JP2000082439A - 飛行時間型質量分析計 - Google Patents
飛行時間型質量分析計Info
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- JP2000082439A JP2000082439A JP10248884A JP24888498A JP2000082439A JP 2000082439 A JP2000082439 A JP 2000082439A JP 10248884 A JP10248884 A JP 10248884A JP 24888498 A JP24888498 A JP 24888498A JP 2000082439 A JP2000082439 A JP 2000082439A
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- multiplication factor
- time
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Abstract
(57)【要約】
【課題】検出器にＭＣＰを用いて、広いダイナミックレ
ンジを備えたＴＯＦＭＳを提供する。 【解決手段】イオン検出部に印加電圧で増倍率を制御で
きるイオン検出器を用いた飛行時間型質量分析計におい
て、イオン源からのイオンパルス発生に連動してイオン
検出器への印加電圧を変え、異なる増倍率でイオンの質
量スペクトルを測定し、測定後に測定時の増倍率で質量
スペクトルのゲインを較正して、スペクトル強度の強い
箇所では低増倍率で測定した質量スペクトルを採用する
と共に、スペクトル強度の弱い箇所では高増倍率で測定
した質量スペクトルを採用して、ひとつながりの質量ス
ペクトルを合成するようにした。
ンジを備えたＴＯＦＭＳを提供する。 【解決手段】イオン検出部に印加電圧で増倍率を制御で
きるイオン検出器を用いた飛行時間型質量分析計におい
て、イオン源からのイオンパルス発生に連動してイオン
検出器への印加電圧を変え、異なる増倍率でイオンの質
量スペクトルを測定し、測定後に測定時の増倍率で質量
スペクトルのゲインを較正して、スペクトル強度の強い
箇所では低増倍率で測定した質量スペクトルを採用する
と共に、スペクトル強度の弱い箇所では高増倍率で測定
した質量スペクトルを採用して、ひとつながりの質量ス
ペクトルを合成するようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、飛行時間型質量分
析計（Time of Flight Mass Spectrometer：ＴＯＦＭ
Ｓ）で用いられる質量スペクトルの測定方法に関する。
析計（Time of Flight Mass Spectrometer：ＴＯＦＭ
Ｓ）で用いられる質量スペクトルの測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＴＯＦＭＳは、イオン源から発生したイ
オンが自らの質量の大小に依存して加速されることに基
づいて、軽いイオンほど速くイオン検出器に到達し、重
いイオンほど遅れてイオン検出器に到達することを利用
して、イオンの質量分析を行なう装置である。
オンが自らの質量の大小に依存して加速されることに基
づいて、軽いイオンほど速くイオン検出器に到達し、重
いイオンほど遅れてイオン検出器に到達することを利用
して、イオンの質量分析を行なう装置である。
【０００３】図１は、ＴＯＦＭＳのブロックダイヤグラ
ムを示したものである。通常、ＴＯＦＭＳでは、パルス
イオン発生器１において、数ナノ（１０-9）秒程度のパ
ルスで試料をイオン化し、イオン検出器２までのイオン
の飛行時間（検出器への入射時間）を測定することによ
り、質量分析する。イオンの飛行時間は数マイクロ（１
０-6）秒から数百マイクロ秒と短く、また、単独のイオ
ン種の時間的な広がりは数ナノ秒と極めて短いため、イ
オン検出器２には、物理的な寸法がある程度確保でき、
かつ応答性が良いマイクロチャンネルプレート（Micro
Channel Plate：ＭＣＰ）等でイオンを電子に変換して
検出する方法が用いられている。イオンと電子の変換効
率は、ＭＣＰに印加する電圧により、数十から数百万ま
で適当に選択可能である。
ムを示したものである。通常、ＴＯＦＭＳでは、パルス
イオン発生器１において、数ナノ（１０-9）秒程度のパ
ルスで試料をイオン化し、イオン検出器２までのイオン
の飛行時間（検出器への入射時間）を測定することによ
り、質量分析する。イオンの飛行時間は数マイクロ（１
０-6）秒から数百マイクロ秒と短く、また、単独のイオ
ン種の時間的な広がりは数ナノ秒と極めて短いため、イ
オン検出器２には、物理的な寸法がある程度確保でき、
かつ応答性が良いマイクロチャンネルプレート（Micro
Channel Plate：ＭＣＰ）等でイオンを電子に変換して
検出する方法が用いられている。イオンと電子の変換効
率は、ＭＣＰに印加する電圧により、数十から数百万ま
で適当に選択可能である。
【０００４】また、連続的にイオン化されるＧＣ−ＭＳ
やＬＣ−ＭＳの分析系にＴＯＦＭＳを使用する場合、イ
オンをパルス状にしてＴＯＦＭＳへ導入するが、次から
次ぎへと入射するイオンを処理するための専用測定シス
テムが重要であり、このシステムにより数百から数千回
程度平均化された質量スペクトルが得られる。
やＬＣ−ＭＳの分析系にＴＯＦＭＳを使用する場合、イ
オンをパルス状にしてＴＯＦＭＳへ導入するが、次から
次ぎへと入射するイオンを処理するための専用測定シス
テムが重要であり、このシステムにより数百から数千回
