JPS5810018B2 - デイジタル位相比較器 - Google Patents

デイジタル位相比較器

Info

Publication number
JPS5810018B2
JPS5810018B2 JP51122358A JP12235876A JPS5810018B2 JP S5810018 B2 JPS5810018 B2 JP S5810018B2 JP 51122358 A JP51122358 A JP 51122358A JP 12235876 A JP12235876 A JP 12235876A JP S5810018 B2 JPS5810018 B2 JP S5810018B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveform
output
comparator
signal
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP51122358A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS52145077A (en
Inventor
マイケル・アレクサンダー・グラハム・クラーク
マイケル・ジエイムズ・アンダーヒル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of JPS52145077A publication Critical patent/JPS52145077A/ja
Publication of JPS5810018B2 publication Critical patent/JPS5810018B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R25/00Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Measuring Phase Differences (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ディジタル位相比較器に関するものである。
位相比較器は、2つの入力信号周波数間の位相差(進み
あるいは遅れ)を示す信号が必要とされる種々の装置、
例えば高い精度を有する周波数測定装置および位相ロッ
クループ(P、L、L)において用いられる。
位相差を表わす出力信号に加えて、スプリアス信号〔通
常は雑音あるいはフィードスルー(feed−thro
ugh)と称される〕が出力に現われる。
この雑音は入力信号成分を含み、この雑音をできるだけ
多く減少させる手段、例えばフィルタリングによる手段
を用いなければならない。
この雑音の影響を、ディジクル位相比較器の特定の応用
に関して、すなわち周波数合成器に用いられるP、L、
Lにおいて説明する。
第1図は、1つのP、L、Lを用いる代表的な公知の周
波数合成器を示す。
この周波数合成器では、出力周波数は、水晶制御発振器
のような基準源から取り出した基準周波数のM倍である
基準源1の出力を、位相比較器2の1つの入力に供給し
、1/M分周器の出力を、周波数比較器の他の入力に供
給する。
位相比較器2の出力を、ループ増幅器およびフィルタ装
置4に供給する。
この装置4の出力はV、C,0,5の周波数を制御する
V、C,O。の出力は、合成器の出力を形成し、また分
周器3の入力に供給される。
増幅器および比較器位相雑音Nは、破整で示すように、
加算器6を経て装置に挿入されるものとすれば、合成器
出力での位相雑音△φoutは、ループカットオフ周波
数より小さい周波数で、次式のように表わされる。
△φout=NXM/にφ ここに、Kφは比較器の利得(ボルト/サイクル)であ
る。
多くの適用例では、基準周波数は10KHz代であり、
出力周波数はIMHzの10倍あるいは100倍の範囲
にある。
このようにMは一般的に非常に太きく、したがって位相
雑音は非常に高くなる。
代表的な位相比較器の利得は低く、例えば5ボルト/サ
イクルであり、雑音は、優勢な包囲(close−in
)雑音側波帯を生じさせる。
この問題点を軽減するためには、設計者は、あらかじめ
非常に狭い帯域幅ループを用い、必要なスペクトル純度
を与えるためにV、C,Oを信頼し、あるいはMを減少
させるために、多重ループ解決手段を選んできた。
多重ループ方式は複雑となり、ある場合には数個の基準
発振器を用いる。
多重ループ周波数合成器の一例は、1972年8月発行
のヒリツプス電気通信評論(PhilipsTelec
ommunication Review)第30巻、
No、3にP、Bikkerが゛HF受信機および送信
機のための周波数合成器RY746”と題する論文にお
いて開示している。
また、多重周波数合成器の一例は、RCAディジタル集
積回路応用ノート(RCAdigital Integ
rated C1rcuitApplication
Note)ICAN−6716、ページ610に記載さ
れている。
P、L、Lは、例えば英国特許第947053号により
知られている。
この特許明細書では、位相比較器は、狭範囲高利得比較
器と広範囲低利得比較器とを並列に具えている。
比較器への2つの入力信号が小さい位相差を有する、す
なわち狭い範囲にある場合には、位相比較器は高利得に
φを有し、したがって比較器からの雑音△φは低くなる
これは通常の動作状態である。
その理由は、P、L、L、が発振器の位相を基準周波数
の位相にロックしているからである。
位相差が狭い位相範囲よりも大きい場合には、広範囲低
利得比較器が出力信号の主要部分を与える。
