JPS5943027A - 溶剤可溶性ポリイミドの製造法 - Google Patents

溶剤可溶性ポリイミドの製造法

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JPS5943027A
JPS5943027A JP15414982A JP15414982A JPS5943027A JP S5943027 A JPS5943027 A JP S5943027A JP 15414982 A JP15414982 A JP 15414982A JP 15414982 A JP15414982 A JP 15414982A JP S5943027 A JPS5943027 A JP S5943027A
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JP
Japan
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mol
polyimide
diamine
solvent
reaction
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Pending
Application number
JP15414982A
Other languages
English (en)
Inventor
Ken Noda
謙 野田
Toshio Nakajima
中島 登志雄
Kazuo Iko
伊香 和夫
Hideto Suzuki
秀人 鈴木
Fujio Kitamura
北村 富士夫
Akiko Ono
小野 彰子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この抛明ばプエラ□−ル系溶剤その他の有機溶剤に可溶
性であネと共にシリコンウェハの如き珪素含有材に鉛す
之−電性に1<:れしかも給温特性の良好なポリイ送ド
の製造法に関する。
□近年、単導体電子の表面保護膜1層間絶縁膜。
ジャン表ジョン葆−膜など1と、耐地iこすセ゛れ−ま
た卓越した電気絶縁性□、低低応力性1械械的度などを
有する系リイミβが珀いられるようにかつて養た。ル力
:注、こめ種の耐熱碓高公手はシリコンウ星ハ:ガラス
などのi繁含肴材に対子流密着仕に劣6繭着し′1〜コ
)という灸点示あ乞ことから、半導体素子:・ftK 
e ’) 4W頼性が°゛まひと9満足1.きる。 、
・ものとはいえなかった。
またy示すイミド’:i」般に有機溶斉[こと不溶・で
あ  □るため、その前駆竺工弗る。ポリテミド酸の状
態で有機溶剤に溶解(5ておきこれを被塗物」二に塗着
し □たのち高温下で加臓処理してイミ′ド化する方法
でつぐられているが、上記加熱、処理が不、充分である
とイミド化皮膜中にアミド・酸構造としてのカルボン酸
か一部残存しこれが半導体素子の耐湿特性ないし耐腐食
性を低十させる直・・接の原因となるおそれがあった。
このた銘、上記加熱処理(j必□然的に長(ならざるを
えす、とくに皮膜中にピン!j−)Iy!lどを発生さ
せないように徐々に昇温ニジて一階的に加□熱したりさ
らに’A@17を杓子、、OIL琳下に一部しなければ
ならないなどポリイξト]形成、作、業が非常に血準]
とな 。
る。そして、このよう、な煩、雑な加熱処理を施したと
しても、高度の耐湿特性ないし耐腐食性が要求される半
導体菓子に対して必すしも満足できるイミド化皮膜を形
成しつるものとはいえながった。
今日まで、ポリイミドの密着性を改善する手段としては
、テトラカルボン酸二無水物とジアミンとからポリアミ
ド酸の溶液を得る際に、上記ジアミン成分のすべてない
し大部分としてジアミノシロキサンを用いて、最終的に
形成されるポリイミにの分子骨格中にSi−O−Si結
合を尋人し、これによってシリコン、ウェハなどへの密
着性を向上させる方法が知られている。
しかし、この方法では、密着性の向上をある程度図りえ
たとしても、ジアミノシロキサンの多量使用によってポ
リイミド皮膜の耐熱特性を大きく損たうおそれかあるば
かりか、耐湿特性の而で好結果が得られず、またポリア
ミド溶液からイミド化膜を形成する点において従来と特
