JPS5879112A - リング干渉計用光学系 - Google Patents

リング干渉計用光学系

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JPS5879112A
JPS5879112A JP56177041A JP17704181A JPS5879112A JP S5879112 A JPS5879112 A JP S5879112A JP 56177041 A JP56177041 A JP 56177041A JP 17704181 A JP17704181 A JP 17704181A JP S5879112 A JPS5879112 A JP S5879112A
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/58Turn-sensitive devices without moving masses
    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • G01C19/72Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はリング状光路を互いに逆回りに伝搬した2つ
の光の位相差を検出するリング干渉計の光学系に関する
ものである。
一般に、リング状光路が慣性空間に11qかれたとき、
リング状光路を互いに逆回りに伝搬した2つの光の位相
差はザグナ、り効果によりリング状光路の慣性空間に対
する回転角速度に比例する。従って、リング干渉網は慣
性空間に対する回転計として使用できる。
この種のリング干渉計に使用芒れる光学系では。
リング状光路を互いに逆回りに伝搬する2つの光に利す
る光路差が出来るだけ小さい方が望ましい。
このだめ、光学系と(7てd、ビームスシリツタ−を用
いて単一の光ビームを2分l〜、リング状光路の両端に
入射させると共に1両端からの出射光を再ヒ同一のビー
ムスシリ、ターにより合ml〜て。
両川射光による干渉光強度を測定するという光学系が原
理的には考え得る。この原理的な光学系で光間の位相差
をΔθとすると、得られる干渉光強度はcos (Δθ
)により変化する9、このことはΔθが微小なときには
、干渉光強度は殆んど変化せず。
したがって1回転角速度が小さなときには、十分な感度
が期待できないことを意味している。
上述した問題点はリング状光路を互いに逆回りに伝搬す
る2つの光の間に適当な位相差を持たせ。
干渉光強度がsin曲線にしだがって変化するように光
学系を構成することによって解決できる。
前記原理的な光学系では、2つの光は同一の光路を互い
に逆方向に通過l〜でいるから、光路内に移相器を配置
したとしても、2つの光はともにとの移相器を通ること
になり2両光間に位相差をもたせることは出来ない。
本発明者等は先に、複数個のビームスシリツタ−を用い
て、2つの光を一旦別々の光路に導いた後2合波する方
法を提案t〜だ1.この方法では1位相差の調整は容易
であるが1両光間に余分な光路差が残存する可能性があ
る。つどのように、余分な光路差があると、鮮明な干渉
稿を得るために、スにクトル幅の狭い光源が要求される
ことになる。
壕だ、光源の中心周波数変動により出力変動が生じると
共に1両光が別々の光路を通るだめ、光学系の温度変動
による出力変動も問題となる3゜この発明の目的はリン
グ状光路をがいに逆回りに伝搬する2つの光を一度別々
の光路に導くにも拘らず、余分な光路差を実質−1,な
くすことができるリング干渉側用光学系を7%供するこ
とである。
この発明の他の目的は2つの光の間に、容易に位相差を
持たせることができるリング干渉計用光学系を提供する
ことである。3 この発明のより他の目的は温度変動性による出力変動を
防止できるリング干渉用光学系を提供することでちる。
次に、この発明のり/グ干渉泪用光学系を図面を参照l
−て説明する。
第1図において、この発明の一実施例に係る光学系10
は単−半−ドの光ファイバ舌によって構成されるリング
状光路11及び!1′:導体レーザ、ガスレーザ等によ
って構成される光源12と共に。
リング干渉計を形成17ている。リング状光路11は単
一モードの光ファイバでなくてもよく、且つ。
(′l) 光源12には、レーザ等の発振器のほかに、光アイソン
ータが含まれていても」二い3、 光源12からの単一の光ビームはこの発明の光学系を構
成する第1のビームスシリツタ】3にljえられる。a
で示す位置に置かれた第1のビームスシリ、り13は光
源12からの光ビームを互いに鋭角をなす第1及び第2
の光線に分離する。ここで、第1のビームスシリツタ1
3は回折格子によって構成きれるのが望−11−い。第
1及び第2の光線は単一の第2のビームスシリツタ14
に送出さ、h、i2のビームスシリツタ14では、b及
