JPS59115512A - セラミツク電子部品の絶縁方法 - Google Patents

セラミツク電子部品の絶縁方法

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JPS59115512A
JPS59115512A JP57225168A JP22516882A JPS59115512A JP S59115512 A JPS59115512 A JP S59115512A JP 57225168 A JP57225168 A JP 57225168A JP 22516882 A JP22516882 A JP 22516882A JP S59115512 A JPS59115512 A JP S59115512A
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JP
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multilayer ceramic
ceramic electronic
insulation
insulating layer
electronic components
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JP57225168A
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和明 内海
篤 越智
正則 鈴木
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は積層セラミック電子部品の絶縁方法(こ関する
積層セラミック電子部品は積層セラミックコンデンサ、
積層セラミックバリスタ、多層セラミック基板、積層セ
ラミックインダクタ、積層セラミック電歪集子、積層セ
ラミック圧電素子、積層型セラミックセンサーなど数多
くのものて突片化されている。
これらの積層セラミック電子部品は、いずれも小形であ
るため、外部に電極を取り出すための電極間隔が小さく
なり、N、’fM間の絶縁性、信頼性を確保することが
むすかしかった。
また近年電子回路の集積化に伴って、チップ部品がHI
Oなどに多く使用されているが、ここでも外部取出し電
極の間隔が非常に狭(なるため、電極間の絶縁性が問題
となり、特に高温負荷、耐湿負荷などの畏期信頼性につ
いては重大な障害となっていた。
4281セラミック部品では、技術上、コスト上の問題
から一般に外部取出し電極として、銀又は銀パラジウム
合金を焼付けていた。しかしながら、銀は水の存在の下
でマイグレーションを起すため特に耐湿負荷試験などの
信頼性を著しく低下させていた。
この問題を解決するため、パラジウムの含有量の多い銀
パラジウム合金を使用したり、!!4mの上をハンダ、
ニッケル、銅などの卑金属でメッキなどの方法ζこよっ
て、コーティングしたり、外部電@を無電解メッキなど
の方法によって銅、ニッケル、を付けるなどの研究、開
発が行われている。
しかしながら、これらのいずれの方法も、その効果がな
かったり、製造プロセスが?I#にf、c ツたり、使
用できるセラミック材料に制約があるなどの問題があり
、コストもt否くなるなど実用化が進まない状況にある
リードの付いている積層セラミック電子部品では電子部
品の事項変化による信頼性を確保するための外部絶縁外
装の方法としては、ノ1−メチツクシールが実用化され
ており、非常に優れた絶縁方法となっているが、これは
形状が大きくなり、しかもコストが著しく高くなること
から、特に信頼性が要求される、部分に限定して使用せ
ざるを得ない状態である。
また一般の電子部品の外部絶縁、外装の方法と゛ して
はエポキシなどの有機樹脂による絶縁が行われそいるが
、有機樹脂は水蒸気をほぼ100%通過させてしまうた
め、マイグレーゾョン(こ対しては全く防止効果が得ら
れず、耐湿負荷の(ff頼性を従って外部型枠の材料、
外装方法などにより、信頼性を確保する方法が試みられ
ているが、著しい改善は見られていない。
また、リードの付かない積層セラミックチップ部品につ
いては、部品レベルでの絶縁に対する信頼性を確保する
ことが困難なため、部品を実装した回路全体を外装など
の方法によって絶縁の信頼性を確保しているが、コスト
が高くなったり、形状が大きくなったり、する問題があ
り、信頼性もあまり改善が見られない状況にある。
一般に電子部品の導体部分を絶縁する方法としては、H
IOなどで使用されている、スクリーン印刷法や、ディ
ップ法、スプレー法などが実用化されているが、スクリ
ーン印刷法は、均一に塗布できるが、位置合せをするこ
とがむすかしく、特に個別の小型部品の場合には、大地
に処理することができず、コスト高になっていた。また
回路毎にスクリーンを用意する必要があり、工程管理の
上でも問題が多かった。
であっ1こり、厚みにバラツキが出たり、ピンポールな
どが発生し易いなどの絶縁層の品質上の欠点があり、限
られた部分でしか使用されていなかった。一方、電気泳
動法ζこよる粉末の塗布は、金属の塗装、ホーローなど
の分野では実用化されている技術ではあるが、いずれも
形状の大きいものに塗布する技術である。
また電子部品にも″眠気化学Vo140、A7 ページ
478や特公昭98−6299に記載されているように
シリコンデバイスのパッシベイショントシて研究されて
いる。
しかしながらこれらの技術はいずれも表面全体を有機;
無機あるいはこれらの混合物で覆うもので、本発明のよ
うに非常に微細な金属表面8覆いかつ、セラミック相料
と金属との界面の部分がどの様になるかは明らかでなか
った。
この様に、積層セラミック電子部品の外部に露出した電
極部分を信頼性よ(絶縁することは非常に困難であり、
実際には全(絶縁をされないか、不充分な絶縁方法によ
って、絶縁されて使用される結果、電子部品の信頼性を
、著しく低下させでいた。
本発明はこれらの問題点を全て解決する、新しい外部絶
縁方法を提案するものであり、形状が小さいものでも確
実にかつ、低コストで絶縁できる特徴をもっている。
本発明では、電気泳動法によりて、無機粉末を金属導体