に、変るところがなく、したがって前述したアミド酸構
造としての力少、ポン、酸の残存によ・?、工上記耐湿
特性ざらに耐腐食性の低下を免れず、、、、また7JI
i熱処理に当って高温で長時間を要するなどの問題を依
然として有してい、た。      、  : 一部、。1つい7,7゜、。□9.おい7、   :。
特定のテトラカルボン酸成分ないしこれへ特定のジアミ
ンとを組み合せ使用することにより、両者を有機溶剤中
脱水重縮合区応させて有機溶剤に可溶性9ポ、!イミド
を得る方法、が提案亭ム、この方法で得られるポリイミ
ド被覆を電響などに塗布したのう有機溶剤を揮歎させる
程度の餐件で加熱処理することによって容易にポリイミ
ド被覆できることが報告されている。
たとえば特公昭47−26878号公号では、テトラカ
ルボン酸成分点し石3・3′・4・4′−へ、ンゾフエ
ノンテトラカルボン酸ないしその二無杢物の如春誘導体
を特定割合で含むものを使用しこむとジアミノジフェニ
ルメタンの如き特定のジアミンを特定!J合で含9ジア
ミン成盆とをフェノニ9系溶剤中で加熱冬応させて、上
記溶剤に可溶性のポリイミドを得る方法が、また特開昭
5 C)−113,5,,97号公報では、テトラカル
ボン酸成分とじ石ジフェニルテトラカルボン酸qいしそ
の二無水物9如き誘導体を使用しこれとてルキレンジア
ミくや芳香族ジアミンとを有機極性溶剤中で加熱反応さ
せて、溶剤可溶性のポリイミドを得る方法などが、提案
されている。
このようなポリ、イ≧、1溶液を半導体素子の表面保護
膜1層間絶縁膜、ジャンクション保護膜など・・・・・
・・・・・・・、皮膜Jig g R171> 7JI
]熱・・・       □1゜低温にしてかつ短時間
で行なうことができ、また残存力イレボン酸に些因した
耐湿特゛性ないし耐腐食性の低下を防止できるものと期
待される。
ところが、上記提案に係るポリイミド溶液は、上述のと
おり、テトラカルボン酸成分ないしジアミン成分が、非
常に限られたものであるため、これをそのまま半導体素
子に応用しても被塗物に対する密着性が充分なものとな
らず、その結果密着不足による耐湿特性の低下をきなし
て、半導体素子などの信頼性を大きく向上させるには至
らない。
また、テトラカルボン酸成分の種類に劣っては完全にイ
ミ、ド化されたポリイミドを形成し難いものかあり、こ
些が原因で耐湿特性ないし耐腐食性の低下をきたすこと
があり、このため加熱処理の条件もある程度厳しく管理
しなければならないなど、半導体素子への適合性に欠け
る憾みがあった。
この発明者らは、以上の観点から、テトラカルボン酸成
分と反応させるジアミン成分の一部としてジアミノシロ
キサンで代表される特定のシリコン系ジアミンを少量用
いてシリコンウェハなどの珪素含有材(こ対する密着性
の向上を図る一方、このようなシリコン系ジアミンを用
いる・場合にいかなるテトラカルボン酸成分ざらにはシ
リコン系ジアミン以外のジアミン成分を用いれば有機溶
剤可溶性のポリイミドが得られるか、またこのポリイミ
ドが完全にイミド化されまた上記シリコン系ジアミンの
一部使用にもかかわらす高分子量体となって、耐湿特性
ないし耐腐食性に好結果を与えざらにポリイミド本来の
すぐれた耐熱性、電気絶縁性、機械的強度などを与える
かにつき、鋭意検討した結果、遂にこの発明を完成する
に至ったものである。   、       ′   
  □すなわち、この発明は、3・3′・4・4/−ジ
フェニルテトラカルボン酸二無水物(以下、単にS−1
1)DAという〕と3・3′・4・4′−ベンツ゛フエ
ノンテトラカノシボン酸二無水物(以下、車にM’l 
−r I:) Aという)とを同成分の合計量中に占め
る5−13・Pi)Aの割合が41=59−6)し%B
T1)Aの割合が59〜4□1モル%となる混合比率で
含むテトラカルボン酸二無水物と、つぎの一般式; (式中、R,はメチレン基・フェニレン基または置換フ
ェニレン基、R2はメチル基、フェニル、基または置換
フェニル基、Xは酸素原子、フェニレン基または置換フ
ェニレン基、nはR1が□フェニレン基もしくは置換フ
ェニル基の場合は1.メ・≠レン基の場合は3まhは4
の整数である) で表わされるシリコ□ン系ジアミン01〜10モル%を
