JPS5945377A - 導電性銀ペ−スト組成物 - Google Patents

導電性銀ペ−スト組成物

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JPS5945377A
JPS5945377A JP15549782A JP15549782A JPS5945377A JP S5945377 A JPS5945377 A JP S5945377A JP 15549782 A JP15549782 A JP 15549782A JP 15549782 A JP15549782 A JP 15549782A JP S5945377 A JPS5945377 A JP S5945377A
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JP
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Application number
JP15549782A
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Inventor
Kazuo Iko
伊香 和夫
Hideto Suzuki
秀人 鈴木
Fujio Kitamura
北村 富士夫
Akiko Ono
小野 彰子
Ken Noda
謙 野田
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Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Electric Industrial Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は主として半導体素子をステムあるいはリード
フレームからなる基板に接着固定するためのいわゆるダ
イポンディング用として有用な導電性銀ペースト組成物
に関する。
半導体装置、たとえばトランジスタでは、IJ−ドフレ
ーム上に半導体素子を導電性接着桐材によってダイボン
ディングし、上記素子上の一対の電極を対応する他のリ
ードフレームにそれぞれ金嘱線を介して電気的に接続し
、ざら(ここれらを一体に樹脂封止している。上記の導
電性接着材料としては、従来、エポキシ樹脂をバインダ
成分とした導電性銀ペースト組成物が用いられ、これを
IJ−ドフレーム上に所定量塗工しこの上に半導体素子
を配置したのち、加熱硬化させて上記素子をダイボンデ
インクするという手法かとられてきた。ところが、上記
従来の導電性銀ペースト組成物を用いてタイボンディン
グされた半導体装置は、高温での電気特性に劣る欠点が
あった。
この欠点を回避したものとして、ポリアミド酸の如きポ
リイミド前駆体の溶液に銀粉を混練してなる導電性銀ペ
ースト組成物が提案されており、これによればダイボン
ティング時の加熱硬化1こより上記前駆体が閉環(イミ
ド化)して耐熱性に非常にすくれたポリイミドを与える
ため、半導体装置の高温での電気特性に好結果がもたら
される。
しかるに、この種の組成物は、」1記利点(こもかかわ
らず、ポリイミド前駆体をポリイミドに変換するための
加熱処理に高温でかつ長時間を要するという欠点かあり
、これが半導体装置の製造作業性を著しく損なったり、
また素子ないし装置構成物に対し熱的な悪影響を与える
心配があった。
この発明は、」二記の観点から、低温短時間の加熱処理
によって耐熱性にすぐれた硬化接着層を形成でき、以っ
て半導体装置の高温での電気特性とその製造作業性とを
大巾に向上しうる新規かつ有用な導電性接着材料を得る
ことを目的としたものである。
ところで、この出願人は、すでに特定のテトラカルボン
酸二無水物と特定のジアミンとを加熱反応させて、アミ
ド化反応とこれ(こ引き続くイミド化反応とからなる脱
水重縮合反応を行tSわぜることにより、珪素含有相に
対して密着性にすぐれるポリイミド皮膜を低温短時間の
加熱処理で容易に形成しうる溶剤可溶性のポリイミドを
得ることに成功した。
この発明は、引き続く砂究において、−]−述の如くし
て得られる溶剤可溶性ポリイミドを有機溶剤に溶解させ
、これにさらに銀粉を混練してなる導電性銀ペースト組
成物が、前記目的にかなった、つまり従来のエポキシ系
およびポリイミド的駆体系銀ペースト組成物のいずれの
欠点も有しない半導体素子のダイボンディング用として
きわめて好適な導電性接着材料となりうろことを知り、
なされたものである。
すなわち、この発明は、75モル%を超える割合の3・
3′・4・4′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水物
(以下、単に5−13門〕Aという)およヒ/または3
・3′・4・4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二
無水物(以下、単にRTl) Aという)を主成分とし
たデi・ラカルボン酸二無水物と、l−ルエンジアミン
30〜99.9モル%オヨヒつぎの一般式; %式%(2 (式中、艮1はメチレン基、フェニレン基またハ置換フ
ェニレン基、I(zはメチル基、フエご一ル基または置
換フェニル基、Xは酸素原子、フェニレン基マたハ置換
フェニレン基、nはに1かフェニレン基もしくは置換フ
ェニレン基の場合は1、メチレン基の場合は3または4
の整数である)で表わされるシリコン系ジアミン0,1
〜10モル%を少fX くとも含むシアミンとを脱水重
縮合させて得られる溶剤可溶性ポリイミド、有機溶剤お
よび銀粉を含むことを特徴とする導電性銀ペースト組成
物に係るものである。
このように、この発明においては、前記一般式で表わさ
れるシリコン系ジアミンおよびトルエンジアミンを特定
割合で含むジアミンと5−10) l)Aおよび/また
はB TI) Aを主成分としたテトラカルボン酸二無
水物との脱水重縮合て得られる溶剤可溶性ポリイミドの
有機溶剤溶液に銀粉を混練したことを要旨としたもので
、これによれば有機溶剤を揮散除去しうる程度の低温短
時間の加熱処理によってポリイミド本来の耐熱性にすく
れしかもリードフレームやステムないし半導体素子に対
する密着性良好な硬化接着層を形成できるから、半導体
装置の高温での電気特性とさらにその製造作業性とを大
[1]に改善することかできる。
この発明において用いられるテトラカルホン酸成分は、
S −131) l) AおよびI’31−1) Aか
ら選はれた少なくとも1種が全体の75モル%をdイ(
える割合とされたものであるが、25%未満の割合て併
△ 用可能な他のテトラカルホン酸成分としては、2・3・
3′・4′−ジフェニルテ1〜ラカルボン酸二無水物(
以下、単にa −B l’ l) Aという)、ピロメ
リット酸二無水物(以上、用に11 M l) Aとい
う)3・3′・4・4′−ジフエごルエーデルテトラカ
ルボン酸二無水物、2・3・6・7−ナフタレンテトラ
カルボン酸二無水物、■・4・5・8−ナフタレンテト
ラカルボン酸二無水物などが挙けられる。これらテトラ
カルボン酸成分はいずれも二無水物であることか必要で
、他のテトラカルボン酸そのものあるいはそのエステル
fλどては、ジアミン成分との反応性(こ劣ったり、副
生物として水辺外のアルコールなどが生じるため反応中
の副生物の除去が面倒となって高分子量のポリイミドの
形成に好結果を与えない。
この発明において用いられるジアミン成分としては、ト
ルエンシアミンと前記一般式で表わされるシリコン系ジ
アミンとを少なくとも含むもので、その他必要に応じて
4・4′−ジアミノジフェニルメタン、4・4′−ジア
ミノジフェニルエーテル、3・3′−ジアミノジフェニ
ルメタン、パラフェニレンジアミン、メタフェニレンジ
アミン、ベンチジン、3・3′−ジメチルベンチジン、
3・3′−ジメトキシベンチジン、4・4′−ジアミノ
シフニーニールスルホン、4・4′−ジアミノジフェニ
ルスルフィド、3・3′−ジアミノジフェニルスルホン
、3・3′−ジアミノジフェニルスルフィド、4・4′
−ジアミノジフエニルプロパン−2・2.3・3′−ジ
アミノジフェニルプロパン−2・2などの好ましくは芳
香族系のジアミンを併用することができる。
トルエンジアミンとしては、2・4−トJ1...T−
7ジアミンや2・6−トルエンジアミンが用いられるが
、その使用割合は全ジアミン成分中30〜99.9モル
%である。また、シリコン系ジアミンとしては下記に示
されるような構造式を有するものを具体例として挙げる
ことができ、その使用割合は0.1〜10モル%、好ま
しくは2〜7モル%である。このような使用割合とする
