JPH0688834A - 回転速度を測定するためのファイバオプティックサニャック干渉計 - Google Patents

回転速度を測定するためのファイバオプティックサニャック干渉計

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JPH0688834A
JPH0688834A JP4023816A JP2381692A JPH0688834A JP H0688834 A JPH0688834 A JP H0688834A JP 4023816 A JP4023816 A JP 4023816A JP 2381692 A JP2381692 A JP 2381692A JP H0688834 A JPH0688834 A JP H0688834A
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Abstract

(57)【要約】 この発明の主題は開のループ構成のファイバオプティッ
ク回転速度センサであり、復調器(SYNCD)の入力
に与えられる乱れる信号の結合のために生じるセンサバ
イアスエラーは、乱れる信号の原因であると考えられ得
るすべての信号源から統計的に独立した復調信号の使用
によって抑制される。この目的のために、変調信号発生
器(MG)が設けられ、これは乱数発生器を含み、それ
から2つの信号(b0 、b1 )が干渉計特性上の正また
は負の勾配を有する最適の作動点の活性のための統計的
に交互に起こるバイアスのために一方で引き出され、か
つ復調信号が推移時間修正(T0 )の後同期復調器(S
YNCD)の同期入力を作動する適当に整合された復調
信号(d)が他方で引き出される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】この発明は回転速度を測定するためのファ
イバオプティックサニャック(Sagnac)干渉計に
関し、光源に源を発しかつ偏光子によって偏光されてビ
ーム分割によって発生される2つの光ビームがファイバ
コイルの中に反対方向に注入されかつその後再結合さ
れ、生み出された干渉イメージは、偏光子を通過した
後、検出器装置を作動し、その出力信号は干渉イメージ
の光強度に対応し、2つの光ビームはファイバコイルに
位置付けられた位相変調器によって変調され、かつ増幅
された光検出器出力信号は同期復調器に供給される。
【0002】サニャック干渉計を作動する回転運動は2
つの反対に循環する光ビームの間に位相変化を生じさ
せ、その結果回転運動に依存する干渉イメージは2つの
ビームが重ね合わさった位置で形成される。
【0003】干渉計の伝達関数は I=I0 ・(1/2)cos(Δφ) によって表される。
【0004】この等式において、I0 は位相変化がない
場合の光強度である(図1参照)。位相変化(サニャッ
ク位相)は以下の態様で回転速度Ωと相互に関係する。
【0005】Δφ={(2πLD)/(λc)}Ω L = 光路の長さ D = 循環光路の直径 λ = 光の波長 c = 光の速度 伝達関数の上述の形には(回転)センサ応用に対して以
下のような2つの考慮すべき不利な点がある。 − 余弦曲線の最大点において、それは小さな入力値に
鈍感である − 位相変化の符号は強度信号からはわからない。
【0006】これらの不利な点を克服するために、特性
上の作動点を位相変調プロセスによってより大きな感度
の領域に移すことは一般的である。しばしば採用される
変調の2つの型は以下のものである。 − 正弦波変調(図2a参照)および − 方形波変調(図2b参照)。
【0007】かかる信号による光位相変調器の作動は敏
感な伝達関数を与え、かつ符号を認識することを可能に
する。
【0008】図2で示された信号の同期復調は位相変化
かつゆえに回転速度を与える。図3の前述の先行技術に
従う閉のファイバループを有するサニャック干渉計(回
転速度センサ)の図式の単純化された表現は、光源Lを
示し、これはたとえばレーザであり、その平行な光ビー
ムは偏光子Pによって偏光され、かつビーム分割器ST
2によって2つの光ビームに分割され、かつ干渉計ファ
イバコイルFSの中に反対方向に注入される。ファイバ
コイルFSは光単モードファイバから好ましくは構成さ
