012220472A5 (ja) | ||
JPWO2017029791A1 (ja) | 濃度測定装置 | |
KR102557527B1 (ko) | 스펙트럼 필터링 시스템, 장치 및 방법 | |
JP2010025921A (ja) | 分光光度計 | |
WO2015122237A1 (ja) | 分光分析装置および分光分析方法 | |
JP5302133B2 (ja) | 干渉膜厚計 | |
JP2015125090A5 (ja) | ||
CN114062286B (zh) | 气体分析系统及气体分析方法 | |
EP2762847A1 (en) | Fiber optic sensor system and method | |
JP2018040648A (ja) | レーザ式ガス分析装置 | |
JP2013186004A (ja) | 分光光度計および吸光光度測定法 | |
JP4642907B2 (ja) | 洗米水乾固物量の光学方式による測定装置及び測定方法 | |
JP2002162294A (ja) | 分光光度計 | |
JP6787278B2 (ja) | 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法 | |
JP2020020581A (ja) | 温度測定装置および温度測定方法 | |
Voyez et al. | Accurate measurement of Cn2 profile with Shack-Hartmann data | |
JP4663590B2 (ja) | ピーク位置変動量測定装置、その測定方法及びプログラム | |
JP6686797B2 (ja) | 分光光度計における検出信号値の補正方法及び検出信号値の補正機能を備えた分光光度計 | |
JP5549394B2 (ja) | 粒度分布測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130911 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140326 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140513 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140704 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140729 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140811 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5605318 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |