JPS5943026A - 溶剤可溶性ポリイミドの製造法 - Google Patents

溶剤可溶性ポリイミドの製造法

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JPS5943026A
JPS5943026A JP15414882A JP15414882A JPS5943026A JP S5943026 A JPS5943026 A JP S5943026A JP 15414882 A JP15414882 A JP 15414882A JP 15414882 A JP15414882 A JP 15414882A JP S5943026 A JPS5943026 A JP S5943026A
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JP
Japan
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polyimide
diamine
reaction
mol
silicon
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Application number
JP15414882A
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English (en)
Inventor
Ken Noda
謙 野田
Toshio Nakajima
中島 登志雄
Kazuo Iko
伊香 和夫
Hideto Suzuki
秀人 鈴木
Fujio Kitamura
北村 富士夫
Akiko Ono
小野 彰子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はフェノール系溶剤その他の有機溶剤tt可溶
性であると共iトシリコンウエハの如き珪素含有材に対
する密着性にすぐれしかも耐湿特性の良好なポリイミド
の□製造法に関する。
□近年、半導体素子□の表面保護膜、層間絶縁膜、ジャ
ンクション保護膜などに、耐熱性にすぐれ、また卓越し
た電気絶縁性、低応力性、機械的強度などを有するポリ
イミドが用いられるようになりできた。しかし、この種
の耐熱性高分子はシリコンウェハ、ガラスなどの珪素含
有材に対する密着性に劣り接着しに←いという欠点があ
ることから、半導体素子などの信頼性がいまひとつ満足
できるものとはいえなかった。
また、ポリアミド酸−、般に有機溶剤に不溶であるため
、その前駆体で、あるポリアミド酸の体襲で。
有機溶剤え溶解しておきこれを被塗物」二に塗着したの
ち高温下で加熱処理してイミド化する方法でつくられて
いるが、上記カリ(処理が不充分であるとイミド化皮膜
中にアミド酸構造としてのカルボン酸が一部残存しこれ
が半導体素子の耐湿特性ないし耐腐食性を低下させる直
□接・の原因となるおそれがあった。    ′ このため、上記加熱□処理は必□然・的に長くならざる
をえず、とくに皮膜中にピンホールなど春発生、  さ
ぜないように徐渉1こ昇’is L、 ′7.’、段□
階的に加熱したりさらに膜厚を約30μ以下に□調整し
なけむばならないなどポリイミド彎成作業が非常に面倒
となる。そして、このような煩雑な加熱処理を施したと
しても、高度の耐湿特性ないし耐腐食性が要求される半
導体素子に対、して必ずしも満足できるイミド化皮膜を
形成しうるものとはいえなかった。
今日まで、ポリイミドの密着性を改善する手段としては
、テトラカルボン酸二無水物とジアミンとからポリアミ
ド酸の溶液を得る際に、上記シア、、ミン成りのすべて
ないし大部分としてジアミン成分 ロ□キ毎しを用いて
、最終的に形成されるポリイミドの分子骨格中4qS、
