JPS5930153A - 擬似障害設定処理方式 - Google Patents
擬似障害設定処理方式Info
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- JPS5930153A JPS5930153A JP57138725A JP13872582A JPS5930153A JP S5930153 A JPS5930153 A JP S5930153A JP 57138725 A JP57138725 A JP 57138725A JP 13872582 A JP13872582 A JP 13872582A JP S5930153 A JPS5930153 A JP S5930153A
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- JP
- Japan
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- scan
- control information
- register
- latch
- diagnostic instruction
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2236—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の技術分野
本発明は擬似障害設定処理方式、特に診断命令として、
データ処理装置の有するラッチ（ＬＡＴＣＨ）に対し、
スキャンイン／スキャンアウトを行う命令を設け、該診
断命令によって擬似障害を発生できるようにし、擬似障
害試験の完全自動化を可能とした擬似障害設定処理方式
に関するものである。
データ処理装置の有するラッチ（ＬＡＴＣＨ）に対し、
スキャンイン／スキャンアウトを行う命令を設け、該診
断命令によって擬似障害を発生できるようにし、擬似障
害試験の完全自動化を可能とした擬似障害設定処理方式
に関するものである。
（２）技術の背景と問題点
一般に、大規模データ処理システムにおいては。
信頼性を向上させるために、正常動作の、試験はもちろ
んのこと、装置障害を強制的に発生させることによって
、その障害処理を正しく行うかどうかの試験についても
行っている。すなわち、障害試験によって、装置の障害
を正しく検出し、その障害状況に応じた処理を正しく実
行するかどうかを調べ、ハードウェアおよびソフトウェ
アの障害処理に関するデバッグを行っている〇 障害試験を行うためには、何んらかの手段によって、各
種障Ｔ状況を作り出す必要があるが、実際に各種の障害
種別に対応した障害装置をシステムに組み込んで試験を
行うことは、現実的に不可能であり、所望の障害環境を
設定するのは容易でｅ、Ｊない。
んのこと、装置障害を強制的に発生させることによって
、その障害処理を正しく行うかどうかの試験についても
行っている。すなわち、障害試験によって、装置の障害
を正しく検出し、その障害状況に応じた処理を正しく実
行するかどうかを調べ、ハードウェアおよびソフトウェ
アの障害処理に関するデバッグを行っている〇 障害試験を行うためには、何んらかの手段によって、各
種障Ｔ状況を作り出す必要があるが、実際に各種の障害
種別に対応した障害装置をシステムに組み込んで試験を
行うことは、現実的に不可能であり、所望の障害環境を
設定するのは容易でｅ、Ｊない。
従来、実際の障害ではないが、あたかも障害であるかの
ような擬似障害を９次のようにして発生させることによ
って、障害試験を行っていた。データ処理装置の命令実
行中に、Ｊａ当な箇所でデータ処理装置を停止させる。
ような擬似障害を９次のようにして発生させることによ
って、障害試験を行っていた。データ処理装置の命令実
行中に、Ｊａ当な箇所でデータ処理装置を停止させる。
そして、クロックを止めたま捷１人手操作により、デー
タ処理装置のラッチをスキャンイン／スキャンアウトし
、その後データ処理装置の停止を解除して、スタートさ
せる。ラッチの外宮により、障害が発生したと招知烙れ
ることになる。
タ処理装置のラッチをスキャンイン／スキャンアウトし
