JP4034847B2 - 過変調を採用している光ファイバ・ジャイロスコープにおけるクロスカップリングを抑制するための方法および装置 - Google Patents
過変調を採用している光ファイバ・ジャイロスコープにおけるクロスカップリングを抑制するための方法および装置 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ファイバ・ジャイロスコープに関する。より詳細には、本発明はステップ過変調を採用している光ファイバ・ジャイロスコープにおける電子的クロスカップリングによるバイアスの問題を解決するための装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術、及び、発明が解決しようとする課題】
サナック(Sagnac)干渉計は一対の反対方向に伝播している光ビームの間に生成されるノンレシプロカル(nonreciprocal)な位相差の測定によって回転を求めるための計測器である。それは一般にレーザなどの光源、いくつかのミラーまたは複数の巻き数の光ファイバから構成されている光導波管、ビームスプリッタ‐コンバイナー(beamsplitter‐combiner)、検出器および信号プロセッサを含んでいる。
【0003】
干渉計において、ビームスプリッタから入ってくる波は単独の光径路に沿って反対方向に伝播する。その導波管は「レシプロカル(reciprocal)」である。すなわち、光径路のどかに歪みがあると、それは反対方向に伝播しているビームに同様に影響する。ただし、その反対方向に伝播しているビームは必ずしも同じ時刻において、あるいは同じ方向において、そのような摂動(perturbation)を経験するわけではない。時間間隔が光導波管の回りの光の伝播時間に等しい場合に、時間的に変化する摂動が観測される可能性があるが、一方、「ノンレシプロカル」な摂動は反対方向に伝播しているビームに異なった影響を与え、その伝播の方向に従う影響を与える。そのようなノンレシプロカルな摂動は2つのビームが伝播する光媒体の対称性を乱す物理的効果によって生じる。
【0004】
2種類のノンレシプロカル効果は周知である。ファラデー効果、すなわち、共線的光磁気効果は、磁場が光材料の中の電子の優先的なスピンのオリエンテーションを生成する時に発生し、一方、サナック効果、すなわち、慣性的な相対論的効果は慣性的なフレームに対する干渉計の回転が伝播時間の対称性を破る時に発生する。後者の効果はリング・ジャイロスコープの動作原理として採用されている。
【0005】
ジャイロスコープの測定された、すなわち、検出された出力はジャイロスコープ・ループの完全な1回の旋回の後に「組み合わせられた」ビーム(すなわち、2つの反対方向に伝播しているビームから形成されるコンポジット・ビーム)である。敏感な軸に対する回転速度は反対方向に伝播しているビームの間に発生する位相シフトに比例している。従って、正確な位相シフトの測定が不可欠である。
【0006】
図1は光ファイバのコイルからの検出されたビーム出力の強度(またはパワー、電界の2乗の関数)と、ループを1回完全に通過してきた後の2つの反対方向に伝播しているビームの間に存在する位相差との間の周知の関係のグラフである。この図はビーム間の位相差、△φの余弦値に比例している強度を示している。そのような位相差は、例えば、回転によるノンレシプロカルな摂動の測度を提供する。DCレベルが図1に示されている。そのようなDCレベルは強度レベルの半分(平均値)に対応している。
【0007】
小さな位相差、あるいは小さな位相差±nπ(但し、nは整数)が検出された時(比較的遅い回転速度に対応して)、その出力ビームの強度は、その測定された位相差が出力の干渉縞の最大または最小の領域内に入ることになるので、位相の偏差または誤差に比較的感じ難くなることは干渉縞の形状の結果として周知である。この現象はφ=0、+π、−π、+2πおよび−2πラジアンのそれぞれの領域における位相シフトに対応している干渉縞の10、12、12´、14および14´に示されている。さらに、単なる強度は回転速度のセンス、すなわち、方向の指示を提供しない。
【0008】
前記の理由のために、ゆっくりと生成された位相バイアスが反対方向に伝播している各ビームの上に共通に重畳され、ビーム・ペアがセンサ・コイルの中を通過する際に周期的に1つのビームを遅らせ、他のビームを進ませる。「ノンレシプロカル・ヌルシフト(null‐shift)」としても知られている、位相シフトのバイアシングは、回転の存在を示している位相偏位εに対するより大きな感度によって特徴付けられる領域へ動作点をシフトすることによって、位相差に対する強度測定の感度を高める。この方法で、光検出器において観測される光の強度における変動、△I(またはパワーΔP)は与えられたノンレシプロカルな位相摂動εに対して高められる。
【0009】
与えられた位相摂動εの存在のために強度効果を高めることによって、それに対応している位相摂動に対する光検出器の出力感度における増加が得られる。これらはさらに、出力の電子回路の簡単化および精度の改善につながる可能性がある。そのような出力の電子回路は電子光変調器(複数機能の集積された光チップ、すなわち、「MIOC:multifunction integratedoptical chip」であることが多いが、ループの通過時間τの間にサイクルされる動作点の強度値を比較するための差動回路を含んでいるのが普通である。現在、光ファイバ・ジャイロスコープは2τの周期で±π/2の間でサイクルされる矩形波などの周期的な変調波形によって共通にバイアスされる。但し、τはファイバ・コイルを通って光が通過する時間である。
【0010】
図1に戻って、従来の矩形波変調は動作点16と16´との間の出力強度曲線のサイクリングに対応する。16および16´の各点(±π/2の矩形波変調)は強度の干渉縞の屈折点にある。そこでは位相差Δφの小さなノンレシプロカル摂動εによって光強度(パワー)出力において最大の、そして本質的に線形の検出可能な変化ΔI(ΔP)が結果として得られる。また、2つの異なる動作点間に印加されたバイアスを交互に変えることによって、システムはεの符号を求めることができ、従って回転の方向を求めることができる。(また、同じ結果が±3π/2の変調によって得られる。これは図1の曲線の点18および18´によって示されている。)
【0011】
位相変調に加えて、「位相ヌリング」が干渉計の出力に普通適用される。これによってノンレシプロカル(サナック)効果による位相シフトを補正するためのネガティブ・フィードバック機構を通じて追加の位相シフトが導入される。測定された位相差に傾斜が比例している位相ランプ(アナログまたはディジタル)がこの目的のために普通生成される。普通、0〜2πラジアンの範囲をカバーするランプが、ヌリングの位相シフトを提供する。というのは、その必要なシフトは電圧の制限のために無限には増加させることができないからである。2πの「リセット」は以前に説明された余弦関数の結果としてモジュロ2πのベースで動作するジャイロ干渉計にはトランスペアレントである。
【0012】
慣性系の主要な使用法の1つは、乗り物のヘッディングを決定することである。そのような決定はジャイロを含めたシステムのセンサの品質によって変わり、ジャイロの出力におけるノイズの量および種類によって影響される。特に、慣性の角速度を正確に測定するためのジャイロスコープの機能が正しいヘッディングの決定に対するキーである。
【0013】
先進技術のジャイロ(例えば、レーザおよび光ファイバ・タイプの)出力のノイズ特性は統計的な「角度のランダム・ウォーク(random walk)」特性を含んでいる。角度のランダム・ウォークは角速度のホワイト・ノイズ(すなわち、そのパワー・スペクトル密度(PSD)が「フラット」、すなわち、周波数に無関係であるノイズ)によって生じる。ホワイト・ノイズによって汚染されている変数の各観測値(例えば、光ファイバ・ジャイロの角速度出力など)は統計的に他のすべての変数から独立している。そのような多くのサンプルの平均値は真の値に徐々に収れんする。平均の測定値における不確定性は平均化の時間の平方根に逆比例する。従って、角速度の測定値の不確定性は次の式によって与えられる。
【数1】
【0014】
通常、慣性系の慣性のヘッディングの精度は地球の回転速度が測定できる精度によって変わる。ヘッディングの不確定性は上記の角速度の測定値の不確定性に比例している。平均化の時間は、通常、短い(普通は4分)ので、ランダム・ウォーク係数を小さく保つことが重要である。さらに、ヘッディングが獲得された時、積分された姿勢の角度におけるドリフトによって慣性系の性能が劣化する。上記のような角度のランダム・ウォーク・プロセスによって、時間の平方根の関数として統計的に成長する角度誤差が生じる。従って、次の式が成立する。