ことによって、有機溶剤に可溶性でかつ半導体素子やリ
ードフレームなどに対する密着性および耐湿性ないし耐
腐食性にすぐれるポリイミドの製造をd■能とする。
〈シリコン系ジアミンの具体例〉 1 この発明における脱水重縮合反応は、」−記のテトラカ
ルボン酸二無水物とジアミン成分とを略等モル(どちら
か一方が多少過剰であってもよい)使用し、両成分をフ
ェノール系溶剤中80〜200°Cに加熱して通常5〜
9時間反応させること(こよって達成される。この反応
は、アミド化反応とこれに引き続くイミド化反応とから
なる脱水重縮合反応を行なわせるものであり、」1記イ
ミド化反応時に副生ずる水は反応系外に留去して取り除
く。
水の除去により反応率が高められ高分子量のポリイミド
の生成に好結果がもたらされる。
フェノール系溶剤は水と相溶しにくいために副生ずる水
の留去が容易となり、また経済的でしかも皮膜形成時に
揮散させやすいことから刺ばれたものである。ピロリド
ンの如き極性溶剤は上記観点からこの反応1こは不適当
である。フエ/−ル糸溶剤としてはメタクレゾール、パ
ラクレゾーノヘキシレノール、フェノールおよびこれら
の混合溶剤などが用いられる。これらのフェノール系溶
剤と共に水と共沸しやすいキシレン、トルエンの如き芳
香族溶剤を併用して水の冑去をより容易にさせることは
好ましい手段である。
なお、」ニ記の各有機溶剤並びに前記のテトラカジ ルボン酸二無水物およ告(ビン成分からなる重合用IJ
i料は、これにNa+、 K+、 ca −1−+ r
、;どツカチオン性不純物やC/−などのアニオン性不
純物が含まれていると、t%られるポリイミド溶液を半
導体素子のダイボンディング(こ適用したとき素子の電
気特性や耐湿特性が悪くなるおそれがある。したがって
、上記各原料はあらかじめ間知の方法により充分精製し
たのち、使用すべきである。たとえばNa  イオンで
5ppm 以ド、好適には1. ppm以下であること
が望ましい。
このよう(こして得られる重合反応物は、はぼ完全にイ
ミド化され、かっN−メチル−2−ピロリドン中0.5
 y/ 100meの濃度で30°C下で測定される固
有粘度〔η〕が約0.3〜3.0の範囲にある高分子量
のポリイミドとされたものである。
この発明の導電性銀ペースト組成物は、−L述の如くし
て得られる溶剤溶解性ポリイミドの有機溶剤溶液に銀粉
を混練してなるものであり、この混練(こ当たってダイ
ボンディング時の密着性を向上さぜるなどの目的で必要
に応じてシランカップリング剤やポリシロキサンなどの
各種の任意成分を配合しても差し支えない。
この発明において用いられる銀粉は、その製法により各
種の形状のものがあり、樹状粉、鱗片伏粉、粒状粉、多
孔質扮、針状粉などが挙げられる。
好ましくは樹伏粉、鱗片伏粉を使用するのかよい。
これら銀粉の粒子径は一般に100メツシユフリーハス
、好適には325メツシユフリーパステするのがよい。
使用量は、組成物全体の固形分生通常60〜95重量%
、好適には70〜90市計幅である。
この発明において溶剤可溶性ポリイミドを溶解させるた
めの有機溶剤は、」上記ポリイミドを合成する際に用い
た前記フェノール系溶剤をそのまま使用でき、必要1こ
応してポリイミド合成後に同種の有機溶剤あるいはこれ
にナフサ、キシレン、セロソルブなどの汎用溶媒を加え
た混合溶剤で希釈してもよい。また、必要ならポリイミ
ド合成後1こ一4アセトンやメタノール中に沈でんさせ
てろ過乾燥して精製したのち、フレソールその他のフェ
ノール系溶剤やN−メチル−2−ピロリドン、N・N−
ジメチルアセトアミド、N、N−ジメチルホルムアミド
、N−N−ジメチルホルムアミド、ジメヂルスルホキサ
イド、ヘキサメチルホスポルアミド、テトラメチレンス
ルポン、2−エトキシエチルアセテートなとの各種有機
溶剤に溶解させるよう)こしてもよい。溶剤mは組成物
の固形分濃度が10〜30屯…%桿度となるようにする
のがよい。
このようにして調製されるこの発明の導電性銀ペースト
組成物は、これを公知の方法に準じてたとえばステムな
いしリードフレームと半導体素子との間に介在させ、有
機溶剤が揮散しうる程度の温度、たとえば150〜25
0°Cで0.5〜10分間加熱処理することにより、密
着性と耐熱性とにすぐれる導電性を有する硬化樹脂層と
なすことかできる。
