JPS5938068Y2 - 基板上のパタ−ン構造 - Google Patents

基板上のパタ−ン構造

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Publication number
JPS5938068Y2
JPS5938068Y2 JP3956780U JP3956780U JPS5938068Y2 JP S5938068 Y2 JPS5938068 Y2 JP S5938068Y2 JP 3956780 U JP3956780 U JP 3956780U JP 3956780 U JP3956780 U JP 3956780U JP S5938068 Y2 JPS5938068 Y2 JP S5938068Y2
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JP
Japan
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pattern
plating
actual circuit
auxiliary
patterns
Prior art date
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Expired
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JP3956780U
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JPS56143275U (ja
Inventor
啓輔 栗原
Original Assignee
株式会社日立製作所
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、基板上のパターン構造に関する。
銅、ニッケル、錫、鉛等の金属を材料にして微細な配線
パターンを形成する際、電気メツキ法が採用されている
この方法では、メッキにより形成されるパターン部が被
メツキ物内に均一に配置されないようなパターンでは、
主にパターンの外辺部(基板の外辺部)に電界集中が生
じる。
その結果、メッキが均一に付着せず外辺部で特別に増加
する現象が生ずる。
この現象が生ずると、微細パターン相互間で電気的な短
絡現象が生ずることがあり、一方、短絡に至らなくとも
それ以後の回路製造の工程での加工の複雑さを生む。
第1図に、その間の基板の様子を示している。
基板1に実線で示す如き実回路パターン2が形成されて
おり、その後、電気メツキ法によりメッキ配線パターン
3を形成させた事例を示している。
メッキ配線パターン3は、実回路パターン2より拡大し
てメッキされている0特に、図の右側に示す端部ではメ
ッキが相互にふくれ合い、短絡寸前になっている事例を
示している。
このようなメッキのふくれ合いは、一般に“メッキの付
き1わり”と呼んでいる。
膜厚の均一化を計る為にメッキ溶液中に添加剤と呼ぶ界
面活性剤を種々混入する。
多くの場合、この添加剤で均一な膜厚を得る事が可能で
あるが、数10μの配線ハターン相互間の間隔のパター
ンでは、必ずしも満足した結果が得られない。
また、添加剤によっては、メッキ液と結合し、白濁或い
は沈澱等を生へ長寿命のメッキ液を得る事ができない。
即ち、常に安定した条件でのメッキが困難である。
本考案の目的は、パターン外辺部での不均一性を除去し
てなる基板上のパターン構造を提供するものである。
本考案の要旨は、パターン外辺部での不均一性の原因が
電界集中による点に着目し、パターン外辺部で電界集中
を構造的に除去せしめるようにした点にある。
以下、本考案を図面により詳述する。第2図は本考案の
実施例を示す図である。
本実施例の特徴は、パターン外辺部の近傍に補助パター
ン4を設けて釦き、然る後、電気メッキを施してなる点
にある。
パターン外辺部と補助パターン4とは電界集中が外辺部
で生じないような距離に相対設定している。
かかるパターン構造の基板に電気メッキを施した場合、
実回路パターン2上のメッキパターン3は、外辺部で第
1図に示す如きメッキふくれがなくなる。
その代りに、補助パターン4上にも電気メツキパターン
5が形成される。
かかる実姉例に対する実際の適用例を示そう。
先ず、数μめ銅を蒸着したセラミック基板1上にホトリ
ングラフィ法によるレジストでパターンを限定する。
銅蒸着に際しては、補助パターン4も形成される。
然る後、鉛を14μ程度メッキする。これによって、メ
ッキパターン3及び5が形威される。
一般に、メッキの横方向への広がりは、メッキ厚と同程
度である。
但し、本実施例では、パターンを限定するためのレジス
ト膜の厚さを6μ付着しているため、メッキの横方向へ
の広がりは8μ程度と々る。
今、実回路パターン2の相隣り合う距離を35μとする
と、両側の実回路パターンのメッキ族がりによる間隔の
狭1りは16μとなる故、実回路パターン間のメッキ後
の実質的i距離は19μとなる。
端部のメッキ族がりは14μ程度となり、パターン間隔
は7μ程度となる。
方、補助パターン4上ではメッキは14μ程度広がるが
、実回路パターン2上でのメッキ族がりは、はぼメッキ
厚さと同程度に改善される。
第3図は本考案の他の実施例図である。
本実施例の特徴は、実回路パターン2の外辺部方向に補
助パターン6を形成した点にある。
但し、すべての実回路パターンに補助パターンを形成し
たのでは、従来例と同様な欠点を持つ故、実回路パター
ンの1個宛に補助パターン6を形成している。
かかる構成によって、メッキさせた場合、補助パターン
6上にもメッキパターン7が形成されるが、実回路パタ
ーン1個宛に補助パターンを形成している故、メッキパ
ターン7の相互では充分なる離れた距離を維持できる。
従って、実回路パターン相互間の短絡や歩留り不良を除
去できた。
本考案によれば、微細なパターンを電気メッキによって
形成する場合、パターン外辺部に補助的なメッキランド
を配置する事により、実回路パターン部への電界集中が
軽減でき回路の短絡不良が大巾に減少する。
即ちパターンの外辺部に訃いて補助ランドのない場合、
メッキ膜の横への広がりは成膜厚さの170φ〜180
φもある75人補助ランドを配置する事により約60φ
〜100%[押える事が可能でこの割合だけパターン間
隔を縮少でき、高密度化が可能である。
また、この厚さの均一化により品質が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例図、第2図は本考案の実施例図、第3図
は本考案の他の実施例図である。 1・・・基板、2・・・実回路パターン、3,5・・・
メッキパターン、4・・・補助パターン。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 基板上に形成された実回路パターンと、該実回路パター
    ン端部に形成されると共に、メッキ時の上記実回路パタ
    ーン端部の電界集中によるメッキ膜厚の増加防止用に形
    成された補助パターンと、より成る基板上のパターン構
JP3956780U 1980-03-27 1980-03-27 基板上のパタ−ン構造 Expired JPS5938068Y2 (ja)

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JPS56143275U JPS56143275U (ja) 1981-10-29
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JPS58194083A (ja) * 1982-05-10 1983-11-11 セイコーエプソン株式会社 表示パネルの製造方法
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