JPH0754371B2 - 合焦状態検出方法 - Google Patents

合焦状態検出方法

Info

Publication number
JPH0754371B2
JPH0754371B2 JP61265469A JP26546986A JPH0754371B2 JP H0754371 B2 JPH0754371 B2 JP H0754371B2 JP 61265469 A JP61265469 A JP 61265469A JP 26546986 A JP26546986 A JP 26546986A JP H0754371 B2 JPH0754371 B2 JP H0754371B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
case
photosensor
equation
pitch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61265469A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63121005A (ja
Inventor
章太郎 横山
隆 西部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP61265469A priority Critical patent/JPH0754371B2/ja
Priority to DE3733051A priority patent/DE3733051C3/de
Publication of JPS63121005A publication Critical patent/JPS63121005A/ja
Priority to US07/326,799 priority patent/US4883951A/en
Publication of JPH0754371B2 publication Critical patent/JPH0754371B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Focusing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、カメラのピント調整に用いるための合焦状
態検出方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の合焦検出方式として、被写体から放射ま
たは反射され、撮影レンズを介して入射される光束のう
ち、互いに異なる部分の光束を例えば2つのフオトセン
サアレイ上に投影し、このフオトセンサアレイ上に形成
された2つの被写体像の相対変位から合焦状態を検出す
る方式が知られている。
ところで、合焦状態の検出精度を上げるためには、2つ
のフオトセンサ上の像ずれ量を精密に求めることが必要
になる。しかしながら、フオトセンサの物理的配置(ピ
ツチ)にて決まる精度・分解能以上には直接求めること
はできないので、フオトセンサピツチの精度で先ずずれ
量を求めた後補間演算を行なうことにより、センサピツ
チ以上の精度でずれ量を求めることが行なわれている。
以下、その従来例について説明する。
第3図は合焦状態検出装置の一般的な例を示す構成図、
第4図は補間方法の従来例を説明するための説明図であ
る。
第3図において、1A,1Bはフオトセンサアレイであり、
これらに対しては図示されない光学系を介して被写体像
が投影され、この2つの像の相対的な変位量を求めれ
ば、それがすなわち合焦状態を示す信号となる。2A,2B
はアナログ/デイジタル(A/D)変換器であり、フオト
センサアレイ1A,1B内の各センサからのアナログ出力を
デイジタル信号に変換する。また、3はマイクロコンピ
ユータの如き演算処理装置(以下、単にマイコンとも云
う。)で、A/D変換器2A,2Bからの出力を受けて2つの像
の相対的変位量xを求め、この値xにて撮像レンズの制
御を行なう。このように、かゝる合焦状態検出装置は演
算処理装置を用いてシステムを組むのが一般的である。
いま、A/D変換されたフオトセンサアレイ1A,1Bのセンサ
の出力値をそれぞれL(1),L(2),……,L(M1),R
(1),R(2),……,R(M2)とし、x=i×p(pは
フオトセンサピツチ)という2つの像の相対変位に対す
る、像の不一致度を示す評価関数f(i)は、例えば次
式で与えられる。
もし、フオトセンサアレイ1A,1B上の2つの像が相対的
にi0フオトセンサピツチだけずれているとすれば、f
(i0)=0となる。ただし、通常はxが完全にフオトセ
ンサピツチの整数倍になつたり、2つのフオトセンサか
らの像信号の形が(相対的にずれている以外は)完全に
同じになることは少ないので、f(i)>0となる。
i=−N1〜+N2(i,N1,N2は整数) の範囲でf(i)の最小値を求めることはマイコンで容
易に実行できるが、これは前述のように、通常は第1次
近似でしかないので、高精度の検出を行なうためには補
間計算が必要となる。この補間法の従来例を第4図に示
す。
第4図において、i0はフオトセンサピツチ毎ではf