以]二のように、この発明の導電性銀ペースト組成物に
よれば、その本来の導電機能と共に耐熱性および密着性
ざら(こは耐湿性にすぐれた硬化樹脂層を作業容易に形
成できるため、これら特性が要求される各種の用途にき
わめて有用であり、なかでも半導体素子のダイボンディ
ング用としてずぐれた効果を発揮する。
以下に、この発明の実施例を記載してより具体的に説明
する。なお、以下に固有粘度きあるはとくに断わらない
限りN−メチル−2−ピロリドン中0゜5 Y / 1
00 meの濃度で30℃下で測定した値を意味する。
実施例1 5−Br’l)A 29.4y(01モル)、2・4−
トルエンジアミン7.32y(0,06モル)、4・4
′−ジアミノジフェニルエーテル7.00 fj (0
,035モル)および前記構造式イて示されるビス(3
−アミノプロピル)テトラメヂルジシロキサン1.24
y(0,005モル)を、メク、パラ混合クレゾール1
15yおよび′キシレン10−p中に加え、かきまぜな
がら1時間で180 ”Cまで昇温した。
昇温途中、一時反応系が固化するがさらに加熱していく
と均一溶液となった。また、反応系が80〜120°C
になると脱水反応かおこり、イミド化反応が進行し始め
た。副生じた水は窒素ガスを流しながらキシレンと共沸
させて反応系外へ留去した。このようにして、180°
Cで8時間加熱反応させて透明て粘稠な溶液を得た。
この溶液は、固形分濃度(200°Cで2時間加熱して
測定)が28.7市@%、固有粘度が0.92であった
。また、この溶液をガラス板上に塗布したのち熱風乾燥
機中150°Cて30分間加熱処理して得た皮膜につき
、赤外線吸収スペク1−ルを測定したところ、1780
cm’および1720 cm ’にイミド基に基づ(、
CC=uの吸収が明確に認められた。
つぎに、この溶液35y(樹1指分10y)に325メ
ツシユフリーパスのりん片状銀粉407を加え、三本ロ
ールでよく混練して、この発明の導電性銀ペースト組成
物を得た。
実施例2 BTl)A 32.2 y(0,1モル)、2・4−ト
ルエンジアミン6.11y(0,05モル)、4・4′
−ジアミノジフェニルエーテル9.00y(0,045
モル)および前記構造式イで示されるビス(3−アミノ
プロピル)テトラメチルジシロキザン1.24y(0,
005モル)を、メタ、パラ混合クレゾール154yお
よびキシレン20y中に加え、かきまぜながら1時間で
180°Cまで昇温した。
昇温途中、一時反応系が固化するがさらに加熱していく
と100°C近くより均一溶液となった。
また、反応系が100〜120℃になると脱水反応がお
こり、イミド化反応が進行し始めた。副生した水は窒素
ガスを流しながらキシレンと共沸させて反応系外へ留去
した。このようにして、180°Cて8時間加熱反応さ
せて透明て粘稠な溶液を得ブこ。
この溶液は、固形分濃度30.1市川%、固有粘度(た
だ′し、メタクレゾール中0.5 y/ 100 me
濃度て30°C下にて測定)が0.75であった。また
、この溶液をガラス板上に塗布したのち80°C/ 0
.5 To r rて2時間加熱処理して得た皮膜につ
き、赤外線吸収スペクトルを測定したところ、1780
c+n’および1720cm ’にイミド基(こ基づ<
、C=oの吸収か明確にt忍められた。
つぎに、この溶液33.2y(樹1指分10y)に32
5メツシユフリーパスの樹伏銀扮35.5yを加え、三
木ロールでよく混練して、この発明の導電性銀ペースト
組成物を得た。
実施例3〜11 つぎの第1表(こ示される組合用原料を用いかつ同表に
示される反応条件としたり、外は、実施例12と日程に
して9種のポリイミド溶液を得た。
各溶液の固形分濃度および固有粘度(ただし、実施例5
〜8はメタクレゾール中05y/100me濃度、30
°C下での測定値)は、同表に示されるとおりであった
。各溶液を実施例1.2に準じて皮膜化し、その赤外線
吸収スペクトルを測定したところ、いずれも1720c
+++’および1−780cm ’にイミド基に基づ<
 、: C= 0の吸収が明確にδ忍められた。
つぎに、各溶液に第1表に示される割合の325メツシ
ユフリーパスの銀粉を加え、三本ロールでよく混練して
、この発明の導電性銀ペースト組成物を得た。なお、実
施例4.6では樹伏銀扮を用いたが、他の実施例ではい
