JPS59191657A - デジタル・パタ−ン発生器 - Google Patents

デジタル・パタ−ン発生器

Info

Publication number
JPS59191657A
JPS59191657A JP58066383A JP6638383A JPS59191657A JP S59191657 A JPS59191657 A JP S59191657A JP 58066383 A JP58066383 A JP 58066383A JP 6638383 A JP6638383 A JP 6638383A JP S59191657 A JPS59191657 A JP S59191657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
data
speed
shift register
parallel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58066383A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6356568B2 (ja
Inventor
Tetsuo Koyama
小山 哲男
Yasuhiko Miki
安彦 三木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Priority to JP58066383A priority Critical patent/JPS59191657A/ja
Publication of JPS59191657A publication Critical patent/JPS59191657A/ja
Publication of JPS6356568B2 publication Critical patent/JPS6356568B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/263Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 jロセ凝葱10虹壮 本発明は所定のデジタル・パターンを発生するパターン
発生器に関する。
発明の背景 ランダム・ロジック集積回路(IC)、  ロジック・
メモリIC等のロジック回路を試験するのに、デジタル
(ロジック)・パターン発生器(以下、単にパターン発
生器ということがある)を用いている。
従来のパターン発生器は、試験に必要な所定のデジタル
・パターンをメモリICに記憶し、この記憶したデジタ
ル・パターンを順次読出した。
よって、パターンの周波数はメモリの読出し速度に制限
された。ところがロジック回路が複雑になるにしたがっ
て、非常に多くのパターンを必要とし、またロジック回
路の処理動作が速くなるにしたがって、高速のパターン
が必要となった。しかし、大容量で高速動作のメモリが
存在しないため、高速パターンを発生する場合に、小容
量かつ高価な高速メモリを数多く用いる必要があり、パ
ターン発生器が高価かつ大形となった。
これらの欠点を改善するために、所定パターンを記憶し
た複数の低速メモリを並列に配置し、これら複数のメモ
リを順次選択してデジタル信号を得、全体として高速パ
ターンを発生する方式が提案されている。しかし、この
方式はメモリを決ったアドレス順に順次読出す場合はよ
いが、ジャンプ等の如くランダムにアドレスが変化する
場合は、ダミーサイクルが発生するという欠点を有する
この欠点を解決するため、所定パターンを記憶した複数
の低速メモリを第1マルチプレクサにより選択して、等
何曲にパターンを高速で得、第1マルチプレクサからの
パターンを第1及び第2高速(小容量)メモリに記憶さ
せ、これら第1及び第2高速メモリを第2マルチプレク
サにより交互に選択する方式が提案されている。即ち、
第1高速メモリが、第1マルチプレクサを介して低速メ
モリからのパターンを書込んでいる間に、第2高速メモ
リが記憶したパターンを出力し、これら動作を交互に繰
返している。しかし、この方式は複数のマルチプレクサ
が必要であり、構成が複雑(−なると共に、出カバター
ンの周波数が高速メモリの動作速度に制限されるという
欠点がある。
また、複数の低速大容量メモリと複数の高速小容量メモ
リを設け、これらメモリの各々を複数のブロック・エリ
アに分割し、高速小容量の各メモリのブロック・エリア
に低速大容量の各メモリからパターン・データを所定の
順序で転送し、高速小容量の各メモリのブロック・エリ
アを所定の順序でアクセスしてパターンを得る方式も提
案されている。しかし、この方式では高速小容量メモリ
の各ブロック・エリアの記憶容量は、低速大容量メモリ
の各ブロック・エリアの記憶容量と等しくなければなら
ず、また低速大容量メモリの各ブロック・エリアは複数
ステップ、例えば500ステツプのパターンを記憶して
いるので、高速メモリは低速メモリに比較して小容量で
あるが、かなりの記憶容量が必要であった。また、低速
大容量メモリのパターン・データを高速小容量メモリに
直接書込んでいるため、少なくとも3個の高速小容量メ
モリがないと、ダミー・サイクルが生じてしまう。更に
、出カバターンの周波数が高速小容量メモリの動作速度
じ制限されているという欠点も有する。
