JPS5861662A - イメ−ジセンサ− - Google Patents

イメ−ジセンサ−

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Publication number
JPS5861662A
JPS5861662A JP56160543A JP16054381A JPS5861662A JP S5861662 A JPS5861662 A JP S5861662A JP 56160543 A JP56160543 A JP 56160543A JP 16054381 A JP16054381 A JP 16054381A JP S5861662 A JPS5861662 A JP S5861662A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
image sensor
resistivity
approx
amorphous
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56160543A
Other languages
English (en)
Inventor
Setsuo Kaneko
節夫 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP56160543A priority Critical patent/JPS5861662A/ja
Publication of JPS5861662A publication Critical patent/JPS5861662A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14665Imagers using a photoconductor layer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は密着製イメージセンナに関するものである。
7アクシiすを家庭内に普及するために装置を小型化す
ることが望まれている。この装置の小製化に最も障害と
なっているのが光電変換系である。
従来の7アクシjjJの光電変換デバイス(以下イメー
ジセンナと略す)よMUa形あるいはCCD形りの半導
体ICが用いられてきた。しかしこの半導体イメージ七
/すぜエチ、ブの大きさがijl、jIl!角と小さく
、例え、120ca@のA4版原稿を°電気信号に変換
するには原稿像を数u幅に縮少するため光学系が必要で
その光路長(A4版幅で50〜601)の確保が装置小
型化のネックとされてきた。
この問題解決法として密着型イメージ七/すとよばれる
イメージセンナが注目されている。これは原稿幅と同じ
寸法の光鋭に遺鎮城をもうた大型のイメージセンサでI
jiI′橘に密着させて用いるので縮少するためのレン
ズ光学系を使用しなくても良いため装置の大幅Iヨ小型
化が達成される。このような臂着瀝イメージセンナに使
用てれる光電変換材料はすぐれた光を変換特性tl−合
し、かつ大面積に一様に形成できることが必要である。
このような材料として、砒素−センンーグルル系7モル
7アス半導体や硯化カドミウム、セレン化カドξクム等
を使用したものが現在研究開発中であるがこnりの材料
は砒累、カドミタム、セレンのj 5 す公害物質が含
まれていたり、熱的安定性が悪いなどの1力地点があっ
た。
一方、低Idii格太陽電池用材料として注目さルてい
る件品質シリコンはすぐれた光導電材料であり、すでに
電子写真JP虚像用ビディコンに応用され始めている。
この非晶質シリコンは、通常、モノシラ/のグルー放電
分解法またはシリコンの反応性スパッタ法で形成され大
面積で均一な展全谷易(て得ゐことができ、また、構成
vlJ質は無公イアjシリコンと水嵩であるることなど
の特長を有する。蜜M屋イメージセ/すに非晶質シリコ
ンを応用する砺合には非1iii!I′にシリコンの暗
時の抵抗率が五θ〜10 ρ−α であることを利用し
1.り)つ、光導−率か―化カドミウムに比べて小さい
ことから蓄積屋で動作させる方が望ましい。この蓄積屋
の動作6−1走倉時間内に元によって発生した゛シ荷V
C工ってセンサー表面に保持された電荷t−消去する方
法がとられるため、暗時には走査時間中にセ/す表面し
C与えた、電荷を保持する必嵌がある。このため、10
〜10 Ω−儂の抵抗率をもつ非晶質シリコンをイメー
ジセンサに使5vこは、1を極からの電荷の注入を阻止
したプロ、千ングイ)1造にすることが望ましい。
本発明の目的は非晶質シリコンを用いたイメージセンサ
を提供することにある。
本発明によれは島状の透明4電朕を含む電極が複数個並
んだ)21i明基板上に膜厚が100A以上1000^
以下の透明誘゛屯膜と、膜厚が0.5μm以上20μm
以下で抵抗率がlOΩ−一 以上の高抵抗非晶質シリコ
ン膜および膜厚が200A以上で5oooXu下、抵M
、率カ10 52−an以上10  Ω−α以下のp型
非晶・碇シリコン涙とが連続して順次形成され、さらに
