JPH1154860A - 回路基板装置及び電子機器 - Google Patents

回路基板装置及び電子機器

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JPH1154860A
JPH1154860A JP20903597A JP20903597A JPH1154860A JP H1154860 A JPH1154860 A JP H1154860A JP 20903597 A JP20903597 A JP 20903597A JP 20903597 A JP20903597 A JP 20903597A JP H1154860 A JPH1154860 A JP H1154860A
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修 上野
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Abstract

(57)【要約】 【課題】情報機器をはじめとする電子機器に用いられる
回路基板において、簡単且つ汎用性のある低コストな構
造により、従来なされている放射防止対策では抑制でき
ない回路基板の電源系に起因する電磁放射を安定して低
減させる。 【解決手段】電源面11およびグランド面12とを有す
る回路基板装置10において、前記電源面と前記グラン
ド面が対向する基板部分の周辺部に沿って、前記電源面
と前記グランド面とを結合する負荷1を間隔をおいて備
え、前記負荷1の有するインピーダンスZeを、前記電
源面およびグランド面によって定まる実効的な特性イン
ピーダンスZeffより小さく設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、情報機器をはじ
めとする電子機器に用いる回路基板装置、特に、電源面
及びグランド面が多層に形成された回路基板における電
磁放射を抑制するための回路基板装置の構造に関する。
また、この回路基板装置を使用した情報機器などの電子
機器に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、様々な情報機器において、電磁波
の不要輻射が問題となっている。そして、その電磁放射
の主要なものが、回路基板上のクロックの高調波に相当
する周波数スペクトルを有するため、これまで、その電
磁放射は、主としてクロック信号やこれに同期したデジ
タル信号の信号線に起因するものと考えられ、そのた
め、回路基板上のプリント配線による信号線やこれと接
続されたワイヤーハーネスなどに対して、様々な電磁放
射防止対策がとられてきた。
【0003】具体的には、クロック信号やデジタル信
号などの信号に対して低域通過フィルタリング処理を行
って必要な帯域のみを通過させる、信号出力ラインに
ダンピング抵抗を付加して信号の立ち上がりおよび立ち
下がりをなまらせる、信号線の近傍にグランド電位の
ガードパターンを配置して帰還電流ループを小さくす
る、などが提案されている。
【0004】しかしながら、実際に回路基板で観測され
る電磁波は、信号線上の電流分布から予測されるものと
は周波数分布が異なり、しかも信号線の性質と無関係に
特定の周波数で鋭いピークを示すなどの特徴を有するこ
とが知られてきた。その結果、回路基板からの電磁放射
の主たる要因が、信号線ではなく電源系にあること、す
なわち回路基板の電源面およびグランド面の電気的共振
に起因することが近年明らかになってきている。そし
て、従来の上述した回路基板上の信号線やこれと接続さ
れたワイヤーハーネスなどに対する放射防止対策では、
回路基板の電源系に起因する電磁放射に対して効果が発
揮されないことは明らかである。
【0005】そこで、電源系に起因する電磁放射の抑制
対策としては、回路基板の基板端でマッチングを取る構
造などが提案されている(第10回 回路実装学術講演
大会講演論文集第175頁「低EMI多層回路基板」参
照)。この構造は、回路基板におけるグランド面を二層
化して基板端で抵抗体により終端させるものであり、図
13に示すように、電源面101の両面側において2層
のグランド面102,103を形成し、そのグランド面
102,103の端部においてグランド面間に抵抗体1
04を接続するとともに、電源面101とグランド面1
02,103との間の誘電体105,106の誘電率を
