JPS5924962A - 情報信号再生用針の研摩基材 - Google Patents
情報信号再生用針の研摩基材Info
- Publication number
- JPS5924962A JPS5924962A JP13025382A JP13025382A JPS5924962A JP S5924962 A JPS5924962 A JP S5924962A JP 13025382 A JP13025382 A JP 13025382A JP 13025382 A JP13025382 A JP 13025382A JP S5924962 A JPS5924962 A JP S5924962A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- plate
- groove
- needle
- plated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D18/00—Manufacture of grinding tools or other grinding devices, e.g. wheels, not otherwise provided for
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し発明の技術分野〕
この発明は、静電容置式情報ディスクに記録された情報
を再生するための°電極針等の先端を所定形状に研摩す
るための情報信号再生用針の研摩層相に関する。
を再生するための°電極針等の先端を所定形状に研摩す
るための情報信号再生用針の研摩層相に関する。
し発明の技術的背景とその問題点〕
近年、各種の方式のビデオディスクやオーディオディス
ク(以下情報ディスクと称する)の開発が進み実用段階
に達しているが、その一方式とし−c n 屯容1.?
を式がある。この方式はビデオ信号等の情報を導゛戒性
を有するディスクに凹凸の形で記録し、再生はこのディ
スク上を相対的に移動する電極針によってディスク上の
凹凸(二よる静市容i1Lの変化を検出することにより
行なうものである。この場合、電極側としてはv、1図
に示すようにダイヤモンドやザファイヤなどの+l+
(1’J1度の材料がうなる針状の絶縁性基体lの側面
に静屯容−fit検出用の金属膜2あるいは訪電体膜を
被着したものが用いられる。
ク(以下情報ディスクと称する)の開発が進み実用段階
に達しているが、その一方式とし−c n 屯容1.?
を式がある。この方式はビデオ信号等の情報を導゛戒性
を有するディスクに凹凸の形で記録し、再生はこのディ
スク上を相対的に移動する電極針によってディスク上の
凹凸(二よる静市容i1Lの変化を検出することにより
行なうものである。この場合、電極側としてはv、1図
に示すようにダイヤモンドやザファイヤなどの+l+
(1’J1度の材料がうなる針状の絶縁性基体lの側面
に静屯容−fit検出用の金属膜2あるいは訪電体膜を
被着したものが用いられる。
ところで、静電容進式情報ディスクには、再生時におけ
る電極側のトラッキング方式に関して、ディスク表10
1に記録トラックに沿ってトラッキング用の案内溝を設
け、これに溢って電極針を走行させる方式と、トラッキ
ング用信刊を記録しておき、゛電気的なサーボ制御(二
よって電極針の位置を制御する方式とがある。ここで前
者の案内溝を設ける方式では、電極針が溝をトレースす
る関係で摩耗が問題となる。このため、電極針としては
第1図に示すように先端部3を船底と同様な細長い形状
(キール状)に加工したものを使用することが検討され
ている。この場合、キール状に加工された先端部の寸法
は幅aが2〜3μ、長さbが3〜5μ程度という極めて
小さいものであplその加工(二は細心の注意が必要で
ある。
る電極側のトラッキング方式に関して、ディスク表10
1に記録トラックに沿ってトラッキング用の案内溝を設
け、これに溢って電極針を走行させる方式と、トラッキ
ング用信刊を記録しておき、゛電気的なサーボ制御(二