、その後データ処理装置の停止を解除して、スタートさ
せる。ラッチの外宮により、障害が発生したと招知烙れ
ることになる。
しかし、上ｉ＋Ｃ従来の方式によれば１人手操作に′よ
り擬似障ｉ１ｆを発生させるため、試験時間が非常に長
くかかるという欠点があった。また、誤操作が生じやす
く、障害処匪が正しく実行されな−ときに、その原因が
ハードウェアまたはソフトウェアのバグによるものか、
または誤操作に起因するものかを判断しなければならず
、同じ試験を何度も繰り返す必要があった。さらに、適
当なタイミングでラッチを試験のために制御することが
困難で、完全な試験を行うことができないという問題が
あった。
り擬似障ｉ１ｆを発生させるため、試験時間が非常に長
くかかるという欠点があった。また、誤操作が生じやす
く、障害処匪が正しく実行されな−ときに、その原因が
ハードウェアまたはソフトウェアのバグによるものか、
または誤操作に起因するものかを判断しなければならず
、同じ試験を何度も繰り返す必要があった。さらに、適
当なタイミングでラッチを試験のために制御することが
困難で、完全な試験を行うことができないという問題が
あった。
（３）発明の目的と構成
本発明は上記問題点の解決を図り１診断命令によってデ
ータ処理装置が自分自身の各種ラッチを。
ータ処理装置が自分自身の各種ラッチを。
適当なタイミングで自由にコントロールできるようにし
１人手操作を省き、擬似障害試験を完全自動化できるよ
うにすることを目的としている。そのため１本発明の擬
似障害設定処理方式は、データ処理装置、！：、 シ
ステムコンソールインタフェースを介してシステムの監
視、操作および制御を行うサービスプロセッサとを備え
たデータ処理システムにおいて、上記データ処理装置の
各種ラッチに対しスキャンイン／スキャンアウトを処理
する診断命令と、該診断命令のオペランド部で指定され
るスキャン制御情報域とを備え、上記データ処理装置は
障害試験を行うにあたって上記スキャン制御情報域に処
理対象のラッチに関する情報を予め設定し、該スキャン
制御情報域を指定した上記診断命令を実行することによ
って、上記サービスプロセッサに」二記処理対象のラッ
チに対するスキャンイン／スキャンアウトを実行せしめ
、擬似障害の発生を可能にしたことをｉｒ￥徴としてい
る。以下図面を参照しつつ説明する。
１人手操作を省き、擬似障害試験を完全自動化できるよ
うにすることを目的としている。そのため１本発明の擬
似障害設定処理方式は、データ処理装置、！：、 シ
ステムコンソールインタフェースを介してシステムの監
視、操作および制御を行うサービスプロセッサとを備え
たデータ処理システムにおいて、上記データ処理装置の
各種ラッチに対しスキャンイン／スキャンアウトを処理
する診断命令と、該診断命令のオペランド部で指定され
るスキャン制御情報域とを備え、上記データ処理装置は
障害試験を行うにあたって上記スキャン制御情報域に処
理対象のラッチに関する情報を予め設定し、該スキャン
制御情報域を指定した上記診断命令を実行することによ
って、上記サービスプロセッサに」二記処理対象のラッ
チに対するスキャンイン／スキャンアウトを実行せしめ
、擬似障害の発生を可能にしたことをｉｒ￥徴としてい
る。以下図面を参照しつつ説明する。
（４） 発明の実施例
８１１図は本発明の一実施例構成、第２図はスキャンイ
ン命令のフォーマット例説明図、第：５図ないし第６図
はスキャン制御情報域の説明図、第７図はスキャンアウ
ト命令のフォーマット例説明図。
ン命令のフォーマット例説明図、第：５図ないし第６図
はスキャン制御情報域の説明図、第７図はスキャンアウ
ト命令のフォーマット例説明図。
第８図はスキャンアウト用スキャン制御情報域の説明図
を示す。
を示す。
図中、１は中央処理装置（ＣＰＵ）、２はメモリ°。
３はシステムコンソールインタフェース、４はサービス
プロセッサ（ＳＶＰ）、５は命令レジスタ。
プロセッサ（ＳＶＰ）、５は命令レジスタ。
６はワーキングアドレスレジスタ、７はデコーダ。
８はリザルトレジスタ、９は診断命令、１０はスキャン
制御情報域、１］はスキャンアドレスレジスタ、１２お
よび１３はスキャンアウト結果格納域、１４はアウトプ