び0点でそれぞれ第1及び第2の光線を受光する。
このことから、第2のビームスグリ、り14は第1及び
第2の光線を個々に受光するb及び0点をそれぞれ含む
第1及び第2の領域を備えていることがわかる。第2の
ビームスシリツタ14は、b点に入射した第1の光線の
反射光を取り出I−でリング状光路11の一端16に第
1の伝搬光として送り出し、他方、0点に入射した第2
の光線の透過光を取り出1〜でリング状光路11の他端
17に(8) 第2の伝搬光として送り出l−でいる。
第1及び第20伝搬光は互いに逆回りにリング状光路1
1を伝搬l〜でそれぞれ他端17及び一端16を通して
、再度第2のビームスフ0す、夕14に与えられる。第
2のビームスノリツタ14は。
他端17及び一端16からの第1及び第2の伝搬光をC
及びb点で受け、第1の伝搬光の反射光及び第2の伝搬
光の透過光をそれぞれ第1及び第2の出力光として出射
する。第1及び第2の出力光の交差する位置dには、第
3のビームスフ0す、り18が設けられており2両者を
合波することにより干渉光強度を得ることができる3、
ここで、第3のビームスシリツタ18は40 MHz程
度の超音波によって駆動さね7る音響光学変調器によっ
て構成されるのが望ま17い。このように、音響光学変
調器を用いた場合、超音波・ぐワーを調節することによ
り、その回折効率を50%程度にすることができ1回折
しない光と回折光とを取り出すことが可能である。この
うち2回折しない光は入射光周波数のまま直進し9回折
光の周波数だけが超音波の周波数に相当する周波数だけ
十又は下にンフI・される。両光の強度を調整すること
により、光学系の感度を最適な値にすることができる。
図示した光学系では、第1及び第2の出力光の干渉光を
第1及び第2の受光器21及び22でそれぞ11受光し
て、40 MH7,帯域の交流電気信号が生成芒れる3
゜尚、受光器はいずれか一方たけでもよい。子連した交
流電気信号の位相変化はザブナック効果に」:る光の位
相変化に等しくなるので、電気信号の位相測定によって
慣性空間に対する回転角速度を得ることが可能になる。
ここで、第1図に示したリング干渉側用光学系における
光路を考察してみる。リング状光路11に入射する第1
及び第2の光線と、リング状光路11から出射する第2
及び第1の出力光とがそれぞれ同一の点す及びCに与え
られるとすれば、三角形abcは三角形dbcと合同に
々る。しだがって、第2のビームスプリッタ14に対し
て、第1及び第3のビームスシリツタ13及び18が対
称の位置に配置されていれば、リング状光路11を1に
いに逆回りに伝搬した2つの光は互いに別の光路を通る
にも拘らず8両光路間には光路差が全く存在しない1,
1/こ、音響光学変調器を用いることにより、その1駆
動周波数の位相変化として回転角速度が検出されるから
、感度の点でも何等問題が生じない、1 ここで、光学系を構成する第1又は第3のビームスシリ
、り】3又は】8が光線の伝搬方向に距頗tDだけずれ
だ場合を考えてみる。この場合における光路差Δ(J 
i/b a c = /:b d c−ψとしたとき。
であられすことができる。今、ψ−1,0mrad 。
D = l +mnとすると、Δ6=50nmとなり、
実際上無視することができる1つしたがって、この実施
例では各要素が理想位置からずれた場合にも光路差は極
めて少ないことがわかる。更に、ψが小さいだめ、リン
グ状光路11を互いに逆回りに伝搬する光が分離されて
いる部分でも、〃いの光路は近接(〜でおり、従って光
学系の温度変動に対する干渉光強度変動も低減てれる。
(11) 上に述べた実施例は、第:3のビーノ・メン0リツタ1
8として音響光学変調器をI’11いた場合について説
明したが、第3のビームスフ0リツタ1−8トI、テ回
折格子を使用することも「1丁能である1、この場合。
2つの光線の光路差Δeを光源12からの尤ビームの波
長の1/4の全数倍に等L くすることにより。
感度に対する問題点を解消することができる7、1だ、
第2のビームスフ0リツタ14も回折格子で構成17て
もよい。
次に、第1乃至第3のビームスシリ、り13゜14、及
び18は全て音響光学変調器で構成するととも可能であ
る。この発明のリング干渉計用光学系は微小光学部品あ
るいに1光集積回路によっても構成可能である。
第2図を参照すると、この発明の他の実施例に係るリン
グ干渉計用光学系を含むリング干渉計が示きれている。
ここで、第1図と対応する部分には同一の参照符号が利
されている1、この実施例では、光源12から互いに独
77、な2つの偏゛波1例對−ば、直交する2つの直線
偏波を含tj−光ビーl、を第(12) 1のビームスプリッタ1:3に送出する。第2図の場合
、小円によってS偏波を示し、小棒によってP偏波を示
している。
第2図において、第2のビームスシリ、り14とリング
状光路11の一ψ:!a I 6との間、及び第2のビ
