JPH034134A - 光ファイバ波長分散特性測定回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、光ファイバを伝搬する光の波長分散特性を測
定する光ファイバ波長分散特性測定回路に関するもので
ある。

（従来の技術） 近年の光通信はますます高速、大容量化しつつある。こ
れに伴い高速伝送においては、伝送路である先ファイバ
の波長分散特性の影響によって、伝送された光信号が歪
み、受光感度の劣化を招いている。このため、光信号の
伝達システム設計時には、伝送路となる光ファイバの波
長分散特性を知ることが重要である。光ファイバの波長
分散特性とは、光ファイバ内を伝搬する光の伝搬時間が
光周波数によって異なることを言う。この分散特性の測
定回路はこれまでにいくつか提案されている。

従来例の測定口路（昭和５２年電子通信学会総合全国大
会、８２５）を第２図に示す。図において、ｌ及び２は
レーザからなる光源で、光源１の出射光の波長と光源２
の出射光の波長とはわずかに異なっている。３は信号発
生器で、所定の正弦波の変調信号を発生する。４は遅延
回路で、人力した電気信号を所定時間遅延して出力する
。５はハーフミラ−６は被測定光ファイバ、７は受光回
路で、受光した光を電気信号に変換して出力する。８は
選択レベル計で、入力した電気信号の中の所定の周波数
成分のみを検出するものである。

信号発生器３から出力された信号は、光源２１；入力さ
れると共に、遅延回路４を介して光源１に人力される。

光源１．２は信号発生器３から入力した変調信号に基づ
いて発光し、光Ｒ１，２のそれぞれから出射した光信号
はハーフミラ−５によって合波された後、被測定光ファ
イバ６の一端側に入射される。被測定光ファイバ６の他
端側から出射した光信号は受光回路７によって電気信号
に変換され、選択レベル計８に入力される。

前述した構成よりなる測定回路において、光源１．２の
それぞれから変調周波数ｆｓにて振幅変調された光が出
射される。このとき、被測定光ファイバ６における光源
１の光信号と光源２の光信号の伝搬時間の差をＴ１遅延
回路４による変調信号の遅れ時間をτｄとすると、受光
回路７からは光源２の光信号に対応した電気信号Ｓ２　
　［＝ｔｉｎ（２π・ｆａ−ｔ）］と光源１の光信号に
対応した電、気信号Ｓｌ　　［＝ｓｉｎ　　（２π＊ｆ
ｓ　　　（ｔ　−Ｔ＋τｄ））］が出力される。即ち、
遅延回路４による遅延時間τｄと被測定光ファイバ内の
伝搬時間の差Ｔが二つの電気信号Ｓｌ、Ｓ２の位相差に
なる。これら二つの電気信号Ｓｌ、Ｓ２の和の信号の電
力を選択レベル計８によって検出する。この電力が零又
は極小値となるように遅延時間τｄを設定することによ
り、遅延時間τｄと変調周波数ｆ膳とから伝搬時間の差
Ｔ　［＝　（（２ｎ＋１）／２・ｆｓ）十τｄｎ、　　
ｎは正の整数］を求めることができる。これによって、
被測定光ファイバ６の波長分散特性を知ることができる
。

（発明が解決しようとする課８） ′しかしながら前述した従来の測定回路では、選択レベ
ル計８の出力が零又は極小値になるまで、遅延回路４に
よる遅延時間τｄを変化させる必要がある。従って、被
測定光ファイバ６の長さや分散特性が変わるごとに、遅
延回路４における遅延時間τｄをｙｓ整したり、場合に
よっては遅延回路４を交換する必要がある。さらに、遅
延回路４の可変遅延時間量によって測定可能な被測定光
ファイバ６の長さが制限される。例えば、報告されてい
る被測定光ファイバ６の最大長はｌｋｍである。

