JPS58122763A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置Info
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- JPS58122763A JPS58122763A JP57004731A JP473182A JPS58122763A JP S58122763 A JPS58122763 A JP S58122763A JP 57004731 A JP57004731 A JP 57004731A JP 473182 A JP473182 A JP 473182A JP S58122763 A JPS58122763 A JP S58122763A
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- resin
- wire
- lead
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
この発明は、半導体装置の為集積化に対応で自る樹脂封
止蓋半導体装置く関する。
止蓋半導体装置く関する。
発明の技術的背景とその問題点
従来、樹脂新正型の半導体装置は第1図(1)〜(c)
に示すように構成されている。(&)図線その斜視図、
伽)図はチップ搭載部付近の拡大平面図、(e)図は←
)図のA−A線に沿った断面構成図である・図において
、11はモールド樹脂、12はリードフレーム、13は
?ンディ/グワイヤ、14はチッ7’124mはチッf
(D電極である。
に示すように構成されている。(&)図線その斜視図、
伽)図はチップ搭載部付近の拡大平面図、(e)図は←
)図のA−A線に沿った断面構成図である・図において
、11はモールド樹脂、12はリードフレーム、13は
?ンディ/グワイヤ、14はチッ7’124mはチッf
(D電極である。
上述し九樹脂封止型の半導体装置におけるリードフレー
ム12は、金−条または板を抜き形成(ケンカルエツチ
ングあるいは!レス抜き加工)し丸ものを用い、チッf
1aを搭載後チッfl 4t)各電極14aとり−ry
レー五110インナーリード部をIンディ/グワイヤ1
3で一ンfインダして配線を行なった後、モールド樹脂
11で封止している。
ム12は、金−条または板を抜き形成(ケンカルエツチ
ングあるいは!レス抜き加工)し丸ものを用い、チッf
1aを搭載後チッfl 4t)各電極14aとり−ry
レー五110インナーリード部をIンディ/グワイヤ1
3で一ンfインダして配線を行なった後、モールド樹脂
11で封止している。
ところで、近年の集積回路装置にお叶る大規模化、高集
積化は着しく、これに伴ないチッゾO電4[鋏が増加し
、現在電極数が100ピンを趨え200ビンに近いもの
も製造されている。
積化は着しく、これに伴ないチッゾO電4[鋏が増加し
、現在電極数が100ピンを趨え200ビンに近いもの
も製造されている。
こOような多数の電極を有する半導体装置においては、
リード7レーム12のインナーリード部を形成する場合
、上述した抜き形成ではその抜書@が板厚と同S度以下
にできない技術的な限界がある。多数の電極に対応させ
るために板厚を簿く形成すれ°ば抜き幅at−狭くでき
るが、す7ビ7レームの強度低下、あるいは装置のリー
ド強度等の点からこれにも限界がある。また、インナー
リードO先端はIンデインダが可能な幅すが必要である
。
リード7レーム12のインナーリード部を形成する場合
、上述した抜き形成ではその抜書@が板厚と同S度以下
にできない技術的な限界がある。多数の電極に対応させ
るために板厚を簿く形成すれ°ば抜き幅at−狭くでき
るが、す7ビ7レームの強度低下、あるいは装置のリー
ド強度等の点からこれにも限界がある。また、インナー
リードO先端はIンデインダが可能な幅すが必要である
。
し九がって、微細加工技術の発展によ)ビン数が増え丸
場合ヤテツ/が小蓋化した場合には、インナー9−1’
0内方の先端に所定0幅を持たせる丸めに、この先端と
チツIO外形との距離を大会くする必要があ〉あt)近
づけられない丸め、−ンデインダワイヤのワイヤ長Iが
長くなる傾向にある。このようにワイヤが長くなると、
樹脂モールド時O樹脂射出圧力によ〕がンデイングワイ
ヤO変形を生じ易くなり、<b>図に破線で示すように
ワイヤO変SKよって隣接するワイヤ同志が接触し、短
絡によみ不良が発生する欠点がある。
場合ヤテツ/が小蓋化した場合には、インナー9−1’
0内方の先端に所定0幅を持たせる丸めに、この先端と
チツIO外形との距離を大会くする必要があ〉あt)近
づけられない丸め、−ンデインダワイヤのワイヤ長Iが
長くなる傾向にある。このようにワイヤが長くなると、