しかし、それとは無関係に、比較器が位相差信号を与え
、両方の比較器は共通出力に雑音を発生することに注意
すべきである。
したがって、高利得狭範囲比較器の高い信号対雑音比を
有する固有の利点は、低利得広範囲比較器によって発生
される雑音によってかなり減少する。
狭範囲(通常は360°)位相比較器と、広範囲を補償
するために分離周波数弁別器とを具える他の広範囲比較
器が知られている。
2つの別個の出力を発生する。
位相比較器の出力は一般に桁制御出力と称され、周波数
弁別器の出力は粗制御出力と称されている。
2つの出力を供給することは、種々の欠点を有している
第1に、2つの出力によって制御される装置、例えば電
圧制御発振器(V、C,O,)は、2つの別個の入力回
路を必要とするという事実のために複雑である。
第2に、一方の制御信号が他方の制御信号の効果を消す
のを妨げるために何んらかの手段が必要となる。
第3に、雑音は一般にそれぞれの出力で発生する。
密/粗比較器の2つの出力信号のうちの1つだけを変化
することができるようにするP、L、L。
周波数合成器回路にスイッチング装置を用いることによ
って、一方の制御信号が他方の制御信号の効果を軽減す
るのを防止するための方法が提案されている(英国特許
第1388071号)。
粗制御が作動している間に、桁制御位相比較器の2つの
入力に相補信号を供給することによって、桁制御(36
0”)位相比較器を、その中間(180°)状態にロッ
クする。
360°位相比較器は、依然としてその出力信号に雑音
を供給し、特に高利得の比較器は用いられない。
2つの出力を有する、すなわち別個の位相比較器と周波
数比較器とを用いる種類の他の公知の比較器が、英国特
許第1155502号に開示されている。
この比較器はまた、分離スイッチング装置を用い、この
装置によって、広範囲周波数弁別器が動作している間に
、狭範囲(360°)比較器の出力を、その中間範囲点
に保持する。
これは、この状態では、位相比較器の出力が雑音からは
かなり自由であるという利点を有しているが、依然とし
て別個の出力の欠点を有しており、そして粗制御出力信
号が、周波数比較器への入力周波数でステップする階段
状波形を有するので、この周波数が出力に現われる。
本発明の目的は、1つの出力端子を有し、非常に低い雑
音を発生する広範囲位相比較器を提供することによって
、前述した全ての欠点を少くとも軽減することにある。
本発明によれば、第1の2進入力付号波形の位相と、第
2の2進入力付号波形の位相とを比較するディジクル位
相比較器において、前記第1人力付号波形の一定縁のそ
れぞれの発生によって一定期間の開動作するサンプリン
グ・スイッチと、前記第2人力付号波形に同期して第3
波形を発生させるために、第2人力付号波形の対応する
一定縁が発生したときに動作するランプ波形発生器とを
具え、前記第3波形は、この第3波形の180゜以下を
占める所定の傾斜のランプされた前縁を有し、且つ前記
一定期間よりも大きい期間を有するようにし、前記サン
プリング・スイッチは、このスイッチの各動作によって
前記第3波形の値をサンプルするように構成し、さらに
サンプリング瞬時の間にサンプルした値を蓄積して、サ
ンプルした値を表わすアナログ信号を比較器の出力に供
給するサンプルホールド回路と、前記サンプリングスイ
ッチが前記ランプされた前縁の期間以外で動作した場合
に応答して、比較器出力からのアナログ信号を断路し、
前記2つの入力信号波形間の位相差が増加しているかあ
るいは減少しているかに従って第2信号あるいは第3信
号のいずれかを供給する検出器とを具え、これら第2信
号および第3信号のそれぞれが、所定のそれぞれ一定直
流レベルを有するようにしたことを特徴とするディジク
ル位相比較装置を提供する。
本発明ディジタル位相比較器の利点は、次の通りである
第1は、1つの出力信号のみが用いられ、したがって2
つの出力が用いられる場合に関連する装置に要求される
複雑性を排除できる。
第2は、ランプされた前縁が第3波形の1800以下を
占めるようにすることによって、この範囲にわたる比較
器の利得をかなり増大させることができ、そして高い信
号対雑音比したがって非常に低い雑音出力を与える。
第3は、この狭い高利得範囲の一方では、出力は第1の
一定出力レベルに切換えられ、他方では異なる一定出力
レベルに切換えられる。
したがって、2つの入力信号間の位相誤差がいずれかの
方向で狭い範囲を越える場合には、比較器によって雑音
は発生されない。
第4は異なる2つの一定出力レベルが、2人力付号間の
位相差が増加しているかあるいは減少しているかの明確
な指示を与える。
各入力信号波形の前記一定線は、入力信号波形の前縁と
するのが好適である。
いくつかの応用では、到来 パルスのパルス幅はわずか
に変化しがちであるが、前縁は正確に決められた間隔で
普通周期的に起こる。
したがって、このようなパルスの後縁の使用は、シック
を生ぜしめうるが、前縁の使用はこのようなジッタの可
能性を排除する。
第2信号および第3信号の直流出力レベルを、ランプさ
れた前縁の期間内でサンプリング・スイッチが動作する
間に、第2信号および第3信号の直流出力レベルを、比
較器によって与えられる出力信号範囲の端の限界レベル
にそれぞれ一致させるのが好適である。
これにより、位相比較器の出力特性は、その全体範囲で
連続である。
以下、本発明の実施例を第2図〜第11図に基づいて説
明する。
第2図は、本発明位相比較器の一部のブロック線図であ
り、基本原理を示すものである。
位相を比較すべき2つの2進信号波形のうちの第1の信
号波形のための入力端子11を、台形状波形発生器13
