JPS59164944A

JPS59164944A - 分析計器の光学要素支持装置

Info

Publication number: JPS59164944A
Application number: JP58243643A
Authority: JP
Inventors: ジヨエル・ピ−・コヴイ; アレン・ジエイ・ザ−ベル
Original assignee: Nicolet Instrument Corp
Current assignee: Thermo Electron Scientific Instruments LLC
Priority date: 1983-03-03
Filing date: 1983-12-23
Publication date: 1984-09-18
Also published as: GB2136145A; DE3341055A1; GB8331872D0; FR2542122A1; US4573794A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は光学分析計器における光学要素支持装置に関す
る。

光学分析計器は従来技術において知られている。

干渉計は今世紀の初頭より以前から種々の形式で使用さ
れている計器の１つの例である。

干渉計は他の光学分析計器と共に分析放射源及び計器の
光路内に配置された各種の光学要素を有している。光学
要素は反射要素及び屈折要素を備え、そのうちのい（つ
かは少なくとも分析放射の一部分である経路長を変更す
るために光路に沿つて移動される。光学要素の互いの適
正な配置が正しい計器のの動作のために必要とされる。

最近の計器においては、適正な光学要素の配置は、計器
の操作性と対立する計器の感度に大きな影響を与える傾
向がある。しかし、感度は特定の測定に対する計器の用
途ｄ影響を及ぼす。

計器の用途に影響する別の要因は分析放射源の強度であ
る。特に、所望の分析放射源が実際にその出力に限界を
有している時に強度が影響を及ぼす。分析計器における
このような分析放射の限界の１例は、その動作系中に干
渉計を用いている赤外線分光計に関連して挙げることが
できる。このような分光計中に用いられた光学要素の適
正な配置は、実際の放射源により与えられる限界、の範
囲内で計器の感度を最適化する。

本発明の目的は、分析計器によって使用される分析放射
によって動作できる光学要素を支持する改良された装置
を提供することである。本発明は平面反射要素に関して
説明され、かつマイケルソンの干渉計の置屋アーム内の
反射要素に関して使用されるが、しかしその用途はその
光学要素あるいは分析計器に限定されるものではない。

干渉計に関しては、一般に平面状の底部は反射要素の名
目上の所望の位置で計器内に固定されている。支持板は
光学要素を保持しており、その一端は支持板の周囲にこ
の支持板を空間的に再配向できるように底部から隔置さ
れている。２つの点接触装置が別の支持板を底部から調
整可能に隔置しており、また支持板は底部に向かって弾
性的に偏移されている。この点接触を調整することによ
り、支持板つまり光学要素が空間的に再配向される。好
適実施例では、球状ピボットが支持板の一部を隔置する
ため底部から突き出しており、また支持板が球状ピボッ
トの周りを底部に対して回転することを防止する手段が
設けられている。点接触は支持板と底部との間に配置さ
れてお、りかつそれらの澗に点接触を与える円筒及び円
錐部材によって得られる。円錐部材がその主軸に沿って
移動することによって、支持板が底部に対して配向を調
整できる。

以下に図面を参照して本発明の実施例について詳細に説
明する。

第１図は本発明の好適実施例を示す図である。

底部１０は板状であって分析計器内に固定されるように
設けられている。板状に図示されているが、この構造は
底部が以下の説明から明らかな理由で計器内に６つの安
定な点を与える限り、必ずしも必要としない。第１図に
平面反射部材１１として示されている光学要素は任意の
既知の所望の方法で支持板１２に固定されている。例え
ば、光学要素１１は支持板１２ににかわで付けられてい
る。

光学要素１１が屈折要素である場合には、支持板１２及
び底部１０共に、既知の方法で分析放射の通路を与える
ための開口を備えている。

以下の説明から明らかなように、支持板１２は、６つの
位置において支持板１２と底部１０との間の間隔を制御
することによって底部１０に対置て配向される。支持板
の一部は第１図の球状ピボット１３により底部１０から
隔置されている。球状ピボット１６は以下に詳細に説明
される。球状ピボット１６の周りの底部１０に対する支
持板１２の回転は、支持板１２の下側及びばね１５を支
持している球状部材１４により防止される。球状部材１
４及びばね１５の一端は底部１ｏの突起１６ＫＩ＆定さ
れている。球状部材１４及びばね１５は球状ピボット１
６の周りの自転を防ぎながら、図面の面と垂直な方向に
支持板１２と底部１ｏとの間の相対的な移動を可能にす
る。

