JPS58207013A - 合焦検出方法 - Google Patents
合焦検出方法Info
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- JPS58207013A JPS58207013A JP57088335A JP8833582A JPS58207013A JP S58207013 A JPS58207013 A JP S58207013A JP 57088335 A JP57088335 A JP 57088335A JP 8833582 A JP8833582 A JP 8833582A JP S58207013 A JPS58207013 A JP S58207013A
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
- G02B7/343—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using light beam separating prisms
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カメラ等元学機械の自動焦点1114節装置
などに用いる合焦検出方法に関するものである。
などに用いる合焦検出方法に関するものである。
対物レンズの射出瞳の右半分を通った光束と、左牛分を
通った光束を適当な分離手段によって分離し、それぞれ
の制酸に対応した波形の信号に光′#l変換して、両者
の位相ずれを比較することにより前ビン、後ビン、合焦
等の各信号を得るという技術思想は、例えば特開118
48−60645号公報や特開昭52−95221号公
報等多数見られる。その前者は、光束分離手段として振
動スリットを用いている。そのため機械的なil tI
JJ部品が必要であり、また後者は、対物レンズの予定
焦平面の後方にリレーレンズを設ける必要があるので、
比較的に広いスペースが必要であるが、何れにしてもそ
れら従来例におけるものの欠点は、結像光学系の光軸を
含む面を境とする2つの領域をそれぞれX[l過する光
栄の光tel換出力出力分布関性を十分高くシて取り出
し得ないことである。その特開昭52−95221号公
報に記載の吃のを発展させたものか記載されているもの
とみられる特開昭54−159259号公報には、リレ
ーレンズの代りに膜数個の微小レンズ糸と各微小レンズ
に対応した受光素子対が、微小レンズ系のアレイに対し
て列状に並べられている光学系が示されている。そして
、対物レンズの瞳の右半分を通った光束による光罐分布
と左半分を通った光束の光磁分布が、任意の対物レンズ
の位置に対し各受光素子対について1;1で物理的に比
較され、この二つの光層分布が完全に一致した対物レン
ズの位置のとき、その対物レンズは合焦したものとみな
している。
通った光束を適当な分離手段によって分離し、それぞれ
の制酸に対応した波形の信号に光′#l変換して、両者
の位相ずれを比較することにより前ビン、後ビン、合焦
等の各信号を得るという技術思想は、例えば特開118
48−60645号公報や特開昭52−95221号公
報等多数見られる。その前者は、光束分離手段として振
動スリットを用いている。そのため機械的なil tI
JJ部品が必要であり、また後者は、対物レンズの予定
焦平面の後方にリレーレンズを設ける必要があるので、
比較的に広いスペースが必要であるが、何れにしてもそ
れら従来例におけるものの欠点は、結像光学系の光軸を
含む面を境とする2つの領域をそれぞれX[l過する光
栄の光tel換出力出力分布関性を十分高くシて取り出
し得ないことである。その特開昭52−95221号公
報に記載の吃のを発展させたものか記載されているもの
とみられる特開昭54−159259号公報には、リレ
ーレンズの代りに膜数個の微小レンズ糸と各微小レンズ
に対応した受光素子対が、微小レンズ系のアレイに対し
て列状に並べられている光学系が示されている。そして
、対物レンズの瞳の右半分を通った光束による光罐分布
と左半分を通った光束の光磁分布が、任意の対物レンズ
の位置に対し各受光素子対について1;1で物理的に比
較され、この二つの光層分布が完全に一致した対物レン
ズの位置のとき、その対物レンズは合焦したものとみな
している。
この特開昭54−159259号公報に記載の方法では
、二つの物理kを一致させるためには小レンズ系が必要
であり、合焦時に微小レンズ系上にピントが合うことが
必要であるが、このような微小レンズアレイを精度よく
製作することは困錬である。また各微小レンズから受光
面上にxu達する光が、各受光素子対に対し、重なり合
って入射しないようにするため、微小レンズのピッチを
ある程度あけるか、個々の受光素子を小さくする必要が
あり、そのため急激に光の強度分布が変化するいわゆる
ステップ状被写体では、受光素子対の間にステップ像の
エツジ部分が入る口■飽性があり、その場合には精度よ
く相関濃かとれない恐れが生じる。
、二つの物理kを一致させるためには小レンズ系が必要
であり、合焦時に微小レンズ系上にピントが合うことが
必要であるが、このような微小レンズアレイを精度よく
製作することは困錬である。また各微小レンズから受光