加えて、従来の測定回路では複数の光源が必要となり、
光学的な軸合わせにも手間がかかるという問題点を有し
ている。

本発明の目的は上記の問題点に鑑み、従来に比べて長尺
の光ファイバの波長分散特性を容易に測定できる測定回
路を提供することにある。

（課題を解決するための手段） 本発明は上記の目的を達成するために、請求項（１）で
は、被測定光ファイバの一端側に光を入射する波長可変
な光源と、該光源の光を正弦波変調する変調回路と、前
記被測定光ファイバの他端側から出射する光を受光して
電気信号に変換する受光回路と、該受光回路の出力信号
を同期検波する同期検波回路と、該同期検波回路の出力
信号の所定の周波数以下の信号を通過させる低域フィル
タとを鍮えた光ファイバ波長分散特性測定回路を提案す
る。

また、請求項（２）では、被測定光ファイバの一端側に
光を入射する波長可変な光源と、該光源の光を正弦波変
調する変調回路と、所定波長の光を出射する局部発振光
源と、前記被測定光ファイバの他端側から出射する光と
前記局部発振光源から出射する光とを合成する光合成手
段と、該光合成手段による合成光を受光して電気信号に
変換する受光回路と、該受光回路の出力信号を復調する
復調回路と、該復調回路の出力信号を同期検波する同期
検波回路と、該同期検波回路の出力信号の所定の周波数
以下の信号を通過させる低域フィルタとを備えた光ファ
イバ波長分散特性測定回路を特徴する 請求項（３）では、請求項（１）又は（２）記載の光フ
ァイバ波長分散特性測定回路において、被測定光ファイ
バの光入射端側にマツハツエンダ干渉計を設けた光ファ
イバ波長分散特性測定回路を提案する。

さらに、請求項（４）では、請求項（１）又は（２）記
載の光ファイバ波長分散特性測定回路において、被測定
光ファイバの光出射端側にマツハツエンダ干渉計を設け
た光ファイバ波長分散特性測定回路を提案する。

（作　用） 本発明の請求項（１）によれば、光源から出射された光
は被ｎ１定光ファイバの一端側に入射される。

また、前記光源の光は変調回路により正弦波変調、例え
ば振幅変調される。前記？Ｉｔ＃Ｊ定光ファイバ内を伝
搬した光は、前記被測定光ファイバの他端側から出射し
、受光回路に入射される。該受光回路に入射した光は電
気信号に変換される。前記受光回路から出力された電気
信号は同期検波回路によって同期検波された後、低域フ
ィルタによって所定の周波数以下の信号が出力される。

ここで、前記光源の波長を変化させ、該波長に対する前
記低域フィルタから出力される信号の値を表わす曲線を
描き、該曲線の傾きを求めることにより、前記被測定光
ファイバの波長分散特性が求められる。

また、請求項（２）によれば、光源から出射された光は
被測定光ファイバの一端側に入射される。

また、ＩＸＪ記光源の光は変調回路により正弦波変調、
例えば振幅変調される。前記被ｎ１定光ファイバ内を伝
搬した後、他端側から出射した光は、光合成手段により
局部発振光源から出射された光と合成される。該合成光
は受光回路に入射されて電気信号に変換される。このと
き、該電気信号には直流成分と、前記光源の光周波数及
び前記局部発振光源の光周波数に基づく中間周波出力信
号が得られる。該中間周波出力信号は復調回路により、
ヘテロダイン検波された後、同期検波回路によって同期
検波される。さらに低域フィルタにより所定の周波数以
下の信号が出力される。ここで、前記光源の波長を変化
させ、該波長に対する前記低域フィルタから出力される
信号の値を表わす曲線を描き、該曲線の傾きを求めるこ
とにより、前記被測定光ファイバの波長分散特性が求め
られる。