よって電極針の位置を制御する方式とがある。ここで前
者の案内溝を設ける方式では、電極針が溝をトレースす
る関係で摩耗が問題となる。このため、電極針としては
第1図に示すように先端部3を船底と同様な細長い形状
(キール状)に加工したものを使用することが検討され
ている。この場合、キール状に加工された先端部の寸法
は幅aが2〜3μ、長さbが3〜5μ程度という極めて
小さいものであplその加工(二は細心の注意が必要で
ある。
従来、′1に極針の先端をこのような形状に加工するだ
めの手段として、ラッカー盤または金属盤にダイヤモン
ド等のカッターで溝を機械的に切削してこれにダイヤモ
ンドダストあるいは5IOt r A/10g +WC
等の微粉末塗布したもの(これを針研摩盤という)が用
いられている。すなわち、第2図に示すように溝22を
例えばらせん状若しくは同心円状に形成した釧研摩盤2
1を用意し、これを回転させて電極側lの先端を溝22
に泪って走行させることで研摩してゆくことにより、キ
ール状に加工するものである。しかしながら、従来の針
研摩盤の製造方法は、研摩のための溝を1枚1枚機械的
に切削するというものであるため量産が困難であり、延
いては電極針の製造コストの上昇の原因ともなっていた
。
めの手段として、ラッカー盤または金属盤にダイヤモン
ド等のカッターで溝を機械的に切削してこれにダイヤモ
ンドダストあるいは5IOt r A/10g +WC
等の微粉末塗布したもの(これを針研摩盤という)が用
いられている。すなわち、第2図に示すように溝22を
例えばらせん状若しくは同心円状に形成した釧研摩盤2
1を用意し、これを回転させて電極側lの先端を溝22
に泪って走行させることで研摩してゆくことにより、キ
ール状に加工するものである。しかしながら、従来の針
研摩盤の製造方法は、研摩のための溝を1枚1枚機械的
に切削するというものであるため量産が困難であり、延
いては電極針の製造コストの上昇の原因ともなっていた
。
そこで、このような針研摩盤を1量産する方法として、
ガラス板等の表面にフォトンジスl一層を形成し、これ
にレーザビーム等のエネルギービームで溝をカッティン
グしたものを原盤としてメッキ法によりスタンバを作製
し、圧縮成型、射出成型注入成型等によって太U[の複
製側研摩盤を成型する方法が考えられている。この際釧
研摩盤の形状はディスクのみに限定されず、テープ状、
ドラム形状、板状等も可能である。これら複製盤の素材
としては有機高分子材料が主に用いられる。611えば
pvc (ポリ塩化ビニール)、l)MMA (ポリメ
タクリル酸) 、 ]) S (ポリスチレン)、II
c(ボリカーボネー) ) 、 PvAC(ポリ酢酸ビ
ニール)。
ガラス板等の表面にフォトンジスl一層を形成し、これ
にレーザビーム等のエネルギービームで溝をカッティン
グしたものを原盤としてメッキ法によりスタンバを作製
し、圧縮成型、射出成型注入成型等によって太U[の複
製側研摩盤を成型する方法が考えられている。この際釧
研摩盤の形状はディスクのみに限定されず、テープ状、
ドラム形状、板状等も可能である。これら複製盤の素材
としては有機高分子材料が主に用いられる。611えば
pvc (ポリ塩化ビニール)、l)MMA (ポリメ
タクリル酸) 、 ]) S (ポリスチレン)、II
c(ボリカーボネー) ) 、 PvAC(ポリ酢酸ビ
ニール)。
PE(ポリエチレン) 、 POM (ポリアセクール
)。
)。
PP(ポリプロピレン)、ポリスルフォンなどO)樹脂
、あるいはこれらの混合系としてのPVC−11VAc
。
、あるいはこれらの混合系としてのPVC−11VAc
。
PVC−PR,PVC−ヒ=−ル、<f7 v −ト、
PVC−PMMA ニスf /I/ 、 PVC−P
P 等ノポリ−q −ヤ、As(アクリルニトリルスチ
レン) 、 ABS (アクリルニトリル、ブクジエン
、スチレン)等の2ポリマーその他の有機高分子材料を
主成分として形成され、さらに必要に応じ硬化剤として
例えばカーボン、セラミツクツ微粒粉(Ae、O,、S
in、 、 SiC,Si、N4鵠)あるいは金属の微