ットデータレジスタ、１５はセレクトアドレスレジスタ
を表わす。
制御情報域、１］はスキャンアドレスレジスタ、１２お
よび１３はスキャンアウト結果格納域、１４はアウトプ
ットデータレジスタ、１５はセレクトアドレスレジスタ
を表わす。
中央処理装置１は、メモリ２に格納された命令を逐次フ
ェッチし実行する装置である。メモリ２から読出された
命令ｅよ、命令レジスタ５に格納され、デコーダ７によ
って、解析された陵、実行処理されるが、すべての命令
を中央処理装置１が実行処理するわけではなく２例えば
診断宿合９である場合には、サービスプロセッサ４に、
処理の依頼がなされる。システムコンソールインタフェ
ース３は、システムの操作制御のだめの、中央処理装置
１とサービスプロセッサ４とのインタフェースである。
ェッチし実行する装置である。メモリ２から読出された
命令ｅよ、命令レジスタ５に格納され、デコーダ７によ
って、解析された陵、実行処理されるが、すべての命令
を中央処理装置１が実行処理するわけではなく２例えば
診断宿合９である場合には、サービスプロセッサ４に、
処理の依頼がなされる。システムコンソールインタフェ
ース３は、システムの操作制御のだめの、中央処理装置
１とサービスプロセッサ４とのインタフェースである。
サービスプロセッサ４は、中央処理装置１とは独立した
プロセッサを内械するサブシステムであって、システム
コンソールインタフェース３を介して、システムの監視
、操作および制御を一括して行うことができるようにな
っている。
プロセッサを内械するサブシステムであって、システム
コンソールインタフェース３を介して、システムの監視
、操作および制御を一括して行うことができるようにな
っている。
本発明に係る診断命令９として９例えば第２図図示の如
きスキャンイン命令９−１と、ｌｌ’１図図示の如きス
キャンアウト命令９−２とが用意される。
きスキャンイン命令９−１と、ｌｌ’１図図示の如きス
キャンアウト命令９−２とが用意される。
スキャンイン命令９−１の第１バイト目のオペレーショ
ンコードには、１６進数の（８３）が割当てられ、一般
的な診断（１）ＩＡＧＮＯＩ ）命令であることを表わ
す。続く第２バイト目のサフ゛オはレーションコードと
して、１６進数（Ｃ２）が与えられ。
ンコードには、１６進数の（８３）が割当てられ、一般
的な診断（１）ＩＡＧＮＯＩ ）命令であることを表わ
す。続く第２バイト目のサフ゛オはレーションコードと
して、１６進数（Ｃ２）が与えられ。
ラッチのスキャンインを指示する命令であることを示す
ようにされる。オペランド部においては。
ようにされる。オペランド部においては。
ペースレジスタＢ２ の内容と、ディスプレイスメン
） Ｉ）ｚ、とによって、スキャン制御情報域１０の実
アドレスを示すようにされる。
） Ｉ）ｚ、とによって、スキャン制御情報域１０の実
アドレスを示すようにされる。
スキャンイン用のスキャン制御１ｊｖ報域１０は。
例えば第３図図示の如く構成され、処理対象のラッチに
関する情報および処理の内容を示す。第１゜ｒｙ −）
’目ノ５ＣＷｉ”、ｊ：、スキーヤンコントロール’Ｌ
７−１゛であって１例えば第４図図示のような内容を持
つ。第４図にお−て、ＳＣνＶの第１バイト目のＯＰＣ
は、スキャンインのタイミング等の詳１ｔｉｎな制御の
指示内容を示すものであって、その値により２次のよう
な制御が行われる。
関する情報および処理の内容を示す。第１゜ｒｙ −）
’目ノ５ＣＷｉ”、ｊ：、スキーヤンコントロール’Ｌ
７−１゛であって１例えば第４図図示のような内容を持
つ。第４図にお−て、ＳＣνＶの第１バイト目のＯＰＣ
は、スキャンインのタイミング等の詳１ｔｉｎな制御の
指示内容を示すものであって、その値により２次のよう
な制御が行われる。
（＋） ０１１ Ｃが「０」のとき
ノー・オペレーションを表わし、スキャンインは実行さ
れない。
れない。
（ＩＩ） ０１） ＣがｒｌＪのとき後述するＳＡ〜
Ｖで指定されたラッチにスキャンインを継奔児する。こ
こで、継続するとは、スキャンインを解除するまで、ス
キャンインしたラッチの内容を変更させないことを意味
する。
Ｖで指定されたラッチにスキャンインを継奔児する。こ