(i)の最小値を与えるiであり、 f(i-1)>f(f+1) ……(2) であるとする。(2)式の条件は真のずれ量xがi0とi
+1の間にあると判断するためのもので、f(i-1)<f
(i+1)の場合はi-1とi+1の立場を入れ変えて以下同様
にすれば良い。なお、i-1=i0−1,i+1=i0+1を意味す
るものとする。
補間法の従来例は第4図(イ)のように、まず点(i-1,
f(i-1)と点(i0,f(i0))とを結ぶ直線L0をひき、こ
の直線L0と符号が逆で絶対値の等しい直線L1を点(i+1,
f(i+1))を通るようにひく。そして、直線L0とL1の交
点の横座標の値xを、最終の補間されたずれ量とするの
である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、この方法はf(i)のグラフの形が第4
図(イ)の直線L0とL1で構成されるような直線の場合で
は正しいxを与えるが、第4図(ロ),(ハ)で示すよ
うな曲率をもつたものになると誤差が出てくる。すなわ
ち、直線L0と符号は違うが絶対値が同じ傾きの直線を、
第4図(ロ),(ハ)の破線L2で示すように、x0に対し
対称な点(x0+(x0−i0),f(i0))をとおしてひけ
ば、交点は正しくx0を与えるが(f(i)はx0を中心
に、少なくともx0近傍では、左右対称であるとしてい
る)、図中の一点鎖線L1で示すように、別のポイントを
通つているので、図から明らかなように、f(i)が同
図(ロ)のように下に凸の場合はx>x0となり、一方同
図(ハ)のように上に凸の場合はx<x0となる。
これはすなわち、傾きの絶対値を f(i-1)−f(i0) に固定し、これを第4図(イ)の直線L0,L1にそのまゝ
適用したことによつて発生する誤差であり、このまゝで
は精度の良いずれ量xが求められないと云う問題があ
る。
したがつて、この発明はより高精度の合焦検出が可能な
合焦状態検出方法を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
フオトセンサピツチのi(整数)倍の変位量に対する2
つの像の不一致度を表わす尺度f(i)とその最小値を
与えるiの値i0、そのときの関数値f(i0)および該i0
の前後のi0−1,i0−2,i0+1,i0+2に対応する関数値f
(i0−1),f(i0−2),f(i0+1),f(i0+2)をそ
れぞれ求め、さらにこれらの値から下記(I)および
(II)式で示される量xを演算するとゝもに、前記関数
値f(i0−1)とf(i0+1)とを比較して、 イ)f(i0−1)>f(i0+1) ロ)f(i0−1)=f(i0+1) ハ)f(i0−1)<f(i0+1) のいずれの関係にあるかを判定し、 前記イ)の場合は下記(I)式、 ロ)の場合はx=i0、 ハ)の場合は下記(II)式 にてそれぞれ与えられるxまたはこれにフオトセンサピ
ツチを乗じた値を相対変位量とする。
記 x=i0+1/2 −{f(i0+1)+f(i0)}/A A=2{B1+K1(B1−B2)} B1=f(i0−1)−f(i0) B2=f(i0+2)−f(i0+1) K1=0〜0.5なる定数 ……(I) x=i0−1/2 +{f(i0−1)−f(i0)}/C C=2{D1+K1(D1−D2)} D1=f(i0+1)−f(i0) D2=f(i0−2)−f(i0−1) K1=0〜0.5なる定数 ……(II) 〔作用〕 点(i0,f(i0)),点(i+1,f(i+1))をそれぞれ通る
第4図(イ)のL0,L1に相当する直線の傾きの絶対値
を、 f(i-1)−f(i0) ではなく、これを修正した値を用いることにより、より
精度の高い補間演算を可能にする。
〔実施例〕
第1図はこの発明の実施例を示すフローチヤートであ
る。なお、この発明が実施される装置は第3図と同様で
あり、したがつて以下の説明は演算処理装置にて行なわ
れる各種の処理を示すことになる。
まず、A/D変換されたセンサ出力を取り込み(参
照)、この出力にもとづき2つのフオトセンサアレイ上
の被写体像のずれ量i(厳密には、これにフオトセンサ
ピツチを乗じた量)に対する不一致度を示す関数f
(i)を計算し(参照)、さらにf(i)の最小値を
与えるi0を求める(参照)。次いで、関数値f(i)
から後述する如き演算をして合焦検出信号(デフオーカ
ス信号)を出力するわけであるが、こゝでこの発明の原
理につき説明する。
まず、第2図を参照し、一般的な場合について考察す
る。同図の如く、点(0,y0)を通る傾き−Kの直線L
3と、点(1,y1)を通る傾きKの直線L4とを想定し、そ
の交点の座標のx座標を求めると、次式のようになる。
同式から明らかなように、K→∞とすればx→1/2とな
り、Kを小さくして行けば、xはy1−y0>0のときは減
少して行き、y1−y0<0のときは増大して行く。なお、
Kを大きくすることを考えると、その関係は上記と逆に
なる。
第4図の(ロ),(ハ)の場合にもどると、f(i+1
>f(i0)であり、同図(ロ)の場合はx>x0なので、
直線L0,L1の傾きを小さくすればxはよりx0に近づくこ
ととなり、同図(ハ)の場合はx<x0なので直線L0,L1