れるであろう。ビーム分割器ST2はファイバコイルF
Sを通過した後2つの光ビームの再結合のためのミキサ
として同時に作用する。偏光子Pを通過した後、2つの
重ね合わされた光ビームの干渉信号は、第2のビーム分
割器ST1を経て通過し、かつその出力ブランチOUT
は干渉イメージの強度を走査する光検出器PDへと通っ
ていく。もしΔφ0 が閉のファイバコイルFSで反対方
向に伝搬する2つの光ビームの間の位相差を示すとすれ
ば、それに非逆外乱がないとすれば、次の関係、Δφ0
=0が適用可能である。
【0009】光検出器PDの電気信号VDはインピーダ
ンス変換器および増幅器A0 を経て強調され、その出力
信号VD′は変調周波数f0 に同期された同期復調器S
YNCDを供給する。復調された出力信号は増幅器Aを
経て信号VAとして出力インタフェースSへと通ってい
き、その出力信号は回転速度に比例しかつ回転方向に関
する符号情報を含む。
【0010】ファイバオプティック回転速度センサのた
めの読出プロセスのこの動作原理は、図3を参照して簡
単に説明されるが、回転速度を測定するためのかかる慣
性装置の動作を実施する際に、以下の理由のために考慮
すべき困難な点につながる。
【0011】位相変調器PMのための変調信号VCまた
はVC′の電圧レベルは2、3ボルトのオーダの大きさ
である。しかしながら、検出器信号VDの電圧レベルは
2、3ナノボルトのオーダの大きさであり、これは1°
/hの器具の回転速度に対応する。VD上でのVCおよ
びVC′の所望されない漂遊効果は測定信号の偽造につ
ながる。信号処理の出力は明らかな回転速度を示す。測
定配列の0点または作動点は固有の外乱によって変えら
れる。図3において、かかる漂遊効果は破線および結合
要素Kによって示される。
【0012】電磁漂遊(結合要素Kを有する外乱、図3
参照)を、遮蔽手段によって −ドライバ増幅器APか
ら位相変調器PMへの接続ラインを遮蔽することによっ
て図3に示される − 並びに信号および電圧供給線に
おけるフィルタの組込みによって排除するまたは少なく
とも低減することを所望することはここで明らかであろ
う。図3に従う既知の干渉計構成において、しかしなが
ら特定の一連の問題がある。信号VCまたはVC′は発
振器OSCで発生される変調周波数f0 を含む。しかし
ながら、光検出器信号VDは同一の周波数および位相関
係を有する回転速度情報を含む。この信号は同期復調器
SYNCDで検出される。周波数f0の変調の大きさを
生み出す回路アセンブリおよび回転速度に敏感でかつ同
一の周波数を有する信号を伝える回路部分は空間的に密
に関連し、かつ一般に共通の電源装置から供給されなけ
ればならない。したがって、周波数f0 の電磁エネルギ
の敏感な信号経路(信号VD)への漂遊の危険があるこ
とは明らかである。信号線におけるf0 のための遮断フ
ィルタは可能ではない、なぜなら所望の信号情報は正確
にこの周波数で存在するからである。したがって、所望
されない漂遊はある程度、たとえば、増幅器A0 および
同期復調器SYNCDを回路の残余に対して遮蔽するこ
とによってのみおよびその電源を濾過することによって
のみある程度低減され得る。
【0013】しかしながら、上述のレベル状態は、すべ
ての可能な遮蔽手段にもかかわらず、信号VC、VC′
およびVDの間の結合は回避できないことを明らかにす
る。
【0014】この発明の目的はファイバオプティック回
転速度センサの測定信号の偽造を回避することである。
【0015】この発明を基礎として、結合の結果として
復調器入力に与えられる乱れる信号に生じるバイアスエ
ラーの発生は、乱れる信号の原因であると考えられ得る
すべての信号源から統計的に独立した復調信号の使用に
よって抑制され得ることが認識された。
【0016】特許請求の範囲の始めに示されたプリアン
ブルに従うファイバオプティックサニャック干渉計を基
礎としておよびこれを使用して、この発明に従う技術的
な教示は − 位相変調器を作動する変調信号は2つの成分の合計
から形成され、第1の成分は交互に連続する値0とπ/
2とから形成され、かつ第2の成分は大部分相関関係の
ない連続する値0とπとから形成され、 − 同期復調器は4つの因子の推移時間修正された積に