請求項（３）によれば、光、Ｒから出射された光はマツ
ハツエンダ干渉計を介して被測定光ファイバに入射され
る。また、前記光源から出射される光は変調回路により
正弦波変調される。このとき前記光が前記変調回路によ
って周波数変調された場合、マツハツエンダ干渉計によ
って前記周波数変調に対応した振幅変調の光に変換され
る。この後、被測定光ファイバの一端側に入射される。

前記被測定光ファイバの他、端側から出射された光は、
前述したと同様に処理される。

また、請求項（４）によれば、光源から出射された光は
披ｎ１定光ファイバの一端側に入射される。

また、前記光源から出射される光は変調回路により正弦
波変調される。前記被測定光ファイバを伝搬し、他端側
から出射した光はマツハツエンダ干渉計に入射される。

ここで、前記光源から出射される光が変調回路によって
周波数変調された場合、前記マツハツエンダ干渉計によ
って前記周波数変調に対応した振幅変調の光に変換され
る。前記マツハツエンダ干渉計から出射した光は、受光
回路又は合波手段に入射され、前述したと同様に処理さ
れる。

（実施例） ｍ１図は本発明の第１の実施例を示す構成図である。図
において、１１は単一波長で発振する波長可変レーザか
らなる光源で、角周波数ωＣの光を出射する。１２は光
源１１の温度を制御する温度制御回路、１３は変調回路
で、光源１１の光を各周波数ω■の正弦波にて振幅変調
する。１４は長さＬの被測定光ファイバ（以下、光ファ
イバと称す）、１５は受光回路で、入射した光を電気信
号に変換する。１６はコンデンサ、１７は同期検波回路
、１８は低域フィルタで所定の周波数以下の周波数の電
気信号を通過させる。

前記光源１１から出射された光信号は光ファイバ１４の
一端側に入射される。光ファイバ１４の他端側から出射
した光信号は受光回路１５によって受光され、電気信号
に変換される。受光回路１５から出力された電気信号は
コンデンサ１６を介して同期検波回路１７に入力される
。このとき、コンデンサ１６によって交流成分のみが同
期検波回路１７に入力される。同期検波回路１７によっ
て、該同期検波回路１７に入力された電気信号に所定の
搬送波信号が乗算されて出力される。同期検波回路１７
から出力された電気信号は低域フィルタ１８に入力され
、低周波成分のみが取り出される。これにより、変調回
路１３によって振幅変調された変調信号が復調される。

この復調された信号の中の角周波数０膳の成分の相対遅
延時間を測定することにより、光ファイバ１４の波長分
散特性を得ることができる。

次に、前述した相対遅延時間をＢ１定することにより、
光ファイバ１４の分散特性が得られることを説明する。

振幅変調された光源１１の光信号Ｓ　ＡＭ（ｔ）は時間
ｔに対して（１）式にて表わされる。

ＳＡＭ（ｔ）　−Ａ１　　・ｃｏｓ　ωｃ　ｔ　＋Ａ２
　　［ｃｏｓ　　（ωｃ　　＋ωＩ　　）　　ｔ　＋ｃ
ｏｓ　　（ωｅ　−ωｓ）　ｔｌ　　−（１）ここで、
Ａｌ及びＡ２は定数である。

また、光信号Ｓ　ＡＭ（ｔ）が光ファイバ１４を伝搬し
た際、他端側から出射される光信号ＳＡＭ−（ｔ）は（
２）式にて表わされる。

ＳＡＭ−（ｔ）　−Ｂｌ　−Ｃｏｓ　　（ωｅ　ｔ−に
ｏＬ）＋Ｂ２　・Ｃｏｓ［（ωＣ＋ω■）ｔ−にｒ　Ｌ
］十８２　　拳ｃ＋ｔ［（ωＣ−ω−）を−に−＋Ｌ］
・・・（２） ここで、Ｂｌ及びＢ２は定数、に０．に２．にはそれぞ
れ角周波数ωＣ５ωＣ＋ω―、ωＣ−ω自の伝搬定数で
ある。