の傾きを大きくすれば、やはりxはx0に近づくこととな
る。そこで、直線L0,L1の傾きの絶対値として{f
(i-1)−f(i0)}を使わないで、 f(i-1)−f(i0)+C〔{f(i-1)−f(i0)} −{f(i+2)−f(i+1)}〕 ……(4) を用いることを考える。すなわち、(4)式は f(i-1)−f(i0)に補正項、 C〔{f(i-1)−f(i0)}−{f(i+2) −f(i+1)}〕 ……(5) を付け加えたものである。これは、点(i+1,f(i+1))
と点(i+2,f(i+2))を結ぶ直線の傾きの分も、重みC
を付けて計算に入れようというものである。さらに言え
ば、f(i)の傾きg(i)=f(i)−f(i−1)
またはf(i+1)−f(i)を考え、g(i)とΔg
(i)=g(i+1)−g(i)から、最適な傾きg
(i0)=g(i)+CΔG(i)を計算しようとするも
のである。この考えからするとCは正数であるが、x0
i+1よりi0に近いので、x<0.5が適当と考えられる。実
際、第4図(ロ)の場合は(5)式は負となつて直線
L0,L1の傾きは小さくなり、また第4図(ハ)の場合は
(5)式が正になつて直線L0,L1の傾きは大きくなり、
xをx0に近づけることができる。
そこで、(4)式を(3)式に代入し、簡単のためにy
-1=f(i-1),y0=f(i0),y1=f(i+1),y2=f(i
+2)とおきかえると、最終的に、ずれ量は次式で与えら
れる。
もちろんこれは、ずれ量がフオトセンサピツチの何倍で
あるかを示す値で、正確には(6)式にフオトセンサピ
ツチpを乗じなければならない。
また、前述のように(6)式はf(i-1)>f(i+1)が
成り立つ場合、すなわち、真のずれ量がi0とi+1の間に
存在すると判断される場合に適用される式で、f
(i-1)<f(i+1)、すなわち真のずれ量がi-1とi0
間に存在すると判断される場合は、同様の考察(y-1→y
1,y1→y-1,y2→y-2に置き換える)により次式で与えら
れる。
ここに、y-2=f(i-2)であり、この(7)式も(6)
式と同様にフオトセンサピツチの何倍であるかを示す値
である。
以上の如くして、より精密なずれ量を求めるわけである
が、このような処理をするのが第1図のステツプ〜
と云うことになる。すなわち、ステツプではf(i0
1)とf(i0+1)との比較を行ない、 f(i0−1)>f(i0+1) ならばステツプに進んで上記(6)式の演算を行なう
一方、 f(i0−1)<f(i0+1) ならばステツプに進んで上記(7)式の演算を行な
う。なお、 f(i0−1)=f(i0+1) の場合はi0がそのまゝずれ量を示しているので、 x=i0 となる(参照)。こうして、(6)式または(7)式
もしくはx=i0をデフオーカス信号として取り出すもの
である(参照)。こゝでは、デフオーカス量としてセ
ンサピツチの何倍であるかと云う、(6),(7)式の
結果またはx=i0を出力することにしているが、必要な
らばこれにフオトセンサピッチpを乗じて、ずれ量が何
μmであるかを求めることができるのは、云う迄もな
い。
このようにして求められたずれ量xは、精度の高い補間
計算をして求めたものであるので、これを用いてより精
密な合焦制御を行なうことができる。なお、かゝる方法
を用いてシミユレーシヨンを実施した結果、従来の方法
よりも高い精度でずれ量を検出できることが確認されて
いることを付言する。
〔発明の効果〕
この発明によれば、離散的に求めた像変位量iと不一致
度を表わす関数f(i)とを用いて高精度な補間計算を
行なうようにしたので、より高い精度で像変位量を検出
することができ、その結果、精密なピント調整が可能と
なる利点がもたらされる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例を示すフローチヤート、第2
図はこの発明による補間法の原理を説明するための説明
図、第3図は合焦状態検出装置の一般的な例を示す構成
図、第4図は補間法の従来例を説明するための説明図で
ある。 符号説明 1A,1B……フオトセンサアレイ、2A,2B……A/D変換器、
3……演算処理装置(マイクロコンピユータ)、L0,L1,
L2,L3,L4……直線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被写体から放射または反射される光束のう
    ちの互いに異なる部分の光束を少なくとも2つのフオト
    センサアレイ上にそれぞれ投影し、該各センサアレイ上
    に形成される被写体像の相対変位から光学系の合焦状態
    を送出すべく、 前記フオトセンサピツチのi(整数)倍の変位量に対す
    る前記2つの像の不一致度を表わす尺度f(i)とその
    最小値を与えるiの値i0、そのときの関数値f(i0)お
    よび該i0の前後のi0−1,i0−2,i0+1,i0+2に対応する
    関数値f(i0−1),f(i0−2),f(i0+1),f(i0
    2)をそれぞれ求め、さらにこれらの値から下記(I)
    および(II)式で示される量xを演算するとともに、前
