JPS58773A - 集積回路検査装置 - Google Patents
集積回路検査装置Info
- Publication number
- JPS58773A JPS58773A JP56098518A JP9851881A JPS58773A JP S58773 A JPS58773 A JP S58773A JP 56098518 A JP56098518 A JP 56098518A JP 9851881 A JP9851881 A JP 9851881A JP S58773 A JPS58773 A JP S58773A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- integrated circuit
- strobe
- defective
- signals
- Prior art date
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- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は集積回路検査装置に係り、特に集積回路の良否
判定を行なう回路に関する。
判定を行なう回路に関する。
集積回路の検査項目の一つにスピードに関して、その能
力毎にグレード分類を行なう検査がある。
力毎にグレード分類を行なう検査がある。
従来はこうしたグレード分類の際、スピード規格毎にｍ
ａ闘テストバタンを走らせ、該集積回路のスピード能力
がどのグレードに属するかを判断する検査方式に依って
いた。しかし乍ら、実検回路内部の回路構成が複雑、多
様化するにつれ、テスト・バタンか長くなって来た為、
検査コスト低減の点から検査時間の短縮が望まれていた
。
ａ闘テストバタンを走らせ、該集積回路のスピード能力
がどのグレードに属するかを判断する検査方式に依って
いた。しかし乍ら、実検回路内部の回路構成が複雑、多
様化するにつれ、テスト・バタンか長くなって来た為、
検査コスト低減の点から検査時間の短縮が望まれていた
。
本発明は、この上記せる従来の欠点を解決した、新規な
判定回路を有する集積回路検査装置の提供を目的とする
。
判定回路を有する集積回路検査装置の提供を目的とする
。
本発明の特許は、集積回路検査装置゛の比較判定回路に
おいて、ＩＩ数のストローブ信号とそれ等の各々と対応
した不良検出回路を備えて、各々異なるス）四−ブータ
イミングで期待データと比較良否判定し、その結果をス
トローブ毎に独立して認識し得ることを特徴とした比較
判定方式を有する集積回路検査装置にある。例えば、動
作波形を期待波形と比較検査する際、１クロツクサイク
ル内において時系列的に良否判定を行なうこと全目的と
して、複数のストローブの各々に独立に対応して該良否
判定結果を［、ＩＩＬ得る回路を具備した、比較判定方
式に関わるものである。
おいて、ＩＩ数のストローブ信号とそれ等の各々と対応
した不良検出回路を備えて、各々異なるス）四−ブータ
イミングで期待データと比較良否判定し、その結果をス
トローブ毎に独立して認識し得ることを特徴とした比較
判定方式を有する集積回路検査装置にある。例えば、動
作波形を期待波形と比較検査する際、１クロツクサイク
ル内において時系列的に良否判定を行なうこと全目的と
して、複数のストローブの各々に独立に対応して該良否
判定結果を［、ＩＩＬ得る回路を具備した、比較判定方
式に関わるものである。
本発明に依れば、スピード検査に関するテスト回数の削
減が期待できる。
減が期待できる。
以下に本発明の実施例を従来方式と対比しながら、図を
参照して説明する。
参照して説明する。
第１図は従来方式による１チャネル分の比較判定回路の
１例を示す原理図で、以下がその動作例である。
１例を示す原理図で、以下がその動作例である。
図中、レベル比較回路１はデバイス出力データＤを高レ
ベル規格Ｃと低レベル規格Ｂとで比較し、レベル比較結
果信号Ｇを発生するもので、該レベル比較結果信号は不
良検出回路２で不良検出イネーブル信号ムによって、期
待データＢとストローブ信号Ｆ発生時点のバタンの一致
を検出し、チャネル毎に不良信号Ｈを発生する。該チャ
ネル毎不良信号は、不良集結回路３で、１つの不良信号
に集結され、集結不良信号Ｉを発生する。
ベル規格Ｃと低レベル規格Ｂとで比較し、レベル比較結
果信号Ｇを発生するもので、該レベル比較結果信号は不
良検出回路２で不良検出イネーブル信号ムによって、期
待データＢとストローブ信号Ｆ発生時点のバタンの一致
を検出し、チャネル毎に不良信号Ｈを発生する。該チャ
ネル毎不良信号は、不良集結回路３で、１つの不良信号
に集結され、集結不良信号Ｉを発生する。
ところで、スピード検査の一例にアクセスの項目がある
が、これを従来方式を用いてスピード分類する際は、ス
トローブ、タイミングを各グレード毎に設定し直して、
同一のテストバタンをＩｌ数回繰り返して、その良否判
定結果を参照する必要があり、テスト時間が長くなる欠
点があった。
が、これを従来方式を用いてスピード分類する際は、ス
トローブ、タイミングを各グレード毎に設定し直して、
同一のテストバタンをＩｌ数回繰り返して、その良否判
定結果を参照する必要があり、テスト時間が長くなる欠
点があった。
第２図は本発明による比較判定方式の一例を示す原理図
でｂＦａｅＦｂは各々異なるタイミング値に設定された
ストローブ信号である。レベル比較結果信号Ｇはレベル
比較回路１の出力で、ストローブ毎に独立した２系統の
不良検出回路と不良集結回路に分割して取り込まれてい
る。さて、ここで本発明実施例を用いて先にりｌ用した
該アクセス項目のスピード分類を行なうと、各々のスト
ローブのタイミング値定値を各グレード毎に設定して、
テスト・バタンを走らせ、該集結不良信号の各々の結果