【数2】
ここでもランダム・ウォーク係数の小さいことが不可欠である。
【0015】
図2は光ファイバ・ジャイロスコープにおけるランダム・ウォーク(曲線20)と光源のピーク・パワーとの間に存在する関係を示している。光ファイバジャイロの出力におけるホワイト・ノイズの原因はいくつかあり得る。電子ノイズ(暗電流およびジョンソン・ノイズまたはサーマル・ノイズの両方)、ショット・ノイズ、およびビート、あるいは同義語的な関連の強度ノイズがすべて貢献する可能性がある。ジャイロのランダム・ウォークに対する電子ノイズの貢献はピーク・パワーに逆比例する。ジャイロのランダム・ウォークに対するショット・ノイズの貢献はピーク・パワーの平方根に逆比例する。また、その図の中に示されているように、ビート・ノイズ(曲線22)の貢献はピーク・パワーとは無関係であり、従って、パワーの増加によってジャイロのランダム・ウォークが減らされ得る範囲が限定される。対照的に、所定の範囲内でピーク・パワーが増加することによって、電子的ノイズ(曲線24)およびショット・ノイズ(曲線26)の貢献は減少する。そのような範囲を超えてパワーが増加しても、ランダム・ウォークの性能は良くならない。
【0016】
ビート・ノイズの相対的な重要性は光源のパワーと共に増加する。超高輝度(Superluminescent)ダイオードは約0.5ミリワットのピーク・パワーを提供し、一方、稀土類がドープされた光源の定格は普通は10ミリワット近辺にある。図2を参照すると、ランダム・ウォークに対するビート・ノイズの貢献はショット・ノイズの貢献に比べて小さく、さらにそれは超高輝度ダイオードなどの低電力源が採用される時には電子的ノイズの貢献に比べて小さい。光源のパワーが増加するにつれて、ビート・ノイズの貢献がジャイロスコープのノイズ性能を実質的に支配する。
【0017】
ジョージ A.パブラスの「光ファイバ・ジャイロスコープにおけるランダム・ウォークを減らすための方法」と題する米国特許出願第08/283,063号は上記の問題に対処する。そのような出願(本明細書の譲受人が権利を所有する)はジャイロ・センサ・コイルの内部で反対方向に伝播するビームの統計的過変調バイアスに依存する方法を開示している。例えば、図1のジャイロの出力曲線を従来の±π/2の動作点16と16´との間ではなく、点28と28´との間(または、±3π/2の動作点18と18´との間)にバイアスすることによって、ランダム・ウォークに対するビート・ノイズ(および、同時に相対強度ノイズ)の貢献は光源のパワーが増加すると共に減少することが示されている。ランダム・ウォークの減少に及ぼすこのノイズ源の以前の制限効果をなくすことによって、ハイパワー光源の有用性が高められる。
【0018】
単独軸および複数軸のジャイロスコープの構成の両方がシステム・クロストークから生じるバイアス誤差の対象となっている。例えば、ディジタル−アナログ変換器の出力からの信号およびジャイロの制御ループのドライバー増幅器からの信号が同期復調器の入力に結合する可能性がある。さらに、3軸の構成において、そのようなクロスカップリングは1つの軸を測定中のジャイロスコープのディジタル−アナログ変換器およびドライバー増幅器と、他の軸の測定に対するジャイロの同期復調器との間に発生する可能性がある。さらに、3軸構成が単独の検出器で動作するようになっている場合、そのコンポジット出力は他の軸の出力との間のクロストークの対象となり得る。
【0019】
クロストークは従来の(最大感度の)または過変調タイプのいずれかのステップ型の変調の存在における特定の問題を表す。矩形波などのステップ型の変調波形を採用すると、その結果の復調関数は変調関数のコピーとなる。これは、電気的な漏れまたはクロスカップリングが位相変調器をドライブするための信号と復調器に対する入力との間に発生する時にネット・バイアスの値に対してジャイロの出力を服従させる。
【0020】
スパーリンガーは「補正不要の変調器の制御によるディジタル位相ランプ・リセット付きの光ファイバ・サナック干渉計(Fiber Optic Sagnac Interferometer With Digital PhaseRamp Resetting via Correction‐Free Demodulator Control)」と題する米国特許第5,123,741号の中でクロストークの問題に対する解決策を提供している。それはランダムまたは補正不要のコンポーネント・シーケンスを組み込んでいるジャイロの位相変調器をドライブするための波形の設計に依存している。クロストークの問題に対処しているが、この特許の方法は従来の最大感度、すなわち、±π/2、±3π/2の変調に依存しており、従って過変調の技法によって提供される利点を達成することができない。
【0021】
本明細書の譲受人の別の特許、すなわち、「直交シーケンスを利用している光ファイバ・ジャイロスコープ(Fiber Optic Gyroscope Utilizing Orthogonal Sequences)」と題するマーク他の米国特許第5,189,488号は光ファイバ・ジャイロスコープにおける電子的クロストークを抑制するために関連付けられた一次および二次の復調シーケンスの特性に関して決定論的な変調シーケンスの選択を示している。その中で示されている技法も従来の変調方式に限定されている。上記の各技法は従来の変調波形(すなわち、±π/2、±3π/2の変調に限定されている)の使用を前提としており、それを仮定している。いずれも過変調のコンテキストにおけるクロストークの問題に対処はしていない。従って、これらの技法は本質的に制限されたランダム・ウォーク削減機能のシステムに関するものである。
【0022】
【課題を解決するための手段】
本発明は、第1の態様において、サナック干渉計による回転速度の測定のための方法を提供することによって、従来の技術の前記および他の欠点に対処する。その干渉計は1つの光源と、前記光源からの出力から一対の光ビームを生成するためのカプラーとを含み、前記ビームをセンサ・コイルの反対の端に導いてその中を反対方向に伝播させ、前記コイルの中を通過させた後、前記ビームを再び組み合わせて出力信号を提供するタイプの干渉計である。反対方向に伝播するビームに一連の人工的な光位相シフトを加えるための変調器が設けられ、そしてその出力信号から回転速度の情報を抽出するための復調器が提供される。
【0023】
本発明の方法は反対方向に伝播している光ビームに一連の人工的な位相シフトを加えるために変調器をドライブすることに関する。各位相シフトの持続時間はセンサ・コイルの通過時間に等しい。人工的な位相シフトのシーケンスは±aπ/2bおよび±(4b−a)π/2b(但し、aは奇数の整数であり、bは1より大きい整数であり、aとbは等しくない)の位相シフトの中から選択される。
【0024】
第2の態様においては、本発明はサナック干渉計の位相変調器をドライブするための波形を生成するための方法を提供する。そのような方法は値のモジュロ2πのマッピングをドライブするステップを含んでいる。それは(i)Sセグメントへのモジュロ2πのバッピングをドライブするステップ、Sは次の式による自然数である。
S×θ=2πN (但し、θは|aπ/2b|でありNは整数である)
(ii)前記各セグメントに対して変調器をドライブするための1つの値を割り当て、第1の角度方向における隣接するマッピング・セグメント間の各遷移がaπ/2bまたは−(4b−a)π/2bに対応し、反対方向の角度方向における隣接するマッピング・セグメント間の各遷移が−aπ/2bまたは(4b−a)π/2bに対応するようにする(上記第1の態様と同様に、aが奇数の整数であり、bが1より大きい整数であり、aとbは等しくない)。
【0025】
次にそのマッピングは第1の方向におけるすべてのセグメントの中および反対方向のすべてのセグメントの中の所定のシーケンスに従って旋回され、ステップ型の波形を生成する。
【0026】
その後、そのステップ型の波形に対応する一次および二次の復調シーケンスが生成される。その一次および二次の復調シーケンスは、基準が満足されるように復調シーケンスが生成されるまで所定の基準に従って比較される。最後に、その基準を満足する復調シーケンスに対応するステップ型の波形が選択される。
【0027】