樹脂モールド時O樹脂射出圧力によ〕がンデイングワイ
ヤO変形を生じ易くなり、<b>図に破線で示すように
ワイヤO変SKよって隣接するワイヤ同志が接触し、短
絡によみ不良が発生する欠点がある。
発明の目的
ζO発@FR上記のような事情を−みてなされ臘の亭導
体装置にシいて、封止時におけb樹脂の射出圧力による
ボンディングワイヤの変形で生じる短絡を防止できる樹
脂封止厘牛導体装置を提供することである。
体装置にシいて、封止時におけb樹脂の射出圧力による
ボンディングワイヤの変形で生じる短絡を防止できる樹
脂封止厘牛導体装置を提供することである。
発明の概要
すなわち、この発明においては、リードフレームOイン
ナーリードの先端部に%−ンデインダ可能な電気導体を
配線形成した・配線板体を接合して設けたもので、上記
配線板体の電気導体とチツfOl極とを一7デイングす
ることKよj)zyyイングワイヤの長さを短かくして
短絡による不良を防止するものである。このような構成
によれば、絶縁基板上に導体層を形成するので、リード
フレームの板厚よ)はるかに薄くすることができ、リー
ドフレーム11.12゜・・・間の関隔畠を狭くできる
。したがって、?ンデイ/グワイヤの長さ!を短かくで
きるので、ワイヤの接触による短絡を防止で龜る。
ナーリードの先端部に%−ンデインダ可能な電気導体を
配線形成した・配線板体を接合して設けたもので、上記
配線板体の電気導体とチツfOl極とを一7デイングす
ることKよj)zyyイングワイヤの長さを短かくして
短絡による不良を防止するものである。このような構成
によれば、絶縁基板上に導体層を形成するので、リード
フレームの板厚よ)はるかに薄くすることができ、リー
ドフレーム11.12゜・・・間の関隔畠を狭くできる
。したがって、?ンデイ/グワイヤの長さ!を短かくで
きるので、ワイヤの接触による短絡を防止で龜る。
発明の実施例
以下、この発明の一実施例について図面を参照して11
1Hす為、第2図(a)、伽)はその構成を示すもので
、(a)図はチツf搭載部付近O拡大平面図、olI)
図は断面構成図である。この発llIにおいてはat図
の構成に加えて、リードフレーム・IIKおけるインナ
ーリードの内側で一ンデインダWtO裏画に、絶縁基板
11m上にワイヤーンデインダが可能な電気導体jlb
で配線を施し九配線板体L1を設けたもOである0図に
おいて、第1図と同一構成部は同じ符号を付してその説
明は省略する。上記配線複体110配線は、例えばケミ
カルエツチング、スクリーン印刷あるいはメッキ等によ
〕ノ譬ター/形成したもので、この配線部を導電性接着
剤を用いてリードフレームJJKl1合する。上記配線
板体L1の絶縁基体IJaは、有機(例えばIラス・エ
ポキシ、Iリイζド等)あるいは無機(セライック、f
ラス等)O材料を充当し、チップ電極14畠とワイヤー
ンデインダで接続して成る。
1Hす為、第2図(a)、伽)はその構成を示すもので
、(a)図はチツf搭載部付近O拡大平面図、olI)
図は断面構成図である。この発llIにおいてはat図
の構成に加えて、リードフレーム・IIKおけるインナ
ーリードの内側で一ンデインダWtO裏画に、絶縁基板
11m上にワイヤーンデインダが可能な電気導体jlb
で配線を施し九配線板体L1を設けたもOである0図に
おいて、第1図と同一構成部は同じ符号を付してその説
明は省略する。上記配線複体110配線は、例えばケミ
カルエツチング、スクリーン印刷あるいはメッキ等によ
〕ノ譬ター/形成したもので、この配線部を導電性接着
剤を用いてリードフレームJJKl1合する。上記配線
板体L1の絶縁基体IJaは、有機(例えばIラス・エ
ポキシ、Iリイζド等)あるいは無機(セライック、f
ラス等)O材料を充当し、チップ電極14畠とワイヤー
ンデインダで接続して成る。
このような構成によれば、がンデイングワイヤのワイヤ
長lを短かくできるので、ワイヤの接触による短絡を防
止できる。
長lを短かくできるので、ワイヤの接触による短絡を防
止できる。
真体的な実施例で説明すると、ピン数が60゜リードフ
レーム板厚が0.2露、チップサイズが口 3、0−の樹脂封止臘半導体装置において、従来方式で
杜、リードフレームとリードフレームと0111”0.
211m% リードフレームの一ンデイング部O@b
−0,2■でワイヤ長j−2,5■となp1ワイヤの短
絡による不良発生率が1.2−程度で6つ九〇に対し、
がラスーエIキシグリント板を襞合し九場合は、amo
、1m、b=0.2m、jml、5@11であり、不良
発生率はほぼ0−に減少することができた。
レーム板厚が0.2露、チップサイズが口 3、0−の樹脂封止臘半導体装置において、従来方式で
杜、リードフレームとリードフレームと0111”0.