面上にxu達する光が、各受光素子対に対し、重なり合
って入射しないようにするため、微小レンズのピッチを
ある程度あけるか、個々の受光素子を小さくする必要が
あり、そのため急激に光の強度分布が変化するいわゆる
ステップ状被写体では、受光素子対の間にステップ像の
エツジ部分が入る口■飽性があり、その場合には精度よ
く相関濃かとれない恐れが生じる。
本発明の目的は、上述の如き従来の合焦検出装置におけ
る欠点や不具合を解消し、精度高く合焦状態を個出し得
る合焦検出方法を提供しようとするものである。
る欠点や不具合を解消し、精度高く合焦状態を個出し得
る合焦検出方法を提供しようとするものである。
本発明の合焦検出方法は、結像光学系の光軸を含む而を
境とする第1および第2の領域を通過した光栄を、その
結壕光′$系の予定焦平面付近に配置した光束選択手段
により分離し、各別に受光素子列により光′電変換して
得られた出力分布を比較することにより前記結像光学系
の合焦状態を検出する合焦検出装置において、少なくと
も一方の出力分布の瞬接する受光菓子の出力端間の値を
、その瞬接する受光素子の各出力1直の平均瞭によって
補間してf尋た出力分布を用いて比較することを特敞と
するものである。
境とする第1および第2の領域を通過した光栄を、その
結壕光′$系の予定焦平面付近に配置した光束選択手段
により分離し、各別に受光素子列により光′電変換して
得られた出力分布を比較することにより前記結像光学系
の合焦状態を検出する合焦検出装置において、少なくと
も一方の出力分布の瞬接する受光菓子の出力端間の値を
、その瞬接する受光素子の各出力1直の平均瞭によって
補間してf尋た出力分布を用いて比較することを特敞と
するものである。
以下本発明を、図面を参照して詳記する。
1/II知のように、レンズの光軸を含む面を境にした
各部分の領域を通過した各光束による光濃は、デフォー
カスに伴ない樵ずれを生ずる。第1図はその原理の説明
図であって、撮影レンズ1の光軸0を中心に開孔を有す
る絞り2によって、撮影レンズlに入射する被写体8か
らの光束が、その撮影レンズ1の上下各半分の各領域を
通過するようにしている。撮影レンズlの上側および下
側の各領域を通過した光束による懺を考えると、図示の
ように検出面上では後ビン、合焦、前ピンの各状態によ
り撮影レンズlの上側の領域を通過した光束による嫁a
、b、cと、撮影レンズ1の下側の領域を通過した光束
による酸a’ v b’ p c’との位置関係が異な
っている。この現象を利用し、撮影レンズ1の上側の領
域を通過した光束と、撮影レンズ1の下側の領域を通過
した光束とを分離して、それぞれの光束による嫁の横ず
れの方向および柚ずれ皺を検出することにより、合焦判
定を行なうことができる。
各部分の領域を通過した各光束による光濃は、デフォー
カスに伴ない樵ずれを生ずる。第1図はその原理の説明
図であって、撮影レンズ1の光軸0を中心に開孔を有す
る絞り2によって、撮影レンズlに入射する被写体8か
らの光束が、その撮影レンズ1の上下各半分の各領域を
通過するようにしている。撮影レンズlの上側および下
側の各領域を通過した光束による懺を考えると、図示の
ように検出面上では後ビン、合焦、前ピンの各状態によ
り撮影レンズlの上側の領域を通過した光束による嫁a
、b、cと、撮影レンズ1の下側の領域を通過した光束
による酸a’ v b’ p c’との位置関係が異な
っている。この現象を利用し、撮影レンズ1の上側の領
域を通過した光束と、撮影レンズ1の下側の領域を通過
した光束とを分離して、それぞれの光束による嫁の横ず
れの方向および柚ずれ皺を検出することにより、合焦判
定を行なうことができる。
第2図は、そのようにして得られたデフォーカス状態に
おける撮影レンズ1の上(L1119i1域および下側
領域を通過した光束による嫁を、各別に受光素子列によ
り光電変換して得られた出力分布信号ABの一例を示し
たもので、両信号の位相差X力i1横ずれ鼠に相当する
O @8図は、本発明の実施例の一例の概略を線図で示した
ものである。この実施例においては、結像光学系4たと
えば撮影レンズの光軸0を含む面を境とする第1の領域
5および第2σ〕領域6を通過した各光束7,8を、そ
の!M影レしズ4σ〕予定知平面9の付近に設け゛た臨
界角プリズムアレイlOによって選択するようにし、て
いる。この臨界角プリズムアレイ10によって選択され
た前記撮影レンズlの各領域からの光束は、予定焦平面
9上に配列した受光素子列11に投影されて光1を変換
され、その受光菓子列11の奇数番目群および偶数番目
群の6受光素子に入射した光像に対1ih、した出力分
布の゛磁気信号を得る0 臨界角プリズムアレイによる撮影レンズ4のデフォーカ
スによる塚の佃ずれを検出してその撮像レンズの合焦状
態を検出する方法は、不願人の出線にかかわる待狽昭5
6−159218号明糾書に詳記されているが、第4図
によりこれを簡単に説明する。
おける撮影レンズ1の上(L1119i1域および下側
領域を通過した光束による嫁を、各別に受光素子列によ
り光電変換して得られた出力分布信号ABの一例を示し
たもので、両信号の位相差X力i1横ずれ鼠に相当する
O @8図は、本発明の実施例の一例の概略を線図で示した