粒粉を混練りしたものである。
PVC−PMMA ニスf /I/ 、 PVC−P
P 等ノポリ−q −ヤ、As(アクリルニトリルスチ
レン) 、 ABS (アクリルニトリル、ブクジエン
、スチレン)等の2ポリマーその他の有機高分子材料を
主成分として形成され、さらに必要に応じ硬化剤として
例えばカーボン、セラミツクツ微粒粉(Ae、O,、S
in、 、 SiC,Si、N4鵠)あるいは金属の微
粒粉を混練りしたものである。
これらの要素、工程で作られた場合の問題点は、ラッカ
ー盤のよう在場合は精度の高いキール盤が形成されにく
いこと、駄産性に欠けること、研摩効率が悪いことなど
の欠点があり、ガラス盤を使用しての複数盤では、鼠産
性、精度ともに高いが、研摩効率が悪いことが問題点で
ある。
ー盤のよう在場合は精度の高いキール盤が形成されにく
いこと、駄産性に欠けること、研摩効率が悪いことなど
の欠点があり、ガラス盤を使用しての複数盤では、鼠産
性、精度ともに高いが、研摩効率が悪いことが問題点で
ある。
[発明の目的〕
この発明の目的は、研摩加工能率、即ち針の先端を所望
の形状にするに要する研摩時間の短縮とハエの寿命特性
を大幅に向」ニさせ得る情報信号再生用針の研摩基材を
提供することである。
の形状にするに要する研摩時間の短縮とハエの寿命特性
を大幅に向」ニさせ得る情報信号再生用針の研摩基材を
提供することである。
し発明の概要〕
この発明に係る情報信号再生用針の研摩基材は、゛電極
針の先端をキール状等の所定形状(二加工するための溝
を表面に形成したイj1幾高分子4゛4ネ1を主成分と
する基盤上に、高硬度セラミック利の被膜を形成したも
ので、このセラミック被膜はii、、、 1.硬点酸化
物被膜から成るものである。寸だこれしセラミック被膜
は主にプラズマCVI)に代表される低温薄膜形成技術
(=よって所望のものがイI)られる。
針の先端をキール状等の所定形状(二加工するための溝
を表面に形成したイj1幾高分子4゛4ネ1を主成分と
する基盤上に、高硬度セラミック利の被膜を形成したも
ので、このセラミック被膜はii、、、 1.硬点酸化
物被膜から成るものである。寸だこれしセラミック被膜
は主にプラズマCVI)に代表される低温薄膜形成技術
(=よって所望のものがイI)られる。
し発明の効果〕
このような酸化物被膜を形成した針研摩用シ、(・材は
、Sin、 、 A/、0. 、 WCなどの微粉を塗
布した従来の基材に比べ研摩ムラがなく、研摩速度は5
倍辺上速くなり、゛またその寿命も3〜10倍程度(1
寸で伸びることが確認された。また針の品質管理上にも
有効であり、歩留りも大幅に改善された。
、Sin、 、 A/、0. 、 WCなどの微粉を塗
布した従来の基材に比べ研摩ムラがなく、研摩速度は5
倍辺上速くなり、゛またその寿命も3〜10倍程度(1
寸で伸びることが確認された。また針の品質管理上にも
有効であり、歩留りも大幅に改善された。
し発明の実施例〕
第3図はこの発明に係る針研摩用基利の製造上程の一例
を示したものである。まず、第3図(a)に示すように
ガラス板31上にクロム等の全組IJ料からなるあるい
はシリコーン樹脂系の表面処理層32を必要に応じ形成
した後、フォトレジスト層33をスピナー等により例え
ば4〜5μ程度の厚さに塗布する。そして全体を回転さ
せながら、レーザービームや電子ビーム、イオンビーム
のようなエネルギービーム34をフォトレジスト層33
(二照射し、らせん状あるいは同心円状あるいは平行な
直線状に露光した後、現像を行ない、さらにアフターベ
ークを行なって定着し、第3図(b)に示すようにフォ
トレジスト層33にらせん状あるいは同心円状あるいは
直線状の溝35を形成する。
を示したものである。まず、第3図(a)に示すように
ガラス板31上にクロム等の全組IJ料からなるあるい
はシリコーン樹脂系の表面処理層32を必要に応じ形成
した後、フォトレジスト層33をスピナー等により例え
ば4〜5μ程度の厚さに塗布する。そして全体を回転さ
せながら、レーザービームや電子ビーム、イオンビーム