こで、継続するとは、スキャンインを解除するまで、ス
キャンインしたラッチの内容を変更させないことを意味
する。
スキャンインは、該診断命令の終了前に開始される。解
除は、マシンチェックが発生したことによりハードウェ
アによって行われるか、またはシステム・コンソール９
インタフエース３の例えば約１秒の時間監視チェックに
より行われる。
除は、マシンチェックが発生したことによりハードウェ
アによって行われるか、またはシステム・コンソール９
インタフエース３の例えば約１秒の時間監視チェックに
より行われる。
（Ｉｌｌ） ＯＰ Ｃが「２」のときスキャンインの
開始は、該診断命令の終了袋に行われる。その他は、Ｏ
ＰＣが「１」の場合と同様である。
開始は、該診断命令の終了袋に行われる。その他は、Ｏ
ＰＣが「１」の場合と同様である。
（ｌｖ）ＯＰＣが「３」のとき
ＳＡＷで指定されたラッチに対して、後述するＳＩＤビ
ットが”１″であればスキャンインを行い、”Ｏ′であ
ればスキャンインを実行しない。このオペレーションの
鳴合、スキャンイン（よ、クロック停止状態にて行われ
る。
ットが”１″であればスキャンインを行い、”Ｏ′であ
ればスキャンインを実行しない。このオペレーションの
鳴合、スキャンイン（よ、クロック停止状態にて行われ
る。
（ｖ）ＯＰＣが「４」のとき
ハードウェアをスキャンリセットし７た状態で。
後述するＩ） Ａ Ｗで指定された領域に、ＳＡＷで指
定されたラッチをスキャンアウトする。スキャンリセッ
トされたラッチは、スキャンアウト後１元の値にスキャ
ンインされる。このオペレーションの場合、スキャンイ
ンはクロック停止状態にて行われる。
定されたラッチをスキャンアウトする。スキャンリセッ
トされたラッチは、スキャンアウト後１元の値にスキャ
ンインされる。このオペレーションの場合、スキャンイ
ンはクロック停止状態にて行われる。
（ｖＤＯＰｃが「５」のとき
ハードウェアをスキャンリセットした状態で。
ＳＡＷで指定されたラッチにグ４ｔ、て、ＳＩＤビット
が”１″であれば元の値の逆になるようにスキャンイン
を実行し、ＳＩＤビットが”Ｏ″であれば元の値にスキ
ャンインを行う。スキャンイン終了後、ＳＡＷで指定さ
れたラッチは。
が”１″であれば元の値の逆になるようにスキャンイン
を実行し、ＳＩＤビットが”Ｏ″であれば元の値にスキ
ャンインを行う。スキャンイン終了後、ＳＡＷで指定さ
れたラッチは。
ＤＡＷで指定された領域にスキャンアウトされる。この
オＲレーンヨンの、鳴合、スキャンインはクロック停止
状態にて行われる。
オＲレーンヨンの、鳴合、スキャンインはクロック停止
状態にて行われる。
なお、上記以外のＯＰＣのコードは１例えば未定義とさ
れる。
れる。
ＳＣ〜ＶのＵＮＩＴ部は、スキャンインの対象となるラ
ッチの存在する装置を指定するものである。
ッチの存在する装置を指定するものである。
中央処理装置（ＣＰＵ）、メモリ制叫１装置ＣＭＣＵ）
。
。
チャネル装置（ＣＨＰ）用にそれぞれ２ビツトずつ割当
てられ、第０酢から第３番までの機番を指定できる。
てられ、第０酢から第３番までの機番を指定できる。
ＳＢＣは、スキャンビットカウンタであつで。
スキャンインまたはスキャンアウトすべきビット数を示
す。これは、ＳＡＷのワード数に等しＡ０第３図図示Ｄ
ＡＷＶ！、、データアドレスワードであって、第５図に
図示する如く、スキャンアウトデータが格納される領域
の実アドレスを示す。スキャンアウトデータは、ｓｈｗ
で指定された順にバイナリ−で左づめにされて格納され
る◇最後のワードにお−て不足したビットについては、
”０″が格納される。
す。これは、ＳＡＷのワード数に等しＡ０第３図図示Ｄ
ＡＷＶ！、、データアドレスワードであって、第５図に
図示する如く、スキャンアウトデータが格納される領域
の実アドレスを示す。スキャンアウトデータは、ｓｈｗ
で指定された順にバイナリ−で左づめにされて格納され
る◇最後のワードにお−て不足したビットについては、
”０″が格納される。
Ｓｈｗｔよスキャンアドレスワードであって９例えば第
６図図示の如く構成される。先頭ビットの５ＩＬ）は、
スキャンインデータビットであり１例ｔ ｔｚ スキャ