よって駆動され、 −− 第1の因子は一定して値−1を有し、 −− 第2の因子は、もし第2の成分が値0を有すれば
−1であるが、もし第2の成分が値πを有すれば+1で
あり、 −− 第3の因子はもしすぐ前の変調サイクルの第2の
成分が値0を有していたら−1であるが、もしすぐ前の
変調サイクルの第2の成分が値πを有していたら+1で
あり、さらに −− 第4の因子はもし第1の成分が値0を有すれば−
1であるが、もし第1の成分が値π/2を有すれば+1
であり、さらに − 4つの因子の積は推移時間補償によって修正され、
この補償はファイバコイルを通る光ビームの各1つの光
の推移時間t0 および第2の信号成分を得て、第1およ
び第2の信号成分を結合して位相変調器および駆動信号
のデジタル/アナログ変換のための駆動信号を形成する
ための合計のための処理時間に対応する、ということで
ある。
【0017】この発明および利点の詳細は例示的な実施
例に関連する図面を参照して以下に詳細に例示される。
【0018】図4は基本的な配列の点から、この発明に
とって本質的なファイバオプティックリング干渉計配列
の一部、つまり変調および復調にとって重要な部分およ
びアセンブリを例示する。変調信号発生器MGはそれぞ
れ値πおよびπ/2を有するビットb0およびb1から
なる変調信号を発生する。デジタル/アナログ変換器D
ACによって変換した後、この変調信号は、信号PMS
として、位相変調器PM(図3参照)およびゆえに、簡
単に言うと、「ジャイロ」Kを駆動する。前述のよう
に、ビットa0は値πを有し、すべてのより高い値のビ
ットは抑制されるので、その結果モジュロ−2π動作は
D/A変換器DACで自動的に得られる。デジタル/ア
ナログ変換器DACの出力信号PMSは干渉計配列また
はジャイロ経路を通過し、かつ受信された光強度Iに比
例する信号eの形をとって、復調器DEMの入力へと通
っていく。変調信号発生器MGは要求された復調信号d
を伝え、これは推移時間補償T0 の後、復調器DEMへ
と通っていく。推移時間補償T0 は生じた信号推移時
間、つまりファイバコイルFSを通る光ビームの各1つ
の光の推移時間t0 およびこの発明に従う上に規定され
た教示によって第2の信号成分を得て、第1および第2
の信号成分を結合して位相変調器Pおよびデジタル/ア
ナログ変換器DACにおけるデジタル/アナログ変換の
ための駆動信号PMSを形成するための合計のための処
理時間を補償する。推移時間補償は変調信号発生器MG
によって伝えられた復調信号dが推移時間修正された復
調信号d′として受信された信号eに「適合する」こと
を確実にする。
【0019】外乱の源であると考えられ得るすべての他
の信号からの復調信号の前述の統計的な独立を保証する
ために、変調信号発生器MGは乱数発生器を含み、それ
から信号b0、b1およびdが引き出される。代替的
に、要求された統計的な独立が得られるように構成され
た永久的に記憶された信号パターンを使用することも可
能である。以下の説明は図5の基本的なブロック回路図
で示される乱数発生器を使った解決策に基づく。
【0020】図1に従う干渉計特性から推論され得るよ
うに、活性されるべき勾配(最大測定感度)が逆転する
点はπ/2の奇数倍数にある。回転速度がない(休止状
態)ところでは、干渉計位相は瞬間変調位相p(n)と
一時的に先行する変調器位相p(n−1)との差からな
る。この差がすべての場合にπ/2の奇数倍数であるた
めに、p(n)はそれぞれ交互にπ/2の偶数および奇
数倍数でなければならず、つまり変調信号発生器MGに
よって伝えられる値π/2を有するビットb1は一定し
て発振しなければならない。
【0021】b1(n)={...0、1、0、1、
0、1、0、1...} このビットb1(n)は内部信号s(n)から発生さ
れ、 s(n)=(−1)n b1(n)=(s(n)+1)/2である。
【0022】変調信号発生器MGによって伝えられるビ
ットb0は始めは任意であり、かつ干渉計特性の正また
は負の勾配を有する点の選択のための自由度として採用
され得る。ここで提案された解決策の場合に、ビットb
0は乱数発生器によって伝えられ、かつ均一に分配され
統計的に独立して値−1または1に対応する数字のシー
ケンスR(n)から引出される。ビットb0は b0(n)=(r(n)+1)/2 によってこれから得られる。