共通vIL栃が形成されて″#着壓イメージ七ンサが形
成される。この時、=+1述の透明誘電線は正孔に対す
るブロッキング、PM非非晶質シリコント電子に対する
プロ、キングの役割を果たしており、透明誘電線として
は、Si、N、。
8i0□等が考えられる。これりの腺は、シランとディ
ポランの混合ガス、シランとアンモニア、鴛累の混合力
°ス、シランと酸素の混合ガスのグp・成就分解で形成
でき、錘抵抗アモルファス シリコン涙形成に対して、
ガス・D切換えだけで1!1 +4的に形・氏可能であ
る。また透明誘電膜の腺+iは1(10A以下では正孔
のブロッキング効果が小さくなり、1000 A以上で
は電子の輸送が困難になることが実績的に確かめられて
おり、p屋非晶ズシリコンについても、はぼ同様なこと
が実証されている。
このp型非晶質シリコンは抵抗率が10−10”1′ Ω−CIrLのa囲でプロ、キング効果が有効でめ−こ
七も丸嘘的に確かめられている。
このように本発明によれば、無公害で元−変換符′庄/
)良い非晶質シリコンを使った密着型イメージセ/すが
連続して形成でき、実1余に試作したイメージセンサは
暗時の電荷保持特性はファクシミリの光に変換系として
十分たえうるものである。
また、光電変換効率は表面反射を除けば”はぼ100%
に近く、光応答特性も0.5mW以下である密着型イメ
ージセンサが得られ、実用上十分な特性であることが確
認さnている。
次に本発明の実施例について図面を用いて説明する。
41図は非晶質シリロ/を用いた密層型イメージセンサ
の断面回を、第2図は平面Aをポすもので、透明ガラス
基板上1に48A4電映2としてsno。
またはITOを遍さ600 A形成しさらに庶光欧3と
してCrt厚さ100OA、:、JらにAuのフンタク
トパラ)42厚さ5000 A形成する。次にこのi!
!L明導1!膜を含む域櫓を工、チング技術を用いて、
固別電極に分割し、セ/す基板構造にする。この固別@
極のパターンはファクタiりの使用により異なるが、通
常は8本/U程度である。このセンサー基板上に、S 
iH,ICB、 )1,1 ;Ji 250 ppm混
合されたガスを用いて、グロー放電分解によりp全力;
晶質シリ1ンM5を厚さ2000^形成し、つづ。、て
、8 iH,iCf3. H,が2Qppmm合された
ガスを用いて、グロー放電分解により閥挺抗非晶質シリ
コン層6を厚さ2.5μmtr3成する。この時pm非
晶質シリコンの抵抗4は2×lOΩ−a、高抵抗非晶質
シリコンノーの抵抗率は2×10 Ω−礪 とtる、さ
らに連親して8i1(番とNH,とN、  とをl:2
:20の比で混合したガスを用いて形成した8isNa
Jl17を厚さ200人形成した後、AIの共通電48
を形成し、センナ構造にする。このようにして形成され
た、非晶質クリコノ臂着壇イメージセンナの特性は、光
電変換率70%、光応答時間0.5m1al、暗時にお
ける電荷保持時間11Gであり、ファクタ1すの光電変
換系の特性を十分満足し。
フッタシミリO小臘化に本発明が有効であることがわか
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は密着型イメージセンサーのd面図、第2図はモ
面図を示す1図中1はガラス基板、21よ透明電極、3
は遍光用およびJgill、電極、4Fiコンタクドパ
、ド、5は透WA111電体戚、6にに抵抗非晶質シS
l:をン層、7はp1!1非晶質シリコン層。 8社共通電極をそれぞれ示す。 Ir 1 記 才 2 起

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 島状の透明導′tlLl!を含む電極が複数4a並ぶ透
    明基板上に、膜厚が1ooX以上toooi以下の透明
    i1’llWMと、膜厚が0.5μm以上20μm以下
    で、抵抗率が1080−一1 以上の高抵抗非晶質シリ
    コン族と、−厚が200λ以上5ooo X以下で抵抗
    率が105Ω−1以上10′19−α以上1011Ω−
    G以下のp全非晶質シリコン展とが順次積層されてしす
    ることtl−#f像とするイメージセンナ。
JP56160543A 1981-10-08 1981-10-08 イメ−ジセンサ− Pending JPS5861662A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59129462A (ja) * 1983-01-14 1984-07-25 Oki Electric Ind Co Ltd 光ラインセンサ
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JPS62159010A (ja) * 1986-01-07 1987-07-15 Fuji Electric Co Ltd 回転数検出装置

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