i −o−si結合を導入し、これによってシリコンウ
ェハなど□への密着性を向上させる方法が知られている
・ しかし、この方法では、密着性の向上をある程度図
りえたとしても、□ジアミノシロキサシの多量使用によ
ってポリイミド皮膜の耐熱特性を大きく損なうおそれが
あ名ばかりか、耐湿特性の盃で好結果が得られず、また
□ポリアミド酸溶液からイミド化膜を形、成する壱に、
おいて錦来ととくに変るところがなく、−カ1.つ、て
前、述したアミド酸構造としてのカルボン酸の残存に士
って上記耐湿特性さらに耐腐食性の低、下を免れず、ま
た加熱処理に当たって高温で蝉時間を、要するなどの問
題を依然として有していた。  ニ 一方、電線用絶縁ワニスなどの分野において、特定のテ
トラカルボン酸成分ないしこれと特定のジアミンとを組
み合せ使用することにより、両者を有機溶剤中脱水重縮
合反応させて有機溶剤に可溶性のポリイミドを得る方法
が提案され、この方法で得られるポリイミド:溶液を電
線などに塗布したのち有機溶剤を揮散させる程度の条件
で加熱処理することによって容易にポリイミド被覆でき
ることが報告されている。   。
たとえば特公昭47−268.7.8号公報では、テト
ラカルボン酸成分として33′・4・4′=ベンゾフエ
ノンテトラカルボン酸な、いしその二無水物の如き誘導
体を特定割合で含むもの全使用しこれとジアミノシフ千
ニルメタンの如き特定のジアミンを特定割合で含むジア
ミン盛分とをフェノール系溶剤中で加熱反応させて、上
記溶剤に可溶性のポリイミドを得、る方法:が、また特
開昭50−113597公報では、テトラカルボン酸成
分としてジフェニルテトラ々ル、ボン酸ないしその二無
水物1      の如き誘導体を使用しこれとアルキ
レン、ジアミンや芳香族ジアミンとを有機極性溶、剤中
で加熱反応させて、溶剤可溶性のポリイミドを得る方法
などが、提案されている。          ′この
ようなポリイミド溶液を半導体素子の表面保護膜、層間
絶縁膜、ジャンクション保護膜などの形成に応用できれ
ば、皮膜形成時の加熱処理を低温にしてかつ短時間で行
なうことができ、また残存カルボン酸に起因した耐湿特
性ないし耐腐食性の低下を防止できるものと期待される
ところが、上記提案に係るポリイミド溶液は、上述のと
おり、テトラカルボン酸成分ないしジアミン成分が非常
に限られたものであるため、これをそのまま半導体素子
に応用しても被塗物に対する密着性が充分なもの□とな
らず、その結果密着不足による耐湿特性の低下をきたし
て、半導体素子などの信頼性を太き(向上させるには至
らない。
また、テトラカルボン酸成分の種類によっては完全にイ
ミド化されたポリイミドを形成し難いものがあり、これ
が原因で耐湿特性ないし耐腐食性の低下をきたすことが
あり、このため加熱処理の条件も1ある程度厳しく管理
しなければならないなど、半導体素子への適合性に欠け
る憾みがあった。 □こ切発明者、らは、以上の観点か
ら、テトラカルボン酸成分と反応させるジアミン成分の
一部としてジアミノシロキサンで代表される特定のシリ
コン系ジアミンを少量用いてシリコンウェハなどの珪素
含有材に対する密着性の向上を図る一方、このようなシ
リコン系ジアミンを用いる場合にいかなるテトラカルボ
ン酸成分さらにはシリ、7Jン系ジアミン以外のジアミ
ン成分を用いれば有機溶剤可溶性のポリイミドが得られ
るか、またこのポリイミドが完全にイミド化されまた上
記シリコン系ジアミンの一部使用にもかかわらず高分子
量体となって、耐湿特性ないし耐腐食性に好結果を与え
さらにポリイミド本来のすぐ、れた耐熱性、電気絶縁性
、機械的強度な、どを与えるかにつき、鋭意検討した結
果、遂にこの発明を完成するに至ったものである。
すなわち、この発明は、75モル%を超える割合の3・