程度平均化された質量スペクトルが得られる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、ＭＣＰに印
加する電圧を固定した場合、出力のダイナミックレンジ
（出力範囲）はたかだか数百程度であり、磁場型質量分
析計等で使用されている電子増倍管の場合には数十万程
度のダイナミックレンジが得られているのに対し、ＴＯ
ＦＭＳとしての最終的なダイナミックレンジは数百程度
に限定されてしまうという問題があった。
加する電圧を固定した場合、出力のダイナミックレンジ
（出力範囲）はたかだか数百程度であり、磁場型質量分
析計等で使用されている電子増倍管の場合には数十万程
度のダイナミックレンジが得られているのに対し、ＴＯ
ＦＭＳとしての最終的なダイナミックレンジは数百程度
に限定されてしまうという問題があった。
【０００６】本発明の目的は、上述した点に鑑み、検出
器にＭＣＰを用いて、広いダイナミックレンジを備えた
ＴＯＦＭＳを提供することにある。
器にＭＣＰを用いて、広いダイナミックレンジを備えた
ＴＯＦＭＳを提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明にかかるＴＯＦＭＳは、イオン検出部に印加
電圧で増倍率を制御できるイオン検出器を用いた飛行時
間型質量分析計において、イオン源からのイオンパルス
発生に連動してイオン検出器への印加電圧を変え、異な
る増倍率でイオンの質量スペクトルを測定し、測定後に
測定時の増倍率で質量スペクトルのゲインを較正して、
スペクトル強度の強い箇所では低増倍率で測定した質量
スペクトルを採用すると共に、スペクトル強度の弱い箇
所では高増倍率で測定した質量スペクトルを採用して、
ひとつながりの質量スペクトルを合成するようにしたこ
とを特徴としている。
め、本発明にかかるＴＯＦＭＳは、イオン検出部に印加
電圧で増倍率を制御できるイオン検出器を用いた飛行時
間型質量分析計において、イオン源からのイオンパルス
発生に連動してイオン検出器への印加電圧を変え、異な
る増倍率でイオンの質量スペクトルを測定し、測定後に
測定時の増倍率で質量スペクトルのゲインを較正して、
スペクトル強度の強い箇所では低増倍率で測定した質量
スペクトルを採用すると共に、スペクトル強度の弱い箇
所では高増倍率で測定した質量スペクトルを採用して、
ひとつながりの質量スペクトルを合成するようにしたこ
とを特徴としている。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を説明する。図２は、本発明にかかるＴＯＦ
ＭＳの構成を示したものである。
実施の形態を説明する。図２は、本発明にかかるＴＯＦ
ＭＳの構成を示したものである。
【０００９】図中、パルス発生器３から発生したパルス
信号により、イオン発生器４からイオンパルスが発生
し、ある一定電圧が印加されたＭＣＰなどのイオン検出
器５に向かって飛行する。イオン検出器５に到達したイ
オンパルスは、検出信号となって出力され、図示しない
処理システムに入力される。
信号により、イオン発生器４からイオンパルスが発生
し、ある一定電圧が印加されたＭＣＰなどのイオン検出
器５に向かって飛行する。イオン検出器５に到達したイ
オンパルスは、検出信号となって出力され、図示しない
処理システムに入力される。
【００１０】このような構成において、ＴＯＦＭＳのパ
ルス発生器３と連動させて、イオン検出器５であるＭＣ
Ｐの電圧をステップにて切り替える。例えば、最初のパ
ルスのイオンを検出するときのＭＣＰ印加電圧をＶ
m1（低電圧：低増倍率）とし、次のパルスのイオンを検
出するときのＭＣＰ印加電圧をＶm2（高電圧：高増倍
率）とし、測定時には、パルス発生器３と連動させて、
このＭＣＰへの印加電圧のスイッチ切り替えを順次繰り
返す。
ルス発生器３と連動させて、イオン検出器５であるＭＣ
Ｐの電圧をステップにて切り替える。例えば、最初のパ
ルスのイオンを検出するときのＭＣＰ印加電圧をＶ
m1（低電圧：低増倍率）とし、次のパルスのイオンを検
出するときのＭＣＰ印加電圧をＶm2（高電圧：高増倍
率）とし、測定時には、パルス発生器３と連動させて、
このＭＣＰへの印加電圧のスイッチ切り替えを順次繰り
返す。
【００１１】次に、測定システムでは、パルス発生器３
と連動させてスペクトル取り込みスイッチを切り替え、
例えばＶm1電圧で得られた質量スペクトルはスペクトル
１として保存し、Ｖm2電圧で得られた質量スペクトルは
スペクトル２として保存する。このとき、単独の未積算
の質量スペクトルを時系列的にすべて保存する場合もあ
るが、通常は、ある程度の時間、例えば百回程度平均化
した質量スペクトルを最終のスペクトルとして保存する
方法が取られる。
と連動させてスペクトル取り込みスイッチを切り替え、
例えばＶm1電圧で得られた質量スペクトルはスペクトル
１として保存し、Ｖm2電圧で得られた質量スペクトルは
スペクトル２として保存する。このとき、単独の未積算
の質量スペクトルを時系列的にすべて保存する場合もあ
るが、通常は、ある程度の時間、例えば百回程度平均化
した質量スペクトルを最終のスペクトルとして保存する
方法が取られる。
【００１２】例えば、Ｖm1で得られたスペクトル１は、
百回平均化処理を行ない、最終的にスペクトル１として
保存し、Ｖm2で得られたスペクトル２は、同じ回数平均
化処理を行ない、最終的にスペクトル２として保存し、
これを繰り返すことにより、一連のスペクトル１の集合
体とスペクトル２の集合体とを得る。
百回平均化処理を行ない、最終的にスペクトル１として
保存し、Ｖm2で得られたスペクトル２は、同じ回数平均