【0023】したがって、干渉計特性のそれぞれ選択さ
れた点の符号は d(n)=−r(n)・r(n−1)・s(n) から得られる。
【0024】この態様(図5参照)で発生されたこの符
号信号は、受信された信号が推移時間補償T0 を通過し
た後それを復調するために使用される。
【0025】上の等式から続く変調信号発生器MGの構
成は図5から明らかである。信号d(n)は、s(n)
がその発生のために使用されるにもかかわらず、s
(n)から統計的に独立している。しかしながら、d
(n)の形成において、s(n)は乱数から形成された
積r(n)・r(n−1)によって乗算することによっ
て再び完全にスクランブルされる。しかしながら、復調
信号d(n)もまたr(n)から統計的に独立してい
る、なぜならt(n)=r(n)・r(n−1)はr
(n)から統計的に独立しており、つまりr(n)およ
びt(n)の間の交差相関したCrt(i)は0に全く
等しいからである。この結果は0および1に等しくない
iにとって全く明白である、なぜなら0または1の位置
によってお互いに対して移された級数r(n)およびt
(n)の項はもはや何の共通情報も運ばないからであ
る。i=0または1については、その結果はCrt
(0)およびCrt(1)の交差相関は級数r(n)の
平均値にそれぞれ対応し、その平均値は条件に従って0
に等しいということである。
【0026】r(n)とt(n)との相関関係は以下の
ように表わされ得る。次の式、t(n)=r(n)・r
(n−1)が適用可能である。
【0027】
【数1】
【0028】
【数2】
【0029】
【数3】
【0030】i≠0およびi≠1については 明らかにCrt(i)=0であり、つまり、すべてのi
についてCrt(i)=0である。
【0031】d(n)は変調プロセスにおいて現れるす
べての信号から、線形の意味で、統計的に独立している
ので、その結果最初に示された条件は満足されることが
このことから明らかになる。
【0032】図6は開ループ構成における回転速度セン
サの図3に対応するブロック回路図であるが、−この発
明に従って−位相変調器PMのための変調信号の統計的
な発生を有するブロック回路図を示す。位図3の説明か
らすでに既知のアセンブリはその説明を再び繰り返さな
い。
【0033】示されるように、図3に従う発振器OSC
は、図4および5を参照して説明された変調信号発生器
MGによって取換えられる。復調信号dは推移時間補償
LZを通過し、かつ推移時間修正された信号d′として
同期復調器SYNCDの同期信号入力に作用する。図5
に関する説明に従って発生される信号b0 およびb1
それぞれ、図4を参照して上に説明されたD/A変換器
DAへと通っていく。
【0034】この発明は回転速度を測定するためのファ
イバオプティックリング干渉計の位相変調器の駆動信号
のための変調プロセスを提供し、このプロセスは位相変
調器のために要求される変調の範囲を拡大することな
く、先行技術において発生するような電磁交差結合によ
って引き起こされるバイアスエラーを回避する。
【0035】統計的に独立した乱数発生器のこの発明に
従う用途は、隣接する電子アセンブリのクロストーク効
果の回避のために特に適切であり、これらの電子アセン
ブリにおいては多軸の回転速度センサ配列が閉じ込めら
れた空間の中に構成され得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】ファイバオプティック回転速度センサのすでに
説明された伝達関数の基本的な進行を示す図である。
【図2】作動点を伝達関数の特性上の最大感度の領域に
移すために図1に従う伝達関数のすでに説明された正弦
波変調(図2a)と方形波変調(図2b)とを示す図で
ある。
【図3】いわゆる開のループ構成におけるファイバオプ
ティック回転速度センサの基本で既知のかつすでに説明
された構成を示す図である。
【図4】この発明に従う変調および復調にとって重要な
ファイバオプティックサニャック干渉計またはリング干
渉計のアセンブリの基本配列を示す図である。
【図5】図4に従う配列におけるMGによって示される
変調信号発生器の基本構成を示す図である。
【図6】開のループ構成におけるこの発明に従う特徴を
