JPS618614A - 回転レ−ト計測装置 - Google Patents

回転レ−ト計測装置

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JPS618614A
JPS618614A JP60101634A JP10163485A JPS618614A JP S618614 A JPS618614 A JP S618614A JP 60101634 A JP60101634 A JP 60101634A JP 10163485 A JP10163485 A JP 10163485A JP S618614 A JPS618614 A JP S618614A
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modulator
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/58Turn-sensitive devices without moving masses
    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • G01C19/72Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、特許請求の範囲第1項の前提部に記載される
ような回転レート計測装置に関する。
〔従来の技術、および発明が解決しようとする問題点〕
この種の装置はドイツ特許出願公開第3136688号
に開示されている。ここでは、巻かれた先導波路に入射
される2本の光ビームのうち少くとも1本は周波数変調
されている。ドイツ特許出願公開第3123163号で
は、少くとも1本の光ビームが位相変調されている装置
が開示されている。
変調は、位相変調であるにせよ、あるいは周波数変調で
あるにせよ、集積された光学装置において頻繁に実行さ
れる。このような装置に通常用いられる材料にオプ酸リ
チウム)は、巻かれた光導波路の材料の屈折率(n=1
.47)より大きい屈折率(n=2.2)を有する。そ
の結果、変調器と元ファイバの間の接合部、すなわち光
が変崗器に入射される部分において光の反射が生じる。
このような光の反射により、評価値に干渉する信号成分
が発生する。このような干渉は、用いられる光が短いコ
ヒーレンス長を有している場合にはほとんど問題になら
ないが、種々の場合において右胸となる長いコヒーレン
ス長をもつ光に対しては(すなわち、比較的高い周波数
安定性が必要とされる場合には)、大きいものとなる。
本発明の目的は、反射により引き起こされる干渉を減少
させることができる回転レート計測装置を提供すること
にある。
〔問題点を解決するための手段〕
この目的は、特許請求の範囲第1項に記載される手段に
よシ達成される。
すなわち、本発明によれば、巻かれた光導波路を2本の
光ビームが反対方向に通過す慝回転レート計測装置であ
って、該光ビームのうち少くと41本の光ビームは該巻
かれた光導波路に入射される前に第1の周波数で位相変
調まf?:、は周波数変調され、該光導波路から出射す
る該2本の元ビームの間のサグナック効果による位相差
が評価装置において評価される、回転レート計測装置に
おいて、前記変調された少くとも1本の光ビームは前記
巻かれた光導波路に入射される前に第2の周波数で位相
変調または周波数変調され、該第2の周波数は、電気的
に評価が行われている間は第1の周波数および第2の周
波数が互いに分離可能となるように選定されていること
、および1回転レートを計測するために位相差が評価さ
れる時に、第1の周波数と等しい周波数を有する信号成
分のみが評価されること、を特徴とする回転レート計測
装置が“提供される。
本発明の更に有利な形態は特許請求の範囲の実施態様項
に記載される。
この新奇な解決手段によれば、反射によシ引き起こされ
る望ましくない放射光を有用な放射光から明瞭に分離す
ることができる。この新奇な′S矢手段は、ファイバ光
導波路と集積された光導波路を用いるような場合に特に
有利である。長いコヒーレンス長をもつ光源を使用する
こともできる。
〔実施例〕
本発明は、添付の図面を参照しながら実施例を用いてよ
シ詳細に説明される。
まず、回転レート計測装置の構成について第1図を参照
しながら説明する。光源1において生成された光ビーム
は、第1のビーム分離器2および第2のビーム分離器3
を通過し、位相変調器4に入射する。第1のビーム分離
器2は、入射された光ビームの1/2を第2のビーム分
離器3に伝送し、残シの光ビームを90°偏移させる。
この偏移させられた光ビームは、以下考慮する必要はな
い。第2のビーム分離器3もまた、入射された光ビーム
の一部を伝送し、残シの元ビームを900偏移させる。
この偏移させられた光ビームは光導波路5の一方の終端
に入射される。方向が変化していない光ビームは、位相
変調器4に入射し、そこで位相変調され、そして光導波
路5の他方の終端に入射される。光導波路5は巻かれ九
九ファイバである。
いずれにせよ、巻かれた光導波路は数回の巻数を有し、
コイルを形成する。しかしながら、このことは必ずしも
必要ではない。ある領域を囲繞していれば1回の巻数で
も良いし、また囲繞された領域の形状岐重要なことでは
ない。上述の90°偏移させられた光ビームは、光ファ
イバ5を通過した後、位相変調器4を通過し、ビーム分
離器3に入射される。偏移させられていない光ビームは