ものである。この実施例においては、結像光学系4たと
えば撮影レンズの光軸0を含む面を境とする第1の領域
5および第2σ〕領域6を通過した各光束7,8を、そ
の!M影レしズ4σ〕予定知平面9の付近に設け゛た臨
界角プリズムアレイlOによって選択するようにし、て
いる。この臨界角プリズムアレイ10によって選択され
た前記撮影レンズlの各領域からの光束は、予定焦平面
9上に配列した受光素子列11に投影されて光1を変換
され、その受光菓子列11の奇数番目群および偶数番目
群の6受光素子に入射した光像に対1ih、した出力分
布の゛磁気信号を得る0 臨界角プリズムアレイによる撮影レンズ4のデフォーカ
スによる塚の佃ずれを検出してその撮像レンズの合焦状
態を検出する方法は、不願人の出線にかかわる待狽昭5
6−159218号明糾書に詳記されているが、第4図
によりこれを簡単に説明する。
すなわち、第4図は、図示しない撮影レンズの第1の領
域たとえば上半分および第2の領域たとえば下半分を通
過した光束a、bが臨界角プリズムアレイ10に、逆向
きの傾斜の関係をもって配置1 L、た1対の傾斜面1
2 、18からなる膜数対の各面により分離される様子
を示したものである。
域たとえば上半分および第2の領域たとえば下半分を通
過した光束a、bが臨界角プリズムアレイ10に、逆向
きの傾斜の関係をもって配置1 L、た1対の傾斜面1
2 、18からなる膜数対の各面により分離される様子
を示したものである。
臨界角プリズム10に対する入射側媒質および出射側媒
質が空気の場合、プリズムの屈折率を1.5とするとき
、受光素子列面と各傾斜面12.18がなす角θを42
°とすれば、撮影レンズの中心からくる光軸を境に2分
される撮影レンズの各領域を通過した光束を奇数番目の
受光素子15゜17.19上とgj4R1番目の受光素
子16 、18 。
質が空気の場合、プリズムの屈折率を1.5とするとき
、受光素子列面と各傾斜面12.18がなす角θを42
°とすれば、撮影レンズの中心からくる光軸を境に2分
される撮影レンズの各領域を通過した光束を奇数番目の
受光素子15゜17.19上とgj4R1番目の受光素
子16 、18 。
20上に分離して投影することができる。図では、その
臨界角プリズム10を構晟する6対の傾斜面12.18
に′°それぞれ対応して配列した受光素子列の偶gI*
目の受光素子16.18.20が撮影レンズの下半分の
通過光束を、また奇数番目の受光素子15.17.19
が下半分の通過光束をそれぞれ受光している状態を示し
ている。この場合の奇数番目および偶数番目の受光素子
の各出力分布を第6図に示す。゛同図においてX印は奇
数番目の受光素子の出力を、また○印は偶数番目の出力
をそれぞれ表わしている。
臨界角プリズム10を構晟する6対の傾斜面12.18
に′°それぞれ対応して配列した受光素子列の偶gI*
目の受光素子16.18.20が撮影レンズの下半分の
通過光束を、また奇数番目の受光素子15.17.19
が下半分の通過光束をそれぞれ受光している状態を示し
ている。この場合の奇数番目および偶数番目の受光素子
の各出力分布を第6図に示す。゛同図においてX印は奇
数番目の受光素子の出力を、また○印は偶数番目の出力
をそれぞれ表わしている。
従来は、この奇数番目の受光素子の出力分布と、偶数番
目の受光素子の出力分布を比較して合焦判定を行なって
いたが、第8図の臨界角プリズムアレイ10の6対をな
す傾斜面12.18に対応して配置した受光素子対15
,16および17゜18等における各受光素子対に入射
する光束は、基本的には異なる像点のものであるので、
同一光量にはならない。従って第4図において受光素子
15.16・・・の何面上に撮影レンズの予定焦平面が
存在するとき、横ずれ法により比較される二つの像は、
受光素子15.16・・・のピッチが一定の場合、第5
図に示した偶数番目の受光素子の出力(○印)のみをつ
ないで得た像の強度分布と、奇数番目の受光素子の出力
(×印)のみをつないで得たと色の壕の強度分布となり
、受光素子15゜16.17・・・および臨界角プリズ
ムアレイ10を構成する各傾斜面12.laを無限に小
さくしない限り、それら対の関係にある受光素子の出力
をま、従来のものと同様に異なる酸点のものとなる。
目の受光素子の出力分布を比較して合焦判定を行なって
いたが、第8図の臨界角プリズムアレイ10の6対をな
す傾斜面12.18に対応して配置した受光素子対15
,16および17゜18等における各受光素子対に入射
する光束は、基本的には異なる像点のものであるので、
同一光量にはならない。従って第4図において受光素子
15.16・・・の何面上に撮影レンズの予定焦平面が
存在するとき、横ずれ法により比較される二つの像は、
受光素子15.16・・・のピッチが一定の場合、第5
図に示した偶数番目の受光素子の出力(○印)のみをつ
ないで得た像の強度分布と、奇数番目の受光素子の出力
(×印)のみをつないで得たと色の壕の強度分布となり
、受光素子15゜16.17・・・および臨界角プリズ
ムアレイ10を構成する各傾斜面12.laを無限に小
さくしない限り、それら対の関係にある受光素子の出力
をま、従来のものと同様に異なる酸点のものとなる。
一般に、受光素子の大きさは数十μ累 であり1極v!