少なくとも含みかつトルエンジアミンが30モル%未満
の割合で含まれていてもよいジアミンとを、略等モルフ
エノール系溶剤中80〜20′0℃の温度で加熱反応さ
せ、アミドイピ反応とこれに引き続くイミド化反応とか
らなる脱水重縮合反応を上記イミ・ド化反応時に副生ず
る水を反応系外に除去しながら行なうことを特徴とする
溶剤可溶性ポリイミドの製造法に係るものである。
このように、この発明においては、ジアミン成分として
前記一般式で表わされる特定割合のシリコン系ジアミン
を必須成分としこれ以外のジアミンのウチトルエンジア
ミンが特定置台まれていても・よい混合ジアミンを使用
すると共に、これと特定比率(7)、 S −B、 P
 D AとB T D’A、’ 、!:カらなるテトラ
カルボン酸二無水物とを前記、方法で脱水重縮合反応さ
せることを要旨としたもので、これによればフェノール
系溶剤その他の有機・溶剤に可溶性でしかもシリコンウ
ェハの如き珪、集合有材に対する密着性にすぐれ、また
分子内にアミド酸構造としてのカルボン酸をほとんど含
まないほぼ完全にイミド化された高分子量のポリイシド
を容易に得ることができる。
したがって、上記方法で得られ□るポリイミドの有機溶
剤溶液によ・れば、これをシリコンウェハなどに塗布し
たのち低温短時間の加熱処理を施すだけで、密着性と耐
湿、特性なりし耐腐食性5巷にすぐれるポ、リイ、ミド
皮膜、を形感でき、1またこの皮膜はポリイミド本来の
すぐれた耐熱性、電気絶縁性、機械的強度などを保有し
ていることから、半導体素子、Φ−面堡護膜1層間絶縁
、膜、ジャ、ンクション保護膜・α線対策用の厚い保護
膜など、また液晶アライメント、マーティング、積層板
など従来公知の、、各種、用途に有効に適用できる。 
 ・この発明において用い、られるテトラカルボン酸成
分は、5−ISjQAとBTDAとの混合系であって両
感、、分の合計量中に占める5、、BP、pAの割合が
41〜59モル%でBfDAの割合が59〜41モル%
とされたものであり、両二無水物を上記特定の埠率で併
用したときには、シリコン系ジアミン以外のジアミン1
.成分としてトルエンジアミンが30モル%未満(Qも
含む)とされた各種のジアミンを世いて、、、も有機溶
剤に可溶□性のポリイミドが得られるこ点痴見り□出さ
れた。
なお、かかるテトラカルボン酸二無水物のほがに、25
モル%未満であれば他のテトラカルボン酸盛分、た、と
えば2・3・、3’−,4′−ジフエ冊ルテトラヵルボ
ン酸二無水物(以下1.単にa−Bl)DAという)ピ
ロメリット酸二無水物(以下、巣にP M D Aとい
つ〕、3・3′・4・4′−ジフェニルエーテルテトラ
カルボン酸二無水物、2・3・6・7−ナフタレンテト
ラカルボン酸二無水物、l・4・5・8−ナフ・タレン
テトラカルホン酸二無水物などを使用できる。これらテ
トラカルボン酸成分はいずれも二無水物であることが必
要で、他のテトラカルボン酸そのものあるいはそのエス
テルなどではジアミン成分との反応性に劣ったり1、副
生物として水以外のアルコールなどが生じるため反応中
の副生、物の除去が面倒となって高分子量のポリイミド
の形成に好結果を与えない。
この発明において用いられるジアミン成分としては、前
記一般式で表わされるシリコン系ジアミンを少なくとも
含み2・4−トルエンジアミンや2・6−トルニンジア
、ジンの如きトルエンジアミンが30モル%未満とされ
る以外各種のジアミンを使用でき、るが、なかでも4−
4′−ジアミノジフェニルメタイ、4伊4−ジアミノジ
フェニルエーテル、3・3−ジアミノジフェニル・メタ
ン、バラフェニレンジアミン、メタフェニレンジアミン
、ベンチジン、3・3−ジメチルベンチジン、3・3′
−ジメトキシベンチジン、・4・4′−ジアミノジフェ
ニルスルホン・4+ジアミノシフ1″″スルフイド・3
      、。
・3−ジアミノジフェニルスルホン、3・3′−ジアミ
ノジフェニルスルフィド、4・47−ジアミツジフエニ
ルフロハンー2−2,3a3−ジアミノジフェニルプロ
パン−2・2などの芳香族系のジアミンが好ましい。
うな構造式を有するものを具体例として挙げるこ   
   ・、1よヵ、7..え。ヶエ18(よ。、1〜1