ンインすべきかどうかのコントロールに用いられる。、
８１￥７ヒ゛ツト目がら第３１ヒ゛ツト目までのスキャ
ンアドレスは、サービスプロセッサ４が取扱い可能に定
められ・たラッチのアドレスを示す。
６図図示の如く構成される。先頭ビットの５ＩＬ）は、
スキャンインデータビットであり１例ｔ ｔｚ スキャ
ンインすべきかどうかのコントロールに用いられる。、
８１￥７ヒ゛ツト目がら第３１ヒ゛ツト目までのスキャ
ンアドレスは、サービスプロセッサ４が取扱い可能に定
められ・たラッチのアドレスを示す。
スキャンアウト命令９−２は９例えば第７図図示の如き
フォーミツトを有する。サプオはし〜ジョンコードとし
て、１６進数の（ｃ３）が割当てられる以外ｅよ、第２
図図示スキャンイン命令９〜１の場合と同様であり、ス
キャン制御情報域１ｏに”ライても、第８図図示の如く
、スキャンイン命令９−１で用すられるスキャン制御す
Ｗ報域と同様なものが用すられる。スキャンアウトの結
果は。
フォーミツトを有する。サプオはし〜ジョンコードとし
て、１６進数の（ｃ３）が割当てられる以外ｅよ、第２
図図示スキャンイン命令９〜１の場合と同様であり、ス
キャン制御情報域１ｏに”ライても、第８図図示の如く
、スキャンイン命令９−１で用すられるスキャン制御す
Ｗ報域と同様なものが用すられる。スキャンアウトの結
果は。
ＤＡＷからポイントされるスキャンデータ格納域に格納
されることになる。
されることになる。
例えば、上記スキャンイン命令９−１等の診断命令９が
現われると、中央処理装置ｌは次のように処理する。ま
ず、メモリ２から診断命令９を読出して、命令レジスタ
５にセットすると、デコーダ７によって、オペレーショ
ンコードを解読し。
現われると、中央処理装置ｌは次のように処理する。ま
ず、メモリ２から診断命令９を読出して、命令レジスタ
５にセットすると、デコーダ７によって、オペレーショ
ンコードを解読し。
システムコンソールインタフェース３を介して。
−！７−−ビスグロセツザ４に診断命令９があったこと
を通知する。また、オペランド部で指定されたアドレス
を２図示省略したオはランドアドレス演算回路で演算し
、ワーキングアドレスレジスタ６に格納する。サービス
プロセッサ４１ｄ：、診断命令９の通知があると、シス
テムコンソールインタフェース３に、サブオはレーショ
ンコードト’７−−￥’ングアドレスレジスタ６のスキ
ャンアウトを指示し。
を通知する。また、オペランド部で指定されたアドレス
を２図示省略したオはランドアドレス演算回路で演算し
、ワーキングアドレスレジスタ６に格納する。サービス
プロセッサ４１ｄ：、診断命令９の通知があると、シス
テムコンソールインタフェース３に、サブオはレーショ
ンコードト’７−−￥’ングアドレスレジスタ６のスキ
ャンアウトを指示し。
ｙ −ビス７’ロセツサ４の記憶域であるスキャンアウ
ト結果格納域１２に読出す。ワーキングアドレスレジス
タ６の内容は、メモリ２のスキャン制御情報域１０のア
ドレスを示している。次に、このアドレスをシステムコ
ンソールインタフェース３を介して、中央処理装置１に
転送する。中央処理装置ｌはメモリ２のスキャン制御情
報域１０がら制御情報を取出して、リザルトレジスタ８
に宵き込ム。システムコンソールインタフェース３は。
ト結果格納域１２に読出す。ワーキングアドレスレジス
タ６の内容は、メモリ２のスキャン制御情報域１０のア
ドレスを示している。次に、このアドレスをシステムコ
ンソールインタフェース３を介して、中央処理装置１に
転送する。中央処理装置ｌはメモリ２のスキャン制御情
報域１０がら制御情報を取出して、リザルトレジスタ８
に宵き込ム。システムコンソールインタフェース３は。
このリザルトレジスタ８をスキャンアウトし、サービス
プロセッサ４のスキャンアウト結果格納域１３に結果を
渡す。サービスプロセッサ４は、それに基づいて、もし
診断命令９がスキャンイン命令９−４であれば、指定さ
れたタイミングで出力データをアウトプットデータレジ
スタ１４に書き込むとともに、七しクトアドレスレジス
タ１５にスキャンアドレスを設定する。この七しクトア
ドＶ スレ：） スタｌ ５ （Ｄ 内ｂ ハ、スキャ