また、角周波数ω１が数ＭＨｚ程度の低い角周波数であ
るときは、伝搬定数に０は（３）にて近似される。

に。−（に１＋に−３）／２　　　　　　・・・（３）
従って、光信号５ＡＩＩＩ″（１）を受光回路１５によ
り電気信号に変換し、直流成分を除去した後の電気信号
Ｓ　１ｒ（ｔ）は（４）式にて表わされる。

ｓ　ｓｒ（ｔ） ｍｃｌ　　＠ｃｏｓ　　［ω−ｔ−Ｌ（に１−に。）］
＋Ｃｔ　・ｃｏｓ　　［ω−ｔ−Ｌ（に０−に−Ｉ）］
十ｆ　（２ω−）＋２φＣ１・ｇｏｓ　　［ω霞　ｔ＋
Ｌ（に、−にｔ）／２］＋ｆ（２ω膳　）・・・（４） ここで、ＣＩは定数、ｆ（２ω−）は角周波数が２ω−
の成分である。

さらに、伝搬定数に１．に−１のそれぞれは（５）。

（６）式にて近似することができる。

に１−に０　＋０層　に　　　　　　　　　　　　　・
嚢伊（５）に−１−に０−ω−に　　　　　　　　　　
　　　・・・（６）ここで、に′は伝搬定数の角周波数
ωＣにおける一次微分である。また、波長分散は一次微
分に゛を角周波数ωＣに対してさらに微分した二次微分
に　となる。

（５）　、　（６）式を（４）式に代入すると電気信号
Ｓ　ＩＦ（１）は（７）式にて表わされる。

Ｓ＋ｆ（ｔ）　−２−Ｃ１ ｃｏｓ　　（（Ｌｌｌ　　ｔ−Ｌｇ　　　０ｍ）　　＋
ｆ　　（２（ＩＪＩ）・・・（７） 電気信号５ｌｒ（ｔ）に対して、同期検波回路１７にて
所定の位相を有する搬送波信号を乗算し、低域フィルタ
１８により低周波成分のみを取り出すと、低域フィルタ
１８から出力される電気信号Ｓ　Ｉ「′（ｔ）は（８）
式にて表わされる。

５ｉｒ−（ｔ） −ＤＩ　ＩＩｃｏｓ　　（Ｌに０ｇ　＋π／２）−ＤＩ
　　ｅｓ　ｉ　ｎ　（Ｌにｔｕｌ）　　　　・＝（８）
ここで、Ｄｌは定数である。また、（８）式において、
Ｌに′ωｌは十分に小さい値であるから、電気信号５ｔ
ｒ−（ｔ）は（９）式にて近似することができる。

５ｌｒ−（ｔ）−Ｄｌ　　−Ｌ　・に　　・０厘　　　
・・・（９）即ち、低域フィルタ１８から出力される電
気信号Ｓｌ「″（１）は、光ファイバ１４の長さしと伝
搬定数の角周波数ωＣに対する一次微分に゛と角周波数
ω■の積に比例したものになる。従って、光源１１の光
の角周波数ωＣを変化させ、角周波数ωＣに対応した電
気信号Ｓｌｆ″（１）の値をプロットし、その曲線の傾
きから光ファイバ１４の波長分散に゛の特性を求めるこ
とができる。

光源１１の光の角周波数ωＣは、温度制御回路１２によ
って光源１１の温度を変えることにより変化させること
ができる。

本実施例における信号処理は電気信号にて行っており、
発生する光損失は光ファイバ１４におけるものだけであ
るので、例えば１１００ｋを越える長尺の光ファイバの
波長分散特性の測定にも適用することができる。

また、本実施例においては、光学的アラインメントを必
要とする部分は光ファイバ１４の両端の２箇所であり、
受光口路１５において必要とする帯域も角周波数ω１に
対応した帯域で十分であるため、非常に簡易に測定回路
を構成することができる。