のようなエネルギービーム34をフォトレジスト層33
(二照射し、らせん状あるいは同心円状あるいは平行な
直線状に露光した後、現像を行ない、さらにアフターベ
ークを行なって定着し、第3図(b)に示すようにフォ
トレジスト層33にらせん状あるいは同心円状あるいは
直線状の溝35を形成する。
これ1でか原盤の作製工程である。
次に、この原盤の上に第3図(C)に示す如く例えばニ
ッケルメッキを所定厚さに行なって、原盤に対し反転し
たパターンを持つマスタ盤36を作製する。次に、この
マスク盤36を剥離してその表面幅−メッキを行なって
第3図(d)に示すような原盤と同様なパターンを持っ
たマザー盤37を作製し、さらにこのマザー盤37にメ
ッキを行なって第3図(e) l1示すようなマスタ盤
36と同様なスタンパ38を作製する。
ッケルメッキを所定厚さに行なって、原盤に対し反転し
たパターンを持つマスタ盤36を作製する。次に、この
マスク盤36を剥離してその表面幅−メッキを行なって
第3図(d)に示すような原盤と同様なパターンを持っ
たマザー盤37を作製し、さらにこのマザー盤37にメ
ッキを行なって第3図(e) l1示すようなマスタ盤
36と同様なスタンパ38を作製する。
そして、スタンパ38を用いてプレスあるいはインジェ
クション、キャスティング、フォトポリメリゼーション
(2−P)等の方法によジ〜!3図(f)に示すような
原盤と同様な溝39をイ]する基盤40を成型し、次い
でこの基盤400表向に酸化物被膜41を形成する。
クション、キャスティング、フォトポリメリゼーション
(2−P)等の方法によジ〜!3図(f)に示すような
原盤と同様な溝39をイ]する基盤40を成型し、次い
でこの基盤400表向に酸化物被膜41を形成する。
酸化物被膜は、Be 、Mg 、Ca 、8r 、13
a の少なくともlflとSl *B +Ae+Ga
l In 、Ge の少なくともl利iとから成る
金属酸化物である。
a の少なくともlflとSl *B +Ae+Ga
l In 、Ge の少なくともl利iとから成る
金属酸化物である。
第4図は酸化物被膜41の形成に用いる低71.Aイオ
ンスパツタリング装置の構成を示すもので、チャンバー
42内に例えば第1のガス漕、入部43よリハロゲン化
ガス、或いはトリメチル系有機金属をキャリアガス(”
z + Nt r Ar等)に乗せて導入し、第2のガ
ス導入部44よジ酸素(0,、N、0. No等)を同
様に導入する。そして、電極45.46間に電圧を印加
して、チャンバー42内のAr (アルゴン)ガスを
イオン放電させて、或いは光分解により、これら導入ガ
スを極めて低温で反応さぜ、所望酸化物被膜をターゲッ
ト47に吸着させ、これをAr イオンでスパッタし
て、第3図(f)に示したように溝39を有する基盤4
0上に、酸化物被膜4Iとして形成する。48はガス排
出部である。
ンスパツタリング装置の構成を示すもので、チャンバー
42内に例えば第1のガス漕、入部43よリハロゲン化
ガス、或いはトリメチル系有機金属をキャリアガス(”
z + Nt r Ar等)に乗せて導入し、第2のガ
ス導入部44よジ酸素(0,、N、0. No等)を同
様に導入する。そして、電極45.46間に電圧を印加
して、チャンバー42内のAr (アルゴン)ガスを
イオン放電させて、或いは光分解により、これら導入ガ
スを極めて低温で反応さぜ、所望酸化物被膜をターゲッ
ト47に吸着させ、これをAr イオンでスパッタし
て、第3図(f)に示したように溝39を有する基盤4
0上に、酸化物被膜4Iとして形成する。48はガス排
出部である。
これら被膜は、キール溝の表面に2000〜3000
AC二(厚くて高々5000A程度)形成する。これに
ダイヤモンドの先端が第2図にあるようζ二接触し、摩
擦によって研摩される割合が大きいと考えられる。
AC二(厚くて高々5000A程度)形成する。これに
ダイヤモンドの先端が第2図にあるようζ二接触し、摩
擦によって研摩される割合が大きいと考えられる。
ダイヤモンドは炭素から出来ており、酸化物との摩擦に