第3の態様においては、本発明は、光のビームが光ファイバのコイルの中を反対方向に伝播し、それらの間に各ループ通過時間の間に印加される一連の人工的な位相シフトの手段によって変調されるようなタイプの回転速度を測定するための方法における改善を提供する。本発明によって提供される改善は、±aπ/2bおよび±(4b−a)π/2b(但し、aは奇数の整数であり、bは1より大きい整数であり、aとbは等しくない)の中から位相シフトを選択することを含む。
【0028】
本発明の第4の態様は、位相変調器を含んでいるタイプの少なくとも1つの軸の回りの回転速度を測定するためのサナック干渉計における1つの改善を提供する。その位相変調器は少なくとも1つのセンサ・コイルの中を反対方向に伝播している一対の光ビームに対して、そのセンサ・コイルの通過時間に等しい持続時間の一連の光位相シフトを印加する。少なくとも1つのビーム・ペアにおいて、組み合わせるためおよび復調するための手段が提供され、少なくとも1つの軸に関する回転速度が求められる。
【0029】
本発明によると、前記のタイプのサナック干渉計に対する改善は、±aπ/2bおよび±(4b−a)にb(但し、aは奇数の整数であり、bは1より大きい整数であり、aとbは等しくない)の人工的な位相シフトのシーケンスを印加するためにステップ型の波形をドライブするための、位相変調器に対するビート・シーケンスを提供するためのゼネレータを含む。
【0030】
第5の態様においては、本発明は光ファイバ・ジャイロスコープの位相変調器をドライブするための、ステップ型の波形を生成するためのモジュロ2πのマッピングを提供する。±aπ/2bおよび±(4b−a)/2b(但し、aは奇数の整数であり、bは1より大きい整数であり、aとbは等しくない)の位相シフトが、そのジャイロのセンサ・コイルの内部を反対方向に伝播しているビームに印加される。そのマッピングはS個のセグメントに分割された閉じた円を含んでいる。各セグメントはステップ型の波形の1つの値に関連付けられている。SはS×θ=2πN(但し、θは|aπ/2b|であり、Nは整数である)となるような自然数である。値はマッピングのセグメントに対して割り当てられ、第1の角度方向における隣接セグメント間の各遷移がaπ/2bまたは−(4b−1)π/2bのステップに等しく、そして反対の角度方向における隣接セグメント間の各遷移が−aπ/2bまたは(4b−a)π/2bのステップに等しいように割り当てられる。
【0031】
本発明の前記および他の特徴および利点は以下の詳細記述からさらに明らかとなる。説明には一組の図面が付随している。記載されているテキストの番号に対応している図面の番号は本発明の特徴を指している。記載された説明と図面の両方全体を通じて同じ番号は同じ機能を指している。
【0032】
【発明の実施の形態】
本発明はステップ型の変調シーケンスを採用している光ファイバ・ジャイロにおけるクロストークの問題に向けられている。そのようなシーケンスは最大の検出感度(±π/2、±3π/2)が採用されている時に観測される「フロアー(floor)」を超えるジャイロの出力のランダム・ウォークの内容を減らす結果となる範囲において有益である。本発明においては、ステップ型の過変調波形のランダムおよび決定論的な波形の両方が、クロストークの消去または実質的な削減による過変調の利点をジャイロの出力において提供するジャイロの、光電子的位相変調器に対して印加するために選定される。本発明による過変調波形は結果の復調シーケンスから実質的に相関がなくなっている。これによって、ジャイロが変調信号の漏れによるバイアスの影響を受けないようになる。
【0033】
本発明は候補のステップ型の過変調波形を生成するために所定の、あるいはランダムなパターンに従って旋回させられるマッピングを生成するための方法を提供する。次に、その旋回のパターンが、下記のデコリレーション(decorrelation)に対する必要な条件が満足されることを確保するためにチェックされる。その後、変調波形の性質(すなわち、決定論的か、あるいはランダムか)によって十分条件が調べられる。
【0034】
この図はランダム、疑似ランダムまたは決定論的な方法のいずれかに変換することができる。変調シーケンスがランダムまたは疑似ランダムである場合、米国特許第5,123,741号によって示されているように、出力の誤差が時間によって打ち消される。他方、ほどよいタイム・フレーム内で出力の誤差の打消しを得る決定論的過変調シーケンスだけが採用される。「候補の」決定論的過変調シーケンスは米国特許第5,189,488号に示されているような直交性の性質に対する「スクリーン型」がある。従って、本発明は、(1)ランダム・ウォークの削減(2)避けられないシステム・クロストークの影響に対する感度の低下によって特徴付けられるジャイロの出力を発生する、ジャイロのセンサ・コイルの内部で反対方向に伝播している光ビーム間の位相差を人工的にバイアスするための変調シーケンスを示す。
【0035】
<I.過変調シーケンスの生成>
図3は本発明に従ってサナック干渉計の位相変調器をドライブするための波形を生成するための、モジュロ2πのマッピングである。図3に従ってマッピングを採用することおよび以下に説明される必要条件を満足することによって、過変調の領域において人工的な位相シフトを課するためのランダムおよび決定論的なソースの波形を容易に導くことができる。そのような変調はランダム・ウォーク特性が改善された干渉計出力信号を提供することが知られている。さらに、十分条件も満足する決定論的波形だけを採用することによって、ジャイロ・システムの寄生クロストークの重要な問題に同時に対処することができる。
【0036】
図3を参照すると、±3π/4および±5π/4の人工的な位相シフトのシーケンスを導入するためのマッピングが配置されている。各ディスクリート位相シフトはその持続時間が単独ループの転送時間τに等しい。図3の図を図1のジャイロの出力の図と相互参照することによって、生成されるべき過変調シーケンスはジャイロの出力曲線の30、30´および32、32´に示されている点の間の「スイッチング」に関与する。
【0037】
図3のマッピングは8個のセグメントに分割される閉じた円を含んでいる。図3のマッピングはセンサ・コイル内の反対方向に伝播している光ビーム間に、±3π/4および±5π/4の光学的位相シフトを課するための、位相変調器をドライブするためのステップ型の波形を生成するように配置されている。このステップ型の過変調波形を生成するためのディスクリートな値は各セグメントの内部にマークされている。従って、図3のマッピングは次のように配置される。1つのセグメントから隣のセグメントへのマッピングに関する反時計回り(方向「A」)の各遷移が+3π/4または−5π/4の数値的な差に影響し、一方時計回り(方向「B」)の各遷移は−3π/4または+5π/4のいずれかの数値差に影響する。物理的には、隣接セグメント間の差、またはステップはステップ型の過変調波形の値における変化によって加えられる。各遷移は完全な1回の通過時間τの後に発生する。
【0038】
マッピングのセグメントを反時計回り、すなわち、方向Aに旋回させることによって、0、3π/4、3π/2、π/4、π、7π/4、π/2、および5π/4の過変調波形の値が順次生成され、最終の状態は最初へ折り返し、すなわち、第1への遷移を行なう。「R」とマークされている太線は±5π/4の遷移におけるマッピングの中央から放射状に延びており、それは変調波形のモジュロ2πのロールオーバに対応している。
【0039】
光学的位相シフトを発生させるステップ型の波形を生成するための図3の代表的なマッピングを採用するに先立って、図3のマッピングは±3π/4および±5π/4の電圧ステップには制限されていないドライブ波形を含めるために一般化することができることに注意すべきである。同様なマッピングの手段によってステップ型の過変調波形を生成することは次の関係から導かれる。
S×θ=2πN (1)
【0040】
前の式においてθはラジアン単位での過変調の領域における位相シフトのサイズを表し、Nは整数であり、Sは過変調波形を生成するために必要なマッピングのセグメント数の最小値を表す。式1に対する解を与える位相シフトだけがマッピングの生成に適しており、従って適切な過変調波形の導出に適している。候補の位相シフト、すなわち、±aπ/2bが調べられ、そして上記の式に対する解を生じることが分かると、その結果の変調波形は±aπ/2bの位相シフトおよび±(4b−a)π/2bの位相シフトのロールオーバ値を含むことになる。任意の式1に与えられた解に対する位相シフトの絶対値およびロールオーバの値の和は2πである。以下の表Iは上記の式1に基づいた位相差の値に対するマッピングの設計を要約している。
