JPS58112326A - 複合ビ−ムアニ−ル方法 - Google Patents

複合ビ−ムアニ−ル方法

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JPS58112326A
JPS58112326A JP20954181A JP20954181A JPS58112326A JP S58112326 A JPS58112326 A JP S58112326A JP 20954181 A JP20954181 A JP 20954181A JP 20954181 A JP20954181 A JP 20954181A JP S58112326 A JPS58112326 A JP S58112326A
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JP
Japan
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pulse
laser
annealing
beams
electronic
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JP20954181A
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JPH0379861B2 (ja
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Seiichiro Kawamura
河村 誠一郎
Junji Sakurai
桜井 潤治
Motoo Nakano
元雄 中野
Hiroshi Yasuda
洋 安田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/26Bombardment with radiation
    • H01L21/263Bombardment with radiation with high-energy radiation
    • H01L21/268Bombardment with radiation with high-energy radiation using electromagnetic radiation, e.g. laser radiation

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)*明の技術分野 本発明はビームアニール方法、41にレーデ−ビーム及
び電子ビームを用いるアニール方法に係る。
(2)技術の背景 1974年に提案されて以来レーデ−アニールは急速に
脚光を浴び、それとの類似性から電子ビームアニールも
同様に着目されている。レーザーアニール又は電子ビー
ムアニールとは、レーデ−ビーム又は電子C−ムのエネ
ルギーを囲体表面で吸収させ、熱エネルギーの形に変換
して表一層の加熱に利用する技術であ石と言うことかで
11ゐ。
これらの技術は新しい技術であるだけに1アニール方法
として新生面を切り拓くとともに、未肩決の間2題もあ
り、を九研究及び開発次第で大金〈進歩することが期待
されている。
(3)従来技術と問題点 従来のビームアニール方法としては、一般的には、連続
発振(CW )レーザーが用いられ、通常、ヒーターで
電気的に基板加熱を行なっている。−シかし、ヒーター
による基板加熱では基板全体を優待間)加熱する必要が
あ抄、増々黴細化し、複雑化しつつある半導体デ/ぐイ
スの処理技術としては望ましくない、さらに、ヒーター
加熱では高々400〜500℃の温度が達成されるにす
ぎず、アニールの効果も限られてしまうという問題点が
ある。
(4)発明の目的 本発明は上記のような従来技術の現状に鑑み、不所望な
ヒーターによる基板加熱を除去し、かつ高温度の予備加
熱を可能にするアニール技術を提供することを目的とす
る。
(5)発明の構成 本発明は、ΔルスレーデービームとΔルス電子ビームと
を制御して同時に照射することを特徴とする複合ビーム
アニール方法を提供するととKよって、上記目的を連成
する。
以下、実施例を用いて本発明の詳細な説明する。
(6)実施例 第1図〜第3111は本発明に依る複合ビームアニール
方法の一実施例を説明するものである。ホルダー11上
にアニールされるぺ自試料12を載置し、この試料l!
に上方から電子ビーム1及びレーデ−ビーム2を照射す
る。これら両ビームの走査は、一般的には、ホルダーを
移動することによって行なう。
本発明で用いるレーデ−は、通常のレーデ−アニールで
用いられてい為0wレーデ−ではなく、例えばイツトリ
ウム・アル建アン・ガーネット(Y、ムt、o、 YA
G )レーデ−又はアレキサンドライトレーザーなどの
パルスレーデ−1しかも電気的手段等により制御可能な
ノ昔ルスレーデーである。
本発明に従いこのような高出力のΔルスレーデーを用い
ることKよって、従来技術で問題のあったヒーターによ
る基板加熱を除去すること、及び処理領域の所望の高温
度を達成することが可能となる。′を気的等による制御
が可能でなければならない理由は、後述するように14
ルス電子ビームと同期させる必要があるからである。
本発明で用いる電子ビームもノ中ルスピームでなければ
ならない、上記/4ルスレーザーと同期させるためKで
ある。
例えば、YAGレーデ−ビームのスIットは直径150
μ講檻度、電子ビームのス/、)は直径50μ禦程度と
しく好ましくは両ス/、)を同心にする)、第2図に見
られるように1電子ビームlの直径が50慢分重複する
ように一4ルスの走査を調節することが好ましいので、
例えば■傳^・−の速度で走査すると、YAGレーザー
は4 kHzの周波数で照射する必要がある。これは2
50μm・・の周期(第3図のT)K相当する。
この場合の時間に対するΔルス強度の様子を第3図に例
示したが、重要な点は電子ビームの7々ルス1がレーデ
−ビームのノ臂ルス2と同Mされ、パルス2の時間幅内
にあることである。そうしないと、瞬時加熱、瞬時冷却
の性質からしてYAGレーデ−による加熱の意味がなく
なりからである一両ノ母ルスな同期させる手法は、簡単
には電源(一般一にはこれから供給す為電力自体を・臂
ルス状にす為)からYAGレーデ−に供給する電力の一
郁を途中から分岐させ、連部回路を通して電子C−ム源
へ供給すればよい。
以上の条件の下で、シリゴンク、−ノ・表面層を酸化後
CvD′cシリコン層を沈着させたものをアニール処理
したところ、結晶寸法が数十声調の多結晶層が得られた
。これはヒーターによる基板加熱を行なったCWレーデ
−アニールで得られる多結晶の結晶寸法が数μ溝であみ
ので約10倍の大きさであり、本発明に依る方法の有利
さの一例である。
以上の例では、Δルス電子ビームを本来のアニール目的
Kl!用し、ノダルスレーデービームを予備加熱又は冷
却速度のコントロールに用い九が、本発明に依る方法は
ζうし九場合に@らず、Δルスレーデービームを本来の
アニール目的に使用し、・譬ルス電子ビームを補助的加
熱に利用することも可能である0例えば、電子ビームの
直径を100〜150μ調とし、YAGレーデ−ビーム
の直径を40〜60μ南として用いてもよい。
(7)発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明に係る複合ビー
ムアニール方法に依れば、不所望な基板加熱を除去する
ことができ、局所的な被処理領域近傍のみが加熱される
にすぎないので、低温プロセスが可能となる。さらに、
例えば1000℃位の予備加熱が可能となることなど4
含めて、アニール効果を高め、アニールの利用可能性を
拡大するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に依る方法の実施例を説明する全体的概
略図、第2図はパルスレーデ−ビームと/ダルスミ子ビ
ームの各ス/、)とその走査状態を示す図、第3図はレ
ーデ−ビームと電子ビームの/#ルス強度対時間を表わ
すグラフである。 1・・・レーザービーム(又は電子ぜ一ム)、2・・・
電子ビーム(又はレーザービーム)。 特許出願人 富士通株式金社 特許出願式通人 弁理士 青 木   朗 弁理士画値和之 弁通士円田幸男 弁理士 山 口 昭 之