Aに小面積にすることはS/Hの点で不利である。
Aに小面積にすることはS/Hの点で不利である。
またlll1常写真レノズの分解能は、前記の受光素子
の大きさと同程度あるいはそれ以下であり、さらには臨
界角プリズムの大きさは製作上有限であるから、偶数番
目の受光素子の出力分布と奇t!1番目の受光素子の出
力分布の相関度は、全く同じ壕か桶ずれした場合のもの
と比較し1低くなる。
の大きさと同程度あるいはそれ以下であり、さらには臨
界角プリズムの大きさは製作上有限であるから、偶数番
目の受光素子の出力分布と奇t!1番目の受光素子の出
力分布の相関度は、全く同じ壕か桶ずれした場合のもの
と比較し1低くなる。
従って、撮影レンズの予定焦平面に配置した受光素子列
上の瞭か、ある程ttはけたときは、レンズの駆動方向
を示す秤価関数m Hの正負はとしpz瞳を示し、前ピ
ンあるいは後ビンの構出かμ」能であるが、合焦位置に
近くなると正負の判定が正しく恢出されない場合がある
。
上の瞭か、ある程ttはけたときは、レンズの駆動方向
を示す秤価関数m Hの正負はとしpz瞳を示し、前ピ
ンあるいは後ビンの構出かμ」能であるが、合焦位置に
近くなると正負の判定が正しく恢出されない場合がある
。
そこで本発明方法においては、第6図の命数番目の受光
素子の出力(×印)のみを結んだ出力分布および偶数番
目の受光素子の出力(○印)のみを結んだ出力分布を比
較するに当り、奇数番目の受光素子列からの出力分布に
ついては奇数番目同志の隣接する受光素子の出力を、ま
た偶数番目の受光素子列からの出力分布については偶数
番目同志の降接する受光素子の出力を、それぞれたとえ
ば荷重平均することによって補間値を求めて挿入して得
た出力分布によって比較するようにしたものである。
素子の出力(×印)のみを結んだ出力分布および偶数番
目の受光素子の出力(○印)のみを結んだ出力分布を比
較するに当り、奇数番目の受光素子列からの出力分布に
ついては奇数番目同志の隣接する受光素子の出力を、ま
た偶数番目の受光素子列からの出力分布については偶数
番目同志の降接する受光素子の出力を、それぞれたとえ
ば荷重平均することによって補間値を求めて挿入して得
た出力分布によって比較するようにしたものである。
第6図AおよびBは、奇数番目の受光素子列の出力のみ
、および偶Wi番目の受光素子列の出力のみのものに、
それぞれさきに説明した補間値(△1印)を挿入して得
た出力分布曲線の例を示したものである。このようにし
て補間値を挿入して得たAおよびBの出力分布曲線間の
相関は、補間値を挿入しない場合の相関に比べはるかに
高くなっていることは明らかである。
、および偶Wi番目の受光素子列の出力のみのものに、
それぞれさきに説明した補間値(△1印)を挿入して得
た出力分布曲線の例を示したものである。このようにし
て補間値を挿入して得たAおよびBの出力分布曲線間の
相関は、補間値を挿入しない場合の相関に比べはるかに
高くなっていることは明らかである。
補間さるべき埴は、たとえば奇数#目の受光素子の出力
分布についていえば、元来防接して存在する告の偶数番
目の受光素子の出力について火路しているので、その受
光素子が存在すると仮定した場合に得られる出力値であ
り、I#4数薔目の受光素子の出力分布についても同様
である。
分布についていえば、元来防接して存在する告の偶数番
目の受光素子の出力について火路しているので、その受
光素子が存在すると仮定した場合に得られる出力値であ
り、I#4数薔目の受光素子の出力分布についても同様
である。
その補間値を直IfM油間する場合の例について以下簡
堆に述べる。
堆に述べる。
いま、偶数番目の受光素子列の出方分布の補間について
考えてみる。n−1,2・・・m、2したとき、2n番
目の受光素子と2n+1番目の受光素・子の中心間距離
をl、t2n−)−x番目の受光素子と2nn+2目の
受光菓子の中心11距離を72とする。また2n番目の
受光素子の出力をに2n# 2 n+24M目の受光素
子の出方をA2n −1−2とし、油量する社をA!n
+、とすると、 111□十18゜ より、 となり、!□−!2となるようにすれば補間値は平均値
となる。同様にして奇数番目の受光素子列の出力分布に
ついても補間すればよい。
考えてみる。n−1,2・・・m、2したとき、2n番
目の受光素子と2n+1番目の受光素・子の中心間距離
をl、t2n−)−x番目の受光素子と2nn+2目の
受光菓子の中心11距離を72とする。また2n番目の
受光素子の出力をに2n# 2 n+24M目の受光素
子の出方をA2n −1−2とし、油量する社をA!n
+、とすると、 111□十18゜ より、 となり、!□−!2となるようにすれば補間値は平均値
となる。同様にして奇数番目の受光素子列の出力分布に
ついても補間すればよい。
このようにして得られた補間値と実際に測定して得た受
光素子の出力値とを含めて奇数番目の受光菓子列から得
られた出方分布をB、 I B8.・・・Bm−0とし
、偶Wi番目の受光菓子列から得られた出力分布をAs
