JPS59155993A - 膜回路基板 - Google Patents

膜回路基板

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Publication number
JPS59155993A
JPS59155993A JP3029883A JP3029883A JPS59155993A JP S59155993 A JPS59155993 A JP S59155993A JP 3029883 A JP3029883 A JP 3029883A JP 3029883 A JP3029883 A JP 3029883A JP S59155993 A JPS59155993 A JP S59155993A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
thick film
circuit board
circuit
solder
Prior art date
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Pending
Application number
JP3029883A
Other languages
English (en)
Inventor
隆治 中村
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NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP3029883A priority Critical patent/JPS59155993A/ja
Publication of JPS59155993A publication Critical patent/JPS59155993A/ja
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 不発明は膜回路基板、特に半1」」付が可^ヒな1膜回
路基板に関するも・のである。
従来、例えば第1図(a)に平面図、(b)に断面図全
糸子如くアルミナ基板1上に例えば厚膜導体回路2と厚
膜抵抗体3とガラス膜4とを被着して成る回路要素を含
む厚膜回路基板がある。ガラス膜4は、一般に混成集積
回路あ組立工程で半田クワレ全防止したり才だ半田流れ
會防止し、組立完成後の大気湿度から厚膜回路全保護す
るためのものである。この様な半田クワレ防止、半田流
れ防止用としてのガラス膜は厚膜導体回路2の比較的薄
い部分、例えば基板のスルホールの中またはその近傍等
に、あるいは部品半田付ランドの周囲等に半田が不所望
な部分に付着した。!7、広がったりしないようにコー
ト丁れは特に有効である。
ガラス膜4をコートする方法として厚膜導体回11洛2
の所望部分にガラスベース)=にスクリーン印刷し、次
VC高温で焼成するのが一般的であるが、。
不発明者はこの焼成時に厚膜導体回路2がガラスに拡散
して薄くなるという現象全見出した)従って従来は薄く
なって完成された厚膜回路基板を用いて、混成ICの組
立工程中に基板上に半田付による部品搭載または放熱板
付は等を行なっていたわけである。この作業は厚膜回路
基板1を溶融半田中VC入れ、厚膜導体2上に半田膜5
を付着するというものである。次に部品を搭載し、ベル
ト炉等にて半田膜5全リフローして部品を半田付する。
この方法は作業性がよく低コストで部品半田付ができる
ので有用である。しかし、厚膜回路基板1を溶融半田に
入れたり、基板上の半田膜5をリフローする蒔溶融半田
は除々に厚膜導体回路2に拡散する・拡散した半田は厚
膜導体回路2の一番薄いスルホールの近傍の厚膜導体回
路2の上のガラス膜4と、ガラス膜の々い領域との境界
で、厚嬶2与体がガラスlC拡散して薄くなっているた
め、アルミナ基板1 vc 丘で容易に到達してし1い
、厚膜導体回路はその部分21でMr線し、不良VCな
るという事故につながっていた。
本発明の目的は膜回路の半田付部(でおける断線。
不良全除去した構造を提供することである・即ち本発明
は絶縁性基°板上に膜導体回路を有する厚膜回路基板に
おいて、該膜導体回路の所望部分には半田付が可能な金
属膜と、該金属膜の酸化被膜とが順次被着して成ること
を特徴とする・以下に図面全参照にして本発明の一実施
例全説明する。第2図(a)、 (b)は夫々不発明の
一実施例の各表面図と1所面図を示す。
特にスルホールを有する基板の厚膜導体回路は前にも述
べたようにスルーホール内2.r、び近傍の膜厚のコン
トロールがむずかしいが、本実施例はこのようなスルー
ホールを有する膜回路基板にも適用できる。即ち、第2
図VC示すようにスルーホール用穴ケ設けたアルミナ基
板1上に厚膜導体回路2、厚膜抵抗体3、ガラス膜4を
有する厚膜回路基板1において、厚膜導体回路2半田付
けが可能な金属膜6を選択的に付着する。この場合回路
と回路間がショートしないように付着することが重要で
ある。
付着方法としては所望厚膜導体回路上に、銅ペースト等
半田付けの可能なペーストラスクリーンと印刷する方法
と、厚膜導体上に所望のマスク(メタルマスクまたはホ
トレジスト等)を設ケ、ソの上から蒸着、スパッタ、メ
ッキ等VC、Cジ付着する方法等がある。このようにし
て金属膜6全付着した後で゛屯気炉等を用いて酸素雰囲
気中で加熱することにより金属膜6の表面に金属酸化膜
61を形成する。勿論金属膜6の上に酸化膜を別に形成
してもよい。
この順化膜61は従来の厚膜回路基板上のガラス膜4の
役目を行なう。半田付の可能な金属膜6は、厚膜導体回
路2の比較的薄い厚膜導体回路が浴融半田浴に入った時
、半田拡散を遅らせる効果を有し、丑だガラスを施こさ
なくてもよいため厚膜導体の薄化もない。そのため半田
拡散による厚膜導体の断線がなく半田膜り作業が歩買よ
くできる。
以上説明1.た3〔うVC本発明による厚膜回路を用い
ると後工程の組立工程で作業性がよく低コストで部品搭
載ができ、半田VCよる厚1暉昇体の断報することか低
減し7た歩留のよい信頼性vc 俊れてかる混成集積I
IJ路ができその効果は著しい。
本発明は、半田付が可能な金属として実施例では具体的
に′j11]を挙げたが半田付ができ、その表面が酸化
できれは、lc* NLその細膜でも良く、捷た厚膜導
体や薄膜導体の一部にガラス膜を被着l〜、一部に金J
、+i l!1:とその金属酸化膜全被着した場合でも
、不発明の効果があることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
第11図(a)、 (b)は従来の厚膜回路基板の平面
図と断面図、第2図(a)、 (b)は本発明の一実施
例による厚膜回路の表面図と断面図全示す。 1・・・アルミナ基板、2・・・・・厚膜導体1121
路、21・・・・厚膜導体断線溝、3・・・・・厚膜抵
抗体、4・・・・ガラス膜、訃・・・・・半田%6・・
・・・・半田付可能々金属膜、61・・・−・・金属膜
6の酸化被膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 絶縁性基板上(C膜導体が形成された回路要素を含むI
    t順!J路基&において、該膜導体の半田付部分の周囲
    に金属膜葡設け、その金属膜の上にば化被膜を設けたこ
    とを特徴とする膜回路基板。
JP3029883A 1983-02-25 1983-02-25 膜回路基板 Pending JPS59155993A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3029883A JPS59155993A (ja) 1983-02-25 1983-02-25 膜回路基板

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JP3029883A JPS59155993A (ja) 1983-02-25 1983-02-25 膜回路基板

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Publication Number Publication Date
JPS59155993A true JPS59155993A (ja) 1984-09-05

Family

ID=12299828

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3029883A Pending JPS59155993A (ja) 1983-02-25 1983-02-25 膜回路基板

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JP (1) JPS59155993A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11251484A (ja) * 1998-03-06 1999-09-17 Mitsui High Tec Inc チップサイズ型半導体装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11251484A (ja) * 1998-03-06 1999-09-17 Mitsui High Tec Inc チップサイズ型半導体装置

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