を参照することで、該集積回路がどのグレードに属する
かを１回のテスシ・バタン走行で行なうことができる利
点がある。
でｂＦａｅＦｂは各々異なるタイミング値に設定された
ストローブ信号である。レベル比較結果信号Ｇはレベル
比較回路１の出力で、ストローブ毎に独立した２系統の
不良検出回路と不良集結回路に分割して取り込まれてい
る。さて、ここで本発明実施例を用いて先にりｌ用した
該アクセス項目のスピード分類を行なうと、各々のスト
ローブのタイミング値定値を各グレード毎に設定して、
テスト・バタンを走らせ、該集結不良信号の各々の結果
を参照することで、該集積回路がどのグレードに属する
かを１回のテスシ・バタン走行で行なうことができる利
点がある。
このことから、本発明に依れば検査時間の短縮が計れる
ことは明らかである。
ことは明らかである。
第１図は従来の集積回路検査装置の比較判定回路の一例
を示し、第２図は本発明による比較判定回路の１例を示
す原理図である。 ナオ１図において％１・・・レベル比較回路、２．−不
良検出回路、３・−不良集結回路、ム・−不良検出イネ
ーブル信号、Ｂ−期待データ、Ｃ・−・高レベルｆｉ１
１． Ｄ・・・デバイス出力データ、Ｂ−・・低レベル
規格、Ｆ−・ストローブ信号、Ｇ・・・レベル比較結果
信号、Ｈ−・・チャネル毎不良信号、■・・・集結不良
信号。 である。 ＄２図
を示し、第２図は本発明による比較判定回路の１例を示
す原理図である。 ナオ１図において％１・・・レベル比較回路、２．−不
良検出回路、３・−不良集結回路、ム・−不良検出イネ
ーブル信号、Ｂ−期待データ、Ｃ・−・高レベルｆｉ１
１． Ｄ・・・デバイス出力データ、Ｂ−・・低レベル
規格、Ｆ−・ストローブ信号、Ｇ・・・レベル比較結果
信号、Ｈ−・・チャネル毎不良信号、■・・・集結不良
信号。 である。 ＄２図
Claims (1)
- 集積回路検査装置の比較判定回路において、ＩＮ数のス
トローブ信号と、該信号の各々と対応した不良検出回路
とを備えて、各々異なるストローブタイミングで期待デ
ータと測定データとの比較良否判定し、該判定結果を前
記ストローブ信号毎に独立してｇｏｔ、得る機能を含む
ことを特徴とする集積回路検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098518A JPS58773A (ja) | 1981-06-25 | 1981-06-25 | 集積回路検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098518A JPS58773A (ja) | 1981-06-25 | 1981-06-25 | 集積回路検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58773A true JPS58773A (ja) | 1983-01-05 |
| JPH0161187B2 JPH0161187B2 (ja) | 1989-12-27 |
Family
ID=14221865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56098518A Granted JPS58773A (ja) | 1981-06-25 | 1981-06-25 | 集積回路検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58773A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01138477A (ja) * | 1987-11-24 | 1989-05-31 | Advantest Corp | 回路試験装置 |
| DE19601524A1 (de) * | 1996-01-17 | 1997-07-24 | Hell Ag Linotype | Einen gesteuerten Asynchronmotorantrieb für einen Trommelscanner, dessen Rotor als Hohlwelle zur Anordnung der Innenbeleuchtungseinrichtung ausgerichtet ist |
-
1981
- 1981-06-25 JP JP56098518A patent/JPS58773A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01138477A (ja) * | 1987-11-24 | 1989-05-31 | Advantest Corp | 回路試験装置 |
| EP0318814A2 (en) * | 1987-11-24 | 1989-06-07 | Advantest Corporation | Digital circuit testing apparatus |
| DE19601524A1 (de) * | 1996-01-17 | 1997-07-24 | Hell Ag Linotype | Einen gesteuerten Asynchronmotorantrieb für einen Trommelscanner, dessen Rotor als Hohlwelle zur Anordnung der Innenbeleuchtungseinrichtung ausgerichtet ist |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0161187B2 (ja) | 1989-12-27 |
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