ンアドレスレジスタ１１に転送される。システムコンソ
ールインタフェース３は、中央処理袋＠１のクロックを
止めて、中央処理装置ｌにスキャンアドレスとスキャン
アドレスとを転送して、スキャンインを行うＯこのスキ
ャンインは、ラッチを強制的にスキャンインしたことに
よるマシンチェック等のエラーが発生するか、または１
秒経過するまで継続される。
プロセッサ４のスキャンアウト結果格納域１３に結果を
渡す。サービスプロセッサ４は、それに基づいて、もし
診断命令９がスキャンイン命令９−４であれば、指定さ
れたタイミングで出力データをアウトプットデータレジ
スタ１４に書き込むとともに、七しクトアドレスレジス
タ１５にスキャンアドレスを設定する。この七しクトア
ドＶ スレ：） スタｌ ５ （Ｄ 内ｂ ハ、スキャ
ンアドレスレジスタ１１に転送される。システムコンソ
ールインタフェース３は、中央処理袋＠１のクロックを
止めて、中央処理装置ｌにスキャンアドレスとスキャン
アドレスとを転送して、スキャンインを行うＯこのスキ
ャンインは、ラッチを強制的にスキャンインしたことに
よるマシンチェック等のエラーが発生するか、または１
秒経過するまで継続される。
同様にスキャンアウトの場合には、スキャンアドレスレ
ジスタ１１の示すスキャンアドレスをもつラッチの内容
が、メモリ２のスキャン制御情報域ｌＯのＤＡＷの示す
領域に格納される。
ジスタ１１の示すスキャンアドレスをもつラッチの内容
が、メモリ２のスキャン制御情報域ｌＯのＤＡＷの示す
領域に格納される。
このように診断命令９によって、任意のラッチへのスキ
ャンインおよびスキャンアウトが、中央処理装置１のク
ロックを一時的に止めた状態で。
ャンインおよびスキャンアウトが、中央処理装置１のク
ロックを一時的に止めた状態で。
通常の処理命令誤は独立に処理されることとなる。
従って、適当な箇所に該診断命令９を用意することによ
り、自動的に擬似障害を発生させることができ、また、
障害発生後のラッチ状態に関する情報も収集することが
できる。
り、自動的に擬似障害を発生させることができ、また、
障害発生後のラッチ状態に関する情報も収集することが
できる。
（５）発明の詳細
な説明した如く本発明によれば、擬似障害試験をするに
あたって１人手操作によりｊ疑似障害を発生させる必要
はなく、擬似障害試験を完全自動化することができ、正
価かつ迅速な試験が可能になる。
あたって１人手操作によりｊ疑似障害を発生させる必要
はなく、擬似障害試験を完全自動化することができ、正
価かつ迅速な試験が可能になる。
第１図は本発明の一実施例構成、第２図はスキャンイン
命令のフォーマット例説明図、第３図ないし第６図はス
キャン制御情報域の説明図、第７図ｔｉスキャンアウト
命令のフォーマット例説明図。 第８図ｔよスキーＹンアウト用スキャン制御情報域の説
明図を示す。 図中、１は中央処理装置直、２はメモリ、３はシステム
コンソールインタフェース、４けナービスプロセッザ、
５は命令レジスタ、９は診断命令。 １０はスキャン制御情報戦を表わす。 ′時性出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 森 １） 寛（外１名）才２図 ′４′４ 囚 掬′５図 ′１ｔ−６日
命令のフォーマット例説明図、第３図ないし第６図はス
キャン制御情報域の説明図、第７図ｔｉスキャンアウト
命令のフォーマット例説明図。 第８図ｔよスキーＹンアウト用スキャン制御情報域の説
明図を示す。 図中、１は中央処理装置直、２はメモリ、３はシステム
コンソールインタフェース、４けナービスプロセッザ、
５は命令レジスタ、９は診断命令。 １０はスキャン制御情報戦を表わす。 ′時性出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 森 １） 寛（外１名）才２図 ′４′４ 囚 掬′５図 ′１ｔ−６日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 データ処理装置と、システムコンソールインタフェース
を介してシステムの監視、操作およＵ 制御を行うサー
ビスプロセッサとを備えたデータ処理システムにおいて
