JPS59187069U - 荷電粒子線分析装置 - Google Patents

荷電粒子線分析装置

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JPS59187069U
JPS59187069U JP8378683U JP8378683U JPS59187069U JP S59187069 U JPS59187069 U JP S59187069U JP 8378683 U JP8378683 U JP 8378683U JP 8378683 U JP8378683 U JP 8378683U JP S59187069 U JPS59187069 U JP S59187069U
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JP
Japan
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charged particle
particle beam
beam analyzer
optical system
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森 優治
村山 善美
和夫 小柳
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株式会社島津製作所
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の一実施例の縦断側面図である。 1・・・電子銃、2・・・コンデンサレンズ、3・・・
対物レンズ、4・・・試料、5・・・光学顕微鏡の対物
凹面鏡、D・・・半導体検出器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 荷電粒子線光学系に併設された反射光学顕微鏡の光学系
    を構成する反射鏡のうち試料に対向する面を有する鏡の
    鏡面を反射電子等に対する半導体検出器の入射面によっ
    て形成した荷電粒子線分析装置。
JP8378683U 1983-05-31 1983-05-31 荷電粒子線分析装置 Granted JPS59187069U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011108042A1 (ja) * 2010-03-05 2011-09-09 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 電子顕微鏡画像と光学画像を重ねて表示する方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011108042A1 (ja) * 2010-03-05 2011-09-09 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 電子顕微鏡画像と光学画像を重ねて表示する方法
JP2011187192A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Hitachi High-Technologies Corp 電子顕微鏡画像と光学画像を重ねて表示する方法

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