球状ピボット１６は底部１０から支持板１２の一部へ一
定間隔を与える。別の支持板の部分と底部との間の調整
間隔は点接触装置１７．１８により与えられる。以下に
述べる点を除いて、点接触装置１７と１８とは同じであ
る。このため、１つについてだけ詳細に説明する。

第１図において、一般に円筒形の部材２０は支持板１２
と底部１０との間に支持板１２で保持されている。円錐
部材２１は親ねじ２２によって螺合されており、親ねじ
２２は底部１０に保持された軸受２６により回転可能づ
保持さ□れている。親ねじ２２が回転すると、円筒部材
２０とこの円筒部材２０に接触している円錐部材２１０
部分との合成した直径がその位置で支持板１２と底部１
０との間の間隔を形成しながら、円錐部材２１が親ねじ
２２に沿って移動する。第２図を参照して説明されるよ
うに、円錐部材２１は、親ねじが回転した時にこの親ね
じ２２に沿つなその移動を確実にするために親ねじ２２
によって回転されることを防止されている。軸受２６は
既知のものであり、親ねじ２２０回転は既知の技術、ス
テップモータ及び本発明の範囲内で好適化されているこ
のようなモータ用の適当な制御装置により実行される。

第２図は第１図の線１−１に沿ってとられた断面図であ
り、本発明を構成する要素のいくつかの間の動作をより
良く示している。第２図に示されているように、球状ピ
ボット１６は底部１０に固定されここからのびている柱
２５から形成されており、更に支持板１２の円錐状くぼ
み２７に嵌まり込む球状端部２６を有している。球状ピ
ボット１３は支持板１２と底部１０との間に既知の間隔
を保持させ、支持板１２が底部１０に対してピボットし
たり傾いたりすることを可能にする。図示の構成におい
て、球状端部２６と円錐状（ぼみ２７との間には円形の
接触が行なわれる。

第２図に示すように、円錐部材２１は底部１０の溝６０
内にあり、別の溝６２中にのびているピン６１を有して
いる。このピン及び溝６２は親ねじ２２が回転した際の
円錐部材２１０回転を防止するように機能する。円錐部
材２１は親ねじ２２により支持されており、この親ねじ
２２はそのために十分な剛性を有している。支持板１２
はばねろろにより底部１０に向けて弾性的に偏移されて
いる。球状ピボット１６、点接触装置１７及び１８の各
々にあるいはこれに隣接して配置されたばね６′５は各
要素間の接触を保持する上で十分なものである。

第６図は円錐部材２１、親ねじ２２及び底部１０の各要
素の間の相互動作、円錐部材２０と支持板１２との間の
相互作用及び円筒部材２０と円錐部材２１との間の相互
作用を示す図である。

「■」字溝が支持板１２内に設けられ、溝の壁面と円筒
部材２０との間に線接触３６を与える。円筒部材と円錐
部材２１とは点接触６７で接触する。

このように、正確な位置関係が円錐部材２１、円筒部材
２０及び支持板１２０間に確立され、図示の要素の位置
で支持板１２と底部１０との間に正確な間隔を与える。

再び、第１図において、点線で示された点接触１８は細
長い要素３９及び４０を含んでいる。要素ろ９及び４０
は円筒部材２０及び円錐部材２１を有している。細長い
部材６９は円筒形ある℃・は円錐形のどちらかであり、
要素も他の形状をとる。

円錐部材を円筒部材の主軸を越えてその主軸に沿って駆
動することによって、支持板１２と底部１０との間の間
隔がそれらの位置で調整される。

明らかに、前述の説明に鑑みて、本発明の多くの修正及
び変形が可罷である。例えば、要素４０は一般に親ねじ
２２に平行にある親ねじによってその主軸に沿って駆動
される円錐部材である（第１図参照）。しかし、要素４
０は一般に円筒形であり、要素６９は円錐形であって親
ねじ２２に直角の親ねじによって駆動される。実際、点
接触している円筒部材及び円錐部材は直交しているもの
として説明され図示されているが、それらの動作は底部
１０に対する支持板１２の角度の再配向の間機構がロッ
クすることを防止するために、互いの主軸が点接触で交
差することだけを必要とする。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の好適実施例の各種の要素の動作を示す
部分断面図、第２図は第１図の線２−２に沿ってとられ
た断面図、第３図は第２図のｉ３てとられた断面図であ
る。１０：底部、１１：平面反射部材、１２：支持板、１６
：球状ピボット、１４：球状部材、１５：ばね、１６：
突起、１７，１８：点接触装置、２ｏ：円筒部材、２１
：円錐部材、２２：親ねじ、２６：軸受、２６：球状端
部、２７：円錐状くぼみ。 −一一二−コ