ームスノリ、り14とリング状光路11の他端17との
間には、それぞれ2つの偏波状態を分離する第1及び第
2の偏波分波器2:3及び24が設けられている1、各
偏波分波器23 、24においては ))偏波をリング
状光路IIに伝搬光として送出すると共に、S偏波をリ
ング状光路11とは別に設けられた伺加光路、ここでC
1,参照光光路25に対して、第1及び第2の偏波光と
して送出する。第1及び第2の偏波光は参照光光路25
を互いに逆向き伝搬17て第2及び第1の偏波分波器2
4及び23にそれぞれbえられる1、各偏波分波器24
.23では、リング状光路IJからの第1及び第2の出
力光と共に、第2及び第1の偏波光を第2のビームスシ
リツタ14を介して、第3のビームスプリッタ18に送
出する。この実施例における第3のビームスプリッタ1
8は音響光学変調器によって構成されており、第1及び
第2の出力光から得られた干渉光を第3の偏波分波器2
8により第1及び第2の受光器21及び22に与えると
共に、第1及び第2の偏波光から得られた干渉光を第3
の偏波分波器28により第3及び第4の受光器26及び
27にそれぞれ供給する。
このように、参照光光路25を伝搬した偏波光の干渉強
度の変化を参照することによって、温度変化による光学
系の変動を検出できる。1〜だがって、参照光光路25
から得られる位相変動に応じて、リング状光路11から
得られる結果を補正すれば、温度変動に対する位相変動
を著しく低減できる。尚、第2図に示す実施例は第2の
スプリッタ14の代りに、複数個のビームスプリッタを
置き換えだ従来の光学系にも適用可能であり、光集積回
路によって構成することも可能である。
以上述べたとおり、この発明に係るリング干渉計用光学
系では、リング状光路を互いに逆回りに伝搬する2つの
光を別々の光路に導くにも拘らず。
両者の光路差を十分に低減j〜、11つ2両光が分離し
ている部分でも近接l−て伝搬式せることが可能になる
。このだめ、光源のス被りトル幅やその中心周波数の安
定性に勾する四求が緩和されるほか。
光学系の温度変動による出力変動イ)軽減でき、且つ、
その量の測定も1■能である。史に2両光が別々の光路
を通る部分があるため9両光間のr立相差の調整も簡単
に行え、5in(Δθ)に比例しだ出力を得ることも可
能である。、このだめの一方法とし−で。
上記式を利用l〜て、第1及び第ニーのビーノ、スジリ
ッタ13及び18の位置を調整]7て両光間にπ/2の
位相差をりえればよい33′1だ9両光を別々の光路に
導くことが不可避である光へテロゲイン法を用いて、交
流信号を高精度に取り出すことが可能となる。
尚、実施例では、第2のビームスシリ、り14において
、第1の光線の反射光、第2の光線の透過光を取り出す
揚台を説明した。しかしながら。
この発明は何等これに限定きれること々〈、第2のビー
ムスシリツタ14で、第1の光線の透過光(15) あるいは2両光線の反射光又は透過光を取り出すように
してもよい。更に、第2のビームスプリ。
り14は単一のビームスシリツタでなくても、並行に並
へられた2つのビームスシリツタヲ用い。
各ビームスシリツタトに第1及び第2の領域を形成して
も」:い。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係るリング干渉計用光学
系を説明するだめの概略図及び第2図はこの発明の他の
実施例に係るリング干渉計用光学系を説明するだめの・
限略図である。 記号の説明 11:リング状光路、12:光源、13:第1のビーム
スプリッタ、14:第2のビームスシリツタ、16及び
17:リング状光路の一端及び他端、18:第3のビー
ムスノリ、り、21,22゜26.27:受光器、23
:第1の偏波分波器。 24:第2の偏波分波器、28:第:3の偏波分波器 手続補正書(自発) 昭和?Z年メメ月jθ日 特許庁長官 島 日」 春 樹 殿 1、事件の表示 昭和56年特許願第177041号 2、発明の名称 リング干渉側用光学系 6 補正をする者 事件との関係  特許出願人 (ほか2名) 4代理人 〒105 住 所 東京都港区西新橋1丁目4番10号5 補正の
対象 6、補正の内容 イ)発明の詳細2!i:説明 1)明細書第7頁11行1][−干渉1と[用−1との
間に1割−1を加える3゜ 2)明細書第16員4〜5 ’#−j C1l−並行]
を1−−−〜直線−4翻と改める。  2−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、リング状の光路を備えだリング干渉網に使用される
    光学系において、一本の光ヒームを受け。 該光ビームを互いに鋭角をなす第1及び第2の光線に分
    離]〜で出射する光分離手段と;第1及び第2の領域を
    備え、前記第1及び第2の光線を前記第1及び第2の領
    域でそれぞれ受け、前記第1の光線の反射光及び透過光