の入力端子12に接続する。
この発生器13は、サンプリング・スイッチ16の入力
端子15に接続された出力端子14を具えている。
スイッチ16の出力端子17を、利得が1のバッファ増
幅器19、および蓄積コンデンサ20に接続する。
2つの2進信号波形のうちの第2の信号波形のための入
力端子21を、サンプリング・パルス発生器23の入力
端子22に接続し、その出力端子24を、スイッチ16
の制御入力端子25に接続する。
増幅器18の出力端子26は、比較器の出力端子を形成
する。
第2図に示す比較器の動作を、そこに発生する代表的な
波形によって説明する。
その代表的な波形を第3図に示す。
それぞれの波形には、第2図の回路中にそれが発生する
箇所の関連番号を付す。
比較器への入力電圧波形は、必要ならば整形した後に、
第3図の点11および21に代表的に示される。
発生器13は、少くとも波形11の立上がり縁に同期し
て波形14を発生する。
パルス発生器23は、波形24で示すパルスを発生する
これらパルスは、対応する波形21の立上がり縁に同期
する。
これらパルスは、好適には一定の傾きを有する波形14
の立上がり縁の期間(例えば1oons)よりも小さい
一定の期間(例えば20nS)を有している。
2つの入力信号が同一周波数の場合には、パルス列24
のパルスが台形状波形14の対応する立上がり縁の間に
発生するような位相関係である期間に対しては、ホール
ド・コンデンサ20の平均電圧は、サンプリング瞬時に
おける立上がり縁の電圧に比例する。
バッファ増幅器19は有限の入力インピーダンスを有し
ており、およびコンデンサ20はいくらかの漏れを有し
ているために、前記平均電圧はサンプルの間に減衰する
さらに、サンプリング・スイッチは寄生直列抵抗(第2
図には示さず)を有しており、また台形状波形発生器1
3は有限の出力インピーダンスを有している。
したがって、コンデンサは、チャージアップされには一
定の時間を要する。
波形17はこれらの特徴を示している。
このような状態のもとての位相比較器の利得は、台形状
波形の立上がり縁の傾斜の急しゆんさに比例し、したが
って非常に高くすることができる。
このように、波形17に示すリプルは雑音とみなすこと
ができるが、本発明比較器の一層高い利得は、その結果
このリプル変調搬送波となり、例えば前記式によって示
したように一層率さい程度になる。
入力波形の繰返し率が10KHzで、それぞれの人力波
形が10■のピーク・ピーク振幅値を有し、台形状波形
の立上がり時間が100nSである場合には、立上がり
縁をサンプリングするときの比較器の利得は104ボル
ト/サイクルである。
同一の繰返し率およびピーク・ピーク値では、360゜
の位相差範囲にわたって直線的に動作する普通の位相比
較器の利得は、10ボルト/サイクルである。
本実施例では、1000倍の利得増加を達成できた。
第2図および第3図に関して説明した比較器は、2つの
入力信号間の大きな周波数差に対しては応答しない。
最も実際的なP、L、L状態では、位相ロックを達成す
るために回路を周波数に応答させることが必要になる。
このような動作を与える実施例のブロック線図を、第4
図に示す。
この図では、第2図と同一の回路点およびフ七ツクには
、同一の関連番号を付す。
第4図において、周波数応答(sensing)論理回
路31は、比較器入力端子11および21がそれぞれ接
続される2つの入力端子32,33と、レベル検出器3
6の出力端子35が接続される第3入力端子34とを具
えている。
検出器36の入力端子37を、台形状波形発生器13の
出力端子14に接続する。
論理回路31の出力端子38を、電子スイッチ41の制
御入力端子39に接続する。
さらに、論理回路31の出力端子42,43を、他の2
つの電子スイッチ46,47の制御入力端子44.45
にそれぞれ接続する。
バッファ増幅器19の出力端子26を、スイッチ41の
入力端子51および出力端子52を経て、比較器の出力
端子48に接続する。
スイッチ46,47の出力端子53,54を、それぞれ
比較器の出力端子48に接続し、これらスイッチの入力
端子55゜56を、端子57,5Bにそれぞれ接続する
本実施例では、負電位V−<例えば論理+0Iレベルを
示す)を端子57に供給し、正電位V+(例えば論理1
1ルベルを示す)を端子58に供給する。
第4図のブ七ツク13,16,19,20,23の回路
動作は、第2図に関して説明したと同様である。
レベル検出器36は、台形状波形発生器13の出力端子
14の電圧がその最大値に達したときを検出して、その
出力端子35の出力信号を、論理回路31の入力端子3
4に供給する。
この信号は、入力端子32と33の入力波形と共に、論
理回路に対し十分な情報を供給して、発生器13の出力
端子の台形状波形の立上がり時間内に、入力21の波形
の前縁が到達する状態を検出する。
あるいはまた、パルス発生器23の出力端子24を論理
回路31の入力端子33に接続して、入力端子21での
波形の前縁の到達の瞬時を与えることは勿論できる。
上記状態を検出すると、論理回路31は、その出力端子
38に信号を与えて電子スイッチ41を動作させ、した
がってバッファ増幅器19の出力端子26を、比較器の
出力端子に接続する。
したがって、2つの入力信号波形が同じ周波数を有し、
サンプリング・パルスが台形状波形の立上がり時間内に
発生するような位相関係にあれば、スイッチ41が閉じ
て、第2図に関して説明したように回路が動作する。
論理回路31はまた、周波数差検出器を具えている。
この検出器は、入力端子11の信号の周波数が、入力端
子21の作置の周波数よりも小さいかあるいは太きいか
