JPS5824940B2 - ハンドウタイソシノジツソウホウホウ - Google Patents

ハンドウタイソシノジツソウホウホウ

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Publication number
JPS5824940B2
JPS5824940B2 JP50066419A JP6641975A JPS5824940B2 JP S5824940 B2 JPS5824940 B2 JP S5824940B2 JP 50066419 A JP50066419 A JP 50066419A JP 6641975 A JP6641975 A JP 6641975A JP S5824940 B2 JPS5824940 B2 JP S5824940B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
bonding pad
lead
semiconductor
die bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP50066419A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS51142977A (en
Inventor
水野和夫
西雄策
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP50066419A priority Critical patent/JPS5824940B2/ja
Publication of JPS51142977A publication Critical patent/JPS51142977A/ja
Publication of JPS5824940B2 publication Critical patent/JPS5824940B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はたとえばタブ方式の半導体素子を配線基板上に
実装する半導体素子の実装方法に関する。
タブ方式の半導体素子は、第1図A、Hに示すように、
半導体チップ11と、この半導体チップ11上の各バン
プ電極12に接続されて周囲にL字状に導出された複数
のり一部13とで構成される。
しかして、この半導体素子を配線基板上に実装するには
、従来、アウクリードボンデイングと称する方法で半導
体素子1個1個を専用のボンダにて位置合わせしながら
、加熱圧着または半田付けで行うのが一般的である。
しかるに、このような方法では、半導体素子1個1個を
実装する都度、配線基板を加熱する必要があり、多数の
半導体素子を実装する場合、酸化、クラック、劣化など
熱ショックによる配線基板、リードなどの劣化がある。
また、実装に要する労力が多くなる。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、多数の半導体
素子を配線基板上に同時に半田付けすることが可能とな
り、これにより熱ショックによる配線基板、リードなど
の劣化を防止でき、しかも実装に要する労力を少なくし
得る半導体素子の実装方法を提供することを目的とする
以下本発明の一実施例を第2図A、Bおよびその一部の
拡大図である第3図A、Bを参照して説明すると、21
は配線基板であり、この配線基板21上には後述する半
導体素子の半導体チップを取付けるためのダイポンディ
ングパッド22が多数行列状に所定間隔に設けられてお
り、このダイポンディングパッド22上には半田23が
盛っである。
また、配線基板21上には上記各ダイポンディングパッ
ド22の周囲に複数のリードポンディングパッド24が
設けられる。
このリードポンディングパッド24は、上記グイボンデ
イングパラド22上に半導体チップが取付けられる半導
体素子のリードを接続するためのものであり、配線基板
21上に形成される図示しない配線パターンに接続され
ており、上記ダイポンディングパッド22と同様に半田
25が盛っである。
しかして、このような配線基板21上には着脱自在なア
ライメントマスク26が設けられる。
この場合、アライメントマスク26はたとえば0.2m
rn厚のステンレスなど熱的変形の影響の少ない、熱伝
導のよい半田の付かない金属で作られる。
また、アライメントマスク26には上記各ダイポンディ
ングパッド22に対応してこのダイポンディングパッド
22を少なくとも収容する大きさの透孔27が多数行列
状に所定間隔に形成される。
さらに、アライメントマスク26には上記各透孔27の
内縁部に、各ダイポンディングパッド22周囲のリード
ポンディングパッド24に対応して切込み溝28が複数
形成されている。
さて、タブ方式の半導体素子29は、半導体チップ30
と、この半導体チップ30上の各バンプ電極31に接続
されて周囲にL字状に導出された複数のり−ド32とで
構成されており、半導体チップ30の下面には半田付け
を容易にするための金属層33が形成されている。
しかして、この半導体素子29を肉眼または顕微鏡下で
上記アライメントマスク26上の多数の透孔27に順次
挿入し、その半導体チップ30を配線基板21上のダイ
ポンディングパッド22上の半田23を介在して置く。
また、半導体素子29のリード32先端を、アライメン
トマスク26の透孔27内縁部に形成された複数の切込