ビーム分離器3に直接入射される。ビーム分離器3は再
び、これら2本の光ビームのそれぞれの一部を伝送し、
残シの光ビームを90°偏移させる。第1のビーム分離
器2は、光ファイバを互いに反対方向に通過した光ビー
ム成分の組み合せによシ生成された光ビームを入力する
。この光ビームの1/2は第1のビーム分離器2によシ
光電変換器6に偏向される。変換器6の電気出力信号は
バンドパスフィルタ7を通して、評価装置8に印加され
る。
評価装置8において、回転レートが決定される。
これは、例えばドイツ特許出願公開第3136688号
に記載されているように、行うことができるので、ここ
では評価の態様について記載しないことにする。
知られてい゛る回転レート計測装置では、バンドツヤス
フイルタフは用いられていない。位相変調器4において
、変調は角周波数ω□=2πνrn(ν。
は変調周波数)で行われる。位相変調器4は駆動信号U
を供給され、この駆動信号はω□の関数である。1個の
位相変調器は、光ファイバ5の一方の終端の真前に配置
され、かつ光ファイバの他方の終端の真前で接続される
新奇な装置では、位相変調器は1つの角周波数ω。で駆
動されるのではなく、2つの角周波数ω□およびω8で
駆動される。縦続接続された2個の分離した位相変調器
に2つの駆動信号を供給することが可能であシ、あるい
は、2つの信号を電子的に組み合せ、その組み合わされ
た信号を1個の位相変調器に供給することも可能である
。今仮に、まず2つの信号が組み合わされ、それから、
2つの成分ω工およびω、を含む1つの変調信号のみが
位相変調器4に供給され°るものとする。新奇な装置に
おいて用いられるバンドパスフィルタ7は中間角周波数
ω。を有しており、従って、この角周波数ω。を有する
信号成分のみが評価装置8に達し、一方、角周波数ω8
を有する成分は阻止される。その結果、反射によシ引き
起こされる放射光は、角周波数ω、で変調されるが故に
、もはや厄介な代物ではなくなる。このことは以下にお
いて詳細に説明される。・ぐンドノ4スフィルタを評価
装置8の前段に配置する代わシに、評価装置8それ自体
に、角周波数ω□の信号のみを処理するような機能を持
たせることもできる。その−例として例えば、評価装置
は時定数τ> 22Hp(Dt’lツク。
イン増幅器を含む。
新奇な解決手段をよシ理解し易くするために、知られて
いる装置における評価の概念を、まず簡単に説明する。
知られている装置では、位相変調器4は信号 U = U□ ’Cmωm’ L ” U6 ’ C1
M 2πシm−1〜φ6cm 2πνm・t によシ駆動される。ここで、 Uo線最大変調電圧、 ω。=2πν。は変調用駆動信号の角周波数、tは時間
、 φ。は位相偏移、 π・C である。ω□は n7Lに等しくなるよう選定される。
ここで。
Cは真空中における光の速度、 nは光ファイバの屈折′率、 Lは光7アイパの長さ、 である。
もし位相変調器が信号Uにより駆動され、それによシ位
相変調が角周波数ω□で行われるならば、特に、光電変
換器の出力は信号 iD=自2の、・Jl(2φ。片部2π〜・を十定数を
提供する。ここで、 Φ8は光ファイバを互いに反対方向に通過した光ビーム
成分の間のサグナック効果による位相差、Jl(2φ0
)は第1種ベッセル関数、である。
第2図は位相変調器4を示す。これは従来の電子光学的
変調器であシ、該変調器において光導波路はニオブ酸リ
チウムの基板に設けられ、該変調器はその表面に2個の
電極41および42を有する。電極の一方41は駆動信
号Uを供給され、この駆動信号は知られている装置では
ω。の関数である。新奇な装置では、角周波数ω、およ
びω□を有する信号は組み合わされ、そして信号U(ω
。。
ω、)は変調器に印加される。この信号は、” UiU
o・cmω。・t+q−Uocosω、・tである。も
し2つの信号が個別に変調器に印加されるならば、電極
41および42は分割され、それぞれの半片は1つの信
号を供給されるであろう。
変調器4に入力される光ビームのうち、一部E1(点線
で示される)は該光ビームが変調器に入射する時に境界
23で反射される。伝達されたビームのうち、一部E2
(破線で示される)は該光ビームが変調器4から出射す
る時に境界44で反射される。この反射されたビームE
2は、境界23で反射されるビームE1に重畳される。
知られている解決手段において、ビームE2はω。で変
−され、ビームE1は変調されていない。従って、ビー
ムE1およびE2の重畳によシ得られる信号は、ω□、
すなわち評価されるべき信号IDと同じ角周波数、で変
調されるため、該信号を有用な信号から分離することが
できない。
以下、ビームE2が数回反射される可能性があるという
事実は無視するものとする。質的には、この単純化は以
下の考察を変更するものではない。
新奇な装置において、ビームE2はω□およびω8で変
調される。ビームE、およびE2の重畳によシ生成され
た光ビームは、角周波数X・ω□±y・ωs (x+y
は整数)を有する成分を含む。この計算式はωmを有す
る項が左側の項のみであることを示している。この項は
、q−Uolr:適当に選定することによシ0にするこ
とができる。ω□を有する項は、ベッセル関数J。(2
φ。・q)がOの時に0になる。ただし、φ。は駆動′
磁圧U。に対応する位相偏移である。従って1反射され
たビームE1およびE2の重畳により生成された元ビー
ムは、角周波数ωtnを有する成分を含むことなく、角