、Ag z ・・・Am−1(AHz klBとB1
# Bmは除く。)とすれば、たとえば評価関数Fを
F= Ft 、(lAn −Bn+xl l An+
z −”n l )から求めることにより、第7図にそ
の評価関数曲線を示したように撮影レンズの移動に関連
してその評価関数値の正、負が合焦位置を挾んで反転す
ることになるので合焦、前ビン、後ビンを容易に判定す
ることができる。
光素子の出力値とを含めて奇数番目の受光菓子列から得
られた出方分布をB、 I B8.・・・Bm−0とし
、偶Wi番目の受光菓子列から得られた出力分布をAs
、Ag z ・・・Am−1(AHz klBとB1
# Bmは除く。)とすれば、たとえば評価関数Fを
F= Ft 、(lAn −Bn+xl l An+
z −”n l )から求めることにより、第7図にそ
の評価関数曲線を示したように撮影レンズの移動に関連
してその評価関数値の正、負が合焦位置を挾んで反転す
ることになるので合焦、前ビン、後ビンを容易に判定す
ることができる。
第8図は、本発明の合焦検出方法を用いた自画焦点調節
装置の一例を示す概略的構成を示すプルツク図である。
装置の一例を示す概略的構成を示すプルツク図である。
撮影レンズ4は、モータ21により光軸方向に駆動制御
可能になっている。22は、第8図で説明したようにそ
の撮影レンズ4の予定焦平面に配列した受光素子列とそ
の光入射側に前置した臨界角プリズムアレイとから光電
変換部であり、この受光素子列に前記撮影レンズによる
物体家が投影される。なお、その受光菓子列は、例えば
COD 。
可能になっている。22は、第8図で説明したようにそ
の撮影レンズ4の予定焦平面に配列した受光素子列とそ
の光入射側に前置した臨界角プリズムアレイとから光電
変換部であり、この受光素子列に前記撮影レンズによる
物体家が投影される。なお、その受光菓子列は、例えば
COD 。
MOS 7オトタイオードアレイ等の固体撮VC素子に
より形成されている。
より形成されている。
駆動回路28からのスタート信号により前記九心変侠部
22内の受光素子列を動作させて一定時間檀分後、受光
素子列の奇数番目の受光素子群と偶数番目の受光素子群
の入射光四に対応した光−変換信号を各別に順次読み出
し、それぞれA/D変侠器24によりディジタル信号に
変換し、記憶回路25に記憶する。この記ta埴を演算
回路26にとり込みその記憶した埴をもとに、奇数番目
の受光素子の出力分布およびIIJ!Ri番目の受光素
子の出力分布について、それぞれさきに説明した補間1
uを所定のW[廊″°式によりNl゛葬して補間すると
ともに、所定の計算式による評価関数の1葬を何なう。
22内の受光素子列を動作させて一定時間檀分後、受光
素子列の奇数番目の受光素子群と偶数番目の受光素子群
の入射光四に対応した光−変換信号を各別に順次読み出
し、それぞれA/D変侠器24によりディジタル信号に
変換し、記憶回路25に記憶する。この記ta埴を演算
回路26にとり込みその記憶した埴をもとに、奇数番目
の受光素子の出力分布およびIIJ!Ri番目の受光素
子の出力分布について、それぞれさきに説明した補間1
uを所定のW[廊″°式によりNl゛葬して補間すると
ともに、所定の計算式による評価関数の1葬を何なう。
このようにして優られた評価端に応じた制御回路27か
ら制御信号によりモーターを制御して撮影レンズ4を駆
動することにより、撮影レンズ4を自動的に前記所定焦
平面に合焦させるようにしている。なお、28は、合焦
状態を表示するための表示回路である。また、駆動回路
28、−変換器24、記憶回路25および演算回路26
のそれぞれの動作タイミングは、定められたプログラム
によって動作する制御回路27によって制御されるよう
になっている。
ら制御信号によりモーターを制御して撮影レンズ4を駆
動することにより、撮影レンズ4を自動的に前記所定焦
平面に合焦させるようにしている。なお、28は、合焦
状態を表示するための表示回路である。また、駆動回路
28、−変換器24、記憶回路25および演算回路26
のそれぞれの動作タイミングは、定められたプログラム
によって動作する制御回路27によって制御されるよう
になっている。
以上の説明から明らかなように本発明によれば、結塚光
学系の光軸を含む面を境とする第1および第2の領域を
迎春した光束による・、予定焦平面のデフォーカス時に
おける各欄ずれ家を比較するようにしだ合焦検出方法に
おいて、受光素子列により光゛亀変侠される出力分布の
隣接受光素子の出力間の11[1を、その瞬接関係にあ
る受光素子の出力(直から求めた補1川埴によって補間
した出力分布を用いて、前記の佃ずれを慎出するもので
あるから、惟めて相関の大きい出力分布を比較すること
となるので、受光素子列から得られる前記6横ずれ壕に
対応した出力分布が異なる場合であっても、精度高く、
シかも撮影レンズの広い駆動軸Hにわたって合焦状態を
検出することができる効果かある。
学系の光軸を含む面を境とする第1および第2の領域を
迎春した光束による・、予定焦平面のデフォーカス時に
おける各欄ずれ家を比較するようにしだ合焦検出方法に
