JPS59123149A - 電子線装置における試料移動装置 - Google Patents

電子線装置における試料移動装置

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Publication number
JPS59123149A
JPS59123149A JP23419082A JP23419082A JPS59123149A JP S59123149 A JPS59123149 A JP S59123149A JP 23419082 A JP23419082 A JP 23419082A JP 23419082 A JP23419082 A JP 23419082A JP S59123149 A JPS59123149 A JP S59123149A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
movement
coordinate system
switch
motors
Prior art date
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Pending
Application number
JP23419082A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Obara
健二 小原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Nihon Denshi KK filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP23419082A priority Critical patent/JPS59123149A/ja
Publication of JPS59123149A publication Critical patent/JPS59123149A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は大型試別を比較的狭い試料室内で移動させるに
好適な電子線装置における試料移動装置に関する。
走査電子顕微鏡や電子線露光装置等の電子線装置におい
ては、大型の試別を収納でき且つ任意の試別位置を電子
線光軸位置まで移動する必要から、試別室は出来るだけ
大きくすることが好ましい。
しかし乍ら、試わ1室を大きくすると大型の排気装置が
必要どなる等の問題が生じる。
第1図は試別移動に必要な範囲を説明するための略図で
あり、紙面に垂直な電子線光軸Z方向から直径しの円形
試料1を眺めた図である。通常の試料移動装置は、光軸
7と交叉でる点を原点どする×Y直交座標におけるX方
向に直線移動する機構とY方向に直線移動する機構を組
み合わせて構成されている。そのため試It l内の全
ての位置を光軸7の位置へ移動可能にするためには、試
別室の内径を21−以上にすることが必要になる。
このj:うな欠点を除くべく、最近ではθ方向の試別回
転を行う回転機構と、該試別回転機構による回転中心を
R方向に移動させる直線移動機構を絹み合わせたく極座
標型)試別移動装置が提案されている。このような装置
によれば第2図から明らかなように試別移動に要する範
囲の面積が1゜512以下となり、第1図の場合に必要
とされる面積π1−2に比較して大幅に狭くすることが
可能となる。所で、このような極座標型試料移動装置の
移動操作パネルには直線移動機構のみを操作するR動つ
まみと回転機構のみを操作するO動つまみが設置ノられ
るが、このつまみを操作して所望の試料位置を光軸7と
一致させることは、通常のX。
Y動つまみを操作する場合よりも一般に勤しいものとな
る。
本発明はこのような問題を解決して操作性の高い極座標
型試料移動装置を提供することを目的とするもので、そ
の装置は試別を回転させる回転機構と、該回転機構によ
る回転野中心を一定直線に沿って移動させる直線移動機
構と、該直線移動機構及び前記回転機構の夫々を駆動す
るモータと、XY直交座標系におけるX方向への移動を
指定するX切スイツチとY方向の移動を指定するY切ス
イツチを設【ノだ試1’3+移動操作手段と、該試お1
移動操作手段からの信号に基づいて前記モータへの制御
信号を発生ずる制御手段とを備えたことを特徴とするも
のである。
第3図は本発明の一実施例装置の要部を示す略図である
。第3図中、2は走査電子顕微鏡の試別室を表わしてお
り、その上方には光軸を7とする電子光学系(図示せず
)が載置されている。試別室2内には試別1を載置する
回転機構3と該回転機構3による回転中心を直線R方向
に移動させる直線移動機構4が収納されており、これら
の機構3、/Iは試別室側壁に取り付けられたステッピ
ング・モータ5,6によって駆動される。ステッピング
・モータ5,6はモータ駆動回路7からの制御信号にに
って制御されるが、モータ駆動回路へは試1’il移動
操作手段8からの出力が中央制御回路9において変換処
理されたかたちで入力される。
操作信号入力手段8にはXY座標系における移動方向を
指定する(+X)スイッチ10.(−X)スイッチ11
.(+Y)スイッチ12.lY)スイッチ13の他に極
座標系におりるR座標を変える(±r)スイッチ14.
θ座標を変える(±θ)スイッチ15及び極座標系とX
Y座標系の切換えを行う切換スイッチ16が設(プられ
ている。
3− 第3図の装置を用いてX、Y方向の試料移動を行うには
初めに原点調整を行うことが必要となる。
この原点調整は、走査電子顕微鏡の陰極線管画面に試別
像を表示しながら、試料移動操作手段8にお(〕るスイ
ッチ16を゛”OFF”に覆ると同時にθ切スイツチ1
5の十方向(反時計方向)又は一方向(時計方向)承部
を押し続りて試1!11を回転させる。この状態で陰極
線管画面内における試別像の回転中心が陰極線管画面の
中心と一致するように、R切スイツチ14を操作する。
この調整が行なわれると回転機構3による回転の中心と
光軸Zとが一致することになり、中央制御回路9はこの
状態を極座標系におけるR座標の原点として記憶する。