によって、その出力端子42あるいは43にそれぞれ信
号を与えるように動作する。
したがって、入力端子11および21に現われる波形の
繰返し率がそれぞれf)および+2である場合には、論
理回路31は、fl>+2のときにはスイッチ46を動
作させ、+2〉flのときにはスイッチ47を動作させ
る。
いかなる時にも、スイッチ41.46,47のうちの1
つのみを動作させることができる。
前述したように、比較器の利得は、台形状波形の傾斜の
急しゆんさの直接関数である。
台形状波形の傾斜が、比較される波形の180°にわた
って広がる場合には、普通の360°のものの利得に較
べて、2倍の利得が達成される。
利得の有効な増加を達成するためには、本発明位相比較
器のランプされた前縁は比較される波形の180°以下
を占める。
180°以上に延在する発生された三角状波形を用いる
他の形体の比較器が知られている。
前述の位相比較器に用いられるP、L、Lをスイッチオ
ンすると、台形状波形の立上がり傾斜の間以外にパルス
が発生し、このとき端子48の論理+11あるいは+0
−出力が、P、L、L内の電圧制御発振器<V、C,O
)の周波数を、適当な方向内で変化させる。
初期の開始状態が、スイッチのいずれもが動作しないよ
うな状態である場合には、発振器周波数の普通の変化が
、実際には、入力波形の1組のサイクル内にスイッチの
1つが動作し、P、L、Lがロックされた状態にされる
ようにする。
第4図のコンデンサ20の電荷が■+と■−との間を変
化できる場合には、比較器の電圧/位相特性は第5図に
示す通りである。
横座標は、2つの入力波形間の位相差ψ2−91である
図かられかるように、位相差が、台形状波形の立上がり
縁の間にサンプリング・パルスが発生するようなもので
ある場合には、出力電圧は、■+あるいは■−いずれか
であり、あるいはこれらの間を直線的に変化する。
明らかに、台形状波形14(第3図)の立下がり縁を、
前記実施例で立上がり縁の代りに用いることができる。
第6図は、本発明ディジタル位相比較器の実際的な実施
例のブロック線図である。
この比較器は、サンプリングのために立下がり傾斜を用
いる。
第7図〜第11図は、第6図で与えられているブロック
の回路図である。
第6図〜第11図のいずれにおいても、小文字のアルフ
ァベット文字は、回路要素間の種々の相互接続リード線
を表わすために用いる。
第4図における類似の要素に相当する第6図における要
素には、同じ関連番号を付した。
わかるように、第6図は一般に第4図に類似している。
追加の主要な要素は、第2サンプリングパルス発生器6
0と、第2位相比較器61と、追加のバッファ増幅器6
2と、追加のスイッチ63とである。
後述するように、比較器を標準の集積回路ブロックから
大部分構成することができるという点において、コンデ
ンサ01〜C5および種々の抵抗を除いた全体の回路を
、モノリシックな形に集積化することができる。
これを、取り囲まれた破線で示す。
コンデンサC4は、第4図のコンデンサ20と同じであ
る。
比較器の動作を、第6図〜第11図に関して説明する。
比較すべき入力信号波形を、リード線aおよびeを経て
、比較器に供給する。
第6図のサンプリングパルス発生器23を、第7図に詳
細に示す。
この発生器は、3つの2人力NORゲート64.65,
66、抵抗R1、コンデンサC1を具えている。
NORゲート64および65は、それらの入力端子を相
互に接続しており、したがって簡単なインバータとして
働く。
入力リード線aに供給された入力波形の立上がり縁(+
01→111)は、ゲート66および65の上側入力端
子(図面上で)に立下がり縁(+11→101)を発生
させ、および出力リード線Cに立上がり縁(u01→1
11)を発生させる。
コンデンサC1の電圧は最初は論理レベル゛0″にあり
、したがってゲート66の出力は1″となる。
コンデンサC1は即座に充電を開始し、コンデンサC1
および抵抗R1の値に基づく期間の後に、コンデンサの
電圧は論理111に近づく。
ゲート66の出力はすぐに0″となる。
このように、リード線aに入力波形の立上がり縁が発生
する毎に、パルスがリード線すに発生し、このパリスの
期間は、コンデンサC1の容量値によって制御される。
実際には、数ナノ秒のパルス幅がサンプリング・パルス
に用いられる。
このパルスは、サンプリング・スイッチ16(第6図)
を動作して、波形発生器13(リード線j上の)によっ
て発生される波形をサンプルする。
リード線aの波形に同期して、リード線Cに発生する波
形を、第2位相比較器61に供給して、この比較器61
の1つの入力波形として働かせる。
リード線すの出力を、インバータ■2で反転し、リード
線nを経て周波数応答論理回路31に供給する。
第8図は、波形発生器13とレベル検出器36との結合
回路を示す。
この回路は、遅延人力D1クロック人力C1リセット人
力R1相補出力QとQを有する立上がり縁トリガ遅延フ
リップフロップ67を具えている。
回出力を、リード線fを経て第2位相比較器61の入力
に供給し、またコンデンサC6と抵抗R2との並列回路
およびリード線りを経てインバータ接続NORゲート6
8に供給する。
このゲート68の出力端子を、抵抗R3およびR4を具
える分圧器を経て1″に接続し、この分圧器の接続点を
、インパーク接続NORゲート69の入力端子に接続す
る。
このゲート69の出力端子を、フリップフロップ67の
リセット人力Rに接続する。
このフリップフロップのD入力には、1”が常に供給さ
れる。
抵抗R3,R4およびゲート69は、第4図のレベル検
出器36を構成する。
以下の説明において、図には示されていない全ての装置