Claims

【特許請求の範囲】（１）分析放射源と、分析計器を通して前記放射の方向
を決める光学要素とを備え、支持板により保持されてい
る光学要素を支持しかつ空間的に配向する分析計器の光
学要素支持装置において、前記計器内に置屋された平面
状底部手段、前記底部手段から支持板の部分を隔置し、
一方前記支持板の部分の周りに前記支持板の空間的再配
向を可能にする手段、別の支持板の部分を前記底部手段から調整可能に隔置す
る第１及び第２の点接触手段、及び前記底部手段及び支
持板を互いの方向に向けて弾性的に偏移する手段、から成ることを特徴とする分析計器の光学要素支持装置
。（２、特許請求の範囲第１項において、前記支持板の部
分を隔置する手段が、球状ピボット手段と。該球状ピボット手段の周りに前記底部手段に対して前記
支持板の回転を防止する手段とを有することを特徴とす
る分析計器の光学要素支持装置。（３）特許請求の範囲第２項において、前記点接触手段
が互いに直交する細長い部材を有し、該部材の各々が主
軸に沿った断面で円形の接触表面を有し、かつ少なくと
もそのうちの１つがその主軸に沿って移動可能であるこ
とを特徴とする分析計器の光学要素支持装置。（４）特許請求の範囲第１項において、前記点接触手段
が互いに直□交する細長い部材を有し、該部材の各々が
主軸に沿って断面で円形の接触表面を有し、かつ少なく
ともそのうちの１つがその主軸に沿って移動可能である
ことを特徴とする分析計器の光学要素支持装置。（５）特許請求の範囲第１項において、前記点接触手段
がそれぞれ前記底部手段と支持板との間で互いに直交し
て配置されたん筒手段及び円錐手段から成り周辺で互い
に接触しており、前記円雌手段がその主軸に沿って前記
円筒手段に対して移動できることを特徴とする分析計器
の光学要素支持装置。（６）特許請求の範囲第５項において、更に、主軸に沿
って前記円錐手段と螺合する回転可能親ねじ手段と、前
記親ねじ手段によって前記円錐手段が回転することを防
止する手段とを有することを特徴とする分析計器の光学
要素支持装置。（力　特許請求の範囲第６項において、前記円錐手段の
主軸が平行であることを特徴とする分析計器の光学要素
支持装置。（８）特許請求の範囲第６項において、前記円錐手段の
主軸が垂直であることを特徴とする分析計器の光学要素
支持装置。（９）特許請求の範囲第６項において、前記支持板の部
分を隔置する手段が、球状ピボット手段と、前記底部手
段に対する前記球状ピボット手段の周りの前記支持板の
回転を防止する手段とを有することを特徴とする分析計
器のの光学要素支持装置。 α０）特許請求の範囲第１項において、前記点接触手段
が、前記円筒手段と線接触する手段を有する全体に円筒
形の手段と、前記円筒手段に点接触して前記底部手段と
円筒手段との間に１持され、円筒手段の主軸を越えてそ
の主軸に沿って移動できる円錐手段とを有することを特
徴とする分析計器の光学要素支持装置。０１）特許請求の範囲第１０項において、前記支持板の
部分を隔置する手段が、球状ピボット手段と、前記底部
手段に対して前記球状ピボット手段の周りの前記支持板
の回転を防止する手段とを有す石ことを特徴とする分析
計器の光学要素支持装置。 αり　特許請求の範囲第６項において、主軸に沿って前
記円錐手段に螺合する回転可能親ねじ手段と、該親ねじ
手段による前記円錐手段の回転を防止する手段とを有す
ることを特徴とする分析計器の光学要素支持装置。（１３）　　特許請求の範囲第１２項において、前記回
転防止手段が、前記底部手段内の溝手段と、前記円錐手
段から前記溝手段にのびている手段とを有することを特
徴とする分析計器の光学要素支持装置。（１４）特許請求の範囲第１６項において、前記円錐手
段の主軸が平行であることを特徴とする分析計器の光学
要素支持装置。（１５）特許請求の範囲第１６項において、前記円錐手
段の主軸が垂直であることを特徴とする分析計器の光学
要素支持装置。