み溝28に挿入して配線基板21上のリードポンディン
グパッド24上に半田25を介在して置くものであり、
このようにリード32先端を複数の切込み溝28に挿入
すると、半導体素子29がアライメントマスク26によ
り動かなくなり、配線基板21上に多数の半導体素子2
9が上記状態(半導体チップ30がダイポンディングパ
ッド22上に置かれ、リード32先端がリードポンディ
ングパッド24上に置かれた状態)に位置決めされる。
しかる後、配線基板21を加熱するものであり、配線基
板21を加熱すると半田23.25が溶解し、半導体チ
ップ30とダイポンディングパッド22の半田付けおよ
び半導体素子29のリード32先端とリードポンディン
グパッド24との半田付けが多数の半導体素子29同時
に行われる。
なお、半田付けが終了し冷却された時点でアライメント
マスク26は配線基板21上から取り除かれるもので、
このアライメントマスク26は次の配線基板21上に半
導体素子29を実装する場合に再び使用される。
したがって、このような実装方法によれば、アライメン
トマスク26を使用して半導体素子29を多数配線基板
21上に位置決めできるようにしたので、多数の半導体
素子29を配線基板21上に同時に半田付けすることが
可能になり、これにより長時間高温下にさらされること
がないので熱ショックによる配線基板21、リード32
などの劣化を防止できる。
また、半導体チップ30をダイポンディングパッド22
上に置いてリート32の先端をアライメントマスク26
の切込み溝28に挿入するだけで容易に半導体素子29
の位置決めを行うことができ、しかも同時に半田付けす
るものであるから実装に要する労力を少なくし得る。
さらに、この方法によればウオーミングガスなどの雰囲
気炉または真空炉を使用することが容易になるので、半
田付は部における半田束の発生を防止できる。
また、この方法によればアウクリードボンダなどの高価
な設備を使うことなく容易にしかも正確に半導体素子2
9の実装を行うことができる。
また、アライメントマスク26が着脱自在になっている
ので、アライメントマスク26の再使用が可能になるも
のである。
なお、上記実施例では半導体素子としてタブ方式の半導
体素子を使用しているが、タブ方式の半導体素子に限定
されるものでない。
以上詳述したように、本発明によれば、非常に犬なる効
果を有する半導体素子の実装方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はタブ方式の半導体素子を示す図で、Aは平面図
、Bは正面図、第2図は本発明に係る半導体素子の実装
方法の一実施例を説明するための図で、Aは平面図、B
は一部断面して示す正面図、第3図は第2図の一部を拡
大して示す図で、Aは平面図、Bは正面図である。 21・・・・・・配線基板、22・・・・・・ダイポン
ディングパッド、24・・・・・・リードポンディング
パッド、26・・・・・・アライメントマスク、27・
・・・・・透孔、28・・・・・・切込み溝、29・・
・・・・半導体素子、30・・・・・・半導体チップ、
32・・・・・・リード。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 配線基板上のダイボンディングバットおよびリード
    ポンディングパッドの両者の表面に予め半田を被着する
    工程と、上記配線基板上のダイポンディングパッドと対
    応して少なくともこのダイポンディングパッドを収容す
    る大きさの透孔が複数形成されると共に、上記配線基板
    上のリードポンディングパッドと対応して上記各透孔縁
    部に複数の切込み溝が形成された着脱自在なアライメン
    トマスクを上記配線基板上に設ける工程と、複数の半導
    体素子を上記アライメントマスクの複数の透孔に順次挿
    入してその半導体チップを配線基板上のダイポンディン
    グパッド上に置くとともに、その透孔縁部の複数の切込
    み溝に半導体素子のリード先端を挿入してこのリード先
    端を配線基板上のリードポンディングパッド上に置く工
    程と、加熱し、上記半導体素子とダイボンディングとの
    半田付けおよびリードとリードポンディングパッドとの
    半田付けを複数の半導体素子同時に行う工程とを具備し
    てなる半導体素子の実装方法。
JP50066419A 1975-06-04 1975-06-04 ハンドウタイソシノジツソウホウホウ Expired JPS5824940B2 (ja)

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JPS51142977A JPS51142977A (en) 1976-12-08
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ID=13315245

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02270238A (ja) * 1989-04-10 1990-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd リレー駆動装置

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