おいて、受光素子列により光゛亀変侠される出力分布の
隣接受光素子の出力間の11[1を、その瞬接関係にあ
る受光素子の出力(直から求めた補1川埴によって補間
した出力分布を用いて、前記の佃ずれを慎出するもので
あるから、惟めて相関の大きい出力分布を比較すること
となるので、受光素子列から得られる前記6横ずれ壕に
対応した出力分布が異なる場合であっても、精度高く、
シかも撮影レンズの広い駆動軸Hにわたって合焦状態を
検出することができる効果かある。
従って、本発明方法を実施するにあたり、光束選択手段
としては簡単な構成の光学系で足りる仁ととなる、また
、槓ずれ像を検出するための受光素子列の間隔が等間隔
でなくとも、その間隔に比例した補間値でその受光素子
列の出力分布を補関し得るので、合焦検出装置としての
構成が比較的に面琲となり、かつ検出精度を向上させ得
る。
としては簡単な構成の光学系で足りる仁ととなる、また
、槓ずれ像を検出するための受光素子列の間隔が等間隔
でなくとも、その間隔に比例した補間値でその受光素子
列の出力分布を補関し得るので、合焦検出装置としての
構成が比較的に面琲となり、かつ検出精度を向上させ得
る。
また、撮影し慨ズのデフォーカスによる佃ずれ風は、撮
影レンズの上下もしくは左右の各半分の領域からの各光
束の主光線の開き角により設定されるので一眼レフレッ
クス式カメラのように繰り出し緻の大きいレンズの合焦
状龜を検出する装置として、第8図で説明した本〒明の
実施例のものを用いれば、臨界角プリズムアレイにおけ
る閲々の臨界角プリデムの傾斜面の傾きを変えることに
より主光線の傾きを任意に変化させることカーできるこ
とから、これにより槓ずれ崖を変えることかでき、従っ
て槓ずれ皺が大きくなり過ぎて、相関をとるのに必要な
光Se+1部分が受光素子列をとび出して検出不能にな
るような不風合を解消し得る効果もあり、しかもWI度
、検出範囲をある範囲内で任意に変化させることも可能
である。
影レンズの上下もしくは左右の各半分の領域からの各光
束の主光線の開き角により設定されるので一眼レフレッ
クス式カメラのように繰り出し緻の大きいレンズの合焦
状龜を検出する装置として、第8図で説明した本〒明の
実施例のものを用いれば、臨界角プリズムアレイにおけ
る閲々の臨界角プリデムの傾斜面の傾きを変えることに
より主光線の傾きを任意に変化させることカーできるこ
とから、これにより槓ずれ崖を変えることかでき、従っ
て槓ずれ皺が大きくなり過ぎて、相関をとるのに必要な
光Se+1部分が受光素子列をとび出して検出不能にな
るような不風合を解消し得る効果もあり、しかもWI度
、検出範囲をある範囲内で任意に変化させることも可能
である。
なお、本発明方法における受光素子列のピッチを粗くシ
、本発明方法の撮影レンズの繰り出し方向の甑出機能の
みを用いて、池の方式だとえばほけ酸方式と併用して実
−施することも可能である。
、本発明方法の撮影レンズの繰り出し方向の甑出機能の
みを用いて、池の方式だとえばほけ酸方式と併用して実
−施することも可能である。
また9、第8図に示した本発明の実施例に用いた光に形
成できるので、その実施例のものの製作は極めて、容易
であるばかりでなく、第8図の実施例のように臨界角プ
リズムアレイを用いて本発明を実施すれば、検出精度′
枠高い、しかも構成が比較的)1′ 簡単でしかも小形化した合焦検出装置を提供することが
できる。
成できるので、その実施例のものの製作は極めて、容易
であるばかりでなく、第8図の実施例のように臨界角プ
リズムアレイを用いて本発明を実施すれば、検出精度′
枠高い、しかも構成が比較的)1′ 簡単でしかも小形化した合焦検出装置を提供することが
できる。
第1図は、慎ずれ方式による焦点検出方法の原理説明図
、 第2図は、横ずれ方式による受光素子列の出力分布の説
明図、 第8図は、本発明方法の実施例の一例の概略構成を示す
線図、 第4図は、撮影レンズの第1および第2領域を通過した
光束を臨界角プリズムアレイによす分離する場合の原理
説明図、 第5図は、受光素子列の出力分布図、 第6図AおよびBは、それぞれ補間値を挿入した奇数番
目の受光素チクσおよび偶数番目の受光素子列の各出力
分布図、 第7図は、撮影レンズの移動位置に対する評価関数の変
化の一例を示す曲i図、 第8図は、本発明方法を用いた自動焦点mm装置の一例
を示す概略的構成を示すブロック図である。 1.4・・・撮影レンズ 2・・・絞り8・・・被写
体 5・・・第1の領域6・・・第2領域
7.8・・・光束9・・・予定焦平面
10・・・臨界角プリズムアレイ 1
1・・・受光素子列12 、18・・・対をなす各傾斜
面 15.16,17,18,19.20・・・受光素子S
IR・・・モータ 22・・・光電変換部24
・・・め変換器 26・・・記憶回路26・・・演
−算回部 27・・・制御回路28・・・表示回
路 特許出願人 オリンノくス光学工業株式会社第1−
図 鎮2図 ; 第・1図 第C;図 2 4 6 8fo /2 t4 f尤秦子番台 第7図 第81・1 手続補正書 昭和58年 7 月 78 1、事(’Iの表示 昭和57年 特 1.′I 願第88335号2、発
