JPH0618558A - プリント基板検査装置 - Google Patents
プリント基板検査装置Info
- Publication number
- JPH0618558A JPH0618558A JP17796892A JP17796892A JPH0618558A JP H0618558 A JPH0618558 A JP H0618558A JP 17796892 A JP17796892 A JP 17796892A JP 17796892 A JP17796892 A JP 17796892A JP H0618558 A JPH0618558 A JP H0618558A
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- JP
- Japan
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- printed circuit
- circuit board
- contact pin
- board inspection
- printed board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】プリント基板に接触させるコンタクトピン方式
の接触形プリント基板検査機において、いかなるプリン
ト基板のパタンにも１台のプリント基板検査装置で、複
数のプリント基板検査に対応できるプリント基板検査装
置を提供する。 【構成】等間隔ピッチに配置した検査用銅箔ランドを有
したプリント基板検査装置において、コンタクトピンベ
ース１、コンタクトピン２、制御器、測定装置で構成さ
れる。
の接触形プリント基板検査機において、いかなるプリン
ト基板のパタンにも１台のプリント基板検査装置で、複
数のプリント基板検査に対応できるプリント基板検査装
置を提供する。 【構成】等間隔ピッチに配置した検査用銅箔ランドを有
したプリント基板検査装置において、コンタクトピンベ
ース１、コンタクトピン２、制御器、測定装置で構成さ
れる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】プリント基板の自動挿入率及び自
動装着率はこの数年で飛躍的進歩を遂げたが、接触式検
査機は、プリント基板のパタンに合わせて、一品一様に
ならざるを得なかった。
動装着率はこの数年で飛躍的進歩を遂げたが、接触式検
査機は、プリント基板のパタンに合わせて、一品一様に
ならざるを得なかった。
【０００２】しかし本方式のプリント基板検査装置によ
り、いかなるプリント基板であっても、また基板のパタ
ンが変っても、１台のプリント基板検査装置で複数のプ
リント基板検査に対応できるので、ジグ費が大幅に縮減
できる効果が期待できる。
り、いかなるプリント基板であっても、また基板のパタ
ンが変っても、１台のプリント基板検査装置で複数のプ
リント基板検査に対応できるので、ジグ費が大幅に縮減
できる効果が期待できる。
【０００３】
【従来の技術】従来は図３に示すようにそれぞれのプリ
ント基板に対応したプリント基板検査ジグが必要であっ
た。図３においては、被検査プリント基板部品に対応し
たコンタクトピンをコンタクトピンベースに埋め込ん
で、６の抵抗のインピーダンスを測定する状態を示して
いる。
ント基板に対応したプリント基板検査ジグが必要であっ
た。図３においては、被検査プリント基板部品に対応し
たコンタクトピンをコンタクトピンベースに埋め込ん
で、６の抵抗のインピーダンスを測定する状態を示して
いる。
【０００４】本方式ではジグがプリント基板のパタンに
合わせて、一品一様にならざるを得ないという欠点があ
った。また少量生産では１台当たりのジグ費用が大きく
なり、負担に耐えられないということも発生してきてい
る。
合わせて、一品一様にならざるを得ないという欠点があ
った。また少量生産では１台当たりのジグ費用が大きく
なり、負担に耐えられないということも発生してきてい
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】プリント基板のパタン
が寸法上、一定のルールによっていないことが、原因で
ある。しかし部品の穴位置については、ＩＣ等特殊部品
を除けば９０％は０．５mmの整数倍になっていることに
着目して残る課題は０.５mm以外の部品にどう対応する
かである。
が寸法上、一定のルールによっていないことが、原因で
ある。しかし部品の穴位置については、ＩＣ等特殊部品
を除けば９０％は０．５mmの整数倍になっていることに
着目して残る課題は０.５mm以外の部品にどう対応する