次に、本発明の第２の実施例を第３図に基づいて説明す
る。第３図において、第１の実施例と同一構成部分は同
一符号をもって表わす。即ち、１１は光源、１２は温度
制御回路、１４は光ファイバ、１５は受光回路、１６は
コンデンサ、１７は同期検波回路、１８は低域フィルタ
、１９は変調回路で、光源１１から出射される光を角周
波数ω−の正弦波にて周波数変調する。２０はマツハツ
エンダ干渉計である。

第２の実施例と前述した第１の実施例との相違点は、変
調回路１９によって光源１１から出射される光を周波数
変調していること、及び光源１１から出射された光信号
をマツハツエンダ干渉計２０を介して光ファイバ１４の
一端側に入射していることである。

マツハツエンダ干渉計２０は周波数変調された光信号を
入射した際、該変調周波数に対応した振幅を有する光信
号、即ち振幅変調された光信号を出射する。第４図にマ
ツハツエンダ干渉計２０の入出力特性図を示す。この特
性図はマツハツエンダ干渉計２０の入射光の角周波数に
対する透過率の特性を表わしている。図において、横軸
は入射光の角周波数を表わし、縦軸は入射光の電界の位
相に係わる透過率を表わしている。図に示すように透過
率は角周波数に対して゛ｓｉｓ曲線にて表わされる特性
を示し、特定の角周波数、例えば角周波数ωｃ１．ωｅ
２．ωＣ３において透過率は零になる。

また、前記透過率が１のときと、−１のときでは出射光
の位相がπだけずれる。即ち、透過率が１のときの出射
光の振幅に対して、透過率が−１のときの出射光の振幅
は反転したものとなる。従って、光源１１から出射され
る光の角周波数ωＣにおいて、前記透過率が零になるよ
うにマツハツエンダ干渉計２０を設定してお（ことによ
り、周波数の変化はそのまま振幅の変化となる。即ち、
周波数変調された入射光は振幅変調された光信号として
出射される。前述したマツハツエンダ干渉計２０の調整
は温度を変化させることによって容易に行うことができ
る。

マツハツエンダ干渉計２０によって周波数変調から振幅
変調に変換された光信号は、周波数変調の周波数変移が
少ない場合、前記（１）式にて近似することができる。

従って、光源１１の出射光が周波数変調されていても、
前述した第１の実施例と同様に光ファイバ１４の波長分
散特性を測定することができる。

尚、第２の実施例では、光源１１の出射光をマツハツエ
ンダ干渉計２０を介して光ファイバ１４に入射するよう
にしたが、光源１１の出射光を直接光ファイバ１４に入
射し、光ファイバ１４の他端側から出射された光をマツ
ハツエンダ干渉計２０を介して受光回路１５に入射する
ようにしても良い。

次に、本発明の第３の実施例を第５図に基づいて説明す
る。図において、第１の実施例と同一構成部分は同一符
号をもって表わす。即ち、１１は光源、１２は温度制御
回路、１３は変調回°路、１４は光ファイバ、１５は受
光回路、１６はコンデンサ、１７は同期検波回路、１８
は低域フィルタ、２１は局部発振光源で、単一波長で発
振し、光源１１の出射光の角周波数ωＣよりやや低い所
定の角周波数ω１の局部発振光を出射する。２２は光カ
ップラで、２つの光入射端を有し、２つの入射光を合成
して出射する。２３は復調回路で、二乗検波回路からな
り入力した変調信号を復調する。