化処理を行ない、最終的にスペクトル２として保存し、
これを繰り返すことにより、一連のスペクトル１の集合
体とスペクトル２の集合体とを得る。
【００１３】最後に、測定システムないしは処理システ
ムにおいて、スペクトル１とスペクトル２をそれぞれの
ＭＣＰ印加電圧での増倍率で較正することにより、最終
的な一連のスペクトルとする。
ムにおいて、スペクトル１とスペクトル２をそれぞれの
ＭＣＰ印加電圧での増倍率で較正することにより、最終
的な一連のスペクトルとする。
【００１４】このとき、図３に示すように、低増倍率の
スペクトル１では、強力な信号が適切な強度で記録され
ていると共に、微弱な信号は弱すぎて見ることができな
い状態である。一方、高増倍率のスペクトル２では、強
力な信号がスケールオーバーして全体像を見ることがで
きないのに対して、微弱な信号は適切な強度で記録され
ている。そこで、質量スペクトルのイオン強度の強い部
分は、低いＭＣＰ印加電圧で取得した低増倍率のスペク
トル１を使用し、質量スペクトルのイオン強度の弱い部
分は、高いＭＣＰ印加電圧で取得した高増倍率のスペク
トル２を使用するようにする。
スペクトル１では、強力な信号が適切な強度で記録され
ていると共に、微弱な信号は弱すぎて見ることができな
い状態である。一方、高増倍率のスペクトル２では、強
力な信号がスケールオーバーして全体像を見ることがで
きないのに対して、微弱な信号は適切な強度で記録され
ている。そこで、質量スペクトルのイオン強度の強い部
分は、低いＭＣＰ印加電圧で取得した低増倍率のスペク
トル１を使用し、質量スペクトルのイオン強度の弱い部
分は、高いＭＣＰ印加電圧で取得した高増倍率のスペク
トル２を使用するようにする。
【００１５】このようにすることにより、強力な信号か
ら微弱な信号まで、スケールオーバーしたりビット落ち
したりすることのない質量スペクトルが得られ、結果的
に、質量スペクトルのダイナミックレンジを拡大するこ
とができる。
ら微弱な信号まで、スケールオーバーしたりビット落ち
したりすることのない質量スペクトルが得られ、結果的
に、質量スペクトルのダイナミックレンジを拡大するこ
とができる。
【００１６】尚、上記実施例では、ＭＣＰの印加電圧を
２種類に限定して説明を行なったが、複数の電圧の組み
合わせで、イオン強度の中間を埋めることも可能であ
る。また、イオン検出器はＭＣＰで記述したが、マイク
ロスフェアプレート（Micro Sphere Plate：ＭＳＰ）等
の異なるイオン検出器でも、印加電圧でその増倍率が変
更できるものであれば、問題なく使用することができ
る。
２種類に限定して説明を行なったが、複数の電圧の組み
合わせで、イオン強度の中間を埋めることも可能であ
る。また、イオン検出器はＭＣＰで記述したが、マイク
ロスフェアプレート（Micro Sphere Plate：ＭＳＰ）等
の異なるイオン検出器でも、印加電圧でその増倍率が変
更できるものであれば、問題なく使用することができ
る。
【００１７】
【発明の効果】以上述べたごとく、本発明の飛行時間型
質量分析計を用いれば、従来のイオン検出器におけるよ
うなダイナミックレンジの制限を克服することができ、
強力な信号や微弱な信号が複雑に入り交じった質量スペ
クトルを、全体として適切なゲインで測定することがで
きるようになる。
質量分析計を用いれば、従来のイオン検出器におけるよ
うなダイナミックレンジの制限を克服することができ、
強力な信号や微弱な信号が複雑に入り交じった質量スペ
クトルを、全体として適切なゲインで測定することがで
きるようになる。
【図１】 従来の飛行時間型質量分析計を示す図であ
る。
る。
【図２】 本発明の飛行時間型質量分析計の一実施例を
示す図である。
示す図である。
【図３】 本発明の飛行時間型質量分析計で測定された
質量スペクトルを示す図である。
質量スペクトルを示す図である。
１・・・パルスイオン発生器、２・・・イオン検出器、３・・・
パルス発生器、４・・・イオン発生器、５・・・イオン検出
器。
パルス発生器、４・・・イオン発生器、５・・・イオン検出
器。
Claims (1)
- 【請求項１】イオン検出部に印加電圧で増倍率を制御で
きるイオン検出器を用いた飛行時間型質量分析計におい
て、イオン源からのイオンパルス発生に連動してイオン
検出器への印加電圧を変え、異なる増倍率でイオンの質
量スペクトルを測定し、測定後に測定時の増倍率で質量
スペクトルのゲインを較正して、スペクトル強度の強い
箇所では低増倍率で測定した質量スペクトルを採用する
と共に、スペクトル強度の弱い箇所では高増倍率で測定
した質量スペクトルを採用して、ひとつながりの質量ス
ペクトルを合成するようにしたことを特徴とする飛行時
間型質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24888498A JP3597054B2 (ja) | 1998-09-03 | 1998-09-03 | 飛行時間型質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24888498A JP3597054B2 (ja) | 1998-09-03 | 1998-09-03 | 飛行時間型質量分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000082439A true JP2000082439A (ja) | 2000-03-21 |
| JP3597054B2 JP3597054B2 (ja) | 2004-12-02 |
Family