211m% リードフレームの一ンデイング部O@b
−0,2■でワイヤ長j−2,5■となp1ワイヤの短
絡による不良発生率が1.2−程度で6つ九〇に対し、
がラスーエIキシグリント板を襞合し九場合は、amo
、1m、b=0.2m、jml、5@11であり、不良
発生率はほぼ0−に減少することができた。
第3因は、この発明の他の実施例を示す断面構成図で、
この・譬ツケージにおいては、上記第2FIJ伽)の配
線板体υに換えて枠状の絶縁基板1g*llCNンデイ
ング可能な電気一体Jibで配線を施した枠状の配線板
体L1を設けたものである。このような構成においても
上記!iI施例とfi11様な効果が得られる。
この・譬ツケージにおいては、上記第2FIJ伽)の配
線板体υに換えて枠状の絶縁基板1g*llCNンデイ
ング可能な電気一体Jibで配線を施した枠状の配線板
体L1を設けたものである。このような構成においても
上記!iI施例とfi11様な効果が得られる。
第4図は、更にこの発明の他の実施例を示す断面構成図
で、この/譬ツケージにおいては、上記第2図(b)の
配線板体1111C514えて、枠状の絶縁11ilr
&に裏表両面t&ンrイング可能な電気導体1yb、1
ybで配線を施し、その両面の配線をスルーホール11
を介してJl続し丸棒状の配線板体IFを設けたもので
ある。このような構成においても上記実施例と同様な効
果が得られるのはもちろんである。
で、この/譬ツケージにおいては、上記第2図(b)の
配線板体1111C514えて、枠状の絶縁11ilr
&に裏表両面t&ンrイング可能な電気導体1yb、1
ybで配線を施し、その両面の配線をスルーホール11
を介してJl続し丸棒状の配線板体IFを設けたもので
ある。このような構成においても上記実施例と同様な効
果が得られるのはもちろんである。
発明の効果
以上IiI!明したようにこの発111によれば、Iン
デイングワイヤの距離を短かくできるので、封止時の樹
脂の射出圧力による一ノデインダワイヤ相互の接触によ
る短絡を防止できる樹脂封止型半導体装置が得られる。
デイングワイヤの距離を短かくできるので、封止時の樹
脂の射出圧力による一ノデインダワイヤ相互の接触によ
る短絡を防止できる樹脂封止型半導体装置が得られる。
第1図(&)〜(4I)はそれそれ従来の樹脂封止型半
導体装置のI4視図、チツf搭載部の拡大平面図、およ
び断面構成図、第2図(a) 、 (b)はそれぞれこ
Oli明の一実施例に係る樹脂封止型半導体装置のチツ
f%載部の拡大平面図および断面構成図、第3図、JI
K4図はζの発明の他の実施例を示す断面構成図である
。 11・・・モールド樹脂、12・・・リードフレーム、
11・・・一ンデイングワイヤ、14・・・チッグ、1
1、1互,Lヱ・・・配線板体。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 誹第1図 第2図 1i3図
導体装置のI4視図、チツf搭載部の拡大平面図、およ
び断面構成図、第2図(a) 、 (b)はそれぞれこ
Oli明の一実施例に係る樹脂封止型半導体装置のチツ
f%載部の拡大平面図および断面構成図、第3図、JI
K4図はζの発明の他の実施例を示す断面構成図である
。 11・・・モールド樹脂、12・・・リードフレーム、
11・・・一ンデイングワイヤ、14・・・チッグ、1
1、1互,Lヱ・・・配線板体。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 誹第1図 第2図 1i3図
Claims (1)
- ・臂ターン形成され九チッlを樹脂脚のノ譬ツヶージに
封止する半導体装置において、チップ搭載部とリードフ
レームとの関に絶緻基板に配線が施され九配線板体を介
在し、リード7レーふと上記配線板体の配線とを接続す
るとともに1チツグと配線板体とをゲンディンダによn
iu!して上記リードツレ−ふとチップ間の配線を構成
し九ことを特徴とする樹脂衡止型半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57004731A JPS58122763A (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 樹脂封止型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57004731A JPS58122763A (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 樹脂封止型半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58122763A true JPS58122763A (ja) | 1983-07-21 |
Family
ID=11592042
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57004731A Pending JPS58122763A (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 樹脂封止型半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58122763A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6092832U (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-25 | 関西日本電気株式会社 | 混成集積回路装置 |
JPS6236535U (ja) * | 1985-08-21 | 1987-03-04 | ||
JPS62232948A (ja) * | 1986-04-03 | 1987-10-13 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | リ−ドフレ−ム |
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