【表1】
【0041】
<II.信号のデコリレーション:必要条件>
候補のステップ型の過変調波形は図3のマッピング(または、式1に従って導かれる同様なマッピング)から、それを時計回り(方向B)と反時計回り(方向A)の回転の組合せの中で旋回させることによって得られる。各回転は1つのマッピング・セグメントから隣接する1つのセグメントへの遷移に関与する。前に指摘したように、セグメントからセグメントへの各遷移(すなわち、変調電圧値から隣接する電圧値への遷移)は過変調位相シフトまたはロールオーバ位相シフトのいずれかに等しい値の変化を表す。
【0042】
過変調シーケンスのタイプ、すなわち、ランダム、疑似ランダムまたは決定論的の各タイプは、反時計回りの回転が時計回りの回転とミックスされる方法を決定する。例えば、乱数発生器を利用し、そして生成された各偶数の番号に時計回りの回転を関係付け、生成された各奇数番号に時計回りの回転を関係付ける決定規則を採用することができる。対照的に、関連のマッピングに関する時計回りおよび反時計回りの回転の決定論的なシーケンスはあらかじめ定められている。
【0043】
上記のように生成される過変調波形を定義しているシーケンスは、ジャイロの復調器からデコリレーションを実行できる候補としてクオリファイ(qualify)するために、そしてクロストークのクリアのために2つの条件を満足しなければならない。第1の必要条件として、十分に長い期間(すなわち、1秒程度)にわたって時計回りの遷移の数は反時計回りの数に等しくなければならない。第2の条件として、図3の中の図のすべてのセクターは時計回りおよび反時計回りの両方において少なくとも一度旋回されなければならない。さらに望ましい1つの条件として、各セクターは程よい時間間隔(すなわち、1秒程度の)にわたって各方向における等しい数の時間、各セクターは旋回される必要がある。
【0044】
図4(a)および図4(b)はサナック干渉計の位相変調器をドライブするための図3のマッピングに従って得られる波形、および人工的光学位相シフトが印加された結果のシーケンスをそれぞれ示している。図4(a)の波形は過変調の領域内の位相変調器をドライブするためのステップ型の波形を含んでいる。それは光ファイバ・ジャイロの中の復調からの変調のデコリレーション、および変調の変化の速度)に対する2つの必要な条件を満足している一連の±3π/4、±5π/4の電圧ステップを含んでいる。その波形の性質は決定論的であり、先ず最初に反時計回り(方向A)、そして次の時計回り(方向B)の1全回転を通じて図3のマッピングを掃引することによって形成される。図4(b)はジャイロのセンサ・コイルの内部で反対方向に伝播している光ビームに課される結果の人工的な光学的位相シフトの図である。採用されている決定論的な方式はかなり単純であるが、図4(a)および図4(b)は図3によるマッピングに関しての回転の他の任意の方式に対して、または異なるサイズの光学的位相シフトに基づく等価のマッピングに関する回転の他の任意の方式に対して適用可能である。
【0045】
これから分かるように、印加される一連の人工的な位相シフト(図4(b))は3π/4と−3π/4の5回の位相シフト、および5π/4と−5π/4の3回の位相シフトから構成されている。ステップ型の波形を生成するための本発明の方法は、位相変調のスケール・ファクタの誤差の自動観察も提供する。このプロセスまたは結果は図5の中で観察することができる。この図はスケール・ファクタの誤差のためにそれぞれ34、34′、36、36′から34″、34′′′、36″および36′′′へそれぞれシフトされた、±3π/4および±5π/4の動作点を持つジャイロの出力の図である(すなわち、位相シフトが過大に印加されたもの)。
【0046】
図5に示されているように、±3π/4と±5π/4の点の間のスプリット38はスケール・ファクタの誤差によって生じている。この図は過大な位相シフトが印加された場合の結果を示している。使われる位相シフトが小さ過ぎた場合(スケール・ファクタが低過ぎた場合)、このシフトによって方向が逆転される。シフト38を観測することによって、制御のアルゴリズムを使ってスケール・ファクタを適切な値に調整すること(すなわち、ゼロ・スプリット)に調整することができる。さらに、スケール・ファクタに誤差がある場合、図4に示されているような3回の5π/4の遷移ごとに5回の3π/4の遷移がある場合において、ジャイロの出力において観測される正味の誤差は0であること、すなわち、−5×(3π/4)+3×(5π/4)−3×(5π/4)+5×(3π/4)=0であることに注意されたい。従って、3π/4および5π/4の遷移の5:3での正しい重み付けが不可欠な条件である。もっと一般的には、±aπ/2bおよび±(4b−a)π/2bの遷移が(4b−a):aの比で重み付けられなければならない。
【0047】
<III.復調:ランダム(疑似ランダム)シーケンス>
本発明に従って生成されたランダムまたは疑似ランダムのシーケンスに対して2つの必要な条件が満足されると、時間についての変調信号の、そして変調信号の変化の速度のデコリレーション(誘起された光学的位相シフトに等しい)が復調シーケンスに関してその後に続く。従って、スケール・ファクタの誤差の自己相関に加えて、ステップ型の過変調組成のランダムおよび疑似ランダム的に生成された信号がクロストークの存在によって実質的に影響を受けないジャイロの出力信号を作り出す。
【0048】
米国特許第5,123,741号はランダムに生成された変調信号から得られた信号を寄生信号とは統計的に独立である復調信号として使うことを示している。その発明の中にあるように、ランダムまたは疑似ランダムのステップ型の過変調波形の生成はジャイロの出力信号からのクロストークの修正を実質的になくす。ランダム・シーケンスは結果としてジャイロの出力信号からクロストークの影響をなくす。一方、所定の長さのランダムに生成されたシーケンスの繰返しを含んでいる疑似ランダムの波形は、実質的にジャイロの出力からクロストークの影響を消去するが、理論的には全面的に消去するわけではない。
【0049】
<IV.復調:直交シーケンス>
本発明において、変調波形および変調波形の変化の速度は直交性を使うことによって復調シーケンスから相関が解除される。2つのシーケンスAi、Biはn個の時間間隔にわたるAiBiの和がゼロに等しい場合に、「n」の期間にわたって直交していると言われる。そのようなシーケンスは決定論的である。ランダムまたは疑似ランダムのシーケンスと違って、直交的であるように設計されたシーケンスのペアは予測可能な数の期間内において確実にゼロの平均値を持つ。対照的にランダムな性質を持つシーケンスは予測不可能な長さの相関付けられたサブシーケンスを含む可能性がある。直交シーケンスのこの特徴によって、光コイルの有限個数の変調された通過のデータ表現を解析することができる。
【0050】
位相変調の問題に対する応用に対してすべての波形が有用であるわけではなく、反対方向に伝播しているビームに人工的な位相差を印加する適切な波形を選定するために発明者は直交の復調シーケンスに部分的に基づいた一連の選択基準を導いた。
【0051】
本発明においては、決定論的な過変調シーケンスの選択のための十分条件として直交性の基準が採用される。そのような基準を上記の図4(a)の代表的なステップ型の波形に関連付け、そしてそれが導かれた図3のマッピングを参照して、直交性に対する決定論的な過変調電圧の評価は次のようになる。一次復調シーケンスは波形の生成時に取られる図3のマッピングに関するセグメント間の遷移の方向(方向Aは反時計回り、そして方向Bは時計回り)に従って+1または−1の値を割り当てることによって、図4(a)の中に示されているタイプのステップ型の波形から導かれる。任意に、採用された決まりはセグメントから隣のセグメントへの反時計回りの遷移に対して+1を割り当て、時計回りの遷移に対して−1を割り当てる。
【0052】
以前に述べられたように、図4(a)の波形は先ず最初に「ゼロ」電圧セグメントから8個の反時計回りのステップを採取し、その次に別の8個の連続した時計回りの遷移を続けることによって図3のマッピングから生成される。前に説明したように、この決定論的な方式は本発明に従ってドライブ波形を生成するための2つの必要条件を満足する。前記から続く一次復調シーケンスは[+1、+1、+1、+1、+1、+1、+1、+1、−1、−1、−1、−1、−1、−1、−1、−1]である。二次復調シーケンスもやはり図3のマッピングから導くことができる図4(a)のステップ型の電圧波形から続く。また、そのような二次復調シーケンスも図3のマッピングから導かれる一連の+1および−1の値を含んでいる。