ID=17184883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24888498A Expired - Fee Related JP3597054B2 (ja) | 1998-09-03 | 1998-09-03 | 飛行時間型質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3597054B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030084254A (ko) * | 2002-04-26 | 2003-11-01 | 양상식 | 마이크로머시닝 기술을 이용한 초소형 질량 분석기 및 그제조 방법 |
| US6878929B2 (en) | 2000-11-29 | 2005-04-12 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer and methods of mass spectrometry |
| WO2006044440A2 (en) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Varian, Inc. | Ion detection in mass spectrometry with extended dynamic range |
| US7038197B2 (en) | 2001-04-03 | 2006-05-02 | Micromass Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
| JP2009289628A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
| EP1365437B1 (en) * | 2002-05-17 | 2014-08-20 | Micromass UK Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
| CN105719942A (zh) * | 2014-12-05 | 2016-06-29 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种用于飞行时间质谱的高动态范围检测器 |
-
1998
- 1998-09-03 JP JP24888498A patent/JP3597054B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6878929B2 (en) | 2000-11-29 | 2005-04-12 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer and methods of mass spectrometry |
| US6894275B2 (en) | 2000-11-29 | 2005-05-17 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer and methods of mass spectrometry |
| US7038197B2 (en) | 2001-04-03 | 2006-05-02 | Micromass Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
| KR20030084254A (ko) * | 2002-04-26 | 2003-11-01 | 양상식 | 마이크로머시닝 기술을 이용한 초소형 질량 분석기 및 그제조 방법 |
| EP1365437B1 (en) * | 2002-05-17 | 2014-08-20 | Micromass UK Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
| WO2006044440A2 (en) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Varian, Inc. | Ion detection in mass spectrometry with extended dynamic range |
| WO2006044440A3 (en) * | 2004-10-13 | 2007-03-29 | Varian Inc | Ion detection in mass spectrometry with extended dynamic range |
| EP2306491A1 (en) * | 2004-10-13 | 2011-04-06 | Varian, Inc. | Ion detection in mass spectrometry with extended dynamic range |
| JP2009289628A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
| CN105719942A (zh) * | 2014-12-05 | 2016-06-29 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种用于飞行时间质谱的高动态范围检测器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3597054B2 (ja) | 2004-12-02 |
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