変化させてマッチングを取ることにより、回路基板10
0の電源面101およびグランド面102,103の電
気的共振を抑制しようとするものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図13
に示した構造によると、二層のグランド面102,10
3を形成して両者間に抵抗体104を接続し、電源面1
01とグランド面102,103との間の誘電体10
5,106の誘電率を変化させるなど、回路基板自体の
構造を一般的なものに対して大幅に変更しなければなら
ないという問題点があった。また、回路基板の大きさや
形状の違いなどに応じて、個々の回路基板ごとに電磁放
射を抑制するマッチング条件を設定しなければならない
ため、実際上の製品への適用は困難であり、適用できる
としても製造コストが著しく高くなるという問題点があ
った。
【0007】本発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、情報機器などの電子機器に用いられる回路基板にお
いて、回路基板の構造を一般的なものに対して変更する
ことなく、且つ、回路基板の大きさや形状の違いなどに
応じて個々の回路基板ごとに条件を設定する必要のない
汎用性のある低コストな構造により、従来なされている
放射防止対策では抑制できない回路基板の電源系に起因
する電磁放射を安定して低減させることができる回路基
板装置及びこの回路基板装置を使用した電子機器を提供
することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明(請求項1)は、電源面およびグランド面を有す
る回路基板装置において、次の構成を含むことを特徴と
している。前記電源面と前記グランド面とが対向する基
板部分の周辺部に沿って、前記電源面と前記グランド面
とを結合する負荷を間隔をおいて備えている。そして、
前記負荷の有するインピーダンスが、前記電源面および
グランド面によって定まる実効的な特性インピーダンス
より小さく設定されるようになっている。
【0009】請求項2の発明は、請求項1に記載の回路
基板装置において、前記負荷がコンデンサであり、この
コンデンサの容量が1ナノファラッド以上であることを
特徴としている。これは、回路基板装置での優れた電磁
放射の抑制効果を発揮させるためには、コンデンサの容
量が1ナノファラッド以上であることが適しているから
である。
【0010】請求項3の発明は、更なる電磁放射の抑制
効果を図るため、請求項2に記載の回路基板装置におい
て、前記コンデンサの有するインダクタンスおよび前記
コンデンサと前記電源面およびグランド面との接合で発
生するインダクタンスとの合計が5ナノヘンリー以下で
あることを特徴としている。
【0011】また、請求項4の発明は、回路基板装置を
使用した電子機器において、前記回路基板装置が請求項
1に記載した回路基板装置であることを特徴としてい
る。
【0012】請求項1における基板部分の周辺部に備え
られる負荷とは、使用する素子自体のインピーダンスに
加え、素子を電源面およびグランド面に接続する際に生
ずるインピーダンスをも含めたものを意味している。ま
た、一般に負荷のインピーダンスは周波数の関数となる
が、本発明の負荷のインピーダンスZeは、電磁ノイズ
放射、特に電源面およびグランド面からの放射が発生す
る周波数におけるインピーダンスを意味している。
【0013】一方、請求項1における電源面及びグラン
ド面の実効的な特性インピーダンスは、次のように定義
される。電源面およびグランド面を流れるノイズ電流
は、電源面およびグランド面があたかも伝送線路となっ
ているかのように振る舞うと考えられる。このとき、電
源面およびグランド面を伝送線路と見立てた時の実効的
な特性インピーダンスを本発明における「実効的な特性
インピーダンスZeff」と定義する。具体的には、電源
面及びグランド面が実効的な幅Weffを有する平行平板
からなる伝送線路と等価であると考えられるとき、平行
平板伝送路の特性インピーダンスを算出する式1で表わ
される量を実効特性インピーダンスZeffとして取り扱
う。
【0014】
【式1】Zeff=(377/√ε)・(h/Weff)
【0015】式中、hは電源面及びグランド面間の距
離、εは電源面及びグランド面間に存在する誘電体の比
誘電率である。また、Weffは平行平板の伝送線路と考