    記関数値f(i0−1)とf(i0+1)とを比較して、 イ)f(i0−1)>f(i0+1) ロ)f(i0−1)=f(i0+1) ハ)f(i0−1)<f(i0+1) のいずれの関係にあるかを判定し、 前記イ)の場合は下記(I)式、 ロ)の場合はx=i0、 ハ)の場合は下記(II)式、 にてそれぞれ与えられるxまたはこれにフオトセンサピ
    ツチを乗じた値を前記相対変位量とすることを特徴とす
    る合焦状態検出方法。 記 x=i0+1/2 −{f(i0+1)−f(i0)}/A A=2{B1+K1(B1−B2)} B1=f(i0−1)−f(i0) B2=f(i0+2)−f(i0+1) K1=0〜0.5なる定数 ……(I) x=i0−1/2 +{f(i0−1)−f(i0)}/C C=2{D1+K1(D1−D2)} D1=f(i0+1)−f(i0) D2=f(i0−2)−f(i0−1) K1=0〜0.5なる定数 ……(II)
JP61265469A 1986-11-10 1986-11-10 合焦状態検出方法 Expired - Lifetime JPH0754371B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61265469A JPH0754371B2 (ja) 1986-11-10 1986-11-10 合焦状態検出方法
DE3733051A DE3733051C3 (de) 1986-11-10 1987-09-30 Verfahren und Einrichtung zur Schärfeeinstellungsermittlung
US07/326,799 US4883951A (en) 1986-11-10 1989-03-21 Method and system for detecting whether an optical system is in focus using an improved interpolation technique

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61265469A JPH0754371B2 (ja) 1986-11-10 1986-11-10 合焦状態検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63121005A JPS63121005A (ja) 1988-05-25
JPH0754371B2 true JPH0754371B2 (ja) 1995-06-07

Family

ID=17417601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61265469A Expired - Lifetime JPH0754371B2 (ja) 1986-11-10 1986-11-10 合焦状態検出方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4883951A (ja)
JP (1) JPH0754371B2 (ja)
DE (1) DE3733051C3 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5083150A (en) * 1989-03-03 1992-01-21 Olympus Optical Co., Ltd. Automatic focusing apparatus
JP3103587B2 (ja) * 1990-04-25 2000-10-30 オリンパス光学工業株式会社 自動合焦装置
DE4105002C2 (de) * 1991-02-19 1995-03-23 Hell Ag Linotype Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines optischen Abbildungs-Systems
DE4105001C2 (de) * 1991-02-19 1995-03-23 Hell Ag Linotype Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines optischen Abbildungs-Systems

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4004852A (en) * 1975-06-30 1977-01-25 Rockwell International Corporation Integrated automatic ranging device for optical instruments
DE2838647A1 (de) * 1978-09-05 1980-04-10 Siemens Ag Verfahren zur automatischen oder halbautomatischen entfernungsmessung und scharfeinstellung der abbildung eines gegenstandes auf eine bildebene