3′・4・4′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水物
(以下、単にS−’BPDAという)および/または3
−3′・4・4′−ベンゾフェノンテトラカルポン酸二
無水物(以下、単にB T D Aという)を主成分と
したテトラカルボン酸兵無水物と、l・ルエンジアミン
30〜99.9モル%およびつきの一般式; (式中、R1はメチレン基、フェニレン基マタは置換フ
ェニレン基、R2はメチル基、フェニル基マたは置換フ
ェニル基、Xは酸素原子、フェニレン基マタハ置換フェ
ニレン基、nはR1がフェニレン基もしくは置換フェニ
レン基の場合は1、メチレン基の場合は3または4の整
数である)で表わされるシリコン系ジアミン0.1〜1
0モル%を少なくとも含むジアミンとを、略等モルフエ
ノール系溶剤中80〜200°Cの温度で加熱反応させ
、アミド化反応とこれに引き続くイミド化反応とからな
る脱水重縮合反応を上記イミド化反応時に副生ずる水を
反応系外に除去しながら行なうことを特徴とする溶剤可
溶性ポリイミドの製造法に係るものである。
このように、この発明においては、ジアミン成分として
前記一般式で表わされるシリコン系ジアミンとトルエン
ジアミンとを特定割合で含むものを使用すると共に、こ
れと5−BP、DAおよび/またはB T D Aを主
成分としたテトラカルボン酸二無水物とを前記方法で脱
水重縮合反応させることを要旨としたもので、これによ
ればフェノール系溶剤その他の有機溶剤に可溶性でしか
もシリコンウェハの如き珪素含有材に対する密着性にす
ぐれ、また分子内にアミド酸構造としてのカルボン酸を
ほとんど含まないほぼ完全にイミド化された高分子量の
ポリイミドを容易に得るこ占ができる。
したがって、上記方法で得られるキリイミドの有機溶剤
溶液によれば、これをシリコンウェハなどに塗布したの
ち低温短時間の加熱処理を施すだけで、密着性と耐湿特
性ないし耐腐食性とに共にすぐれるポリイミド皮膜を形
成でき、またこの皮膜はポリイミド本来のすぐれた耐熱
性、電気絶縁性、機械的強度などを保有していることか
ら、半導体素子の表面保護膜、層間絶縁膜、ジャンクシ
ョン保護膜、α線対策用の厚い保護膜など、また液晶ア
ライメントコーティング、積層板など従来公知の各種用
途に有効に適用できる。
この発明において用いられるテトラカルボン酸成分は、
5−BPDAおよびB T D Aから選ばれた少なく
とも1種が全体の75モル%を超える割合とされたもの
であるが、25%未満の割合で併用可能な他のテトラカ
ルボン酸成分としては、23・3′・4′−ジフェニル
テトラカルボン酸二無水物(以下、単にa−BPDAと
いう)、ピロメリット酸二無水物(以下、単にPM、D
Aという)、3・3′・44′−ジフェニルエーテルテ
トラカルボン酸二無水物、2・36・7−ナフタレンテ
トラカルボン酸二無水物、1・4・5・8−ナフタレン
テトラカルボン酸二無水物などが挙げられる。これらテ
トラカルボン酸成分はいずれも二無水物であることが必
要で、他のテトラカルボン酸そのものあるいはそのエス
テルなどではジアミン成分との反応性に劣ったり、副生
物として水以外のアルコールなどが生じるため反応中の
副生物の除去が面倒となって高分子量のポリイミドの形
成に好結果を与えない。
この発明において用いられるジアミン成分としては、ト
ルエンジアミンと前、記一般式で表わされるシリコン系
ジアミンとを少なぐとも含むもので、その他必Wに応じ
て4・4′−ジアミノジフェニルメタンS4・4′−ジ
アミノジフェニルエーテル、3・3′−ジアミノジフェ
ニルメタン、パラフェニレンジアミン、メタフェニレン
ジアミン、ベンチジン、3・3′−ジメチルベンチジン
、3・3′−ジメトキシベンチジン、4・4′−シナミ
ノジフェニルスルホン、4・4′−ジアミノジフェニル