とセラミ、り素体が複合化している部分に塗布すると、
金属導体部分のみではなく、セラミック素体の部分も含
む形で無機粉末が塗布され、その後これを焼付けること
によって充分電子部品の外部絶縁として、利用できるこ
とを見い出したものである。
本発明の方法に従えは、積層セラミック電子部品の外部
に露出した電極の部分に選択的に均一な絶縁層を容易に
形成することができ、しかも大量に小型電子部品を処理
することができるため、コストを低げることも可能であ
る。
以下本発明を、実施例によって詳細に説明する。
実施例1 通常行なわれている方法によって製造したBaTi0.
  糸積層セラミックチップコンデンサの寸法が1胡×
2關X1mで容量が0.1μFのものに通常行われてい
る ディップ法に従って、銀ペーストを塗布し、チップ
両端に外部電極を焼付けた。
外部電極は、M100%のものを用い、900℃で焼付
けを行った。
このチップコンデンサを第1図に示す様な装置を用いて
固定し、電気泳動法をイテうためにスラリー4の入った
槽5の中に入れて、1直流電圧6を印加し、絶縁層の塗
布をイテった。■気泳動法用スラリーの組成は次に示す
ものを用い、これらの借成成分をホモジナイザーで充分
均一分散して、電気泳動法用のスラリーとした。
エチルアルコール     400m/ホウケイ酸鉛ガ
ラス粉末   50g ポリビニルブチラール     4g 水               8mlスラリー4を
入れた槽5は、スターテ−7を用いて、均一になる様に
攪拌し、サンプル3と対向電極2の間に50Vの直流を
5分間印加した。
その結果電極の表面には約300μmの厚さの均一なガ
ラス粉末層が形成された。
この積層コンデンサを800℃で10分間熱処理し、絶
縁層を焼付けた。
電極部分にリード*llNをハンダ付けし、容量、誘電
損失、絶縁抵抗を測定した。
その結果、絶縁層を形成する前の電気特性と全く変化が
認められなかった。
次にこの試料を85℃相対湿度90〜95%の恒温槽中
で50Vの直流電圧を印加する試験を行った。
その結果絶縁層を形成しなかった試料および有機樹脂で
外装を行った試料は300時間以内にショート状態にな
ったが、本発明の製造方法に従って絶縁した試料は50
0時間を経過しても、電気特性に変化は認められなかっ
た。
実施例2 通常行なわれている方法に従って、アルミナ基板玉に銀
−パラジウムペーストを用いて、導体回路をW、開法l
こより形t1にした。
この導体(]路をN1C気落(鉤法用のスラリーの中に
浸漬し陰極、対向電極を陽極になるように直流電圧を印
加した。
スラリーの組成、”FJj圧印圧印性条件施例[と同様
であった。
この結果、表面の導体w−Eとその付近のみに300μ
mの無機粉末層が形成され1こ。この基板を1330℃
で10分間熱処理して、絶縁M8焼付けた。
この方法によって形成された絶縁層は均一でピンホール
が全くないものであった。
実施例3 グリーンシートを@層して、焼結する方法によって得ら
れたPZT系tit層セラミック圧電素子に外1市取出
し電極を800℃で;完き伺けた。
実施例1で述べた方法と同様の方法で電気泳動法によっ
て、絶縁層を形成するためζこ、スラリーの槽の中に入
れ、直流電圧を印加した。
電気泳動法のスラリー組成は次のものを用いた。
イソプロビアアルコール    400m/ホウイイ酸
鉛系結晶化ガラス〜  50gヨウ素        
       3gサンプルと対向電極の間に150v
の直流を3分間印加した。
その結果、外部電極上に200μmの厚さのガラス粉末
層が形成した。
このサンプルを800℃で10分間熱処理して、絶縁層
を焼付けた。
このようにして絶縁層を形成した積層セラミック圧電素
子を分極処理した後、300vの交流電圧を加えて、振
動させたところ、良好な振動特性を示した。
またこのサンプルを湿度90〜95%、IJfn度40
℃の条件で電圧と印加し、振動を行ったが、500時間
連続動作しても異常は生じなかった。
以上実施例で示したように、本発明によれは、積層セラ
ミック電子部品の外部の電極露出部分付近に選択的に絶
縁層を均一に形成し、しかもセラミック部分と、電極部
分の両方にまたがって、絶縁層を形成でき、しかも焼付
けることによって、緻密なガラス又はセラミック層とな
り、耐湿、耐絶縁性の優れたチップ状の積層セラミ、り
電子部品を形成することができる。
また電気泳動法は、大量に処理することが可能なため、
量産化が可能となり、製造コストを下げることができる
本発明の実施例では積層セラミ、クコンデンサ、多層セ
ラミック基板、圧電素子を示したが、この他にも、積層
バリスタ、積層インダクタ、積層型センサなと、あらゆ
る積層セラミック電子部品に本発明の方法が適用できる
ことは明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の電気泳動法を行うための装置の一例を
示す概略図である。図の中の番号はそれぞれ1;陽極、
2;陰極、3;チップサンプル、4;スラリー、5;恒
温槽、6;直流電源、7;攪拌機、を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. セラミック電子部品の外部に露出した電極の全部または
    一部に電気泳動法により、無機粉末を塗布し、その後焼
    付ける工稈を有することを特徴とするセラミック電子部
    品の絶縁方法。
JP57225168A 1982-12-22 1982-12-22 セラミツク電子部品の絶縁方法 Granted JPS59115512A (ja)

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JPH0234449B2 JPH0234449B2 (ja) 1990-08-03

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JP2014063772A (ja) * 2012-09-19 2014-04-10 Toyota Motor Corp 配向磁石と希土類磁石の製造方法

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