かである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】１台のコンタクトピンベ
ースですべてのプリント基板に対応するために、プリン
ト基板のチェックパタンを一定のルールに基ずいた等間
隔ピッチパタンにすることにより解決できる。すなわち
対象部品の９０％は、すでに０.５mmの整数倍の穴ピッ
チになっているので、ＩＣ等特殊部品の１０％には穴位
置ではなくパタンを０.５mmの整数倍に配置することで
これまでの問題点を解決することができる。
ースですべてのプリント基板に対応するために、プリン
ト基板のチェックパタンを一定のルールに基ずいた等間
隔ピッチパタンにすることにより解決できる。すなわち
対象部品の９０％は、すでに０.５mmの整数倍の穴ピッ
チになっているので、ＩＣ等特殊部品の１０％には穴位
置ではなくパタンを０.５mmの整数倍に配置することで
これまでの問題点を解決することができる。
【０００７】
【作用】あらかじめ０.５mmの整数倍でコンタクトピン
を配置させてあるので、０.５mmの整数倍のパタン位置
ルールで作成したプリント基板を当てれば、必要な個所
から情報のやり取りをさせることができる。
を配置させてあるので、０.５mmの整数倍のパタン位置
ルールで作成したプリント基板を当てれば、必要な個所
から情報のやり取りをさせることができる。
【０００８】
【実施例】図１及び図２に本発明の一実施例を示す。図
１はコンタクトピンの実装状態を、図２は出力信号処理
の概念図を示す。
１はコンタクトピンの実装状態を、図２は出力信号処理
の概念図を示す。
【０００９】本装置は１のベース、２のコンタクトピ
ン、４の制御器、５の測定装置で構成される。
ン、４の制御器、５の測定装置で構成される。
【００１０】まず図１にある１はコンタクトピンベース
であり、これには等ピッチでＸ，Ｙ座標に２のコンタク
トピンを装着させてある。２.ａはコンタクトピンから
の出力信号を検査装置本体に送るためのリード線であ
る。なお６は被検査抵抗であり座標では（Ｘ１，Ｙ
１），（Ｘ２，Ｙ２）で示される。この場合ピッチはコ
ンタクトピンの大きさで決定されるが、現状では１mmが
限界である。しかし０.５mmに対応したコンタクトピン
を開発すればピッチ０.５mmのプリント基板検査装置を
提供することができる。
であり、これには等ピッチでＸ，Ｙ座標に２のコンタク
トピンを装着させてある。２.ａはコンタクトピンから
の出力信号を検査装置本体に送るためのリード線であ
る。なお６は被検査抵抗であり座標では（Ｘ１，Ｙ
１），（Ｘ２，Ｙ２）で示される。この場合ピッチはコ
ンタクトピンの大きさで決定されるが、現状では１mmが
限界である。しかし０.５mmに対応したコンタクトピン
を開発すればピッチ０.５mmのプリント基板検査装置を
提供することができる。
【００１１】図２において３ａ，３ｂは６の抵抗の測定
ポイントで座標（Ｘ１，Ｙ１），（Ｘ２，Ｙ２）で示さ
れる。４はマイクロコンピータを利用して高速で測定順
序を制御、電送する制御器を、５はインピーダンス、あ
るいはキャパシタンスの測定装置である。
ポイントで座標（Ｘ１，Ｙ１），（Ｘ２，Ｙ２）で示さ
れる。４はマイクロコンピータを利用して高速で測定順
序を制御、電送する制御器を、５はインピーダンス、あ
るいはキャパシタンスの測定装置である。
【００１２】ところで６に配置された抵抗のインピーダ
ンスを測定する場合、プログラムで測定順序と座標
（Ｘ１，Ｙ１），（Ｘ２，Ｙ２）を入力しておく。この
ようにして対象部品すべてに対し測定順序Ｊ（ｎ）と
座標Ｘ（ｎ），Ｙ（ｍ）をあらかじめ入力しておくこ
とにより、すべての部品の情報を得ることができる。
ンスを測定する場合、プログラムで測定順序と座標
（Ｘ１，Ｙ１），（Ｘ２，Ｙ２）を入力しておく。この
ようにして対象部品すべてに対し測定順序Ｊ（ｎ）と
座標Ｘ（ｎ），Ｙ（ｍ）をあらかじめ入力しておくこ
とにより、すべての部品の情報を得ることができる。
【００１３】
【発明の効果】プリント基板の自動挿入率及び自動装着
率はこの数年で飛躍的進歩を遂げたが、接触式検査機
は、プリント基板のパタンに合わせて、一品一様になら
ざるを得なかった。特に開発当初では回路改善に伴い、
パタンを少しでも変更すると、コンタクトピン位置を変
えなければならず、既に穴のあいた付近には穴をあけら
れないので結局最初からジグを作ることになる。
率はこの数年で飛躍的進歩を遂げたが、接触式検査機
は、プリント基板のパタンに合わせて、一品一様になら
ざるを得なかった。特に開発当初では回路改善に伴い、
パタンを少しでも変更すると、コンタクトピン位置を変