スルフィド、3・3′−ジアミノジフェニルスルホン、
3・3′−ジアミノジフェニルスルフィド、4・4′−
ジアミノジフェニルプロパン−2・2.3・3′−ジア
ミノジフェニルフO/Zンー2・2などの好ましくは芳
香族系のジアミンを併用することができる。
トルエンジアミンとしては、2・4−トルエンジアミン
や2・6−トルエンジアミンが用いられるが、その使用
割合は全ジアミン成分中30〜90.9モル%である。
また、シリコン系ジアミンとしては下記に示されるよう
な構造式を有するものを具体例として挙げることができ
、その使用割合fJ: (1; 1〜10モル%、好ま
しくは2〜7モル%である。
このような使用割合とすることによって、有機溶剤に可
溶性でかつシリコンゆエバに対する密着性および耐湿性
ないし耐腐食性にすくれるポリイミドの製造が可能とな
る。
〈シリコン系ジアミンの具体例〉 ・c■(3cH3 1 CF13C■]3      ・ 1 CH2O[I8 C・6日5C6H5′ 1 C6H6C6I−■5 06H5・ C6H5 1 この発明においては上記のテトラカルボン酸二無水物と
ジアミン成分とを略等モル(どちらか一方が多少過剰で
あうでもよい)使用し、両成分をフェノール系溶剤中8
0〜200°Cに加熱して通常5〜9時間反応させる。
この反応は、アミド化反応とこれに引き続くイミド化反
応とからなる脱水重縮合反応を行なわせるものであるが
、上記イ・ミド化反応時に副生ずる水は反応系外に留去
して取り除く。水の除去は反応率を高め高分子量のポリ
イミドの生成に好結果を与える。
フェノール系溶剤は水と相溶しにくいため番と副生ずる
水の留去が容易となり、また経済的でしかも皮膜形成時
に揮散させやすいことから選ばれたものである。ピロリ
ドンの如き極性溶剤は上記観点からこの反応には不適当
である。フェノール系溶剤メしソホメタクレゾール、パ
ラクレゾール、キシレノール、フェノールおよびこれら
の混合溶剤などが用いられる。:これらのフェノール系
溶剤と共蕃こ水と共沸しやすいキシレン、トルエンの如
き芳香族溶剤を併用して水の留去をより容易にさせるこ
とは好ましい手段である。    □  □なお、上記
□の各有機溶剤並びに前記のテトラカルボン酸二無水物
およびジアミン成分からなる重谷用原料は、これにNa
+、K+、Ca++などのカチオン性不純物やC1−な
どのアニオン性不純物が含まれてG′)ると、得られる
ポリイミド溶液を半導体素子に適用したとき素子の電気
特性や□耐湿特性が悪くなるおそれがある。したがって
、上記各原料はあらかじめ周知の方法により充分精製し
たのち、使用すべきである。たとえばNa+イオンで5
PPm以下、好適には1ppmJ21下であることが望
ましい。
このようにして得られる重合反応物は、はぼ完全にイミ
ド化されかつN−メチル−2−ピロリドン中0.5y/
100meの濃度で30℃下で測定される固有粘度〔η
〕が約0.3〜3.0の範囲にある高分子量のポリイミ
ドとされたものである。
このポリイミドは重合反応時に用いたフェノール系溶剤
の溶液としてそのまま使用に供することができ、また必
要なら9旦アセトンやメタノール中に沈でんさせてろ過
乾燥して精製したのち、クレゾールその他のフェノール
系溶剤やN−メチル−2−ピロリドン−ジメチルアセト
アミド、ジメチルホルムアミド−へギサメチレンホスホ
ルアミドなどの各種有機溶剤に溶解させて使用に供する
ことができる。
使用時の固形分濃度はとくに規定されるものではなく、
・用途目的に応じて適宜選択することができ名。ルかL
;一般止は5比40重量%、好適には10〜30重量%
程度とするのがよい。□膚た、上記溶液番とはM途目的
に応じた鹸加剤を配釡することができる二      
   ・□ −:このポリイ(ド溶液をシリコンウニノ
ーなどlヒ塗       1着させたのち、有機溶剤