【0053】
二次の、すなわち、スケール・ファクタの復調シーケンスはステップ型の波形の生成時にRとマークされている太いロールオーバ軸が横切られた各瞬間に対して+1の値を割り当て、他のすべての回転の遷移に対して−1を割り当てることによって決定される。ふたたび図4(a)の代表的な決定論的波形に戻って、関連付けられた二次シーケンスは[−1、−1、+1、−1、−1、+1、−1、+1、+1、−1、+1、−1、−1、+1、−1、−1]である。関連付けられている一次および二次の復調シーケンスが直交しなければならないことを規定している、サナック干渉計に対する変調シーケンスを選択するための決定基準を評価することによって、先行している復調シーケンスを要素ごとのベースで乗算し、その後、結果の和を取らなければならない。乗算によって−1、−1、+1、−1、−1、+1、−1、+1、−1、+1、−1、+1、+1、−1、+1、+1が得られ、その和は0である。従って、図4(a)のステップ型の電圧波形は本発明に従って決定論的な過変調波形に対する必要条件を満足するだけではなく、関連付けられた一次および二次の復調シーケンスの、その直交性の十分条件をも満足する。
【0054】
上記のようにして導かれた候補のステップ型の波形がジャイロの出力の品質に関連しているいくつかの基準に関して調べられる。実際に、位相シフトの数多くの候補シーケンスがコンピュータに入力される可能性がある。以前に述べたように、いくつかの規則(すなわち、十分条件)は結果のディジタル復調シーケンスには関連付けられず、一方、他の規則はそのようなシーケンスにだけ向いている。本発明による変調シーケンスの検査は両方のタイプの基準に関して、そして任意の順序で発生することができる。
【0055】
先ず最初に復調を参照して、ステップ型の各波形が上記のように一次および二次の復調シーケンスに変換される。次に、その一次および二次の復調シーケンスのペアが要素ごとのベースで乗算されて直交性が決定される。直交の一次および二次の復調ペアを発生しない波形は無視される。次に生き残った波形がさらに以下に説明されるように解析されて不適切な方法が消去される。
【0056】
選択の第2の規則として、ステップ型の波形の+aπ/2b (b≠1)と−(4b−a)π/2bの値の合計個数は−aπ/2bと+(4b−a)π/2bの値の合計個数に等しくなければならない。これは+aπ/2bにおけるジャイロ出力の干渉縞に対する接線の傾斜が−(4b−a)π/2bにおける接線の傾斜と同じであり、一方、−aπ/2bと+(4b−a)π/2bにおける接線の傾斜も等しいからである。ジャイロの干渉縞の微分値、すなわち、傾斜は速度誤差を示すので、一次、すなわち、速度の復調はその曲線の接線、すなわち、傾斜を調べる。復調された正の(または負の)および負の(または正の)傾斜における点の数の間の不等性によって強度信号におけるオフセットに対する感度が導かれ、誤った速度の指示値を生じる可能性がある。
【0057】
最後の品質的選択基準は±(4b−a)π/2bの電圧値に対する±aπ/2bの電圧値の数の比が(4b−a)/aに等しくならなければならないことである。この条件または規則が満足されなかった場合、スケール・ファクタの誤差の関数として見かけの平均強度レベルのシフトが発生する。さらに、検出器またはプリアンプにおけるオフセットの存在によって、スケール・ファクタの誤差の測定値が変動することになる。
【0058】
前に述べたように、候補のステップ型の波形の検査のための上記の基準の他に、いくつかの規則が暗黙の復調シーケンスに関連している。単独の軸および複数のジャイロ・システムの両方に適用されるそのような規則が以下に説明される。
【0059】
1.一次復調は二次復調シーケンスに対して直交していなければならない。既に述べたこの規則は速度誤差およびスケール・ファクタの誤差が互いに衝突しないことを確保するために必要である。すなわち、スケール・ファクタの誤差の存在は速度の誤差を意味せず、その逆も成立する。
【0060】
2.ステップ型の波形のディジタル表現および個々のビット、それぞれの積分値および微分値は一次および二次の復調シーケンスの両方に対して直交している必要がある。
【0061】
3.電圧波形のディジタル表示の変化および個々のビットの変化、それぞれの積分値および差分値は一次および二次の復調シーケンスの両方に対して直交していなければならない。
【0062】
4.単独検出器の構成の場合、どのジャイロの一次復調器も他の任意のジャイロの一次変調および他の任意のジャイロの二次変調に対して直交していなければならない。同様に、どのジャイロの二次復調も任意の他のジャイロの一次復調および二次復調に直交していなければならない。これは単独のジャイロのシステムに関して既に説明した数多くの条件に基づいて変調シーケンスの選択に関して説明された手順の拡張を表す。
【0063】
5.単独検出器の構成の場合、電圧波形のディジタル表現および任意のジャイロの個々のビットおよびそれぞれの積分および微分は、任意の他のジャイロの一次および二次の復調に対して直交していなければならず、波形の変化のディジタル表現および任意のジャイロの個々のビットの変化は、任意の他のジャイロの一次復調および二次復調に直交していなければならない。
【0064】
6.シーケンスの長さはループ・コントローラの十分なバンド幅を確保するために最小の長さ(32ジャイロ通過サイクル以下が好ましい)の長さであることが望ましい。というのは、そのようなバンド幅はシーケンスの長さに逆比例するからである。
【0065】
上記の規則のうち、第1の規則は単独軸のシステムに対して絶対的に必要であり、一方、第4の規則は単独の検出器を使っている複数軸のシステムに対して絶対的に必要である。さらに、規則1は複数の検出器を採用している複数軸のシステムに対して満足されなければならない。他の規則は、望ましい条件(クロストークによるバイアスを消去するような)を設定するが、それらは絶対に必要というものではない。
【0066】
<V.過変調を処理するためのジャイロの構成>
図6はジャイロの位相変調器をドライブするためにステップ型の波形を利用するように構成されている3軸の光ファイバ・サナック干渉計のブロック図である。図6の構成は単独の光源46および単独の検出器48を利用するシステムにおける光コイル40、42および44の出力を処理するのに適している。当業者であれば、図6の回路およびそれに関連したステップ型の過変調波形は本発明に従って容易に変更することができ、他の複数のジャイロ・システム(例えば、2または4軸)において対応する利点を提供することは容易に分かる。
【0067】
図6に戻ると、レーザー・ダイオードの光源46が、光源および光のプリアンプの両方として動作するように構成されている稀土類ドープのファイバ52をポンプするために、波長分割のマルチプレックス・ファイバ・カプラー50を経由してエネルギーを提供する。
【0068】
広帯域のファイバ源52によって放出される光が、図に示されているように、一次(50/50)カプラー56および一対の二次(50/50)カプラー58および60を含んでいるスプリッタ‐コンバイナー(combiner)ネットワーク54に対して印加される。スプリッター‐コンバイナーのネットワーク54は、入射光を4つの波に等しく分割するように働く。それらの4つの波のうちの3つは、3つの直交軸に関して回転速度を測定するために、3つの光コイル40、42および44へ配送される。光エネルギーの第4の部分は広帯域のファイバ・ソースのプリアンプ52の出力を安定化するための回路の一部を形成するモニター検出器62へ配送される。そのような回路は新しくもなく、本発明の不可欠の特徴とも考えられないので、図6には詳細は示されていない。
【0069】
複数機能の集積化された光チップ64、66および68が光コイル40、42および44にそれぞれ関連付けられている。そのようなチップの各々がLiNbO3またはLiTaO3などの電子光アクティブ材料のサブストレートを含んでいて、yジャンクションの導波管がその上にデポジットまたは拡散されており、さらに偏波器を含んでいて、スプリッタ‐コンバイナーのネットワーク54と光ファイバ・コイル40、42および44との間の両方のインターフェースとして機能し、コイルおよび位相変調器の内部の反対方向に伝播している2つのビームの中に入力の光エネルギーを分離する(そして後で組み合わせる)ように働き、反対方向に伝播しているビームのペアの間に人工的な位相差を適用する。後者に関して、64、66および68の各チップは、本発明に従って決定される過変調シーケンスを有効にするための位相変調機能を組み込んでいる。この機能はアナログ波形に対して応答する。そのような波形は以下に説明されるディジタル−アナログ変換器から受信される。