有するファイバオプティック回転速度センサの図3の表
示に対応する構成を示す図である。
【符号の説明】
L 光源 P 偏光子 ST ビーム分割 PD 検出器装置 FS ファイバコイル VD 出力信号 PM 位相変調器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ギュインター・シュパリンゲル ドイツ連邦共和国、デー−7000 シュトッ トガルト、1、アスペルクシュトラーセ、 35 (72)発明者 ハンス・ヨット・ビュッシェルベルゲル ドイツ連邦共和国、デー−7815 キルヒツ アルテン、タラダヌンベーク、95

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転速度を測定するためのファイバオプ
    ティックサニャック干渉計であって、 − 光源(L)に源を発しかつ偏光子(P)によって偏
    光され、ビーム分割(ST2)によって発生される2つ
    の光ビームが、ファイバコイル(FS)の中に反対方向
    に注入されかつその後再結合されて、 − 偏光子(P)を通過した後生み出された干渉イメー
    ジは検出器装置(PD)を作動し、その出力信号(V
    D)は干渉イメージの光強度に対応し、 − 2つの光ビームはファイバコイル(FS)に位置付
    けられた位相変調器(PM)によって変調され、さら
    に、 − 増幅された光検出器出力信号(VD′)は同期復調
    器(SYNCD)に供給される干渉計であって、 − 位相変調器(PM)を作動する変調信号(VC′)
    は2つの成分の合計から形成され、その内第1の成分は
    交互に連続する値0とπ/2とから形成されかつ第2の
    成分は大部分相関関係のない連続する値0とπとから形
    成され、 − 同期復調器(SYNCD)は4つの因子の推移時間
    修正された積(d′)によって駆動され、 −− 第1の因子は一定して値−1を有し、 −− 第2の因子はもし第2の成分が値0を有すれば−
    1であるが、もし第2の成分が値πを有すれば+1であ
    り、 −− 第3の因子はもしすぐ前の変調サイクルの第2の
    成分が値0を有していたら−1であるが、もしすぐ前の
    変調サイクルの第2の成分が値πを有していたら+1で
    あり、さらに −− 第4の因子はもし第1の成分が値0を有すれば−
    1であるが、もし第1の成分が値π/2を有すれば+1
    であり、さらに − 4つの因子の積(d)は時間推移補償(D0 )によ
    って修正され、この補償はファイバコイル(FS)を通
    る光ビームの各1つの光の推移時間(t0 )と第2の信
    号成分を得て、第1および第2の信号成分を結合して位
    相変調器(PM)のための駆動信号と駆動信号(VC)
    のデジタル/アナログ変換とを形成するための合計のた
    めの処理時間とに対応することを特徴とする、ファイバ
    オプティックサニャック干渉計。
JP4023816A 1991-02-11 1992-02-10 回転速度を測定するためのファイバオプティックサニャック干渉計 Expired - Lifetime JPH0749964B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0688834A true JPH0688834A (ja) 1994-03-29
JPH0749964B2 JPH0749964B2 (ja) 1995-05-31

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JP4023816A Expired - Lifetime JPH0749964B2 (ja) 1991-02-11 1992-02-10 回転速度を測定するためのファイバオプティックサニャック干渉計

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US (1) US5214488A (ja)
EP (1) EP0498902B1 (ja)
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