入力は、0”に保持されているものとする。
出力線りおよびjを、コンデンサC2に接続する。
フリップフロップ67の回出力が最初1Onであるもの
とすれば、この出力は即座に■”(Dの入力)となり、
リード線eの入力波形の立上がり縁(101→1jl)
が、クロック人力Cに現われる。
デート68(このゲートはインバータとして動作する)
の入力端子でのリード線りに現われる1゛は、コンデン
サC2の容量値に基づく割合で、リード線Jのゲート出
力を0゛の方へ駆動する。
この時点までは、リード線Jは1″であり、したがって
ゲート69の出力は0″であった。
抵抗R3とR4との値は、ゲート69の切換え電圧レベ
ルに対して比例しているので、ゲート68およびコンデ
ンサC2によって発生された立下がり傾斜が所定レベル
に達すると、ゲート69が切換って゛1″出力を、フル
ツブフロップ58のリセット人力Rに供給する。
このようにして、リード線eの入力波形の立上がり縁が
到達するとすぐに、所定期間の立下がり傾斜が、出力リ
ード線Jに発生する。
それは、他の入力波形(リード線a上の、第6,7図)
のそれぞれの立上がり縁で発生させるサンプリングパル
スによりサンプルされる立下がり傾斜であり、この傾斜
の期間は、サンプリング・パルスの傾斜よりもかなり太
きい。
フリップフロップ67のリセット人力Rにゲート69か
らの出力+1nが現われるとすぐに、フリップフロップ
はリセットされて、回出力に101を与える。
ゲート69の出力が再び0゛となり、リセット111入
力をフリップフロップ67に供給すると、コンデンサC
2は、成る点に達するまで放電する。
したがって発生された立下がり傾斜の期間の間、リード
線gのフリップフロップ67の回出力がO″となり、リ
ード線fの回出力が1″となって、傾斜期間情報を、第
2→ンプリング発生器60、論理回路31、第2位相比
較器61に供給する。
リード線Jの出力をスイッチ16でサンプルして、第4
図に関して説明したバッファ増幅器19に供給する。
この増幅器19の出力は第3図の波形17に示されてい
るような波形であり、サンプリング・スイッチ63の入
力端子に供給される。
このスイッチは、2つのNORゲート71,72、抵抗
R5、コンデンサC3を具える第2サンプリング・パル
ス発生器60(第6および第9図)によって制御する。
このパルス発生器は、次の点以外は、第7図のパルス発
生器に類似している。
波形にの立下がり縁を受けると、すなわち立下がり傾斜
の終りに、サンプリング・パルスが発生される結果、第
7図のインバータ64は供給されない。
リード線mのサンプリング・パルスは、スイッチ63を
制御する。
このサンプリング・パルスの幅は、コンデンサC3およ
び抵抗R5に対して選定した値によって制御される。
前述したことを要約すると、リード線aの入力波形の立
上がり縁と同時に発生するサンプルリング・パルスの第
1列は、第1サンプリング・パルス発生器23(第6お
よび第7図)によって発生し、サンプリング・パルスの
第2列は、立下がり傾斜の終りに、第2サンプリング・
パルス発生器60によって発生する。
第2サンプリング・パルスの幅は、第1サンプリング・
パルスの幅よりもかなり大きくすることができるので、
波形17のサンプリングは、交流成分(リプル)を減少
させる効果がある。
したがって、電荷集積コンデンサC5に対して一層多く
の時間をとることができる。
これは、このコンデンサはC4よりも大きな容量を有し
、リプルをかなり減少することができる結果である。
実際には、リプル成分を、スイッチからの切換え漏話の
みによって制限される最小値に減少されることができる
コンデンサC5の信号を、バッファ増幅器62を経てス
イッチ41に供給する。
第10図は、第6図の周波数応答論理回路31の詳細な
回路図である。
この論理回路は、4つのNORゲート73〜76および
3つのD形フリツプフ田ンプ77〜79を具えている。
インバータ■2のために、リード線すのサンプリング・
パルスが1′の間は、リード線nの信号は0″である。
第8図に関して説明したように、立下がり傾斜期間の間
は、リード線fの信号は1″であり、リード線gの信号
は0″である。
したがって、この期間内にサンプリング・パルスが発生
すると、このサンプリング・パルスに同期して、+11
パルスがゲート73の出力端子に発生する。
これは、フリップフロップ85のD入力は常時+1+で
あるために、フリップフロップ77および78をセット
する。
立下がり傾斜期間の間、リード線にの信号は+1+であ
り、ゲート74は、この期間の間、抑制される。
したがって、この期間内に発生するサンプリング・パル
ス(リード線nのo”)は、ゲート74によって阻止さ
れる。
立下がり傾斜の間以外のいずれかの時間に、サンプリン
グ・パルスが発生すると、ゲート74の出力が1″とな
って、フリップフロップ77および78をリセットする
(すでにリセット状態にない場合)。
したがって、立下がり傾斜の期間内にサンプリング・パ
ルスが発生するならば、リード線pの信号はuluであ
り、且つリード線tの信号は他の全ての時間で1″であ
る。
したがって、立下がり傾斜期間内にサンプリング・パル
スが発生するならば、ゲート75および76が抑制され
て、電子スイッチ46および47(第6図)を動作させ
ることができない。
電子スイッチ41は、リード線pの1゛によって、この
期間の間、動作し、バッファ増幅器62の出力端子の信
号サンプルを、出力端子48に供給する。
逆に、立下がり傾斜の期間以外の他の時間にサンプリン
グ・パルスが発生すると、リード線pの°0″がスイッ
チ41の動作を阻止して、スイッチ75および76が、