.、。え729、つ□   リ1ニー1 ましくは2〜7モル%である。このような使用割合とす
ることによって、有機溶剤に可溶性であると共にシリコ
ンウエハに対する密着性および耐湿性ないし耐腐食性に
すぐれるポリイミドの製造が可能となる。
〈シリコン系ジアミンの具体例〉 この発明においては上記のテトラカルボン酸二無水物と
ジアミン成分とを略等モル(どちらか一方が多少過剰で
あってもよい)使用し、両成分を常2〜1.0時間反応
させる。この反応は、アミド化反応とこれ、に・引き続
くイミド化反応とからなる脱水重縮合反応を行なわせる
ものであるが1.上、記て取り除・く。水の除去は反応
率を・高め高分子量のポリイミド、の生成に好結果を与
える。
フェノール系溶剤は水と相溶しにくいために副生する水
の留去が容易となり、また経済的でしかも被膜形成時に
揮散させやすい、ことから選ばれたもの□である。ピロ
リドンの如き極性溶剤は上記観点からこの反応には不適
当である。フェノール系溶剤としてはメタ、・クレゾー
ル、パラクレゾール、キシレノ、−ル、、フェノールお
よびこれらの混合溶剤などが用いられる。これらのフェ
ノール系溶剤と共に水と共沸しやすいキシレン、トルエ
ンの如き芳香族溶剤を併用して水の留去をより容易にさ
せることは好ましい手段である。
なお、」1記の各有機溶剤並びに前記のテトラカルボン
酸二無水物およびジアミン成分からなる重合用原料は、
これにNa 、K 、Cλ などのカチオン性不純物や
C1−などのアニオン性不純物が含まれていると、得ら
れるポリイミド溶液を半導体素子に適用したとき素子の
電気特性や耐湿特性が悪くなるおそれがある。したがっ
て、上記各原料ばあらかしめ周知の方法により充分精製
したのち、使用すべきである。たとえばNa  イオン
で5 PPm以下、好適には1. ppmJa下である
ことが望ましい。
このようにして得られる重合反応物は、はぼ完全にイミ
ド化されかつN−メチル−2−ピロリドン中0.5!7
/100−の濃度で30℃下で測定される固有粘度〔η
〕が約0.3〜3,0の範囲にある高分子量のポリイミ
ドとされたものである。
このポリイミドは重合反応時に用いたフェノール系溶剤
の溶液としてそのまま使用に供することができ、また必
要なら一旦アセトンやメタノール中に沈でんさせてろ過
乾□燥して精1!1mシたのち、クレゾールその他のフ
ェノール系溶剤やN−メチル−2−ピロリドン、ジメチ
ルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、ペキサメチレ
ンホスホルアミドなどの各種有機溶剤に溶解させて使用
に供することができる。□ □使用時の固形分濃度はとくに規定されるものではなく
、用途目的に応じて適宜選択することができる。しかし
、一般には5〜40量量%、好適には10〜30重量%
程度とするのがよい。また、上記溶液には用途目的に応
じた添加剤を配合することができるd このポリイミド溶液をシリコンウェハなどに塗着させた
のぢ、□有機溶剤が揮散し□つる程度の温度、たとえば
150〜350℃で12σ〜1分間加熱処理することに
より、シリコンウェハなどに対する密着r イミド皮膜を得ることができ名。従来のポリアミド酸溶
液を用いたものでは、たとえば1’00℃で60分間、
150℃で60分間、200℃で60分間および250
℃で60分間といった段階的でかつ高温長ができまたよ
り低温で行・なうことも可能であるという特徴を有して
いる。
□以下に、この発明の実施例を記載してより具体的に説
明する。なお、以下に固有粘度とあるはN−メチル−2
−ピロリドン中0.5117100m1の濃度で30℃
下で測定した値を意味する。
実施例l 5−BPDA14.7PC0,05モル)、BTDA1
6、H’(0,05モル)、4・4−ジアミノジフェニ
ルエーテル19.4 fl (0,097モル〕および
前記・構造式イで示されるビス(3−アミノプロピル)
テトラメチルジシロキサン0,7.4 F!(0,00
3モル)を、工業用のメタ、パラ混合クレゾール154
グおよびキシレン2OfI中に加え、かきまぜながら1
時間□で180℃まで昇温した。
昇温途中、一時反応系が固化するがざらに加熱していく