発明の目的 従って本発明の目的の1つは、構成が簡単で高速のデジ
タル・パターンを発生するパターン発生器の提供にある
本発明の他の目的は、高速メモリの動作速(9)以」二
の高速デジタル・パターンを発生するパターン発生器の
提供にある。
本発明の更に他の目的は記憶されたパターンを1群毎に
ランダムに出力することが可能なデジタル・パターン発
生器の提供にある。
発明の概要 本発明のデジタル・パターン発生器は、同じロジック系
ならばメモリよりもシフト・レジスタの方が動作速度が
速く―ジッタが少ないこと(−注目すると共に、シフト
・レジスタの並列・直列変換機能を利用している。なお
、例えば高速であるECL系の場合、本特許出願当時、
メモリ(ランダム・アクセス・メモリ)の動作速度は約
50MH2であるが、シフト・レジスタの動作速度は約
200 MHzである。複数の並列デジタル・データを
記憶したメモリからアドレス信号発生手段によりアドレ
ス指定された並列データを順次読出し、複数のシフト・
レジスタに順次書込む。シフト・レジスタに書込まれた
並列データを直列データ(二変換してデジタル・データ
として出力する。例えばシフト・レジスタが2個の場合
、第1シフト・レジスタが書込んだ並列データを直列デ
ータとして出力している間に第2シフト・レジスタがメ
モリからの新しい並列データを書込み、これら動作を交
互に繰返す。シフト・レジスタ(=複数ビットのデータ
を並列データとして高速で書込めるので一方のシフト・
レジスタが直列データを出力している期間のほとんどを
メモリの次の並列データの出力に費やすことができる。
よって、メモリに低速大容量メモリを用いても、高速デ
ジタル・パターンを発生できる。またシフト・レジスタ
の最高動作速度とメモリの動作速度との差を、シフト・
レジスタのビット数(即ち並列データのビット数を増や
すことにより補えば、出カバターンの速邸(周波数)を
シフト・レジスタの最高動作速変にできる。更にアドレ
ス信号発生手段によりメモリをランダムにアドレス指定
することにより並列データのビット数毎にデジタル・パ
ターンのデータ順をメモリのデータ順と違えることがで
きる。
発明の実施例 以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例を説明す
る。クロック発生器10は所定周波数のクロック信号を
発生し、このクロック信号をアドレス信号発生手段とし
ての10ピノ)・カウンタ12に供給する。カウンタ1
2の第3出力ビツトQ2〜第1O出力ビツトQ9の8ビ
ツトをアドレス信号としてメモリ14のアドレス端子A
O〜A7に供給する。カウンタ12の第1及び第2出力
ピツ)QO(最下位ピット)及びQl(第2最下位ビッ
ト)をアドレス信号として用いないので、このアドレス
信号はクロック信号の4サイクル毎に変化する。即ちク
ロック信号を4分の1に分周している。メモリ14はラ
ンダム・アクセス・メモリ(RAM)でもリード・オン
リ・メモリ(ROM)でもよいが、予め所定の4ビット
並列データを記憶している。メモリ14の並列出力デー
タ端子DO〜D3をシフト・レジスタ18及び20の並
列人力データ端子Do−D3にレベル変換器16を介し
て夫々接続する。レベル変換器16はメモリ14のロジ
ック・レベルをシフト・レジスタ18及び20のロジッ
ク・レベルに変換するものであり、例えばメモリ14が
0MO8でシフト・レジスタ18及び20がECLの場
合に必要である。しかし、メモリ14とシフト・レジス
タ18及び20のロジック−レベルが等しい場合、レベ
ル変換器16は不要である。シフト・レジスタ18及び
20の並列入力書込みモード及び直列出力モードを制御
するため、アドレス信号の最下位ピット、即ちカウンタ
12のQ2出力をシフト・レジスタ18及び20のS2
端子に夫々非反転バッファ22及び反転バソブア24を
介して供給する。またクロック発生器10のクロック信
号をシフト・レジスタ18及び20のクロック端子に遅
延素子26を介して供給する。この遅延素子26はメモ
リ14及びレベル変換器16のセット・アンプ時間や伝
搬遅延時間とクロック信号との位相関係を調整する。シ
フト・レジスタ18及び20は例えばECL系の101
4.1型ICである。
シフト・レジスタ18及び20と同じロジック系のマル
チプレクサ28はこれらシフト・レジスタ18及び20
の直列出力端子QOをバッファ22の出力信号に応じて
交互に選択す。このマルチプレクサ28は例えばECL
系の10174型ICである。マルチプレクサ28の切
換の際に生じるスパイク状ノイズを除去するため、マル
チプレクサ28の出力をラッチ回路30のD入力端子に
供給する。このランチ回路3oは例えばECL系のD型
クリップ・フロップであり、クロック端子に遅延素子3
2を介してクロック信号を受け、Q出力を出力端子34
に供給する。なお、遅延素子32は素子14.] 6.
] 8,20及び28を介して発生するデータの遅延時
間とクロック信号との位相関係を調整するためのもので
ある。これら素子14〜32は全体としてパターン発生
部36を構成する。
第1図の実施例の動作を第2図のタイム・チャート図を
参照して説明する。なお、このタイム・チャート図では
各素子のセット・アップ時間や伝搬遅延時間を無視して
いる点に留意されたい。
上述の如くアドレス信号としてカウンタ12の下位2ビ