光源１１から出射された光信号は光ファイバ１４の一端
側に入射される。光ファイバ１４の他端側から出射した
光信号は、光カップラ２２によって局部発振光源２１か
ら出射された局部発振光と合成された後、受光回路１５
に入射される。このとき、受光回路１５の帯域は、角周
波数ω■の２倍程度の帯域を必要とする。受光回路１５
に入射された光信号は電気信号に変換された後、コンデ
ンサ１６を介して同期検波回路１７に入力される。この
とき、コンデンサ１６によって交流成分のみが同期検波
回路１７に入力される。同期検波回路１７により、該同
期検波回路１７に入力された電気信号に所定の搬送波信
号が乗算されて出力される。同期検波回路１７から出力
された電気信号は低域フィルタ１８に入力され、低周波
成分のみが取り出される。これにより、変調回路１３に
よって振幅変調された変調信号が復調される。この復調
された信号の中の角周波数ωｌの成分の相対遅延時間を
測定することにより、光ファイバ１４の波長分散特性を
得ることができる。

前述の構成からなる第３の実施例によれば、光源１１か
ら出射される光信号Ｓ　Ａｌ４（ｔ）は前記（１）式に
て表わされる。

また、受光回路１５から出力される電気信号Ｓ　＋ｐ（
ｔ）は（２）式において角周波数ωＣを角周波数ωＩＦ
（−ωＣ−ωＩ）に置き換えたものとなる。

ここで、角周波数ω宜、は光源１１から出射される光の
角周波数ωＣと局部発振光源２１から出射される局部発
振光の角周波数ω１の差である。この電気信号Ｓ　＋ｐ
（ｔ）を復調回路２３にて二乗検波し、コンデンサ１６
によって直流成分を除去すると、このときの電気信号３
１ｆ（ｔ）は（４）式にて表わされる。ただし、この電
気信号５ｉｒ（ｔ）の強度は、局部発振光源２１、光カ
ップラ２２、復調回路２３を用いた光ヘテロダイン検波
を行っているので、第１の実施例に比べて強い信号強度
を有している。

従って、第１の実施例よりも受信感度が改善されるため
、さらに長尺の光ファイバの波長分散特性を測定するこ
とができる。

低域フィルタ１８から出力される電気信号５ｌｆ−（ｔ
）は第１の実施例と同様に（９）式にて表わされるため
、この出力曲線を描き、該曲線の傾きから光ファイバ１
４の波長分散特性を求めることができる。

尚、第３の実施例では復調回路２３として二乗検波回路
を用いたが、包路線検波回路などの他の検波回路を用い
て復調しても良い。

次に、本発明の第４の実施例を第６図に基づいて説明す
る。図において、第１乃至第３の実施例と同一構成部分
は同一符号をもって表わす。即ち、１１は光源、１２は
温度制御回路、１４は光ファイバ、１５は受光回路、１
６はコンデンサ、１７は同期検波回路、１８は低域フィ
ルタ、１９は変調回路で、光源１１から出射される光を
角周波数ω■の正弦波にて周波数変調する。′２０はマ
ツハツエンダ干渉計、２１は局部発振光源、２２は光カ
ブブラ、２３は復調回路である。

第４の実施例と前述した第３の実施例との相違点は、変
調回路１９によって光源１１から出射される光を周波数
変調していること、及び光源１１から出射された光信号
をマツハツエンダ干渉計２０を介して光ファイバ１４の
一端側に入射していることである。変調回路１９によっ
て、周波数変調された光源１１の出射光は、マツハツエ
ンダ干渉計２０によって振幅変調された光信号に変換さ
れた後、光ファイバ１４に入射される。このとき周波数
変調の周波数変移が少ない場合には、光ファイバ１４に
入射される光信号は（１）式にて近似される。従って、
光［１１の出射光が周波数変調されていても、前述した
第３の実施例と同様に光ファイバ１４の波長分散特性を
光ヘテロダイン検波を用−１て測定することができる。

尚、第４の実施例では、光源１１の出射光をマツハツエ
ンダ干渉計２０を介して光ファイバ１４に入射するよう
にしたが、光源１１の出射光を直接光ファイバ１４に入
射し、光ファイバ１４の他端側から出射された光をマツ
ハツエンダ干渉計２０を介して光カップラ２２に入射す
るようにしても良い。