より生ずる熱により反応し削られる。従って、ダイヤモ
ンドの燃焼する温度に近い状態で、酸素が供給されるこ
とが望ましい。即ち酸化物の融点(あるいは昇華点)が
これに近いことが望ましい。しかし、更には燃焼のみで
なく、破砕の要素も必要と考えられ、融点はある程度高
く硬いことか望ましい。この要因じたっ“〔、本発明で
は高uNアルカリ土類金籟酸化物を主体に、これだけで
は燃焼が起9(二くい、即ち研摩効果が小さいので、二
成分系以上にすることにより、所望の要因を羽すことが
可能となった。
より生ずる熱により反応し削られる。従って、ダイヤモ
ンドの燃焼する温度に近い状態で、酸素が供給されるこ
とが望ましい。即ち酸化物の融点(あるいは昇華点)が
これに近いことが望ましい。しかし、更には燃焼のみで
なく、破砕の要素も必要と考えられ、融点はある程度高
く硬いことか望ましい。この要因じたっ“〔、本発明で
は高uNアルカリ土類金籟酸化物を主体に、これだけで
は燃焼が起9(二くい、即ち研摩効果が小さいので、二
成分系以上にすることにより、所望の要因を羽すことが
可能となった。
以下本発明を具体的な実施例について説明する。
実施例(1)
LleO−Sin、被膜形成の例を示す。ディスク(盤
)は、pve(ポリ塩化ビニール)の出縮成711.i
L〆こものを用い、上記説明の如く光/1)解−グラ
ズマCVt+ 、!ζ置により、極めて低温で被膜形成
を行l −:) ′/、−o13c源として、Be(C
tls)sをSi 源として同じ<S i (CI+
3)3をl:lのモル比でへNI;人し水銀ランプの)
゛(−で6J1Filした。酸素源としてN20ガスを
用い、極めて低温でBeO−SiO,の被膜をPVCデ
ィスク上に形1jk L /こ。
)は、pve(ポリ塩化ビニール)の出縮成711.i
L〆こものを用い、上記説明の如く光/1)解−グラ
ズマCVt+ 、!ζ置により、極めて低温で被膜形成
を行l −:) ′/、−o13c源として、Be(C
tls)sをSi 源として同じ<S i (CI+
3)3をl:lのモル比でへNI;人し水銀ランプの)
゛(−で6J1Filした。酸素源としてN20ガスを
用い、極めて低温でBeO−SiO,の被膜をPVCデ
ィスク上に形1jk L /こ。
これによる研摩時間は従来タイプ((iJF 1.7<
剤堕イ11方式)(ニルべて、平均で4倍以上の効率が
上が9、盤の寿命特性も7倍以上であった。13eo
−8i0.の被膜組成をlニア−4:lの間では、B7
!f性(二俊化が少ないが、 BeOを多くすると、研
摩時間が長くなり、盤の寿命も長くなった。
剤堕イ11方式)(ニルべて、平均で4倍以上の効率が
上が9、盤の寿命特性も7倍以上であった。13eo
−8i0.の被膜組成をlニア−4:lの間では、B7
!f性(二俊化が少ないが、 BeOを多くすると、研
摩時間が長くなり、盤の寿命も長くなった。
実施例(2)
同様にして、Ca0−A/203糸での例全示す。C2
1源としては(C1(、)、Ca を用い、A/源とし
−Cは(C1(、)、 A I!を用いた。実施例(2
)と同様に光分IQ’t 7.7ζにより被膜の生成を
行なった。CaO−Ae、 03生成の割合は、l:l
の比のところでは最も盤の寿命が短かかったが、研摩特
性は、組成間での差は余りなく、従来例に比べて、研摩
効率で4倍以上、寿命特性も5倍以−しであった。
1源としては(C1(、)、Ca を用い、A/源とし
−Cは(C1(、)、 A I!を用いた。実施例(2
)と同様に光分IQ’t 7.7ζにより被膜の生成を
行なった。CaO−Ae、 03生成の割合は、l:l
の比のところでは最も盤の寿命が短かかったが、研摩特
性は、組成間での差は余りなく、従来例に比べて、研摩
効率で4倍以上、寿命特性も5倍以−しであった。
実施例(3)
同様にしてMgO−Gem、での例を述べる。Mg源と
し・C(Cll3)* Mg ((Ct N11 )!
Mgでも同じ)、GeはGe (C1l、)、を用い
、光分解法により被膜の生成を行なった。
し・C(Cll3)* Mg ((Ct N11 )!