が揮散しつる程度の温度、たとえば150〜350℃で
120〜1分間加熱処理することにより、シリコンウェ
ハなどに対する密着性と耐湿特性ないし耐腐食性とに共
Cとすぐれたポリイミド皮膜を得ることができ乞。従来
のポリアミド酸溶液を用いたものでは、た逅えは100
°Cで60分間、150 °Cで60分間、’2’QO
“Cで60分間および250°Cで60分間といった段
階的でかつ高温長時間の、加熱処理を余儀なくされてい
たのに対し、この発明の上記加熱処理はより短時間で行
なうことができまたより低温で行なうことも可能である
という特徴を有している。
以下に、□この発明の実施例を記載してより具体的に説
明する。なお、以下に固有粘度とあ名はとくに断わらな
い限りN−メチル−2−ピロリ葎ン中0.5P/100
明Pの濃度で30°C下で測定した値を意味する。
実施例l 5−BP、DA29.41! (0,1モル)、2・4
−トルエンジアミン7.32 f (0,0,6モル)
−4・4−ジアミノジフェニルエーテル7.00y(’
0.035モル)および前記構造式イで示されるビス(
3−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン1.2
4y(0,005モル)を、工業用のメタ、パラ混合ク
レゾール1152およびキシレン10y中に加え、かき
まぜながら1時間で180°Cまで昇温した。
昇温途中、一時反応系が固化するがさらに加熱していく
と均一溶液となった。また、反応系が80〜120°C
になると脱水反応がおこり、イミド化反応が進行し始め
た。副生じた水は窒素ガスを流しながらキシンンと共沸
させて反応系外へ留去した。このようにして、180℃
で8時間加熱反応させて透明で粘稠な溶液を得た。
この溶液は、固形分濃度(2・00°C′で2時間加熱
1.て測定)が28.7重量%、回転粘度(30°C)
が7,200ポイズ、固有粘度が0.92であった。
また、この溶液をガラス板上に塗布したのち、□200
°Cでシ0分間加熱処理してポリイミド皮膜を形成し、
との皮膜につき赤外線吸収スペクト□ルを測定したとこ
ろ、第1図に示されるように、1720m−’および1
780砿−1にイミド基に基うつぎに、上記のポリイミ
ド溶液をメタ、パラ混合クレゾールで希釈したのちシリ
コンウェハ上にスピンボートし、熱風乾燥機中150°
Cで10分間および300°Cで36・分間加熱処理し
て強じんなポリアミド皮膜を形成し、この皮膜のシリコ
ンウェハに対する密着性、体積抵抗率(□500v印加
)および絶縁破壊電圧を調べた結果は、後言言の第2表
に示されるとおりであ、つた。なお、密着性および体糟
抵抗率については、常態とPCT×24時間(プレッシ
ャークツカーチスト;121°d12気圧下飽和水蒸気
中24時間の加圧試験)との試験結果本示した。   
         □また、上記試験特性とは別に9耐
腐食性試験として以下の如き試験を行なった。すなわち
、アルミ配線をもった腐食試験用モデル素子」二にポリ
イミド皮膜を形成し、エポキシ成形[i)で16 pi
nDIPの形にモールドした。これをりCT(条件は前
記と同じ)500時間を行ない、テスターにより、アル
ミ配線の腐食によるオープン不良を調べた。試験はサン
プルパターン数40で行ない、500時間後のオープン
不良のパターン割合を後述の第2表に%で表わした。
実施例2 BTDA32.2 y (0,1モル)、2・4−トル
エンジアミン6、L 1 y c、 0.05モル)、
4・4−ジアミノジフェニルエーテル9.00f(0,
045モル)および前記構造式イで示されるビス(3−
アミノプロピル)テトラメナルジシロキサン1.24y
(0,005モル)を、工業用のメタ、パラ混合クレゾ
ール154yおよびキシレン20y中に加え、かきまぜ