【0070】
40、42および44の各光コイルは上記のように他の2つのジャイロに対して印加された波形に関連して(しかし、それとは独立に)、部分的に選択される別の波形によって変調される。ディジタル−アナログ変換器70、72および74は所望の光位相シフトを誘起するために、チップ64、66および68へそれぞれアナログの電気信号を提供する。
【0071】
ジャイロ40、42および44の位相変調された光信号出力はスプリッタ/コンバイナーのネットワーク54を通って帰ってきて、カプラー58および56において逐次組み合わせられる。その組み合わされた信号は次に波長分割マルチプレックス・ファイバ・カプラー50を通って、光プリアンプとして入力の光信号に作用する広帯域ファイバ・ソース52へ転送される。次にこの組み合わされた信号は共通の光検出器48に印加され、その中でそれは光の強度に比例する電流または電圧に対応するように変換される。結果の電気信号は次にプリアンプ76へ印加され、そして次にアナログ−ディジタル変換器78へ印加され、3つのディジタル速度復調器80、82および84に対して同時に送信される増幅されてディジタイズされた信号を作り出す。
【0072】
ディジタル信号プロセッサ86は80、82および84の各速度復調器と通信し、ディジタル−アナログ変換器70、72および74へ向けて送るための出力を提供し、ジャイロのコイル40、42および44に関連付けられている変調器に対して変調波形を印加する。80、82および84の各速度復調器は、同じ組み合わされた出力信号を受け入れながら、データ径路88、90および92をそれぞれ通って信号プロセッサ86からユニークな一次または速度復調シーケンスを受信する。さらに、信号プロセッサ86はバス94、96および98を通じて各軸に対する復調された速度を受信する。各速度復調器の出力は直交軸の1つに対する速度誤差信号である。その復調された速度信号は次に信号プロセッサ86(または、並列の個々の信号プロセッサ)によって処理されてフィードバックのランプ信号を生成する。そのランプ信号はそのジャイロに対する復調器からの速度誤差信号をゼロにドライブするための特定のジャイロに対する変調シーケンスに対して追加される。
【0073】
変換器48によって提供されるディジタル信号は、位相変調器のスケール・ファクタ誤差の測定に関連付けられている二次復調器100、102および104へも提供される。100、102および104の各復調器はデータ径路106、108、110をそれぞれ通って信号プロセッサ56からユニークな二次、すなわち、スケール・ファクタの復調シーケンスをも受信する。さらに、信号プロセッサ56はバス112、114および116を通って各軸に対する復調されたスケール・ファクタ・データを受信する。各スケール・ファクタ復調器の出力は直交軸の1つに対するスケール・ファクタの誤差信号である。その復調されたスケール・ファクタ信号は次に信号プロセッサ86によって(または、並列の個々の信号プロセッサによって)処理されて残りのスケール・ファクタの誤差に対する補正値を生成する。そのような補正は多くの異なる方法の1つによって行なうことができる。
【0074】
例えば、変調およびリセット値以外に速度復調器80、82、および84の出力を使って生成されたディジタルのランプ信号を、位相変調器の感度誤差または変動に対して補正するスケール・ファクタで乗算することができる。また、D/A変換器70、72および74に対するディジタル入力がその位相変調器の感度に比例したアナログ電圧を生成するように、D/A変換器70、72、および74の基準電圧を調整することができる。図6は速度およびスケール・ファクタの復調を別々のブロックとして示しているが、信号処理プロセッサ86が十分なスループットを有している場合は、その信号プロセッサ86の内部で直接にこれらの機能を組み込むことができる。
【0075】
図7は信号プロセッサ86の構成のブロック図表現である。信号プロセッサ86は80、82および84の3つの各速度復調器に対してユニークな基準信号を提供し、その返りにそれらの復調器の出力の速度誤差信号を受け取る。次に、その速度誤差信号が本発明に従って操作され、次のループ通過時間の間に変調器64、66および68をドライブするためのフィードバックおよび変調信号が導かれる。
【0076】
図7を参照しての図解および説明は、その信号プロセッサの動作の詳細が単独軸に関してのみ示されている限りにおいて或る程度単純化されている。しかし、前記の説明から、関与する同様な処理によって他の軸に対しても次の説明が適用可能であることは理解される。3つの軸に関連している信号の処理の間の唯一の実質的な違いは、各軸に対して「割り当てられた」変調(そして、従って、復調)シーケンスの間の違いから導かれる。前の説明から明らかなように、決定論的に導かれたステップ型の過変調波形に基づいて復調シーケンスを選択するためのプロセスは、関連の選択規則を適用するにあたって複数軸のシステムの場合にすべての軸を考慮に入れる。すなわち、復調シーケンス(そして、従って、対応している変調シーケンス)は図6に示されているような単独の検出器18を利用している3軸のシステムに対して「グループとして」選定される。
【0077】
図7を参照すると、各種の信号プロセッサの機能が点線で囲まれたセクション86の内部に示されている。ディジタル−アナログ変換器70の出力によって変調され、そしてその出力が速度復調器84において復調されるジャイロの軸に注目して、そのような軸に対するユニークな一次復調シーケンスが、一次復調/変調ゼネレータ118(3つのゼネレータのうちの1つ)から受信されることが観測できる。そのようなシーケンスは決定論的、ランダムまたは疑似ランダムであり得る。上記のように、その一次復調/変調ゼネレータ118から受信されたシーケンスが、検出器48において受信されたコンポジットの出力信号から対応している軸に対する速度誤差信号を抽出するために速度復調器84に印加される。決定論的な過変調が採用されている場合、ゼネレータ118は+1および−1の値のあらかじめプログラムされたシーケンスを記憶するためのレジスタを含んでいる。ランダムの過変調が採用されている場合、ゼネレータ118は+1および−1のランダム・シーケンスを提供する乱数発生器を含んでいる。最後に、疑似ランダムの過変調の場合、ゼネレータ118は所定のビット長のレジスタと組み合わせられた乱数発生器を含んでいる。
【0078】
速度誤差信号はランプ・ゼネレータ120に対して印加され、そのジャイロの位相ランプに対応するディジタル・シーケンスを作り出す。
【0079】
ディジタル積分器122は先ず最初にディジタルの一次復調シーケンスをゼネレータ118から受信する。積分器122は図3に示されているようなマッピングに関して一次シーケンスによって記述されている遷移を実質的に「追跡」する。以前に説明されているように、その一次復調シーケンスによって表される遷移はディジタル復調シーケンスに対して加えられた人工的な位相シフトに関連している。変調はジャイロの位相変調器に対するドライブ信号を提供するために、ランプ・ゼネレータ120によって生成されたディジタル・ランプに対して追加される。しかし、利用できる限定されたドライブ電圧範囲を収容するために、その信号をロールオーバまたはリセットしてそれが2nπの範囲をカバーするようにする必要がある。
【0080】
ディジタル・コンパレータであってもよいが、バイナリ・フォーマットのディジタル・データの適切なスケーリングから直接の結果として得られてもよいロールオーバ・センサ124が、図3のマッピングの中に示されているようなロールオーバ遷移を検出するために使われる。ロールオーバ遷移がセンスされると、調べられている軸の二次復調シーケンスが、その軸に対する二次復調シーケンスを作り出すために上記のように対応してセーブされる。バッファ126がその二次復調シーケンスを受け付ける。次に、その二次復調が、A/D変換器78によって提供されるFOG出力信号のディジタル表現で動作する二次復調器104に対して印加される。二次復調器104は実際の位相変調のスケール・ファクタ(または感度)をマッチさせるために、正しい値にそのディジタル出力をスケールする乗算器128の手段によってそのスケール・ファクタ誤差を求め、それに対して補正する。
【0081】