次にR切スイツチとθ切スイツチを操作して所望とする
試Pl像の縦横方向が陰極線管画面の縦横方向と一致す
るように方向調整する。この方向調整により極座標系に
おける角度θの原点が記憶される。
このようにして原点調整と方向調整を済まゼた4− 後、スイッチ16を’ ON ″に切り変えるとXY座
標系による試料移動操作が可能どなる。XY座標系によ
る移動を指定するスイッチ10〜13ば夫々スイッチが
押され続りている時間、±X、±Y方向へ試料を一定の
速度上Vx、±Vyで移動させる。これらの速度と極座
標系における座標/dtどの関係は次のように表わされ
る。
今、(十X)スイッチ10を押し続【プる4Vy −な
がらステッピング・モータ5,6を駆動する制御信号が
中央制御回路9からモータ駆動回路7へ印加される。ス
テッピング・モータ5,6の駆動速度は夫々(1)、(
2)におけるθ、rに対応する。
第4図はXY座標系と極座標系の関係を示すもので、×
Y座標系の原点を極座標系のR軸原点と一致させ角度θ
の原点をXY座標系のX軸方向と一致させている。現在
観察中の試料位置が図中Aに示す点にあるとすると、(
+X)スイッチ10を押1Fすることにより試料はベク
トルχで示す方向へ移動するが、このときベクトルYを
極座標にお【プるベクトルに分解した速度ベクトルVr
、Vθに対応する駆動速度で回転機構3と、直線移動機
構4が駆動される。このときのVr =rの極性は正で
め−θの極性は負となる。同様に、試料観察位置がXY
座標系のどの位f? (B、C,D)にあるかによって
rとθの極性は図に示すように変化する。
第5図は(−Y)スイッチ13を押圧したときの試料移
動の様子を第4図と対応させて表わしたもので、VX=
Oの条件を満たしつつ一定の駆動速度−VVが得られる
ように5.θが中央制御回路9で演算される際の極性と
大きさが図中に示されている。
以上のように本発明によれば極座標型試料移動機構を採
用しながらその移動操作を従来のXY直交座標系による
移動操作と同様に行うことが可能となる効果が19られ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の試料移動操作による試料移動の様子を示
す略図、第2図は極座標型試料移動装置に(13りる試
わ1移動の様子を示す略図、第3図は本発明の一実施例
装置を示す略図、第4図及び第5図は第3図の装置の動
作を説明するための略図である。 1:試料、2:試料室、3:回転m1.4:直線移動機
構、5.6:ステッピング・モータ、7:モータ駆動回
路、8:試料移動操作手段、9:中央制御回路 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊藤 −夫 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試料を回転させる回転機構と、該回転機構ににる回転の
    中心を一定直線に沿って移動させる直線移動機構と、該
    直線移動機構及び前記回転機構の夫々を駆動するモータ
    と、XY直交座標系にお(プるX方向への移動を指定す
    るX動スイッチとY方向への移動を指定づるY動スイッ
    チを設けた試別移動操作手段と、該試わ1移動操作手段
    からの信号に基づいて前記モータへの制御信号を発生す
    る制御手段とを備えたことを特徴とする電子線装置にお
    りる試料移動装置。
JP23419082A 1982-12-28 1982-12-28 電子線装置における試料移動装置 Pending JPS59123149A (ja)

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JP23419082A JPS59123149A (ja) 1982-12-28 1982-12-28 電子線装置における試料移動装置

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JP23419082A JPS59123149A (ja) 1982-12-28 1982-12-28 電子線装置における試料移動装置

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JPS59123149A true JPS59123149A (ja) 1984-07-16

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JP23419082A Pending JPS59123149A (ja) 1982-12-28 1982-12-28 電子線装置における試料移動装置

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JP (1) JPS59123149A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6355936A (ja) * 1986-08-27 1988-03-10 Omron Tateisi Electronics Co 電子ビ−ム描画装置
JPS6355935A (ja) * 1986-08-27 1988-03-10 Omron Tateisi Electronics Co 電子ビ−ム描画装置
JP2008064957A (ja) * 2006-09-06 2008-03-21 Fujifilm Corp 電子ビーム描画装置及び電子ビームのずれ補償方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6355936A (ja) * 1986-08-27 1988-03-10 Omron Tateisi Electronics Co 電子ビ−ム描画装置
JPS6355935A (ja) * 1986-08-27 1988-03-10 Omron Tateisi Electronics Co 電子ビ−ム描画装置
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