ずれもりん片状銀粉を使用した。
比較例I PMI)A  1モルと4・4′−ジアミノジフェニル
エーテル1モルとをN−メチロール−2−ピロリドン中
約80′Cl21.下(とくに室温付近ないしそれに近
い温度)に保ちながら攪拌した。これによって反応は速
やかIこ進行し、かつ反応系の粘度は次第に上昇して、
固有粘度が0,7のポリアミド酸が得られた。
つきに、このポリアミド酸の溶液(樹脂濃度16.5取
量%)151.5yに、325メツシユフリーパスの樹
伏銀扮75yを加え、三本ロールでよく混練して導電性
銀ペースト組成物を得た。
比較例2 テトラカルボン酸二無水物としてP M I) A Q
、 5モルとBTI)A  Q、5モルとを使用し、か
つジアミンとして4・4′−ジアミノジフェニルエーテ
ル0.6モルとジアミノジフェニルエーテルカルポンア
ミド0.4モルとを使用した以外は、比較例1と同様に
して固有粘度1.8のポリイミド前駆体を合成した。つ
ぎに、この前駆体溶液(樹脂濃度12.5重量%)16
0y(樹脂分20y)に、325メツシユフリーパスの
鱗片状銀粉80yを加え、三木ロールでよく混練して導
電性銀ペースト組成物を得た。
比較例3 エポキシ樹脂(シェル化学社製のエピコート#828)
20yに、2−メチルイミタソール0.04yおよび3
25メツシユフリーパスの樹伏銀扮802を加え、三木
ロール−Cよく混練して導電性銀ペースト組成物を得た
比較例4 エポキシ樹脂(チバ社製のにY250)10yに、フェ
ノール樹脂(葉月化学社製のK P −180)5y1
2−フェニルイミタゾール0.05yおよび325メツ
シユフリーパスの鱗片状銀粉85yを加え、三木ロール
でよく混練して現型外銀ペースト組成物を得た。
以」二の実施例1〜11および比較例1〜4の各組成物
を完全に加熱硬化させたときの熱分解開始温度は、つぎ
の第2表に示されるとおりてあった。
また、各組成物を用いて実際にICチップをダイボンデ
ィングする際に必要な加熱処理時間を調べるために、処
理温度を200°Cに設定しプッシュプルゲージをIC
チップの側面に当てて水平方向に押したとき(こ、50
Ks+/ci以」二の接着力が得られるまでの時間を測
定したところ、第2表に併記される如き結果が得られた
第2表 上表から明らかなように、この発明の導電外銀ペースト
組成物によれば、低温短時間のm熱処理によって耐熱性
および密着性(接着性)(こすりパれる硬化接着層を形
成でき、半導体装置のiI+温での電気特性とその製造
作業性に非常(こ好糸古果カミもたらされるものである
ことがわかる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 +1175モル%を超える割合の3・3′・4・4′−
    ジフエニルテトラカルボン酸二無水物および/または3
    ・3′・4・4′ −ベンゾフェノンテトラカルボン酸
    二無水物を主成分としたテトラカルボン酸二無水物と、
    トルエンジアミン30〜99.9モル%およびつぎの一
    般式; (式中、顯 はメチレン基、フェニレン基またハ置換フ
    ェニレン基、R2はメチル基、7−1=ル爪または置換
    フェニル基、Xは酸素原子、フェニレン基マたは置換フ
    ェニレン基、nはR1がフェニレン基もしくは置換フェ
    ニレン基の場合は1.メチレン基の場合は3または4の
    整数である) で表わされるシリコン系ジアミン0.1〜lOモル%を
    少なくとも含むジアミンとを脱水重縮合させて得られる
    溶剤可溶性ポリイミド、有機溶剤および銀粉を含むこと
    を特徴とする導電性銀ペースト組成物。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6121172A (ja) * 1984-07-09 1986-01-29 Toshiba Chem Corp 耐熱・導電性接着剤
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CN108016155A (zh) * 2016-11-03 2018-05-11 北京中科纳通电子技术有限公司 一种新型触摸屏低温制造工艺

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