乗算器128の出力はジャイロの位相変調器の感度に対して適切にスケールされて組み合わせられた変調およびランプ信号のディジタル表現を含んでいる。次に、乗算器128の出力は電子光変調器64をドライブするために選択された軸のディジタル−アナログ変換器70に対して印加される。
【0082】
光ファイバ・ジャイロの位相変調器をドライブするためのステップ型の波形の選択に関して本発明の内容を採用することによって、より低いランダム・ウォーク、実質的なバイアスなしの過変調の意味での利点を利用することができる。そのようなクロストークの効果は本発明に従って決定論的な、あるいはランダムな変調方式が採用される場合に消去され、一方、それらは意味のある期間の疑似ランダム過変調が採用された場合には無視できる程度になる。
【0083】
図8は最小のランダム・ウォーク性能を得るための本発明による単独軸のサナック光ファイバ干渉計の略図である。ファイバ・コイル130が図6に関して要素64、66、および68として以前に示されていたタイプの集積型の光チップ132に付加されている。yジャンクション142が集積された光チップ142に実装され、入ってくる光を時計回りおよび反時計回りの方向の伝播に分離している。yジャンクション142における再組合せの後、出力ビームは検出器138へ導かれる。(yジャンクション142のベースがカプラー134に対して付加され、その1つの分岐は光源136に接続され、そして他の分岐は検出器138に接続されている。
【0084】
従って、光源136から発せられた光(半導体または光ファイバのソースであってよい)はカプラー134およびyジャンクション142を経由してファイバ・コイル130に入り、一方、コイル130から出てくる光はyジャンクション142によって組み合わせられてカプラー134を通って検出器138へ回送される。) 検出器138はその光出力を電気信号に変換し、次にその信号は導体140に沿って、図6の要素76および78として示されているような増幅器およびA/D変換器に対して印加される。ジャイロの変調および制御は図6の要素70として示されているようなD/Aの変換器の手段によって生成されるジャイロのドライブ信号と一緒に図6の中に示されているような構成の単独チャネルを通して実行される。そのドライブ信号は集積された光チップ132の位相変調器を制御する。従って、単独の速度変調器および二次変調器がジャイロの軸あたりに使われていることを除いて、図6および図7の内容は図8の単独軸の干渉計に対して適用される。
【0085】
本発明はその現在好適な実施形態に関して説明されてきたが、それに限定されるわけではない。むしろ、本発明は特許請求の範囲の請求項の集合によって規定される範囲においてのみ制限され、それに等価なもののすべてをその範囲に含んでいる。
【図面の簡単な説明】
【図1】過変調の領域を持つ従来の矩形波変調を図示して対比するための、光ファイバ・ジャイロスコープの出力の位相シフトの関数としての光強度(または、パワー)のグラフである。
【図2】光ファイバ・ジャイロの出力のランダム・ノイズ成分と光源のピーク・パワーとの間の関係を示しているグラフである。
【図3】本発明に従ってサナック干渉計の位相変調をドライブするための波形を生成するためのマッピングである。
【図4(a)】干渉計の位相変調器をドライブする信号および、人工の光位相シフトの結果のシーケンスを示している波形である。それぞれジャイロのセンサ・コイルの内部を反対方向に伝播している光ビームに印加される波形である。
【図4(b)】干渉計の位相変調器をドライブする信号および、人工の光位相シフトの結果のシーケンスを示している波形である。それぞれジャイロのセンサ・コイルの内部を反対方向に伝播している光ビームに印加される波形である。
【図5】本発明に従って生成される人工的な位相シフトのシーケンスにおける暗黙のスケール・ファクタの誤差の補正を示すための、位相シフトの関数としての光ファイバ・ジャイロスコープの出力の強度またはパワーのグラフである。
【図6】直交復調シーケンスに基づいている変調を利用するために構成された3軸光ファイバ・サナック干渉計のブロック図である。
【図7】本発明の変調プロセスの実装を示すための機能ブロック図である。
【図8】最小のランダム・ウォーク基準に対する本発明による単独軸光ファイバ信号干渉計の単純化された回路図である。
Claims (31)
- サナック干渉計によって回転速度を測定するための方法であって、前記干渉計が、光源と、該光源の出力から一対の光ビームを生成して該ビームをセンサ・コイルの反対の端に導いてその中を反対方向に伝播させ、前記ビームを前記コイルの通過後、再び組み合わせて出力信号を提供するためのカプラー、前記の反対方向に伝播しているビームに一連の人工的な光位相シフトを印加するための変調器、前記出力信号から回転速度の情報を抽出するための復調器を含むタイプの干渉計であり、
a)人工的な位相シフトのシーケンスを前記の反対方向に伝播している光ビームに印加し、前記の各位相シフトの持続時間がセンサ・コイルの通過時間に等しいようにするための前記変調器をドライブするステップ、
b)±aπ/2bおよび±(4b−a)π/2bの値から前記人工のシフト値を選択し、aが奇数の整数であり、bが1より大きい整数であり、aとbは等しくないように選択するステップを含む方法。 - シーケンスを選択するステップが、前記の値のモジュロ2πのマッピングを導くステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記のモジュロ2πのマッピングを導くステップが、
a)各セグメントが前記位相変調器をドライブするためのステップ型の波形の1つの値に関連付けられていて、Sが、
S×θ=2πN (但し、θは|aπ/2b|であり、Nは整数である)
に従う自然数である場合に、前記マッピングをS個のセグメントに分割するステップ、
b)(i)第1の角度方向における隣接セグメント間の各遷移がaπ/2bまたは−(4b−a)π/2bのステップに等しく、反対の角度方向の隣接マッピング・セグメント間の各遷移が−aπ/2bまたは(4b−a)π/2bのステップに等しく、そして(ii)各値が2π以下であるように、前記の値を前記セグメントに割当てるステップ、
c)ロールオーバ軸によって前記第1の角度方向において値が減少する隣接セグメント間の各境界をマークするステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項2に記載の方法。 - a)前記マッピングのすべてのセグメントを第1の方向に旋回させ、
b)前記マッピングのすべてのセグメントを反対の方向に旋回させることによって、前記変調器をドライブするための前記値を選択するステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項3に記載の方法。 - 疑似ランダム・シーケンスに従って前記マッピングを旋回させることによって前記ステップ型の波形を導くステップをさらに含んでいる、請求項4に記載の方法。
- ランダムに生成されたシーケンスに従って前記マッピングを旋回させることによって前記ステップ型の波形を導くステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項4に記載の方法。
- 決定論的なシーケンスに従って前記マッピングを旋回させることによって、前記ステップ型の波形を導くステップを含んでいる、請求項4に記載の方法。
- a)第1のステップ型の波形に対応する一次および二次の復調シーケンスを生成するステップ、次に、
b)次に、所定の基準に従って前記の一次復調シーケンスと二次復調シーケンスを比較するステップ、次に、
c)前記基準が満足されるように復調シーケンスが生成されるまで、少なくとも1回以上のステップ型の波形についてステップaおよびbを繰り返すステップ、
d)前記基準を満足する復調シーケンスに対応している前記ステップ型の波形を選択するステップをさらに含んでいる、請求項7に記載の方法。 - 選定されたシーケンスに対応している一次および二次復調シーケンスを生成するステップが、前記マッピングの所定の遷移に対して+1または−1を割り当てるステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項8に記載の方法。
- 前記一次復調シーケンスを導くステップが、
a)前記マッピングの反時計回りの各遷移に対して+1を割り当てるステップ、
b)前記マッピングの時計回りの各遷移に対して−1を割り当てるステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項9に記載の方法。 - 前記二次復調シーケンスを導くステップが、