えた場合の基板の実効的な幅であり、回路基板装置にお
ける基板の大きさや接続する負荷の種類によって異なる
値となる。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の回路基板装置の実施の形
態の一例について、図1及び図2を参照しながら説明す
る。図1は回路基板装置の概略構成を示すものであり、
図2は回路基板装置において、電源面およびグランド面
上での電流の反射を模式的に説明するためのものであ
る。
【0017】回路基板装置10は、図1に示すように、
一定間隔を存しさせて対面するように配置された電源面
11およびグランド面12を有し、電源面11とグラン
ド面12間には誘電体が配置されている。この回路基板
装置において、電源面11とグランド面12が対向する
周辺部に沿って、電源面11とグランド面12との間に
負荷1が複数個配置されている。これらの負荷1は、対
向する周辺部に配置された負荷同士がそれぞれ相対向す
るように位置している。そして、負荷の有するインピー
ダンスZeが、電源面及びグランド面により定まる実効
的な特性インピーダンスZeffに対して、Ze<Zeffな
る関係を満足している。
【0018】負荷のインピーダンスZeは、使用する負
荷素子自体のインピーダンスに加え、素子を電源面およ
びグランド面に接続する際に生ずるインピーダンスをも
含めたものである。また、実効的な特性インピーダンス
Zeffは、前述した式1により算出されるものである。
【0019】次に、Ze<Zeffなる関係を満足するイン
ピーダンスZeの負荷が電源面及びグランド面の対向す
る基板周辺部に複数個配置されることによる作用につい
て説明する。前述したように、電源面およびグランド面
は、ノイズ電流に対して実効的な特性インピーダンスZ
eff(実効特性インピーダンスZeff)を有する伝送線路
のように作用する。一方、有限長の伝送線路で、線路の
特性インピーダンスより終端負荷のインピーダンスが小
さいときは、負荷をインピーダンスの値に対応した長さ
の線路に置き換え、終端を短絡した線路に置き換えて考
えることができる(「分布定数回路論」(コロナ社)2
9頁参照)。
【0020】このことから、実効特性インピーダンスZ
effの伝送路と見なせる電源面およびグランド面にZe
(Ze<Zeff)なる負荷を接続したとき、負荷部は短絡
端として作用する。これに対し負荷の無い部分はインピ
ーダンスが大きいため開放端として作用する。従って、
負荷が間隔をおいて複数個存在すると基板周辺において
短絡端および開放端が複数混在して存在することになり
(図2)、端部における反射条件が乱れて均一な共振電
流の発生が抑制され、電磁放射強度が減少する。
【0021】なお、放射が問題となる周波数において、
負荷のインピーダンスZeが実効特性インピーダンスZe
ffより小さいことが本発明の条件であるが、実際には、
更に、電源面として機能するための条件は当然満足しな
ければならない。すなわち、電源電位を確保し、かつ、
漏洩電流を少なくするために、通常は、周波数ゼロ(直
流)における負荷のインピーダンスは十分大きくなけれ
ばならない。
【0022】このような条件を満足する負荷として、コ
ンデンサを用いることが最も簡単である。しかし、コン
デンサも容量成分の他にインダクタンス成分を有し、ま
た、コンデンサから電源面及びグランド面までの配線や
ビアホール(コンタクト孔)にはインダクタンス成分が
あり、また、厳密には抵抗成分があるため、これらを含
めて条件を満足させることが必要である。
【0023】負荷にコンデンサを用いた場合、次のよう
な理由で本発明の効果は更に増大する。すなわち、基板
周辺にコンデンサを配置すると、コンデンサによる位相
条件の変化で放射ノイズのピーク周波数が高周波側にシ
フトする。放射ノイズの元となる電圧ノイズスペクトル
は一般に高周波ほど強度が小さいため、ピーク周波数が
高周波側にシフトすると放射強度が減少する。
【0024】通常の基板構成における代表的な値とし
て、コンデンサの容量が1000pF(ピコファラッ
ト)(=1nF(ナノファラッド))以上であることが
望ましく、回路基板装置での優れた電磁放射の抑制効果
を発揮させることができる。
【0025】また、電磁放射の抑制に適するため、前記
コンデンサの有するインダクタンスおよび前記コンデン
サと電源面およびグランド面との接合で発生するインダ