と100℃近(より均一溶液となった。また、反応系が
100〜120℃になると脱水反応がおこり、イミド化
反応が進行し始めた。副生じた水は窒素ガスを流しなが
らキシレンと共沸させて反応系外へ留去した。このよう
にしそ、170〜180℃で8時間加熱反応させて透明
で粘稠な溶液を得た。
この溶液は、固形分濃度(200℃で2時間加熱して測
定)が26.5重量%、溶液粘度(回転粘度)が3,8
00′;t?イズ(3′0℃)′、固有粘度が0.82
であった。また、こめ溶液をガラス板上に塗布したのち
、所定め条件で加熱処理しtポリイミド皮膜を形成しJ
この皮膜につき赤外線吸収スペクトルを測定したところ
、第1図〜第4図に示されるとおりでおった。    
′  。
各図における加熱条件は、第1図で130℃、10分間
J第2図で130℃、30分間、第3図で130℃、6
0分間、第4図テ130℃、120分間である。
これらの図から明らかなように、非常に低温にしてかつ
短時間の加熱処理であるにもかがイ?らず、1.、72
0 cm  および178.Ocm   にイミド基に
基づく〉C−Oの吸収が明確に現われている。
つぎに、上記のポリイミド溶液をメタ・パラ混合クレゾ
ールで希釈したのちシリコンウェハーににスピンコード
し、熱風乾燥機中150℃で10分間お夷び300℃で
30分間加熱処理して強じんなポリイミド皮膜を形成し
、この皮膜のシリ、コンウェハに対する密着性、体積抵
抗率(5,00V印加)・および絶縁破壊電圧を調べた
結果は、後記の第2表に示されると郁りであった。なお
、密着性および体積抵抗率については、常態とPCT×
24時間(プレッシャーフッカ下テスト:121℃、2
気圧下飽和水蒸気中24時間の加圧試験〕との試験結果
を示した。
また、上記試験特性とは別に、耐腐食性試験として以下
の如き試験を行なった。すなわち、アルミ配線をもつ、
た腐食試験用モデル素子上にポリイミド皮膜を形成し、
エポキシ成形材料でl 5 pinD T、 Pの形に
モールドした。これをp、c、■(条件は前記と同じ)
500時間を行ない、テスターにより、アルミ配線の腐
食によるオープン不良を調べた。、試験はザンプルパタ
ーン数40で行ない、5o。
時間後のオープン不良のパターン割合を後述の第2表に
%で表わした。
比較例1 1’Ml)A 21..8 P (0,,1モル)と4
・4′−ジアミノジフェニルエーテル20.・09 (
0,’1モル)とをN−メチル−2−ピロリドン306
 f!に溶解し、30℃で180分間かくはん反応させ
てポリアミド酸の溶液を得た。この溶液は固形分濃度が
1・1.5重量%、溶液粘度(30℃)が150ポイズ
、固有粘度が0.46であ・つ・た。   ・ この溶液をガラス板上に塗布したのち、所定の条件で加
熱処理してポリイミド皮膜を形成し、この皮膜につき赤
外線吸収スペクトルを測定したところ、第5図〜第7図
14示されるとおりであった。
なお、各図における加熱条件は、第5図で130℃。
20分間・第6図で250℃’ 、、、 60分間・第
7図で      :250℃、240分間である。 
  。
これらの図から明らかなよう、に、害施例1のものに較
べてかなり高温にしてかつ長時間の加熱処理全行なわな
ければ、イミド基に基づ<、、>C=O9吸収が嬰確に
現われてこないことがわかる。また、この例では、加熱
処理を上述の如く1段で行なったときには、皮膜にピン
ホールが多く現出し、これを抑制するために、100℃
位かう250℃ないしそれ以上の温度まで4段階以上に
分けて各段毎に60分なりしそれ以上の加熱処理を行な
う必要があ、、つた。 、       、     
  ・。
、つぎに、上暉のポ・リアミド、酸溶液を、N−メチル
−2,−ピロリ、トンで希釈したのち、シリコンウェハ
上にスピンコードし1、熱風、乾燥機中:100℃、で
60分間、150℃で60分間、200℃で13.、 
Q分間およq’250℃で90分間の加熱処理を行なっ
てポリイミド皮膜を形成し、この皮膜の特性につき実施
例1と同様、にして調べた結奥、並、びに耐腐食性を試
験した結果楳、後記の第2表に示されるとおりであった
。          :  :比較例2 P M D A2.l、 3グ(010モル)と4・4