a)遷移が前記マッピングのロールオーバ軸を横切るたびに+1の値を割り当てるステップ、
b)遷移がロールオーバ軸以外の軸を横切るたびに−1の値を割り当てるステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項10に記載の方法。 - 前記一次および二次復調シーケンスを比較するステップが、
a)前記一次および二次シーケンスを要素ごとのベースで乗算するステップ、次に、
b)次に、前記乗算の積の和を取るステップを含んでいることを特徴とする、請求項11に記載の方法。 - 選択のステップが、前記乗算の積の和が0に等しいシーケンスを選択するステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項12に記載の方法。
- a)前記の各位相シフトを要素ごとのベースで前記一次復調シーケンスによって乗算するステップ、
b)前記乗算の積の和を取るステップ、
c)前記乗算の積の和が0であるシーケンスを選択するステップをさらに含んでいる、請求項13に記載の方法。 - a)前記各位相シフトを前記二次復調シーケンスによって要素ごとのベースで乗算するステップ、次に、
b)前記乗算の積の和を取るステップ、次に、
c)前記乗算の積の和が0であるシーケンスを選択するステップをさらに含んでいる、請求項14に記載の方法。 - a)前記シーケンスの連続している位相シフトの間の遷移の値を計算するステップ、次に、
b)前記各遷移を前記一次復調シーケンスによって要素ごとのベースで乗算するステップ、次に、
c)前記乗算の積の和を取るステップ、次に、
d)前記乗算の積の和がゼロであるシーケンスを選択するステップをさらに含んでいる、請求項13に記載の方法。 - サナック干渉計の位相変調器をドライブするための波形を生成するための方法であって、
a)(i)前記モジュロ2πのマッピングをS個のセグメントに分割し、SがS×θ2πN(但し、θは|aπ/2b|であり、Nは整数である)に従う自然数であり、そして(ii)第1の角度方向における隣接のマッピング・セグメント間の各遷移がaπ/2bまたは−(4b−a)π/2bであって、その反対の角度方向における隣接マッピング・セグメント間の各遷移が−aπ/2bまたは(4b−a)π/2bであるように前記各セグメントに対して前記変調をドライブするための値を割り当てることによる値のモジュロ2πのマッピングを導く(aが奇数の整数であり、bが1より大きい整数であり、aとbは等しくない)ステップ、次に、
b)第1の方向におけるすべての前記セグメントにわたって、そしてその反対の方向におけるすべての前記セグメントにわたって所定のシーケンスに従って前記マッピングを旋回させてステップ型の波形を生成するステップ、次に、
c)前記ステップ型の波形に対応する一次および二次復調シーケンスを生成するステップ、次に、
d)所定の基準に従って前記一次復調シーケンスと二次復調シーケンスを比較するステップ、次に、
e)前記基準が満足されるように一次及び二次復調シーケンスが生成されるまでステップbを繰り返すステップ、次に、
f)前記基準を満足する前記一次及び二次復調シーケンスに対応する前記ステップ型の波形を選択するステップを含む方法。 - 前記基準が一次および二次復調シーケンスの相互の直交性であることを特徴とする、請求項17に記載の方法。
- 一対の光ビームが光ファイバのコイルの内部を反対方向に伝播し、各ループの通過時間の間にそれらの間に課される一連の人工的な位相シフトの手段によって変調されるタイプの、回転速度を測定するための方法において、前記位相シフトを±aπ/2bおよび±(4b−a)π/2b(但し、aは奇数の整数であり、bは1より大きい整数であり、aとbは等しくない)から選択するステップを含んでいる方法。
- 前記位相シフトを選択するステップが、前記変調器を駆動するための値のモジュロ2πのマッピングを導くステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項19に記載の方法。
- モジュロ2πラジアンのマッピングを導く前記ステップが、
a)Sが、
S×θ=2πN (但し、θは|aπ/2b|であり、Nは整数である)
に従う自然数であり、前記モジュロ2πのマッピングをS個のセグメントに分割するステップ、
b)第1の角度方向における隣接マッピング・セグメント間の各遷移がaπ/2bまたは−(4b−a)π/2bに対応し、そしてその反対の角度方向における隣接マッピング・セグメント間の各遷移が−aπ/2bまたは(4b−a)π/2bの位相シフトに対応するように、前記の各セグメントに対して前記変調器をドライブするための値を割り当てるステップをさらに含んでいることを特徴とする、請求項20に記載の方法。 - 前記変調器をドライブするための前記値を選択するステップが、
a)第1の角度方向において前記セグメントのすべてにわたって前記マッピングを旋回させるステップ、
b)その反対の角度方向において前記セグメントのすべてにわたって前記マッピングを旋回させるステップをさらに含んでいる、請求項21に記載の方法。 - 前記マッピングを疑似ランダム・シーケンスに従って旋回させることによって前記ステップ型の波形を導くステップをさらに含んでいる、請求項22に記載の方法。
- 前記マッピングをランダムに生成されたシーケンスに従って旋回させることによって前記ステップ型の波形を導くステップをさらに含んでいる、請求項22に記載の方法。
- 前記マッピングを決定論的なシーケンスに従って旋回させることによって、前記ステップ型の波形を導くステップを含んでいる、請求項22に記載の方法。
- a)前記マッピングの前記旋回に対応する一次および二次復調シーケンスを生成するステップ、次に、
b)所定の基準に従って前記一次復調シーケンスと二次復調シーケンスを比較するステップ、次に、
c)前記基準が満足されるように前記一次および二次復調シーケンスが生成されるまで、さらに少なくとももう1つのステップ型の波形についてaおよびbのステップを繰り返すステップ、次に、
d)前記基準を満足する一次および二次復調シーケンスに対応する前記ステップ型の波形を選択するステップをさらに含んでいる、請求項25に記載の方法。 - 少なくとも1つの軸の回りの回転速度を測定するためのサナック干渉計において、その干渉計は前記センサ・コイルの通過時間に等しい持続時間の光位相シフトのシーケンスを少なくとも1つのセンサ・コイルの中を反対方向に伝播している一対の光ビームに対して印加するための位相変調器、前記少なくとも1つのビーム・ペアを組み合わせ、復調し、少なくとも1つの軸の回りの回転速度を求める手段とを含んでいるタイプの干渉計であり、±aπ/2bおよび±(4b−a)π/2b(但し、aは奇数の整数であり、bは1より大きい整数であり、aとbは等しくない)の人工的な位相シフトのシーケンスを課するためのステップ型の波形を導くために、前記位相変調器に対してビット・シーケンスを提供するためのゼネレータを含むサナック干渉計。
- 前記ゼネレータが乱数発生器をさらに含んでいることを特徴とする、請求項27に記載のサナック干渉計。
- 光ファイバ・ジャイロスコープの位相変調器をドライブするためのステップ型の波形を生成するためのモジュロ2πのマッピングであって、該光ファイバ・ジャイロスコープの位相変調器は、±aπ/2bおよび±(4b−a)/2b(但し、aは奇数の整数であり、bは1より大きい整数であり、aはbに等しくない)の人工的な位相シフトがジャイロのセンサ・コイルの内部を反対方向に伝播しているビームに印加され、該マッピングが、組合せにおいて、
a)前記マッピングが閉じた円からなり、
b)前記円がS個のセグメントに分割されていて、前記各セグメントが前記ステップ型の波形の1つの値に関連付けられていて、
c)Sが、
S×θ=2πN (但し、θは|aπ/2b|であり、Nは整数である)
に従う自然数であり、
d)前記セグメントの前記値は第1の角度方向における隣接セグメント間の各遷移がaπ/2bまたは−(4b−a)π/2bのステップに等しく、その反対の角度方向における隣接セグメント間の各遷移が−aπ/2bまたは(4b−a)π/2bのステップに等しいようなマッピング。 - 前記値のいずれもが2πを超えないことをさらに特徴とする、請求項29に記載のモジュロ2πのマッピング。
- 前記第1の角度方向において値が減少する隣接セグメント間の境界をマークするロールオーバ軸をさらに含んでいる、請求項30に記載のモジュロ2πのマッピング。
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