明の名称 合焦検出方法 :う、PIli+[をする者 11f1’の閏け 特111出願人 (o:n)オリンパス九学I、業株式会社説明の欄 7− hli +[の内容 (別紙の通り)1明細書
第9頁第6行中の「数十μ−」を「数トハ0Jと訂正す
る。 2同第10頁第8行中の[補間値を求めて1を「求めた
櫂間値をそれぞれの出力に」と訂正する0 8同第11頁第15行中の数式 同頁末行中の数式 4同第18頁第5行目と第6行目の間に「23・・・駆
動回路J′ft挿入する。
、 第2図は、横ずれ方式による受光素子列の出力分布の説
明図、 第8図は、本発明方法の実施例の一例の概略構成を示す
線図、 第4図は、撮影レンズの第1および第2領域を通過した
光束を臨界角プリズムアレイによす分離する場合の原理
説明図、 第5図は、受光素子列の出力分布図、 第6図AおよびBは、それぞれ補間値を挿入した奇数番
目の受光素チクσおよび偶数番目の受光素子列の各出力
分布図、 第7図は、撮影レンズの移動位置に対する評価関数の変
化の一例を示す曲i図、 第8図は、本発明方法を用いた自動焦点mm装置の一例
を示す概略的構成を示すブロック図である。 1.4・・・撮影レンズ 2・・・絞り8・・・被写
体 5・・・第1の領域6・・・第2領域
7.8・・・光束9・・・予定焦平面
10・・・臨界角プリズムアレイ 1
1・・・受光素子列12 、18・・・対をなす各傾斜
面 15.16,17,18,19.20・・・受光素子S
IR・・・モータ 22・・・光電変換部24
・・・め変換器 26・・・記憶回路26・・・演
−算回部 27・・・制御回路28・・・表示回
路 特許出願人 オリンノくス光学工業株式会社第1−
図 鎮2図 ; 第・1図 第C;図 2 4 6 8fo /2 t4 f尤秦子番台 第7図 第81・1 手続補正書 昭和58年 7 月 78 1、事(’Iの表示 昭和57年 特 1.′I 願第88335号2、発
明の名称 合焦検出方法 :う、PIli+[をする者 11f1’の閏け 特111出願人 (o:n)オリンパス九学I、業株式会社説明の欄 7− hli +[の内容 (別紙の通り)1明細書
第9頁第6行中の「数十μ−」を「数トハ0Jと訂正す
る。 2同第10頁第8行中の[補間値を求めて1を「求めた
櫂間値をそれぞれの出力に」と訂正する0 8同第11頁第15行中の数式 同頁末行中の数式 4同第18頁第5行目と第6行目の間に「23・・・駆
動回路J′ft挿入する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 結像光学系の光軸を含む面を境とする第1および第
2の領域を通過した光束を、その結鐵光学系の予定焦平
面付近に配置した光束選択手段により分離し、各別に受
光素子列により光電変換して得られた出力分布を比較す
ることにより前記結像光学系の合焦状態を検出する合焦
検出方法において、 少なくとも一方の出力分布の隣接する受光素子の出力値
間の値を、その隣接する受光素子の各出力値の平均値に
よって補間して得た出力分布を用いて比較することを特
徴とする合焦検出方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57088335A JPS58207013A (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 合焦検出方法 |
US06/496,404 US4572476A (en) | 1982-05-25 | 1983-05-20 | Method for detecting a focus condition of an imaging optical system employing interpolated signal values |
DE3318983A DE3318983C2 (de) | 1982-05-25 | 1983-05-25 | Verfahren zum Feststellen eines Scharfstellungszustandes bei einem optischen Abbildungssystem |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57088335A JPS58207013A (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 合焦検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58207013A true JPS58207013A (ja) | 1983-12-02 |
Family
ID=13939994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57088335A Pending JPS58207013A (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 合焦検出方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4572476A (ja) |