Mgでも同じ)、GeはGe (C1l、)、を用い
、光分解法により被膜の生成を行なった。
第1図は案内溝付き静電容礒式情報ディスクの再生(二
用いられる電極針の先端形状を示す図、第2図は上記電
極針の先端をキール状に加工する方法を説明するだめの
図、第3図はこの発明の情報信号り牛用の研摩基材の実
施例を製造工程順に説明するだめの図、第4図は本発明
において酸化物被膜を低温イオンスパッタリング法によ
り形成するだめの装置の概略構成を示す図である。 l・・・針状絶縁性基体 2・・・金属膜21・・・針
研摩用ディスク 22・・・溝31・・・ガラス板
32・・・表゛面処理層33・・・フォトレジスト
層34・・・エネルギービーム35・・・溝
36 マスタ6^37・・・マサ−fi
38・・スタンバ39・・・ 溝
40・・ )、I:
盤41・・・化合物被膜 (7317) 代理人弁理士 則 近 憲 佑 (ほ
か1名)第 1 図 第2図
用いられる電極針の先端形状を示す図、第2図は上記電
極針の先端をキール状に加工する方法を説明するだめの
図、第3図はこの発明の情報信号り牛用の研摩基材の実
施例を製造工程順に説明するだめの図、第4図は本発明
において酸化物被膜を低温イオンスパッタリング法によ
り形成するだめの装置の概略構成を示す図である。 l・・・針状絶縁性基体 2・・・金属膜21・・・針
研摩用ディスク 22・・・溝31・・・ガラス板
32・・・表゛面処理層33・・・フォトレジスト
層34・・・エネルギービーム35・・・溝
36 マスタ6^37・・・マサ−fi
38・・スタンバ39・・・ 溝
40・・ )、I:
盤41・・・化合物被膜 (7317) 代理人弁理士 則 近 憲 佑 (ほ
か1名)第 1 図 第2図
Claims (1)
- (1)電極針の先端を所定形状に研摩するだめの溝を有
する針研摩用ディスクにおいて、溝を表面に形成した有
機高分子材料を主成分とする基盤上の少なくとも前記溝
表面に、Be 、Mg 、ca J 8 r 、Ba
の少なくとも1種と、S I JB + Ae 、G
a + Irr 、be の少なくとも1種とからな
る金属酸化物被膜を形成してなることを特徴とする情報
信号再生用針の研摩基材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13025382A JPS5924962A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 情報信号再生用針の研摩基材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13025382A JPS5924962A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 情報信号再生用針の研摩基材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5924962A true JPS5924962A (ja) | 1984-02-08 |
Family
ID=15029823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13025382A Pending JPS5924962A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 情報信号再生用針の研摩基材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5924962A (ja) |
-
1982
- 1982-07-28 JP JP13025382A patent/JPS5924962A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6241451B2 (ja) | ||
JPH0513045B2 (ja) | ||
US6194048B1 (en) | Magnetic recording disk | |
JPS5924962A (ja) | 情報信号再生用針の研摩基材 | |
JP2926135B2 (ja) | 磁気ヘッド | |
JPS5924963A (ja) | 情報信号再生用針の研摩基材 | |
JPH028376B2 (ja) | ||
KR950007131B1 (ko) | 수직 자기 기록 매체 및 그 제조방법 | |
JPH071546B2 (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS63228414A (ja) | 磁気デイスク基板およびその製造方法 | |
JPS58114342A (ja) | 針研摩用デイスクとその製造方法 | |
JPS5894104A (ja) | 針研摩用デイスクの製造方法 | |
JPS6190344A (ja) | 光デイスク成形用スタンパ | |
CN1256716C (zh) | 磁复录方法和磁复录装置 | |
JP2000293842A (ja) | 磁気記録媒体、ディスク基板及びディスク基板製造用原盤 | |
JPS6348632A (ja) | 光学情報記録再生デイスクの製造方法 | |
JP2001256604A (ja) | 磁気ディスク装置 | |
JPS59177729A (ja) | 磁気デイスク | |
JPS6148146A (ja) | 光デイスク用スタンパ | |
JPS58139343A (ja) | 針研摩用デイスク | |
JP3523601B2 (ja) | 磁気ヘッド | |
JP2703359B2 (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPS5894101A (ja) | 針研摩用デイスクとその製造方法 | |
JPH0256727A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH05109123A (ja) | 光学デイスク用スタンパの研磨方法 |