フリップフロップ79のQ出力に応答するようにさせる
フリップフロップ79の動作は、第11図に詳細に示す
第2位相比較器61の動作に基づいている。
第11図において、第2位相比較器は、2つのフリップ
フロップ81,82とNORゲート83とを有する公知
の比較器を具えている。
その出力端子を、両方のフリップフロップのS(セット
)入力端子に接続する。
フリップフロップ81,82のQ出力端子を、ゲート8
3のそれぞれの入力端子に接続する。
フリップフロップ81へのクロックC入力端子を、リー
ド線fを経て第8図の出力端子に接続する。
第8図の出力は、リード線eの信号入力波形の立上がり
縁に同期して1″を発生する。
フリップフロップ82のクロック入力端子を、リード線
Cを経て、サンプリング・パルス発生器23(第7図)
の出力端子に接続する。
パルス発生器23は、リード線aの入力信号波形の立上
がり縁に同期して1′を発生する。
このようにして、この装置は、2つの信号入力波形を効
果的に比較する。
リード線fの波形の前縁(すなわち立上がり縁)が、リ
ード線Cの前縁よりも前にあり(J進相″状態と称する
)、フルツブフロップ81,82がセット状態(Q−”
1”)にあるものとすれば、フリップフロップ81は、
リード線fの立上がり縁によってリセットされる(Q=
O)。
次に、フリップフロップ82が、リード線Cの立上がり
縁によってリセットされる。
このようになるとすぐに、ゲート83への2つの゛0″
入力がこのゲートを可能にし、そして1”出力はフリッ
プフロップ81,82のそれぞれをセットして、再びセ
ット状態(Q=”1”)に復帰させる。
したがって、リード線fの波形の前縁とリード線Cの波
形の前縁との間の期間に等しい期間(パルス幅)を有す
る゛1″パルスが、フリップフロップ81のQ出力に現
われ、極端に短い期間(ゲート83およびフリップフロ
ップ82の切換え時間)”1”パルスがリード線Cに現
われる波形の前縁に同期して、フリップフロップ82の
Q出力に現われる。
したがって、フリップフロップ81のQ出力(リード線
s)の゛1″パルスの幅は、リード線fおよびCにおけ
る2つの入力間の進み位相差に直接比例する。
リード線fの信号波形の前縁が、リード線Cの信号波形
の前縁よりも遅れ(J遅相”と称する)、フリップフロ
ップ81および82がセット状態(Q=”1”)にある
ものとすれば、最初にフリップフロップ82がリセット
され、続いてフリップフロップ81がリセットされ、上
述したように、両方のフリップフロップはゲート83に
よって再びセットされる。
したがって、ゲート82のQ出力(リード線■)の゛1
″パルスの幅は、2つの入力間の遅れ位相差に直接比例
する。
フリップフロップ81および82のQ出力を、それぞれ
リード線Sおよび■を経てフリップフロップ79(第1
0図)のD入力およびC入力に供給する。
フリップフロップ81および82(第11図)の動作を
要約すれば、進相状態および逆の遅相状態に対し、リー
ド線Sの゛1″パルスの終了時に、短い1“パルスがリ
ード線■に現われる。
したがって、進相状態の間では、フリップフロップ79
は常時セット(Q=”1”)されており遅相状態の間で
は常時リセツ−(Q=”O”:されている。
フリップフロップ79のQおよびQ出力を、2つのNO
Rヶ−175と76のそれぞれの入力に供給し、これら
ゲートの他の入力にはフリップフロップ78のQ出力(
リード線p)を供給する。
前述したように、立下がり傾斜期間内にサンプリングが
行なわれる場合には、リード線pの信号は1″であり、
その他の全ての時間で行なわれる場合には、リード線p
の信号は0″である。
したがって、サンプリングが立下がり傾斜期間内に行な
われる場合には、ゲート75および76は抑制される。
その結果、第6図のスイッチ46および47は、この期
間中は動作できない。
進相状態では、立下がり傾斜の間以外の間でサンプリン
グが行なわれる場合には、フリップフロップ79のQお
よびQ出力はそれぞれ1゛および101となる。
その結果、リード線rの信号は1”となり、スイッチ4
6が動作して、端子48(第6図)に0″を与える。
したがって、進相状態に対しては、サンプリングが立下
がり傾斜期間内で行なわれる場合には、スイッチ41が
動作して、端子48のサンプルした出力を与え、サンプ
リングが他の時間で行なわれる場合には(すなわち位相
進みが立下がり傾斜期間で表わされる進み位相よりも大
きい場合には)、スイッチ46が端子48を0″に保持
する。
遅相状態に対しては、サンプリングが立下がり傾斜期間
以外で行なわれる場合には、ゲート75が可能化されて
スイッチ47を動作させる。
したがって、この状態のもとでは端子48に1″が現わ
れ、第6図〜第11図に関し説明した位相比較器の出力
特性は、第5図に示すような特性となる。
リード線t(第6図および第10図)の出力111信号
は、必要ならば、比較器がP、L、Lシステムにおいて
゛アラ(・オブ・ロック(outof 1ock)”で
ある、すなわちサンプリングが立下がり傾斜期間内に発
生しないことを示す指示器信号として用いることもでき
る。
第7図〜第11図に示され且つ実際の実施例で用いられ
る種々のゲート、遅延フリップフロップ、スイッチ、お
よび増幅器は、次に示すような市販されている集積回路
ブロックである。
NORゲート、モトローラ形 MC1400164,6
5,66,6B、69,71,72゜73.74,75
,76.83,11.I2D形フリップフロップ、モト
ローラ形MC1401367,77,78,79,81
,82 アナログスイツチ、モトローラ形MCI401616.