クタンスとの合計(全インダクタンス)が5nH(ナノ
ヘンリー)以下であることが望ましい。
【0026】また当然のことながら本発明の効果を得る
には、上記のような周波数的に非線型な条件を満足すれ
ば良いのであって、負荷はコンデンサに限定されるもの
ではない。また、本発明はZe<Zeffなる不等号を周辺
部の一部(複数の特定部)で満足すればよいのに対し、
従来技術によるマッチングを取る方法ではZe=Zeffな
る等号を周辺部全てで満足する必要がある。従って、本
発明は、従来技術に比較して、設計の自由度、効果の安
定性、製造のコストの点で優れている。
【0027】本発明の回路基板装置の更に具体的な例と
して、基板端部の負荷としてコンデンサを使用した構造
について、図3及び図4を参照しながら説明する。図3
は回路基板装置の概略構成を示すものであり、図4は回
路基板装置のコンデンサ接続部分における断面説明図で
ある。
【0028】回路基板装置10は、例えば図4に示すよ
うに4層配線基板で構成され、平面状をなす電源面11
およびグランド面12、配線パターンが形成されている
パターン層13及びパターン層14を有している。電源
面11とグランド面12の間等の各層間には、誘電体層
15が配置されている。この回路基板装置において、図
3に示すように、平面状の電源面11とグランド面12
が対向している基板部分の周辺部に沿って、電源面11
とグランド面12とを接続するためのコンデンサ16が
複数個配置されている。これら各コンデンサ16は基板
上の周囲に間隔をあけて配置され、各コンデンサ16の
両端部は、図4に示すように、基板上に形成された接続
用配線17及び基板を穿孔するビアホール18により電
源面11に接続し、接続用配線19及びビアホール20
によりグランド面12にそれぞれ接続されている。
【0029】なお、図4では模式的に接続用配線17,
19を設けているが、後述するインダクタンス条件を満
足させるには、接続用配線はできるだけ短くし、理想的
にはこの配線を無くしてビアホール上に直接コンデンサ
を配置するなどの構造により、インダクタンスを小さく
するのが好ましい。
【0030】そして、各コンデンサ16を接続したこと
により生じる負荷のインピーダンスZe(コンデンサ1
6自体のインピーダンスに加え、コンデンサ16を電源
面11およびグランド面12に接続する際に生ずるイン
ピーダンスをも含めたもの)と、電源面11及びグラン
ド面12により定まる実効的な特性インピーダンスZef
fとの間には、Ze<Zeffなる関係が成立している。電
源面11及びグランド面12により定まる実効的な特性
インピーダンスZeffは、前記した式1で定義されるも
のである。
【0031】次に、基板端部の負荷として接続するコン
デンサ16の容量値について、実験により検討する。回
路基板装置10における電源面11とグランド面12と
の距離が 0.8mmの正方形基板(基板サイズ414
mm×414mm)において、ノイズ電流が一方向のみ
に発生する条件において、ノイズ電流が反射する基板辺
に9個のコンデンサ16を接続したときの放射強度の変
化を測定した。コンデンサが無いとき、電源面11およ
びグランド面12に起因する周波数170MHzをピー
クとする放射が観測された。放射の最大強度をプロット
すると図5のようになり、コンデンサ容量が100[p
F]では放射は減少しないが、容量1000[pF]
(1[nF])以上では放射強度が大きく減少した。
【0032】ここで、実験で使用した回路基板装置10
の実効特性インピーダンスZeffを上述した式1を使っ
て求める。基板の実効的な幅Weffは基板の大きさや接
続する負荷の種類によって異なるが、上述の実験に使用
した回路基板装置10においては、基板の実効的な幅W
eff=25[mm](基板の実効的な幅Weffの算出方法に
ついては後述する)、面間距離h=0.8[mm]、電源
面及びグランド面間の誘電体の比誘導率εが4.7であ
るので基板の実効特性インピーダンスは5.6[Ω]とな
る。一方、周波数170MHzにおけるコンデンサ16
のインピーダンスZeは、容量100pFにおいて9
Ω、容量1000pFにおいて0.9Ωとなる。 従っ
て、図5の結果はZe>Zeffでは放射は減少しないが、
Ze<Zeffでは放射が減少するということを示してい
る。(なお、容量1000pF以上では放射ピークは1
70MHzより高周波側にシフトしているが、シフト量