ツトを用いないので、アドレス信号の最下位ピット(カ
ウンタ12のQ2出カ)Bはクロック信号Aの4サイク
ル毎に反転する。よって、メモリ14はクロック信号A
の4サイクル毎に4ビット並列データを発生する。例え
ば時点To以前でメモリ14は並列データD(DQ、D
3)を発生し、シフト・レジスタ18の端子S2に加わ
る信号Bは「低」レベルなので、シフトレジスタ18は
並列入力書込みモードにあり、並列データDo、D3を
書込む。時点To、TIのクロック信号Aの4サイクル
期間、信号Bは「高ルベルなので、シフト・レジスタ1
8は直列出力モードであり、クロック信号Aに応じて書
込まれた並列データDO〜D3を1ビツトずつシフトし
て直列データEを出力する。また、この間マルチプレク
サ28は信号Bによりシフト・レジスタ18を選択する
ので、マルチプレクサ28の出力データGはデータEで
ある。更に時点TO〜T1の期間、バッファ24の出力
信号Cは「低」レベルなので、シフト・レジスタ20は
並列入力書込みモードにあり、メモリ14の出力並列デ
ータT)(D4〜D7)を書込む。なお、シフト・レジ
スタはクロック信号により瞬間的に並列データを書込む
ことができるので、クロック信号の4サイクル期間の少
なくとも3サイクル期間をメモリ14のセット・アンプ
時間及び伝搬遅延時間等の動作時間に費やすことができ
るので、低速大容量メモリをメモリ14として利用でき
る。時点T1〜T2の期間は、時点TO〜T1の期間と
シフト・レジスタ18及び20の動作が逆となり、シフ
ト・レジスタ18及び20が夫々並列入力書込みモード
及び直列出力モードとなる。また、マルチプレクサ28
がシフト・レジスタ20を選択するので、データGはシ
フト・レジスタ20からの直列データFである。
す、下、上述の動作を順次繰返す。データGはラッチ回
路30を介して出力端子34に供給され、直列(1ビツ
ト幅)のデジタル・パターンとなる。
並列(複数ピット幅)のデジタル・パターンを発生する
には第3図の様に構成すればよい。
4個のパターン発生部36−〇〜36−3は第1図のパ
ターン発生部36と同じ構成であり、夫々カウンター2
からアドレス信号を受けると共(−、クロック発生器1
0からクロック信号を受ける。よって出力端子34−0
〜34−31−4ビツトの並列デジタル・パターンが発
生する。なお、第3図ではカウンター2の端子Q2〜Q
9からの8ビツト・アドレス信号線を単一の直線に数字
「8」を添えて示している。並列デジタル・パターンの
ビット数ソ はパターン発生部36の設置数により決ま春、任意に選
択できる。
第4図は本発明の他の好適な実施例のブロック図である
。この実施例では各シフト・レジスタ用に専用のメモリ
及びカウンタを設けている。
以下、第5図のタイム・チャート図を参照してこの実施
例を説明する。2ビツト・カウンタ4oはクロック発生
器10からのクロック信号Aを計数し、2ビット信号を
デコーダ42及びマルチプレクサ28に供給する。デコ
ーダ42はクロック信号Aの4サイクル毎に順次「高」
レベルとなる4つの信号B、Bを発生し、これらを1o
ビツト・カウンタ12−0〜12−3のイネーブル端子
CB及びシフト・レジスタ18−〇〜18−3のモード
制御端子S2に供給する。カウンタ12−o〜12−3
は端子CEが「高」レベル期間中のみクロック信号Aを
計数して、出力信号の上位8ピツ)Q2〜Q9をアドレ
ス信号としてメモリ14−o〜14−3のアドレス端子
AO〜A7に夫々供給する。メモリ14 0−14 3
(7)4 ヒy ト並列f  9 Do−D3を夫々レ
ベル変換器16−0〜16−3を介してシフト・レジス
タ18−〇〜18−3の並列データ入力端子DO〜D3
に供給する。シフト・レジスタ18−〇〜18−3のク
ロック端子はクロック信号Aを受け、直列データ出力端
子QOはマルチプレクサ28により順次選択される。第
1図の実施例と同様にマルチプレクサ28の出力データ
を出力端子34にラッチ回路30を介して供給する。
時点TO〜T1の期間において、信号Bのみが「高」レ
ベルなので、カウンタ12−0がクロック信号Aを計数
して、メモリ14−0用アドレス信号を1アドレスだけ
変化させる。よってメモ’J14−0はこの期間におけ
るクロック信号の4サイクル目から新しいアドレスの並
列データを出力する。またシフト・レジスタ18−0.
18−2及び18−3は書込みモードにあり、対応する
メモリからの並列データを書込む状態(二ある。
シフト・レジスタ18−1は直列出力モードであり、ク
ロック信号A(一応じて書込んだデータを1ビツトずつ
シフトし、直列データを出力する。この間、マルチプレ
クサ28はシフト・レジスタ18−1を選択している。
時点T1〜T2の期間において、信号Cのみが「高」レ
ベルであり、カウンタ12−1がクロック信号Aを計数
して、メモリ14−1用のアドレス信号を1アドレスだ
け変化させる。またシフト・レジスタ18−2は直列出
力モードであり、シフト・レジスタ18−0.18−1
及び18−3は書込みモードであり、マルチプレクサ2
8はシフト・レジスタ18−2を選択する。
時点T2〜T3の期間(二おいては信号りのみが「高」
レベルであり、カウンタ12−2がクロック信号Aを計
数し、マルチプレクサ28に選択されたシフト・レジス
タ18−3のみが直列出力モードである。また時点T3