ながら1時間で180°Cまで昇温した。
昇温途中、一時反応系が固化するがさらに加熱していく
と100℃近くより均一溶液となった。。
また、反応系が100〜120°Cになると脱水反応が
おこり、イミド化反応が進行し始めた。副生じた水は窒
素ガスを流しながらキシレンと共沸させて反応系外へ留
去した。このようにして、180°Cで8時間加熱反応
させて透明で粘稠な溶液を得た。
この溶液は、固形分濃度が30.1重量%、溶液粘度(
30°C)が1.s、ooポイズ、固有粘度(ただし、
メタクレゾール中0.5y/100−濃度で30°C下
にて測定)が0.75であった。また、この溶液をガラ
ス板上に塗布したのち、所定の条件で加熱処理してポリ
イミド皮膜を形成し、この皮膜につき赤外線吸収スペク
トルを測定したところ、第2図〜第4図に示されるとお
りであった。
各図における加熱条件は、第2図で130°C110分
間、第3図で130°C530分間、第4図で130°
C160分間である。これらの図から明らかなように、
非常に低温にしてかつ短時間の加熱処理であるにもかか
わらず、1720cm  お上び1780m’にイミド
基に基づく\C−0の吸/ 収が明確に現われている。
つぎに、上記のポリイミド溶液から実施例1と同様の手
法でシリコンウェハ上にポリイミド皮膜を形成し、その
特性を調べた結果、並びに耐腐食性を試験した結果は、
後記の第2表に示されるとおりであった。  ′   
比較例I P MDA 21.8 f (0,1モル)、と4・4
′−ジアミノジフェニルエーテル20,02(0,1モ
ル)トラN−メチル−2−ピロリドン306yに溶解し
、30℃で180分間かくはん反応させてポリアミ。
ド酸の溶液を得た。この溶液は固形分濃度が11.5重
量%、溶液粘度(30℃)が150ボイズ、固有粘度が
0.46であった。
この溶液をガラス板上に勢布したのち、所定の条件で加
熱処理してポリイミド皮膜を形成し、この皮膜につき赤
外線吸収スペクトルを測定したところ、第5図〜第7甲
に示されるとおりであった。
なお、各図における加熱条件は、第5図で130°Cl
2O分間、第6図で250°C160分間、第7図で2
50℃、240分間である。   。
これらの図から明らかなように、実施例1.2のものに
較べてかなり高温にしてかつ長時間の加二〇の吸収が明
確に現われてこないことがわかる。
また、この例では、加熱処理を上述の如く1段で行なっ
たときには、皮膜にピンホールが多く現出し、これを抑
制するために、100℃位から250°Cないしそれ以
上の温度まで4段階以上に分けて各段毎に60分ないし
それ以上の加熱処理を行なう必要があった。
つぎに、上記のポリアミド酸溶液をN−メチル−2−ピ
ロリドンで希釈したのち、シリコンウェハ上にスピンコ
ードし、熱風乾燥機中100℃で60分間、15(j’
eで60分間、200℃で60分間および250°Cで
60分間の加熱処理を行なってポリイミド皮膜を形成し
、この皮膜の特性につき実施例1と同様にして調べた結
果、並びに耐腐食性を試験した結果は、後記の第2表に
示されるとおりであった。
比較例2 PMI)A21.139 (0,10モル)と4・4′
−ジアミノジフェニルエーテル1.4..09 (0,
07モル)と構造式イのシリコン系ジアミン7.449
 (0,03モル)とを、N−メチル−2−ピロリドン
317ノに溶解し、5°Cで180分間かくはん反応さ
せてポリアミド酸の溶液を得た。この溶液は固形分濃度
が12.3重量%、溶液粘度(30’C)が8゜ポイズ
、固有粘度が0.38であった。このポリアミド酸溶液
からポリイミド皮膜を形成する場合の加熱条件は、比較
例1の場合と同様であり、高温にしてかつ長時間の加熱
処理を要した。
つきに、上記のポリアミド酸溶液をN−メチル−2−ピ