えなければならず、既に穴のあいた付近には穴をあけら
れないので結局最初からジグを作ることになる。
【００１４】しかし本方式のプリント基板検査装置の考
案により、いかなるプリント基板であっても、１台のプ
リント基板検査装置で、複数のプリント基板検査に対応
できるので、ジグ費が大幅に縮減できる効果が期待でき
る。また少量生産では１台当たりのジグ費用が大きくな
り、負担に耐えられないということも発生してきている
のでこの効果はコスト低減の意味から言っても非常に効
果があると言える。
案により、いかなるプリント基板であっても、１台のプ
リント基板検査装置で、複数のプリント基板検査に対応
できるので、ジグ費が大幅に縮減できる効果が期待でき
る。また少量生産では１台当たりのジグ費用が大きくな
り、負担に耐えられないということも発生してきている
のでこの効果はコスト低減の意味から言っても非常に効
果があると言える。
【図１】本発明によるコンタクトピンとベースの正面及
び平面を示す図である。
び平面を示す図である。
【図２】本発明による検査装置の接続及び概念を示す図
である。
である。
【図３】従来方式のコンタクトピンとベースの正面及び
平面を示す図である。
平面を示す図である。
１…コンタクトピンベース １ａ…位置決め穴 ２…コンタクトピン ２ａ…リード線 ３ａ…測定ポイントａ ３ｂ…測定ポイントｂ ４…制御器 ５…測定装置 ６…抵抗 ７…コンタクトピンベース
Claims (1)
- 【請求項１】プリント基板に接触させるコンタクトピン
方式の接触形プリント基板検査機において、等間隔ピッ
チに配置したプリント基板の検査用銅箔ランドを設けて
おき、あらかじめ等間隔ピッチにジグピンを配置させた
ジグベースを用いることを特徴としたプリント基板検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17796892A JPH0618558A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | プリント基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17796892A JPH0618558A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | プリント基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618558A true JPH0618558A (ja) | 1994-01-25 |
Family
ID=16040231
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17796892A Pending JPH0618558A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | プリント基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0618558A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0990912A2 (de) * | 1998-09-28 | 2000-04-05 | atg test systems GmbH | Prüfsonde-Antriebsvorrichtung |
-
1992
- 1992-07-06 JP JP17796892A patent/JPH0618558A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0990912A2 (de) * | 1998-09-28 | 2000-04-05 | atg test systems GmbH | Prüfsonde-Antriebsvorrichtung |
| EP0990912A3 (de) * | 1998-09-28 | 2000-06-14 | atg test systems GmbH & Co. KG | Prüfsonde-Antriebsvorrichtung |
| US6344751B1 (en) | 1998-09-28 | 2002-02-05 | Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg | Finger tester probe |
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