〜T4の期間において、信号Eのみがし高4レベルであ
り、カウンタ12−3がクロック信号Aを計数し、マル
チプレクサ28に選択されたシフト・レジスタ18−〇
のみが直列出力モードである。以下時点TO〜T4間の
動作を繰返す。
よって、各シフト・レジスタはクロック信号Aの9サイ
クル期間1メモリからの新しい並列データを書込める状
態にある。シフト・レジスタがこの9サイクルの最後の
サイクルで並列データを書込むとすれば、残りの8サイ
クルをメモリの動作時間に利用できる。これは第1図の
実施例の場合に比較して約3倍である。従って、シフト
・レジスタの動作速度の制限を無視すれば、速度が約3
倍のデジタル・パターンを発生できるし、デジタル・パ
ターンの速度が同じでよければ、メモリの動作速度は約
3分の1のものでよい。カウンタ、メモリ及びシフト・
レジスタの組合せ数(=応じて第1図の実施例との動作
速度の比を任意に選択できる。また、各メモリ(=専用
のカウンタを設けたのは、各メモリによってアドレス信
号の変化する時点が異なるためである。並列デジタル・
]くターンが必要な場合は、クロック発生器10.カウ
ンタ40及びデコーダ42を共通として、第4図の回路
を必要な数だけ並設すればよIJX。
発明の効果 上述の如く本発明のデジタル・パターン発生器によれば
、シフト・レジスタの並列・直列変換機能(二より大量
のデータを瞬間的(二書込み、書込んだデータを1ビツ
トずつ出力すると共に、シフト・レジスタの動作速度が
メモリよりも速1.zので、高速デジタル・パターンを
発生できる。またロジック・レベルの問題を無視すれば
低速大容量メモリから並列データをシフト・レジスタに
直接書込むことができ、メモリ及びシフト・レジスタ間
にマルチプレクサ等の動作速度を補う特別な回路が不要
なため、構成が簡単となる。
実施例の変更 」二連は本発明の好適な実施例について説明したが、当
業者には本発明の要旨を逸脱することなく種々の変更が
可能なことが理解できよう。例えば、アドレス信号発生
手段としてカウンタの代りにマイクロプロセッサ・シス
テムを用いて、アドレス信号をランダムに発生してもよ
いし、メモリの内容(並列データ)を任意に変更しても
よい。
メモリに半導体メモリ以外にディスク又は磁気テープを
利用してもよい。またメモリ及びシフト・レジスタを共
にECL系にすると、シフト・レジスタのビット数を多
くすることなく、デジタル・パターンの速度をシフト・
レジスタの最高速度(−することができる。シフト・レ
ジスタの直列出力端子が読出しモード以外でトライステ
ートになるか、又は「低」レベルになれば、マルチプレ
クサの代りにワイヤード・オア・ゲート又はオア・ゲー
ト素子を用いることができる。更に第4図の実施例では
、単一のカウンタを用い、その出力を第1メモリ(−直
接供給すると共に、遅延素子又はラッチ回路により順次
遅延して他のメモリに供給してもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の好適な実施例のブロック図、第2図は
第1図の動作を説明するためのタイム・チャート図、第
3図は本発明の他の好適な実施例のブロック図、第4図
は本発明の更に他の好適な実施例のブロック図、第5図
は第4図の動作を説明するためのタイム・チャート図で
ある。 12.12−0〜12−3ニアドレス信号発生手段14
.14−0〜14−3:メモリ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定の並列デジタル・パターンを記憶したメモリと、該
    メモリに所定周期でアドレス信号を供給するアドレス信
    号発生手段と、−上記アドレス信号により指定された上
    記メモリの並列データが供給され、該並列データを直列
    データとして出力する複数のシフト・レジスタとを具え
    、該複数のシフト・レジスタの1つが上記直列データを
    出力している期間、他の」1記シフト・レジスタに上記
    メモリからの上記並列データを書込み、」−記複数のシ
    フト・レジスタからの直列データを出力デジタル・パタ
    ーンとすることを特徴とするデジタル・パターン発生器
JP58066383A 1983-04-15 1983-04-15 デジタル・パタ−ン発生器 Granted JPS59191657A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58066383A JPS59191657A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 デジタル・パタ−ン発生器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58066383A JPS59191657A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 デジタル・パタ−ン発生器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59191657A true JPS59191657A (ja) 1984-10-30
JPS6356568B2 JPS6356568B2 (ja) 1988-11-08