はコンデンサの数によって変化して一義的に決まらない
ため、一義的に決まる値であるコンデンサが無いときの
ピーク周波数170MHzで比較した。)
【0033】次に、負荷の全インダクタンスL(コンデ
ンサ16の有するインダクタンスおよびコンデンサ16
と電源面11およびグランド面12との接合で発生する
インダクタンスとの合計)の値について検討する。電源
面11とグランド面12との間には、コンデンサ16の
有するインダクタンス(Lint)の他に、ビアホール1
8,20で発生するインダクタンス(Lvia)、接続用
配線17,19で発生するインダクタンス(Lpat)が
存在する。すなわち、回路基板装置10の電源面11と
グランド面12との間にコンデンサ16を取り付けた場
合、図6のように、コンデンサ16の容量Cのみではな
く、付随したインダクタンスの和L(全インダクタンス
L=Lint+Lvia+Lpat)がコンデンサ16の容量C
に直列に存在している。
【0034】負荷として接続するコンデンサ16の容量
が0.1[μF](マイクロファラッド)である場合
に、負荷の全インダクタンスL(コンデンサの有するイ
ンダクタンスおよびコンデンサと電源面およびグランド
面との接合で発生するインダクタンスとの合計)を変化
させた場合の放射の変化を検討する。インダクタンスの
微妙な変化を実験することは難しいので、計算によって
放射強度を求めた。計算結果は図7のようになり、全イ
ンダクタンスLが5[nH]以下になると電磁放射強度
Eが減少した。
【0035】また、基板の共振周波数である170[M
Hz]における負荷のインピーダンスZeを求めると、
コンデンサ容量0.1[uF]、全インダクタンスL=
5[nH]のときZeは5.3[Ω]となる。基板の実
効特性インピーダンスZeffは5.6[Ω]であるの
で、図7においても、Ze<Zeffで電磁放射が減少する
ということを示している。
【0036】次に、基板の実効的な幅Weffの算出方法
について説明する。図8は、回路基板装置10の基板の
一辺の前記コンデンサ密度と電磁放射の抑圧効果との関
係の測定結果を示したものである。図8から明らかなよ
うに基板の一辺につき、コンデンサを400mm当り8
個以上、すなわちコンデンサ50mm間隔以下で配置す
れば電磁放射の抑制効果が得られる。上記回路基板装置
の構造による電磁放射の抑制効果は、高周波における短
絡端と開放端が交互に存在してはじめて達成されるた
め、効果が現れた50mmの2分の1である25mmが
負荷から見た基板の実効的な幅Weffであるとした。
【0037】また、実効的な幅Weffの求め方の他例と
して、伝送線路の実効特性インピーダンスを線路幅に対
してプロットしたとき、インピーダンスの減少がほぼ飽
和したと見なせるときの線路幅を実効的な幅Weffと考
えることができる。この考え方を採用すると、上記した
例の場合、実効的な幅Weffは20mm前後である。
【0038】次に、上記回路基板装置の構造により達成
される電磁放射の抑制効果について説明する。先ず、電
源面11とグランド面12とが対向する基板部分の端部
に負荷を配置していない場合に、電源面およびグランド
面上に共振電流が発生することについて説明する。回路
基板装置10に、意図的にまたは意図せずに存在してし
まう高周波電流源(例えば、ディシタルICなどの能動
素子など)により生ずる電流が、電源面11とグランド
面12が対向する基板部分の端部で開放端反射すること
により、電源面11上およびグランド面12上の対向す
る基板部分に電流の定在波が発生する。
【0039】発生した電流の定在波は、図9に示すよう
に、電源面11とグランド面12が対向する基板部分
の、電気的共振電流の方向であるX軸方向またはY軸方
向における幅Wを波長λの1/2とし、周波数がf=c
/(2W√ε)の基本波S1に対して(ただし、cは光
速、εは基板材料(誘電体15)の比誘電率であ
る。)、2次高調波S2、3次高調波S3などの整数次
高調波が合成されたもので、回路基板に固有の共振条件
によって、X軸方向もしくはY軸方向の定在波、または
その両方が発生する。また、この定在波は固定端反射を
して生ずるので、端部で電流の節を持つ定在波になって
いる。
【0040】上記構造の回路基板装置10によれば、上
述した作用で説明したように、実効特性インピーダンス
Zeffの伝送路と見なせる電源面11およびグランド面