    のうちいずれか一方を第1の伝搬光と1−て取り出(〜
    、且つ、前記第2の光線の反射光及び透過光のうちいず
    れか一方を第2の伝搬光と1〜で取り出l〜、前記第1
    及び第2の伝搬光を前記光路に対して互いに逆方向に入
    射伝搬させると共に、前記光路を出射した第1及び第2
    の伝搬光を前記第2及び第1の領域でそれぞれ受光し、
    前記第1及び第2の伝搬光の反射光及び透過光をそれぞ
    れ選択して第1及び第2の出力光を取り出すビームスプ
    リッタ−と;前記第1及び第2の(1) 出力光を受け1両出力光を合成して干渉光を取り出す光
    抽出手段とを有することを特徴とするリング干渉計用光
    学系。 2、特許請求の範囲第1項において、前記光抽出手段か
    前記ビームスプリッタ−に対して、前記光分離手段と実
    質上対称的々位置に設けられているリング干渉言1用光
    学系。 3 特許請求の範囲第1項において、前記第1及び第2
    の光線に対する前記光分離手段から前記光抽出手段に至
    る光路長の差が実質」−前記光ビームの波長の174の
    奇数倍に等i〜くなる」=うに、前記光分離手段及び光
    抽出手段の位置が選択されていることを特徴とするリン
    グ干渉泪用光学系1゜4、特許請求の範囲第1項乃至第
    3項のいずれかにおいて、前記光分離手段、前記ビーム
    スシリツタ−2及び前記光抽出手段の少なくとも−っは
    回折格子によって形成これていることを特徴とするリン
    グ干渉計用光学系。 5 特許請求の範囲第1項又は第2項において。 前記光分離手段、ビームスプリッタ−2及び光抽山手段
    の少なくとも一つは音響光学変調器を含むことを特徴と
    するリング干渉al用光学系4゜6 特許請求の範囲第
    1項乃至第:3項のいずれか一つにおいて、前記リング
    状光路が尤ファイバによって構成されていることを!1
    寺徴とするリング干渉側用光学系。 7 特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか一つに
    おいて、前記光分離手段、前記ビームスプリ、ター、前
    記光抽出手段、及び前記リング状光路の少なくとも一部
    は光集積回路によって形成されているリング干渉計用光
    学系3. 8 リング状光路を備えたリング[渉泪用光学系におい
    て、互いに独立72つの偏波を含む光ビームを受け、前
    記リング状光路を仏いに逆方向に伝搬する第1及び第2
    の光線を得る光学手段と。 前記第1の光線を各偏波1σに2分し、−方を前記リッ
    タ状光路への入射光とI〜で送出すると共に。 他方を第1の偏波光として取り出す第1の分波手段と、
    前記第2の光線を各偏波1θに2分し、一方を前=a 
    IJング状先光路の入射光と1.て送出すると共に、他
    方を第2の偏波光として取り出す第2の分波手段と、前
    記第1及び第2の分波手段に結合され、前記第1及び第
    2の偏波光を互いに逆方向に伝搬させる付加光路とを備
    え、前記第1及び第2の分波手段では、前記付加光路を
    通i〜で与えられる前記第2及び第1の偏波光をそれぞ
    れ前記リング状光路からの出力光とともに前記光学手段
    に導き、前記光学手段でば+ =11記第1及び第2の
    偏波光及び前記リング状光路からの出力光とを別々に抽
    出j〜で、2種類の偏波状態を個々に検出する検出手段
    により、各偏波の干渉状態を検出することを特徴とする
    リング干渉計用光学系。。 9、特許請求の範囲第8項において、前記リング状光路
    、前記光学手段、前記第1及び第2の分波手段の少なく
    とも一部は光集積回路によって形成されていることを特
    徴とするリング干渉側用光学系。
JP56177041A 1981-11-06 1981-11-06 リング干渉計用光学系 Granted JPS5879112A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5530691A (en) * 1978-08-23 1980-03-04 Rockwell International Corp Gyroscope for interferometer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5530691A (en) * 1978-08-23 1980-03-04 Rockwell International Corp Gyroscope for interferometer

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