Family

ID=13314244

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58066383A Granted JPS59191657A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 デジタル・パタ−ン発生器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59191657A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61292297A (ja) * 1985-06-19 1986-12-23 Hitachi Ltd Icの検査装置
JPS6469973A (en) * 1987-09-11 1989-03-15 Hitachi Ltd Testing apparatus of lsi
US20090141534A1 (en) * 2007-11-30 2009-06-04 Vanguard International Semiconductor Corporation Detection apparatus and method for sequentially programming memory

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04181799A (ja) * 1990-11-16 1992-06-29 Kaijo Corp 電子機器の電力供給装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4946095A (ja) * 1972-09-08 1974-05-02
JPS55115149A (en) * 1979-02-26 1980-09-04 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai High speed pattern generation unit

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4946095A (ja) * 1972-09-08 1974-05-02
JPS55115149A (en) * 1979-02-26 1980-09-04 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai High speed pattern generation unit

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61292297A (ja) * 1985-06-19 1986-12-23 Hitachi Ltd Icの検査装置
JPS6469973A (en) * 1987-09-11 1989-03-15 Hitachi Ltd Testing apparatus of lsi
JPH0754347B2 (ja) * 1987-09-11 1995-06-07 株式会社日立製作所 Lsi試験装置
US20090141534A1 (en) * 2007-11-30 2009-06-04 Vanguard International Semiconductor Corporation Detection apparatus and method for sequentially programming memory

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6356568B2 (ja) 1988-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3605150B2 (ja) アドレスパターン発生器
US5970073A (en) Test pattern generator circuit for IC testing equipment
JPH04293135A (ja) メモリアクセス方式
JPH0480350B2 (ja)
US5416746A (en) Memory circuit for alternately accessing data within a period of address data
US5682393A (en) Pattern generator for cycle delay
JPS59191657A (ja) デジタル・パタ−ン発生器
US7890679B2 (en) Data generator for generating data of arbitrary length
JP2976276B2 (ja) タイミング発生器
JPH0778498A (ja) 半導体メモリ装置およびその検査方法
JPH0754347B2 (ja) Lsi試験装置
JP2532718B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH0225567B2 (ja)
JP3746811B2 (ja) 半導体集積回路
JPS6329357B2 (ja)
JP2568268B2 (ja) データ列発生回路及びその回路を用いたメモリテスト装置
JP2661596B2 (ja) Cd−rom用dramアドレス生成回路
JPH0411388Y2 (ja)
JPS5985527A (ja) タイミング発生回路
JPS6319027B2 (ja)
JPH0249520B2 (ja)
JPH0750155B2 (ja) アルゴリズミツクパタ−ン発生装置
JPH07104386B2 (ja) 論理回路試験装置
JPH04278481A (ja) プログラマブルロジックデバイス
JPH04250541A (ja) フレームメモリアクセス回路