12にZe<Zeffなる負荷(インピーダンスZeは、負
荷素子自体のインピーダンスに加え、負荷素子を電源面
11およびグランド面12に接続する際に生ずるインピ
ーダンスをも含めたもの)を接続したとき、負荷部は短
絡端として作用する。その一方、負荷の無い部分はイン
ピーダンスが大きいため開放端として作用する。 した
がって、負荷が複数個存在すると基板周辺において短絡
端及び開放端が複数混在して存在することになり(図
2)、端部における反射条件が乱れて均一な共振電流の
発生が抑制され、電磁放射強度が減少することになる。
【0041】上述したように、電源面11とグランド面
12が対向する回路基板10部分の端部に負荷素子とし
てコンデンサ16を配置すると、電磁放射強度が低下す
ることが示されたが、コンデンサ16に付随する全イン
ダクタンスLが増加し、電源面11とグランド面12が
対向する基板部分の端部のインピーダンスが増加する
と、電磁放射強度が十分に低下しなくなる。
【0042】すなわち、全インダクタンスLが増加しZ
e>Zeffとなると、電源面とグランド面が対向する基板
部分の端部のインピーダンスが増加するので、対向部端
部間のコンデンサによる短絡効果が弱くなり、電源面お
よびグランド面上の電流の共振が弱まらず、電磁放射強
度も低下しなくなる。
【0043】また、全インダクタンスLが増加すると、
共振ピーク周波数がノイズ電圧の高い低周波側にシフト
してしまう。図10は、全インダクタンスLとピーク周
波数の関係をシミュレーションにより明らかにしたもの
である(辺長414mm角、層間距離0.8mm、容量
0.1マイクロファラッドのコンデンサを18個取り付
けた例)。図10から明らかなように、コンデンサに付
随する全インダクタンスLが増加すると、電磁放射ピー
ク周波数が低下していく。一方、デジタルICのスイッ
チングノイズ電圧は一般に低周波ほど大きくなるため、
ピーク周波数の低下は電源面およびグランド面上のノイ
ズ電圧の増加を生じさせ、従って、電磁ノイズ放射強度
の増加を招く結果となる。
【0044】以上のことから、コンデンサ16に付随す
る全インダクタンス成分を減少させて、実効特性インピ
ーダンスZeffに対して負荷インピーダンスZeを小さく
する(Ze<Zeffを成立させる)ことが必要であり、こ
の条件が電磁放射強度の低下を図るための要件となる。
【0045】次に、回路基板装置10において、電源面
11とグランド面12の大きさが異なる場合について、
本発明を適用する場合を説明する。このような場合、図
11に示すように、グランド面12に対して電源面11
の面積が小さく対向していない部分が発生している場合
にも、電源面11とグランド面12の対向している部分
の周辺部(電源面11の周辺部)に負荷1を配置するこ
とにより電源面11とグランド面12との接続を行な
う。この場合においても、各負荷のインピーダンスZe
と、電源面11およびグランド面12の実効特性インピ
ーダンスZeffとは、Ze<Zeffが成立するように設定
されている。
【0046】回路基板装置10の電源面が複数部分に分
割されている場合、すべての電源面とグランド面の対向
する部分の周辺部に負荷を配置して、電源面とグランド
面との接続を行なう。すなわち、図12に示すように、
二つの電源面11a,11bの周辺部に各負荷1を配置
してグランド面11と接続するようにする。この場合に
おいても、各負荷のインピーダンスZeと、各電源面1
1a,11bおよびグランド面12の各実効特性インピ
ーダンスZeffとが、Ze<Zeffの関係を成立させるよ
うに設定されている。
【0047】上述した各例においては、電源面とグラン
ド面とを結合する負荷は、電源面とグランド面とが対向
する部分の周辺部の全てに配置しているが、周辺部の特
定位置のみに配置する構造であってもよい。例えば、面
形状やデジタルICの位置から特定方向のノイズ電流の
発生が明らかな場合には、この電流に直交する周辺のみ
に負荷を配置しても上述した電磁放射の抑制効果を発揮
させることができる。
【0048】また、上述した各例においては、電源面と
グランド面が対向する面の周辺部において、一辺当り複
数個の負荷を間隔をおいて配置することにより、基板周
囲に短絡端と開放端とを混在させるように構成したが、
基板の一辺の長さが2Weff程度と短い場合には、一辺
当り一個の負荷でも短絡端と開放端とを混在させること