41,46,47.63 演算増幅器、RCA形CA3130 種々の抵抗およびコンデンサの値の一例を以下に示す。
比較器がそれぞれの入力信号波形の前縁に応答する本発
明の実施例について説明したが、本発明は、入力波形の
後縁に応答する比較にも同様に適用できる。
この場合、2つの波形は同じb”O”比(マーク・スー
ペース比)を有する必要があり、他の点では位相誤差を
導入することもできる。
また、本発明は上記実施例に限定されることなく、これ
ら実施例を当業者には公知な方法で変形して、入力波形
の立上がり縁の代りに立下がり縁に応答するようにし、
また第7図〜第11図に示されるゲートおよびフリップ
フロップとは異なる形体のものを用いることができるこ
とは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は1つのP、L、L、を用いる公知の代表的な周
波数合成器を示すブロック線図、第2図は本発明ディジ
タル位相比較器の一部回路のブロック線図、第3図は第
2図の回路の動作中に発生する代表的な波形図、第4図
は本発明位相比較器の第2実施例のブロック線図、第5
図は第4図の実施例の位相/電圧特性を示す図、第6図
は本発明位相比較器の好適な実施例のブロック線図、第
7〜第11図は第6図に示されるブロックの回路図であ
る。 lL121・・・・・・入力端子、13・・・・・・台
形状波形発生器、16・・・・・・サンプリング・スイ
ッチ、19。 62・・・・・・バッファ増幅器、20・・・・・・蓄
積コンデンサ、23・・・・・・サンプリング・パルス
発生器、31・・・・・・周波数応答論理回路、36・
・・・・・レベル検出器、41、46,47・・・・・
・電子スイッチ、60・・・・・・第2サンプリング・
パルス発生器、61・・・・・・第2位相比較器、64
,65,66・・・・・・2人力NORゲート、67.
77.78・・・・・・フリップフッノブ、6B、69
・・・・・・インバータ接続NORゲート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第1の2進入力信号波形の位相と、第2の2進入力
    信号波形の位相とを比較するディジタル位相比較器にお
    いて、前記第1人力付号波形の一定縁のそれぞれの発生
    によって一定期間の開動作するサンプリング・スイッチ
    と、前記第2人力付号波形に同期して第3波形を発生さ
    せるために、第2人力付号波形の対応する一定縁が発生
    したときに動作するランプ波形発生器とを具え、前記第
    3波形は、この第3波形の180°以下を占める所定の
    傾斜のランプされた前縁を有し、且つ前記一定期間より
    も大きい期間を有するようにし、前記サンプリング・ス
    イッチは、このスイッチの各動作によって前記第3波形
    の値をサンプルするように構成し、さらにサンプリング
    瞬時の間にサンプルした値を蓄積して、サンプルした値
    を表わすアナログ信号を比較器の出力に供給するサンプ
    ルホールド回路と、前記サンプリング・スイッチが前記
    ランプされた前縁の期間以外で動作した場合に応答して
    、比較器出力からのアナログ信号を断路し、前記2つの
    入力信号波形間の位相差が増加しているかあるいは減少
    しているかに従って第2信号あるいは第3信号のいずれ
    かを供給する検出器とを具え、これら第2信号および第
    3信号のそれぞれが、所定のそれぞれ一定直流レベルを
    有するようにしたことを特徴とするディジタル位相比較
    器。 2、特許請求の範囲1記載のディジタル位相比較器にお
    いて、サンプルホールド回路と比較器の出力との間にバ
    ッファ増幅器を具えることを特徴とするディジタル位相
    比較器。 3 特許請求の範囲1あるいは2記載のディジタル比較
    器において、サンプルホールド回路と比較器の出力との
    間に第2サンプリング・スイッチを具え、この第2サン
    プリング・スイッチと前記出力との間に第2サンプルホ
    ールド回路を具えることを特徴とするディジタル位相比
    較器。
JP51122358A 1975-10-14 1976-10-14 デイジタル位相比較器 Expired JPS5810018B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB4203375A GB1477584A (en) 1975-10-14 1975-10-14 Phase comparator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS52145077A JPS52145077A (en) 1977-12-02
JPS5810018B2 true JPS5810018B2 (ja) 1983-02-23

Family

ID=10422528

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51122358A Expired JPS5810018B2 (ja) 1975-10-14 1976-10-14 デイジタル位相比較器

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4068181A (ja)
JP (1) JPS5810018B2 (ja)
AU (1) AU499125B2 (ja)
CA (1) CA1069592A (ja)
CH (1) CH607796A5 (ja)
DE (1) DE2646147C3 (ja)
FR (1) FR2328200A1 (ja)
GB (1) GB1477584A (ja)
SE (1) SE411595B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0254245B2 (ja) * 1983-05-09 1990-11-21 Nissan Motor

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1519933A (en) * 1977-01-24 1978-08-02 Philips Electronic Associated Digital phase comparison apparatus
US4382234A (en) * 1977-12-19 1983-05-03 The Boeing Company Slow acting phase-locked loop with external control signal
FR2412981A1 (fr) * 1977-12-23 1979-07-20 Adret Electronique Synthetiseur de frequence a boucles multiples d'asservissement de phase, agence de facon a eviter toute discontinuite de frequence ou d'amplitude dans une large gamme de variation de frequence