JP (1) | JPS58207013A (ja) |
DE (1) | DE3318983C2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6163618A (en) * | 1997-11-21 | 2000-12-19 | Fujitsu Limited | Paper discriminating apparatus |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0754371B2 (ja) * | 1986-11-10 | 1995-06-07 | 富士電機株式会社 | 合焦状態検出方法 |
US5337115A (en) * | 1988-09-12 | 1994-08-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting device |
JPH02217812A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-08-30 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
JP3103587B2 (ja) * | 1990-04-25 | 2000-10-30 | オリンパス光学工業株式会社 | 自動合焦装置 |
US5381206A (en) * | 1991-07-22 | 1995-01-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting device |
JP2006071950A (ja) * | 2004-09-01 | 2006-03-16 | Canon Inc | 光学機器 |
US20100296820A1 (en) * | 2008-01-31 | 2010-11-25 | Huei Pei Kuo | Free space optical interconnect |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2460805C2 (de) * | 1974-12-21 | 1983-01-27 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Optischer Entfernungsmesser |
JPS53116852A (en) * | 1977-03-23 | 1978-10-12 | Olympus Optical Co Ltd | Automatic focus adjusting system |
JPS5598709A (en) * | 1979-01-20 | 1980-07-28 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Focusing detector |
DE3006244C2 (de) * | 1979-02-20 | 1984-08-30 | Ricoh Co., Ltd., Tokio/Tokyo | Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Objektivs auf einen Gegenstand |
JPS5859418A (ja) * | 1981-10-06 | 1983-04-08 | Olympus Optical Co Ltd | 合焦検出装置 |
-
1982
- 1982-05-25 JP JP57088335A patent/JPS58207013A/ja active Pending
-
1983
- 1983-05-20 US US06/496,404 patent/US4572476A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-05-25 DE DE3318983A patent/DE3318983C2/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6163618A (en) * | 1997-11-21 | 2000-12-19 | Fujitsu Limited | Paper discriminating apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3318983A1 (de) | 1983-12-01 |
DE3318983C2 (de) | 1986-02-13 |
US4572476A (en) | 1986-02-25 |
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