′−ジアミ7、ッS ;、 k 、:C−ヶ、2□4o
7.。、07ヤ1.3、ゎ    :J(,09,!J
:+7,197e 77.44fi’(0,03%>l
z)    ・1とを、N−メチル−2−ピロリドン3
17vに溶解し、5℃で18・0分間かくはん反応させ
てポリアミド酸の溶液を得た。この溶液は固形分濃度が
123重量%、溶液粘度(30℃〕が80ポイズ、′固
有粘度が0.38であった。このポリアミド酸溶液から
ポリイミド皮膜を形成する場合の加熱条件は、比較例1
の場合と同様であり、・高温にしてかつ長時間の加熱処
理を要した。
つぎに、上記のポリアミド酸溶液をN−メチル−2−、
ピロリドンで希釈したのち、シリコンウエノ〉上にスピ
ンコードし、熱風乾燥機中100℃で60分間、150
神で60分間、200℃で6−0分間および250℃で
60分間の加熱処理を行なってポリイミド皮膜を形成し
、この皮膜の特性につき実施例lと同様にして調べた結
果、並びに耐腐食性を試験した結果は、後記の第2:□
表に示され□るとおりであった。
比較例3 4・4′−ジアミノフェニルエーテルの使用量を17.
6 !7 (0,088モル)、構造式イで示されるビ
ス(3−アミノプロピル)テトラメチルジシロキザンの
使用量を2.24 fi’ (0,C112モル)とし
た以外は、  。
実施例1と同様にして重合反応を行なった。得られた重
合体溶液は、固形分濃度が26.1重量%、溶液粘度(
30℃)が380ポイズ、固有粘度が0.22の透明粘
稠溶液であった。
この溶液をガラス板上に塗布し、150℃で30分加熱
してクレゾールを完全にとばしたが、フィルム化するこ
とはできなかった。すなわち、この方法では、シリコン
系ジアミンが多すぎるために  :重合反応が阻害され
、皮膜化可能なポリイミド樹脂を得ることはできなかっ
た。
比較例4 ル19.O!il!(0,095モル)および構造式イ
のシリコン系ジアミン1.24 P C0,005モル
)を、工業用・ のツタ、、、パラ混合クレゾール15
4gとキシレン20gと中に加え、かきまぜながら1時
間で180℃まで加熱昇温した。この昇温途中、反応系
は一旦固化し、さらに加熱を続けると透明になり、80
〜、120℃で脱水反応がおこり始めた。30分間16
0〜180℃に保つと再び不溶化し、かきまぜ棒に巻き
ついた。そこで、クレゾール100gを追加してみたが
、もはや均−系とすることはできなかった。
すなわち、この方法では、フェノール系溶剤に可溶なポ
リイミドを得ることはできなかった。
□  比較例5 S −B”PDAI Q3グ(0,035モル)、BT
I)A 20.9fl (0,O’65 モル)、P−
T7エ=)ンジアミン1o、3 。
F(0,095モル)および構造式イのシリコン系ジア
ミン1.24 y (0,OC1!5モル〕を用いて、
比較例4と同様に重合反応を行なってみたが、比較例4
の場合と全く同様にフェノール系・溶剤に可溶なポリイ
辷ドを得ることはできなかった。
実施例2〜7 つぎの第1表に示される重合用原料を用いがっ同表に示
される反応条件とした以外は、実施例1乞、同様にして
6.種♀ポリイミド溶液を得た。各溶液の固形分濃度・
溶液粘度(回転粘、度30℃〕および固有粘度は、第1
表に併記されるとおりであった。
また、各溶液をガラス板上に塗布したのち、80’C/
 0.5 mml−11iL 下で2時間乾燥してポリ
イミド皮膜を形成し、この皮膜につきそれぞれ赤外線吸
収スペクトルを測定したところ、いずれも1720cm
−’お+び1780cm’−” jこイミド基に基づ<
>C=Oの吸堅が明確に認められた。      :つ
主に、上記の各溶液から実施例1と同様の手  。
法に石シリコンウェハ上にポリイミド皮、膜を形晟し、
その特性を調べた結果、並びに耐腐、食性を試□験した
結果は、後記の第2表に示されるとおりであった。なお
、実施例2.4については皮膜形成時の希釈用溶剤とし
てキシレンとパラ、メタ混合クレゾールとの1:1混合
溶剤を、同様に実施例3についてはセロソルブとメタ・
パラ混合クレゾールとの1:]混混合剤を用いた。
比較例6〜7 つぎの第1表に不される重うソ料を用いかつ同人に示さ