ロリドンで希釈したのち、シリコンウェハ」二にスピン
コートシ、熱風乾燥機中100°Cで60分間、150
°Cで60分間、200’Cで60分間および250°
Cで60分間の加熱処理を行なってポリイミド皮膜を形
成し、この皮膜の特性につき実施例1と同様にして調べ
た結果、並びに耐腐食性を試験した結果は、後記の第2
表1に示されるとおりであった。   ′  □   
   □比較例3 S−BPDA29.4y(0,1モル)、4 ” 4”
―’)ア□ミノジクエニルエーテルi 9.3y(0(
”O”965モル)および構造式イのシリコン系ジアミ
ンo、’8”s sy (0,O’035モル)を、:
工業用のメタ、パラ混合クレゾール120y′に加え、
かきまぜ鮫から加熱した。温度が80°C近くなると反
応系が不均一となり、さらに加熱を続けると16′O比
12o゛c近くで均一となった。この温度で40分間加
熱すると、脱水反応が始まり、反応系示再び1こごり始
め、相当時間後1ど完全に不均一な状態となった□。
すなわち、この方法ではフェノール系溶剤に可溶なポリ
イミドを得ることはできなかった。
比較例4 S −B PDA29.4 y (0,1モル)、2・
4−トルエンジアミン2.41’(0,02モル)、4
・4′−ジアミノジフエニルエーテルl 5.Oy (
0,075モル)および構造式イのシリコン系ジアミン
1.24y(0,005モル)を、工業用のメタ、パラ
混合クレゾール130yに加え、かきまぜながら加熱し
た。温度が80″C近くになると反応系が固化し、さら
に加熱を続けると均一となった。己かし、100〜12
0°C近くで脱水反応が始まるとJ反応系が 。
再d゛にごり始め、相当時間後に完全に不均一な状態と
なった。すなわち、この方法では角較例3の場合と同様
にフェノール系溶剤に可溶なポリアミド酸 比較例5 BTDA32.29 (0,1モル)、4・4′−ジア
ミノジフェニルメタン19.0グ、(0,095モル、
)お。
よび構造式イのシリコン系ジアミン1.24y(’0.
005モル)を、工業用のメタ、パラ:混合クレゾール
140ノに加え、かきまぜながら□加熱した:。
諷r!rbs8o℃程度に、な□ると反応卒が否均□ニ
となっ□た力賢さらに加熱を続けると110℃社りで均
−一□−とな、つた。しかし、この温度、でで、らに、
加熱反応を続けると、脱水反応が生、じ不反応系が再で
に、とり い始め、相当時間後に完全に不均一な状態と
なった。
すなわち、比較例3.4の場合と同様に、フェノール系
溶剤に可溶なポリイミドを得ることはでき  □実施例
3〜15 つぎの第1表の1,2に示される重合用、原料を 。
用いかつ同表に示される反窄条件とした以、外は、、実
施例1,2と同様にして13種のポリイミド溶液を得た
1゜各溶液の呻形分濃度、溶液粘度C自転粘度30℃)
および!有粘度(実施例5〜11.はメタクレゾール中
0.59 /100 ml濃度、30°C下での測定値
)は、第1表の1.2に併記される仁おりで、あった。
        、      。
また、各溶婆をガラス板上に塗空したのち、80・  
clo、5醋Hy下で2時間乾燥してポリイミド皮膜を
形成し、この皮膜につきそれそ:れ赤外線腎些−ス、ペ
クト、ルを測定したところ、いずれも1720□  \
   。
、砿−1および1 ’78’ 6 am ’ iqイミ
ド基に、基づく/C。
□、 −〇の吸収が明確に認、められた。 、、、。
、 つぎに、上記の各溶液から実施例、、1と同一の手
□ 法にてシリコンウェハ上にポリイミド皮膜を形成し
、その特性を調べ、た結果、尊びに耐腐食性を試験した
結果は、後記の第2表に示されるとおりであった。
#′?p6〜”°    □ つぎの斃1表の219示される電型原料を用いかつ同前
に示される反応条件とした以、外は、実施例1.2と同