（発明の効果） 以上説明したように本発明の請求項（１）によれば、正
弦波変調された光を被測定光ファイバの一端側に入射し
、該被測定光ファイバの他端側から出射した光を受光回
路により受光した後、同期検波回路により同期検波し、
さらに低域フィルタによって低周波成分を取り出してい
るので、信号処理のほとんどを電気信号にて行っている
ため、光損失のほとんどが前記被測定光ファイバ内で発
生したものとなる。これにより、光損失が微小となるた
め、例えば１１００ｋを越えるような長尺の光ファイバ
の波長分散特性を測定することができる。また、光学的
アラインメントが必要となるのは、前記被測定光ファイ
バの光入射端と光出射端の２１１所であり、前記受光回
路の帯域も光源の光を変調する正弦波の角周波数程度で
十分であるため、非常に簡易に測定回路を構成すること
ができるという利点を有している。

また、請求項（２）によれば、光合成手段によって被測
定光ファイバから出射した光と、局部発振光源から出射
された光とを合成した後、受光回路によって受光し、該
受光回路から出力された電気信号を復調回路によって復
調する光ヘテロダイン検波を行っているので、請求項（
１）記載のΔか１定回路に比べ、さらに受信感度が改善
される。このため、さらに長尺の光ファイバの波長分散
特性を測定することができるという利点を有している。

さらに、請求項（３）又は（４）によれば、請求項（１
）又は（２）記載の測定路にマツハツエンダ干渉計を設
けたので、光源の光を周波数変調した際、該周波数変調
された光は前記マツハツエンダ干渉計によって、振幅変
調された光に変換されるため、上記効果に加えて光源か
ら出射される光を周波数変調することもできるという利
点を有している。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示す構成図、第２図は
従来例の測定回路を示す構成図、第３図は本発明の第２
の実施例を示す構成図、１４図はマツハツエンダ干渉計
の人出力特性図、第５図は本発明の第２の実施例を示す
構成図、第６図は本発明の第４の実施例を示す構成図で
ある。 １１・・・光源、１２・・・温度制御回路、１３．１９
・・・変調回路、１４・・・被測定光ファイバ、１５・
・・受光回路、１６・・・コンデンサ、１７・・・同期
検波回路、１８・・・低域フィルタ、２０・・・マツハ
ツエンダ干渉計、２１・・・局部発振光源、２２・・・
光カップラ（光合成手段）、２３・・・復調回路。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）被測定光ファイバの一端側に光を入射する波長可
   変な光源と、 該光源の光を正弦波変調する変調回路と、 前記被測定光ファイバの他端側から出射する光を受光し
   て電気信号に変換する受光回路と、該受光回路の出力信
   号を同期検波する同期検波回路と、 該同期検波回路の出力信号の所定の周波数以下の信号を
   通過させる低域フィルタとを備えた、ことを特徴とする
   光ファイバ波長分散特性測定回路。
2. （２）被測定光ファイバの一端側に光を入射する波長可
   変な光源と、 該光源の光を正弦波変調する変調回路と、 所定波長の光を出射する局部発振光源と、 前記被測定光ファイバの他端側から出射する光と前記局
   部発振光源から出射する光とを合成する光合成手段と、 該光合成手段による合成光を受光して電気信号に変換す
   る受光回路と、 該受光回路の出力信号を復調する復調回路と、該復調回
   路の出力信号を同期検波する同期検波回路と、 該同期検波回路の出力信号の所定の周波数以下の信号を
   通過させる低域フィルタとを備えた、ことを特徴とする
   光ファイバ波長分散特性測定回路。
3. （３）被測定光ファイバの光入射端側にマッハツェンダ
   干渉計を設けた請求項（１）又は（２）記載の光ファイ
   バ波長分散特性測定回路。
4. （４）被測定光ファイバの光出射端側にマッハツェンダ
   干渉計を設けた請求項（１）又は（２）記載の光ファイ
   バ波長分散特性測定回路。