周波数ω8を有する成分のみを含むことになる。評価が
行われている間、対応する信号成分は容易に有用な信号
から分離することができ、この有用な信号は角周波数ω
、を有する成分を含んでいる。
その結果、境界で反射された光は評価が行われている間
はもはや厄介な代物ではなくなる。
角周波数ω8で付加的に変調した場合の評価に対する影
響は、ω8くω□の場合には無視できる。
実現化のための可能な数値は、φo−q=1.2゜ω、
=100kHz、ω、=10Hzである。
第3図は集積された光学装置を示す。装置50の基板に
、Y字形の光導波路が形成され、信号U、とU2により
制御される2個の位相変調器が設けられている。第1の
位相変調器は電極51および52を有し、第2のそれは
電極53および54を有する。第1図のビーム分離器3
の機能を果たすY接合よシ、1本の導波路が各個の位相
変調器の2個の電極の間に延びている。巻かれた光導波
路を互いに反対方向に通過する2本のビーム成分に分離
される光ビームは、左側から装置50に入射し、そして
2本のビーム成分に分離されて装置50の右側より出射
される。装置に入射する光ビーム、および2本のビーム
成分は実線で示される。
装置50の左側の境界において、光ビームの一部(E6
)は反射される。この反射されたビームは破線で示され
る。装置50において、2°本のビーム成分のそれぞれ
の一部(E3.E4)は境界55゜56において反射さ
れる。一点鎖線で示される2本のビームはY接合の接合
点37において重畳される。重畳により生成された光ビ
ームE5は点線で示される。(点線で示される)光ビー
ムE5および(破線で示される)光ビームE6は同様に
重畳される。この重畳によp生成されたビームは、評価
が行われている間は厄介なものに他ならない角周波数ω
。を有する成分を含んでいる。従って、2個の位相変調
器は(第2図の位相変調器の場合と同様に)、角周波数
ω□を有する成分のみならず角周波数ω81およびω、
2を有する成分をも含む信号により制御される。−膜性
に限定することなく、角周波数ω8.は角周波数ω82
およびω、に等しく設定される。2個の位相変調器のた
めの駆動信号U1およびU2は下記の如く表わされる。
U1=U6asωm°t+q1UoCxsω@1”U2
 = Uoasωm”−q2Uocosω82 ’ t
ただし、qlはq2に等しくしてもよい。
ここにおいてもまた、ビームE5およびE6の重畳によ
シ生成された信号が、評価が行われている間は厄介なも
のに他ならない角周波数ω□を有する成分を含まないよ
うに、q、およびq2選定することができる。角周波数
ω□を有する成分は、φo=1.20の場合には0にな
る。
実現化のための可能な数値線、ω□= 100 kHz
ω、=10Hzである。
【図面の簡単な説明】
第1図は位相変調器を備えた回転レート計測装置の概略
的な構成を示す図。 第2図および第3図は位相変調器の概略的な構成を示す
図。 である。 毒i1

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、巻かれた光導波路を2本の光ビームが反対方向に通
    過する回転レート計測装置であって、該光ビームのうち
    少くとも1本の光ビームは該巻かれた光導波路に入射さ
    れる前に第1の周波数で位相変調または周波数変調され
    、該光導波路から出射する該2本の光ビームの間のサグ
    ナック効果による位相差が評価装置において評価される
    、回転レート計測装置において、 前記変調された少くとも1本の光ビームは前記巻かれた
    光導波路(5)に入射される前に第2の周波数で位相変
    調または周波数変調され、該第2の周波数は、電気的に
    評価が行われている間は第1の周波数および第2の周波
    数が互いに分離可能となるように選定されていること、
    および、回転レートを計測するために位相差が評価され
    る時に、第1の周波数と等しい周波数を有する信号成分
    のみが評価されること、 を特徴とする回転レート計測装置。 2、第1の周波数で変調するための信号と第2の周波数
    で変調するための信号は結合され、この結合されて生成
    された信号は少くとも1個の位相または周波数変調器(
    4)のための駆動信号である、特許請求の範囲第1項に
    記載の装置。 3、第1の周波数および第2の周波数を有する2つの信
    号が2個の直列接続された変調器を独立に駆動する、特
    許請求の範囲第1項に記載の装置。 4、前記巻かれた光導波路の各終端に変調器が接続され
    た場合には、一方の変調器の変調信号の位相偏移は他方
    の変調器の変調信号の位相偏移と逆相でかつ等しいもの
    となる、特許請求の範囲第1項または第2項に記載の装
    置。 5、第2の周波数または複数の第2の周波数が実質的に
    第1の周波数より低くなっている、特許請求の範囲第1
    項、第2項または第3項に記載の装置。
JP60101634A 1984-05-17 1985-05-15 回転レ−ト計測装置 Expired - Fee Related JP2509906B2 (ja)

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DE (2) DE3418288A1 (ja)
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