US4215315A (en) * 1978-10-13 1980-07-29 John Fluke Mfg. Co., Inc. Low frequency signal period or ratio (period)-to-voltage converter
US4219784A (en) * 1978-10-27 1980-08-26 Westinghouse Electric Corp. Phase detection system using sample and hold technique, and phase locked loop using such phase detection system
JPS566526A (en) * 1979-06-29 1981-01-23 Toshiba Corp Phase comparator circuit
JPS55104126A (en) * 1979-02-05 1980-08-09 Toshiba Corp Phase comparison circuit
NL7905541A (nl) * 1979-07-17 1981-01-20 Philips Nv Fasevergelijkschakeling.
US4389622A (en) * 1981-09-28 1983-06-21 Honeywell Inc. System for preventing transient induced errors in phase locked loop
US4591859A (en) * 1982-09-20 1986-05-27 Raytheon Company Radar transmitter
JPS60210025A (ja) * 1984-04-03 1985-10-22 Pioneer Electronic Corp 位相比較器

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB951230A (en) * 1961-10-04 1964-03-04 Ferguson Radio Corp Improvements in and relating to frequency control systems
DE1516994A1 (de) * 1965-04-06 1969-09-25 Western Electric Co Frequenzvergleichsanordnung
DE1516789B2 (de) * 1966-04-26 1972-10-05 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Oszillatorschaltung
US3621224A (en) * 1969-09-30 1971-11-16 King Radio Corp Electronic track and store device
US3688211A (en) * 1970-12-04 1972-08-29 Burroughs Corp Phase detector for oscillator synchronization
US3795169A (en) * 1973-05-31 1974-03-05 Signa Signer Inc Electronic device employing a phase locked loop for tuning musical instruments

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0254245B2 (ja) * 1983-05-09 1990-11-21 Nissan Motor

Also Published As

Publication number Publication date
CH607796A5 (ja) 1978-10-31
GB1477584A (en) 1977-06-22
CA1069592A (en) 1980-01-08
US4068181A (en) 1978-01-10
JPS52145077A (en) 1977-12-02
DE2646147A1 (de) 1977-04-28
DE2646147B2 (de) 1981-09-24
AU1865076A (en) 1978-04-20
DE2646147C3 (de) 1982-05-13
AU499125B2 (en) 1979-04-05
FR2328200A1 (fr) 1977-05-13
SE7611384L (sv) 1977-04-15
FR2328200B1 (ja) 1983-11-18
SE411595B (sv) 1980-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6636122B2 (en) Analog frequency locked loop with digital oversampling feedback control and filter
EP0671829B1 (en) Clock regeneration circuit
US4857866A (en) Phase-locked loop having elongated time for charge and discharge
JP2912948B2 (ja) 位相検出器
JPS5810018B2 (ja) デイジタル位相比較器
US7567642B2 (en) Phase detector with extended linear operating range
US4849704A (en) Duty cycle independent phase detector
EP1474872A2 (en) Phase-locked-loop with reduced clock jitter
US4843332A (en) Wide range digital phase/frequency detector
US4184122A (en) Digital phase comparison apparatus
US7598816B2 (en) Phase lock loop circuit with delaying phase frequency comparson output signals
US5670913A (en) Phase locked loop circuit with false locking detector and a lock acquisition sweep
GB2161660A (en) Digital phase/frequency detector having output latch
JPS61288515A (ja) 拡大領域デジタル位相/周波数検出器
JP3527593B2 (ja) フェーズド・ロックド・ループ回路
KR100260446B1 (ko) 전송시스템의 디지털 처리 위상동기루프장치
JP2736702B2 (ja) 非同期検出回路
JPH0363249B2 (ja)
JPS5912048B2 (ja) 標本化パルス発生回路
JPH0763148B2 (ja) 位相同期回路
JPS5839122A (ja) 同期はずれ検出回路
JPS5918894B2 (ja) デジタル位相同期回路
JPH04273618A (ja) Pll回路
JP2004080123A (ja) 位相同期発振回路
JPH07302072A (ja) 耐ノイズ,高速引込形ディスプレイ用位相同期回路