US4336450A (en) * 1979-01-20 1982-06-22 Nippon Kogaku K.K. Focus detecting apparatus
US4333007A (en) * 1980-07-10 1982-06-01 Honeywell Inc. Method and apparatus for determining focus direction and amount
US4559446A (en) * 1982-02-18 1985-12-17 Canon Kabushiki Kaisha Focus detecting system using light from an imaging optical system for focus detection
JPS58143224A (ja) * 1982-02-22 1983-08-25 Fuji Electric Co Ltd フオトセンサの受光強度測定回路
JPS58207013A (ja) * 1982-05-25 1983-12-02 Olympus Optical Co Ltd 合焦検出方法
JPS59133510A (ja) * 1983-01-21 1984-07-31 Konishiroku Photo Ind Co Ltd 距離測定装置
US4561749A (en) * 1983-02-02 1985-12-31 Nippon Kogaku K.K. Focus detection apparatus
JPS59204704A (ja) * 1983-05-08 1984-11-20 Konishiroku Photo Ind Co Ltd 距離測定装置
JPS59208513A (ja) * 1983-05-12 1984-11-26 Canon Inc 焦点検出装置
JPS603509A (ja) * 1983-06-21 1985-01-09 Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd 距離測定装置用映像デ−タ比較回路
JPS6020111A (ja) * 1983-07-14 1985-02-01 Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd 距離測定装置
US4709138A (en) * 1984-02-09 1987-11-24 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus for detecting shake of image of object
US4695156A (en) * 1986-07-03 1987-09-22 Westinghouse Electric Corp. Range finding method and apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
US4883951A (en) 1989-11-28
DE3733051C2 (ja) 1990-08-23
JPS63121005A (ja) 1988-05-25
DE3733051C3 (de) 1994-10-20
DE3733051A1 (de) 1988-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS62148911A (ja) 焦点検出装置
JPH0690357B2 (ja) ずれ量検出装置
JPH0328691B2 (ja)
JPH0754371B2 (ja) 合焦状態検出方法
JPS59208513A (ja) 焦点検出装置
JPH06250078A (ja) 合焦状態又は被写体距離検出装置
JPH0762732B2 (ja) 焦点検出装置
JPH08211284A (ja) 焦点検出装置
JP3290349B2 (ja) 波面変形測定装置及び波面変形測定方法
JPH06103182B2 (ja) 焦点検出装置
JPH05264892A (ja) 自動焦点調節装置
JP2545758B2 (ja) 焦点検出装置
JPH07306038A (ja) 距離測定装置
JPS6360417A (ja) 合焦状態検出装置
JP2005114581A (ja) 距離測定方法
JP3077862B2 (ja) 画像読取装置における合焦点位置検出方法
JPH06100465B2 (ja) 焦点検出装置
JP2005043225A (ja) 測距方法、そのプログラム、そのプログラムを記録した記録媒体、測距装置及びこれを有するプロジェクタ
JP3068884B2 (ja) 多点測距装置
JP2681921B2 (ja) イメージセンサ装置
JPS61162018A (ja) 自動焦点調節装置
JP2001280915A (ja) 画像測定システム及び画像測定方法
JPH0527161A (ja) 焦点検出装置
JPH04161809A (ja) 車両用距離測定装置
JPH06100466B2 (ja) 焦点検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term