JPS5853884A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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Publication number
JPS5853884A
JPS5853884A JP15267381A JP15267381A JPS5853884A JP S5853884 A JPS5853884 A JP S5853884A JP 15267381 A JP15267381 A JP 15267381A JP 15267381 A JP15267381 A JP 15267381A JP S5853884 A JPS5853884 A JP S5853884A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
moving table
microscope
output
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP15267381A
Other languages
English (en)
Inventor
三田 喜久夫
護俊 安藤
柿ノ木 義一
明文 武藤
一夫 八木
栗田 勝幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS5853884A publication Critical patent/JPS5853884A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発Ij11は、検査装置に係シ、特にプリント板等の
パターンに生じた欠陥部分を検査するのに好適な検査装
置に関する。
プリント基板等のパターン中の欠陥を検査する方法や検
査装置としては種々のものが従来から提案されている。
これら検査方法又は検査装置のうち最も簡単なものはX
−Yグロックによってプリント板ノ臂ターン中の欠陥部
分を紙の上にマーキングした検査紙を被検査物のプリン
ト板に重ねて欠陥部分に修正作業を行うようにされたも
のが知られている。
このような欠陥部分の修正作業を行うためには被検査物
の上に貼着した検査紙を剥離して行なわなくてはならず
、更に被検査物上に検査紙を重畳するときのずれを生ず
る問題があった。
更に、他の検査方法としては、被検査物¥rx−Yステ
ージに載置して、他の検査装置よシ指示された欠陥位置
を自動的に指示するようにしたものが知られている。
仁の検査方法によると、装置上全自動化するために装置
自体が大型化すると共に高価となる欠点を有する。
本発明は叙上の如き欠点を除くためになされたもので、
その特徴とするところは欠陥場所を表示装置によって表
示することで、X−Yステージ上の被検査物の欠陥位置
にマニアル操作でX−Yスプーリに取シ付けられ良顕微
鏡等を移動させるようにしたものである。仁の大め本発
wAK於てはノ臂ターン検査装置より入力され大欠陥位
置記憶WカとX−Yステージに載置され九被検査物の位
置検出出力との差分出力によってX−Yステージt−x
又tiY方向にマニアル操作するように表示装置に表示
を行ない、上記表示装置の表示に従って所定の欠陥位置
に持ち来九され九x−yスプージ上のg砿鏡1x−yス
テージに配設し大制動手一段によシ制動を与えるように
したものである。
以下、本発明の1実施例を第1図及び第2図を参照に詳
記する。
第1図は、本発明の系統図とX−Yステージを示すもの
であシ、第2図は第1図のA−ム断面矢視図である。X
−Yステージ19は、基台6を有し、該基台6は、略々
υ字状に形成され、レール部6 m + 6 bが形成
されている・更に、腋基台6上に被検査物のプリント板
8が載置され、適宜手段によってクランデフされる。
9′Fi基台6のレール部@ a + 6 bに摺動自
在にX軸方向に載置された移動台であシ、該移動台9上
にはY軸方向に摺動自在に顕微鏡移動台10が配置され
ている・#顕微鏡移動台10にはli!g微鏡11が載
置されて被検査物8とレンズが対向するように配設され
ている。
移動台90両端部Kti、プーリ12,13が回動自在
に枢着され、該両プーリ間に糸又は針金尋よシなるベル
ト14が掛は渡され、顕微鏡移動台10の下端にベルト
14が係止されベルトの移動と共KJ8I微鏡移動台1
0がY軸方向に移動するように構成されている。
更に、基台6のレール部6bK回動自在に枢着したプー
リ15.16間に上記したと同様のベルト20に一囲繞
させ、該ベルトの一部に移動台9の折シ曲は部9aの−
Sを係止させて移動台9のX軸方向の移動と共にプーリ
16が回動して該プーリと同軸に回転する。ロータリエ
ンコー〆181のステータに移動台9の移動に比例した
出力が取ル出される。
デー1713も顕微鏡移動台10の移動と共に回動し、
該プーリ13の軸と同軸に配され九ロータリエンコーダ
171等よシなる検出手段のステータ側に顕微鏡移動台
10の移動に比例し良電気的出力が取や出される。
なお17b及び18bはプーリ13及び16の軸に同軸
に配役し良電磁ブレーキで、該軸の回動をブレーキする
ものである。
電気系は第1図に示すようにt4ターン検査装置1から
出力されるプリント板8勢の欠陥部分のX座標及びY座
標上フォトマスク等から取多田して記憶回路2に欠陥部
分を記憶子る。記憶回路からj−次読み出した信号を差
分回路3に加える。X−Yロータリエンコーダ17 m
 + 18 aよりの移動台9と顕微鏡移動台10の位
置に比例した出力を位置カウンタ回路4に加え、該位置
カウンタ回路出力を差分回路3に加えることで記憶回路
2よりの欠陥位置とX−Yステージの顕微鏡移動台位置
との差を求めて、表示装置5に移動台9と顕微鏡移動台
10Yrどの方向に移動させるべきかを指示する。
この表示装置5の指示に従ってマニアル操作によって移
動台9又は顕微鏡移動台10をX又FiY方向に移動さ
せる。マニアル操作で移動台9と顕fIk鏡移動台10
が所定の欠陥位置に定められると差分回路3よ〕の出力
は零となるのでこの出力によって電磁ブレーキ17b、
18bが動作してプーリ13,16の回動を祭主するよ
うにする。
かくの如き構成によれば、移動台9並に顕微鏡移動台1
0を移動させるモータ勢を必要としないために、これら
の駆動に伴う諸装置も不必要とな)、特にプリント板の
ように欠陥場所が〉ン〆ムに発生するものに適すると共
に欠陥位置で正しく制動が掛ってプリント板の検査位置
や修正位置が極めて容易に検出できるので作業性を大巾
に迅速化し得るものである。
なお、上記実施例では、記憶回路に入力されるデータを
ノリーンの欠陥位置データで説明したがこれら社被検査
データであればよく、顕微鏡移動台lO上には顕微鏡1
1を載置する場合を述べたが、該顕微鏡の代りにマーカ
や修正銃或はツール勢を配置してもよいこと明らかであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の検査装置の系統図とx−yステージ
の斜視図、182図は第1図のムー人断面矢視図である
。 l・・・Δタン検出装置、2・・・記憶回路、3・・・
差分回路、4・・・位置カウンタ回路、5・・・表示装
置、6・・・基台、8・・・被検査物、9・・・移動台
、10・・・顕微鏡移動台、11・・・顕微鏡、12.
13.xi、1s・・・プーリ、17m+18m・・・
p−タリエンコー〆、17b、18b・・・電磁ブレー
キ、19・・・x−yステージ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検査対象入力装置よp欠陥位置を入力すゐ手段と、被
    検査物の位置を検出する手段と、前記被検査対象入力装
    置より欠陥位置を入力する手段よシの出力と被検査物の
    位置音検出する手段の出力との比較出力を取り出す手段
    と、該比較出−力によシ被検査物lx軸又はY軸方向に
    移動させる方向を指示する手段と、峡比較出力によって
    被検査物の欠陥位置が所定範囲内にある時に制動を与え
    る手段とを有することt%黴とする検査装置。
JP15267381A 1981-09-26 1981-09-26 検査装置 Pending JPS5853884A (ja)

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JP15267381A JPS5853884A (ja) 1981-09-26 1981-09-26 検査装置

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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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