、上記データ処理装置の各種ラッチニ対シスキャンイン
／スキャンアウトを処理する診断命令と、該診断命令の
オペランド部で指定されるスキャン制御情報域とを備え
、上記データ処理装置は障害試験を行うにあたって上記
スキャン制御情報域に処理対象のラッチに関する情報を
予め設定し、該スキャン制御情報域を指定じた上記診断
命令を実行することによって、上記サービスプロセッサ
に上記処理対象のラッチに対するスキャンイン／スキャ
ンアウトを実行せしめ。 擬似障害の発生全可能にしたことを特徴とする擬似障害
設定処理方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57138725A JPS5930153A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 擬似障害設定処理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57138725A JPS5930153A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 擬似障害設定処理方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5930153A true JPS5930153A (ja) | 1984-02-17 |
| JPS6250858B2 JPS6250858B2 (ja) | 1987-10-27 |
Family
ID=15228689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57138725A Granted JPS5930153A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 擬似障害設定処理方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5930153A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0283746A (ja) * | 1988-09-21 | 1990-03-23 | Hitachi Ltd | 障害処理機能試験方法 |
| JPH04100593A (ja) * | 1990-08-15 | 1992-04-02 | Nippon Steel Corp | 有機塩素化合物含有水の処理方法及び装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53148353A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-23 | Hitachi Ltd | Information processing unit |
-
1982
- 1982-08-10 JP JP57138725A patent/JPS5930153A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53148353A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-23 | Hitachi Ltd | Information processing unit |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0283746A (ja) * | 1988-09-21 | 1990-03-23 | Hitachi Ltd | 障害処理機能試験方法 |
| JPH04100593A (ja) * | 1990-08-15 | 1992-04-02 | Nippon Steel Corp | 有機塩素化合物含有水の処理方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6250858B2 (ja) | 1987-10-27 |
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