様吟じて5種のポリイミド溶、液を得た。
各溶液の固形分濃度、溶液粘度(30°C)および固有
粘度(比較例8〜510はメタ1り、レゾール中0.・
5P / 1. OOme濃度、30℃下での測定、値
)は、第1表の2に併鄭されるとおりであまた。
つぎに、各溶液から実施例1と同様の手法にてシリコン
ウェハ上にポリイミド皮膜を形成し、その特性を調べた
結果、並びに耐腐食性を試験した結果は、第2表に示さ
れるとおりであった。
以」二の結果から明らかなよ・うに、この発明の方に皮
膜化しうる有機溶剤青溶すのポリフミドを□得ることか
できると共に、所定あ加、艶、処理で皮膜化。
されたポリイミドはシリコンシエ”ハに対する密着性1
□こすぐれまた耐湿特性や耐←性さ糺に緊持 。
性にもすぐれたものとなってL)ること6iわかる。
これに対し、従、来のボリア:ζ下酸、を得る方竺(比
シ例1.2)l−cmはイミド化学膜の形成にiでかつ
長時間を要する欠、叙があ裕うえに、□密着性改善のた
めの手段をなんら有し4jい比較例1にあっては、その
密着不足とイミド化皮膜中に1部残存しやすいポリアミ
ド酸構造としてのカルボン酸の影曽て耐湿特性や耐腐食
性に不きな欠点を有して=:::ニニM二=二:=ニニ
富二 耐湿特性ないし耐腐食性の面→あガリ好→果が得られ工
いない・ 一方、シリコン系ジアミンを全く用いない従来の有機溶
剤可溶性のポリイミドを得る方法(比較例6〜10)で
は、皮膜化されたポリイミドのシリランウェハに対する
密着性が著しく悪く、主と:、シてこれ、が原因で耐湿
特性、電気特性および耐腐:  食性の低:子をぎたし
、半導、4A辺、素子へ9適用が困難1  となってい
る。                     1′
4、図面の簡単な説明 1.47”V :’;’::::二::、=□:□羽亡
:、:二   。
、、、線吸収スペクトルを示す暫件雫、第5図〜第7図
は従来のボリア、ミ、ド酸溶液から形成したポリイミド
皮膜の赤外線吸収スペクトルを示す特性図で□ある。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11、75モル%を超える割合の3・3′・4・4′
    −ジフェニルテトラカルボン酸二無水物および/または
    3・3・4・4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二
    無水物を主成分としたテトラカルボン酸二無水物と、ト
    ルエンジアミン30〜99.9モル%およびつぎの一般
    式; (式中、R1はメチレン基、フェニレン基マタはit置
    換−1−二Lzン基−Rzはメチル基、フェニル基マた
    は置換フェニル基、Xは、酸素原子、フェニレン基また
    は置換フェニレン基、nはR1がフェニレン基 基もしくは置換、フエニレ7..(D場合は1、メチレ
    ン基の場合は3または4の整数・である)で表わされる
    シリコン系ジアミン0.1〜10モル%を少なくとも含
    むジアミンと番、略等上ノ1フエ       :1ノ
    一ル系溶剤中80〜206°Cの温度で加熱反応させ、
    アミド化反応とこれに引き続くイミド化反応とからな乞
    脱水重縮合反応を上記イミド化反応時に副生する水を反
    応系外に除去しながら行なら。よ8゜よ、−60゜、1
    .1イ1、。、□よ。   :
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018082185A (ja) * 2017-12-08 2018-05-24 信越化学工業株式会社 高効率太陽電池の製造方法

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