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、Aルスレーデービームとノダルス電子ビームとを制
    御して同時KWA射することを特徴とする複合ビームア
    ニール方法。
JP20954181A 1981-12-26 1981-12-26 複合ビ−ムアニ−ル方法 Granted JPS58112326A (ja)

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JP20954181A JPS58112326A (ja) 1981-12-26 1981-12-26 複合ビ−ムアニ−ル方法

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JP20954181A JPS58112326A (ja) 1981-12-26 1981-12-26 複合ビ−ムアニ−ル方法

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JPS58112326A true JPS58112326A (ja) 1983-07-04
JPH0379861B2 JPH0379861B2 (ja) 1991-12-20

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6092607A (ja) * 1983-10-27 1985-05-24 Agency Of Ind Science & Technol 電子ビ−ムアニ−ル装置
JPS6130027A (ja) * 1984-07-21 1986-02-12 Agency Of Ind Science & Technol 単結晶半導体薄膜の製造装置
JPS6130025A (ja) * 1984-07-21 1986-02-12 Agency Of Ind Science & Technol 単結晶半導体薄膜の製造方法
JPS63119591A (ja) * 1986-10-09 1988-05-24 アモコ・コーポレーション 薄い固体フィルムからなる層状構造体の選択的混合方法
JPH0274832A (ja) * 1988-09-10 1990-03-14 Kurabo Ind Ltd 色順判定方式
JP2006068505A (ja) * 2004-08-03 2006-03-16 Ameeta:Kk 芳香拡散装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55148430A (en) * 1979-05-09 1980-11-19 Toshiba Corp Manufacture of semiconductor device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55148430A (en) * 1979-05-09 1980-11-19 Toshiba Corp Manufacture of semiconductor device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6092607A (ja) * 1983-10-27 1985-05-24 Agency Of Ind Science & Technol 電子ビ−ムアニ−ル装置
JPS6130027A (ja) * 1984-07-21 1986-02-12 Agency Of Ind Science & Technol 単結晶半導体薄膜の製造装置
JPS6130025A (ja) * 1984-07-21 1986-02-12 Agency Of Ind Science & Technol 単結晶半導体薄膜の製造方法
JPS63119591A (ja) * 1986-10-09 1988-05-24 アモコ・コーポレーション 薄い固体フィルムからなる層状構造体の選択的混合方法
JPH0274832A (ja) * 1988-09-10 1990-03-14 Kurabo Ind Ltd 色順判定方式
JPH0670590B2 (ja) * 1988-09-10 1994-09-07 倉敷紡績株式会社 色順判定方式
JP2006068505A (ja) * 2004-08-03 2006-03-16 Ameeta:Kk 芳香拡散装置

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