れる反応条、、件とした以外見、実施例1と同様にして
2.種のポリイミド溶液を得た。各溶液の固ノー分濃度
・溶液粘度(39℃)および固有粘序は、第1表に併記
さ与るとセリであった・つぎ、に、各溶液から実施例ジ
と同様の手法にてシリコ、ンウエハ上にポリイミド皮膜
を形成し、その特性:′を調べた結果、並びに耐腐食性
を試験した、 結果は゛、第2.表に示さ9るとおりで
あった。
1 以」二の結果から明らかなよう齋こ、この発明の方法に
よれば、低温短時間の加熱処理によって容易に皮膜化し
うる有機溶剤可溶性のポリイミドを得ることができると
共に、所定の加熱処理で皮膜化されたポリイミドはシリ
コンウェハに対する密着性にすぐれまた耐湿特性や耐腐
食性さらに電気特性にもすぐれたものとなっていること
かわかる。
これに対し、従来のポリアミド酸を得る方法(比較例1
.2)ではイミド化皮膜の形成に高温でかつ長時間を要
する欠点があるうえに、密着性改善のための手段をなん
ら肴しない比較例1にあっては、その−着不足とイミド
化皮膜中に1部残存しやすいポリアミド酸構造としての
カルボン酸の影響で耐湿特性や耐腐食性に大きな欠点を
有している。比較例2ではシリコン系ジアミンの使用に
 □よって密着性の向上効果はある程度認められるが、
耐湿特性ないし耐腐食性の面ではあまり好結果が得られ
ていない。
一方、シリコン系ジアミンを全く用いない従来の有機溶
剤可溶性のポリイミドを得る方法(比較例6〜7)では
、皮膜化されたポリイミドのシリコンウェハに対する密
着性が著しく悪く、生としてこれが原因で耐湿特性1電
気特性および耐腐食性の低下をきたし、半導体素子への
適用が困難となっている。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図はこの発明法によって得たポリイミドの
溶液から形成したポリイミド皮膜の赤外線吸収スペクト
ルを示す特性図、第1図〜第4図□ は従来のポリアミ
ド酸溶液から形成したポリイミド皮膜の赤外線吸収スペ
クトルを示す特性図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)3・3′・4・4′−ジフェニルテトラカルボン
    酸二無水物と3・3′・4・4′−ベンゾフェノンテト
    ラカルボン酸二無水物とを同成分の合計量中前者が41
    〜59モル%後者が59〜41モル%となる混合比率で
    含むテトラカルボン酸二無水iと、つぎの一般式;(式
    中、R1はメチレン基−フェニレン基または置換フェニ
    レンm、it2’+4メチル永、フェニル基または置換
    フェニル基、Xは酸累原字、フェニレン基または置換)
    遵ニレン基、nはRr カフエとレン基もしくは置換フ
    ェニレン基の場合・は11、メ1チレン基の場合は3ま
    たは4の整数tある)  ′ で表わされ・るシリコン系ジアミンを0.1〜10モル
    %含ミカつトルエンジアミンが30モル%未満の割合で
    含まれすいてもよいジアミンとを、略等モルフェノ△レ
    レ系溶剤中80〜260℃の温度上加熱反応させ、アを
    ド化反応とこれに引きm’<< ミド化反応とからな乞
    脱水重縮合反応を上記イミド化反応時に冨1j年する水
    を反応系>+1と除去己ながら行なうことを特徴とする
    溶剤可溶性ポリイミドの製造法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63166961A (ja) * 1986-12-27 1988-07-11 Ulvac Corp ポリイミド樹脂被膜の形成方法
JPH0721639U (ja) * 1994-07-11 1995-04-21 株式会社平河工業社 製版用感光体の搬送ローラ

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JPS63166961A (ja) * 1986-12-27 1988-07-11 Ulvac Corp ポリイミド樹脂被膜の形成方法
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