ができ、上述した電磁放射の抑制効果を発揮させること
ができる。
【0049】上記構造の回路基板装置によれば、電源面
11およびグランド面12の周囲に負荷1(コンデンサ
16)を間隔をおいて配置することにより電磁放射を抑
制できるので、基板の大きさや形状の違いなどに応じて
個々の条件を設定する必要がなく、汎用性のある低コス
トな構造で効果を発揮させることができる。
【0050】また、上述したような構造の回路基板装置
を情報機器等の電子機器に使用するようにすれば、電子
機器における電磁放射の抑制を図ることができる。
【0051】
【発明の効果】本発明によれば、回路基板装置におい
て、実効特性インピーダンスZeffの伝送路と見なせる
電源面およびグランド面にZe<Zeffなる負荷を接続す
ることにより、この部分が短絡端として作用し、負荷の
無い部分はインピーダンスが大きいため開放端として作
用するので、基板周辺において短絡端及び開放端が複数
混在して存在させることができ、端部における反射条件
が乱れて均一な共振電流の発生が抑制され、電磁放射強
度を減少させることができる。
【0052】従って、回路基板の構造を一般的なものに
対して変更する必要がなく、しかも基板の大きさや形状
の違いなどに応じて個々の条件を設定する必要がない、
汎用性のある低コストな構造により、回路基板装置にお
ける電源面およびグランド面に起因する電磁放射を容易
に且つ大幅に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る回路基板装置の概略構成を示す構
成説明図である。
【図2】回路基板装置において、電源面およびグランド
面上での電流の反射を模式的に説明するための構成説明
図である。
【図3】本発明の回路基板装置において、負荷としてコ
ンデンサを接続した例の概略構成を示す構成説明図であ
る。
【図4】図3の回路基板装置のコンデンサ接続部分の構
造を示す断面説明図である。
【図5】回路基板装置において、コンデンサ容量と電磁
放射ピーク強度との関係を示すグラフ図である。
【図6】回路基板装置において、コンデンサを取り付け
る際に生じるインダクタンス成分を表す回路図である。
【図7】回路基板装置において、コンデンサの全インダ
クタンス成分と電磁放射ピーク強度との関係を示すグラ
フ図である。
【図8】回路基板装置において、基板端コンデンサ密度
と電磁放射ピーク強度との関係を示すグラフ図である。
【図9】回路基板装置において、電源面およびグランド
面上に生じる定在波を説明するための模式図である。
【図10】コンデンサの全インダクタンス成分と電磁放
射ピーク周波数との関係を示すグラフ図である。
【図11】本発明の実施の形態の他の例を示す平面説明
図である。
【図12】本発明の実施の形態の他の例を示す平面説明
図である。
【図13】従来の回路基板装置の構造を示す断面説明図
である。
【符号の説明】
1…負荷、 10…回路基板装置、 11…電源面、
12…グランド面、13,14…配線パターン層、 1
5…誘電体、 16…コンデンサ、 17,19…接続
用配線、 18,20…ビアホール

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電源面およびグランド面を有する回路基板
    装置において、 前記電源面と前記グランド面とが対向する基板部分の周
    辺部に沿って、前記電源面と前記グランド面とを結合す
    る負荷を間隔をおいて備える一方、 前記負荷の有するインピーダンスが、前記電源面および
    グランド面によって定まる実効的な特性インピーダンス
    より小さいことを特徴とする回路基板装置。
  2. 【請求項2】前記負荷がコンデンサであり、このコンデ
    ンサの容量が1ナノファラッド以上である請求項1に記
    載の回路基板装置。
  3. 【請求項3】前記コンデンサの有するインダクタンスお
    よび前記コンデンサと前記電源面およびグランド面との
    接合で発生するインダクタンスとの合計が5ナノヘンリ
    ー以下である請求項2に記載の回路基板装置。
  4. 【請求項4】回路基板装置を使用した電子機器におい
    て、 前記回路基板装置が請求項1に記載した回路基板装置で
    あることを特徴とする電子機器。
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